Современн ый рентгеновский анализ в стекольном...

33
Современный рентгеновский анализ в стекольном производстве Москва, 201 Москва, 201 1 1

Upload: maeko

Post on 02-Feb-2016

122 views

Category:

Documents


0 download

DESCRIPTION

Современн ый рентгеновский анализ в стекольном производстве. Москва, 201 1. Компания Bruker. Bruker Optics. Bruker Daltonics. Bruker AXS. Bruker BioSpin. Bruker Advanced X-ray Solutions (AXS) Рентгеновское аналитическое оборудование. Siemens Industriepark Карлсруэ ( Германия). - PowerPoint PPT Presentation

TRANSCRIPT

Page 1: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Современный рентгеновский

анализ в стекольном

производстве

Москва, 201Москва, 20111

Page 2: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Компания Bruker

Bruker Advanced X-ray Solutions (AXS)

Рентгеновское аналитическое оборудование

Bruker BioSpin Bruker Daltonics Bruker AXSBruker Optics

Siemens Industriepark Карлсруэ (Германия)

Page 3: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Bruker AXSРентгеновское аналитическое оборудование

История компании

До 1998 года Bruker AXS - рентгеновское подразделение концентра SIEMENS, имеющего многолетний опыт и традиции создания рентгеновского оборудования от первых рентгеновских трубок и спектрометров

S4 S4 PIONEER PIONEER (2001)(2001)

Siemens SRS 3000 (1992)

Спектрометр из лаборатории Siemens&Halske (1925)

Page 4: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Bruker AXS Наши офисы и представительства

Головные офисы компании

Сервисные центы

Сервисно-методическая поддержка, продажи

Page 5: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Spectrometry SolutionsВолнодисперсионные рентгенофлуоресцентные

спектрометры

S8 S8 TIGERTIGER(((

S8 S8 LIONLION

Page 6: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

S2 S2 PICOFOXPICOFOXARTAXARTAXQUANTAXQUANTAX

Spectrometry SolutionsЭнергодисперсионные рентгенофлуоресцентные

спектрометры

S2 S2 RANGERRANGER

S1 S1 TRACERTRACER

M1 M1 MISTRALMISTRAL M1 M1 ORAORA M4 M4 TORNADOTORNADO

Page 7: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Diffraction SolutionsРентгеноструктурный анализ

D8 DISCOVERD8 ADVANCE D8 FABLINE

NANOSTAR

D4 ENDEAVOR

D2 CRYSO D2 PHASER

Page 8: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Стекольная и огнеупорная промышленность

Page 9: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Стекольная и керамическая промышленность в СНГ

AGC Клин – Япония

Русджам Уфа – Турция

Sibelco - Раменский ГОК (2 спектрометра) -Бельгия

Sibelco - Неболчинский ГОК – Бельгия

Лассельсбергер Уфа – Австрия

Алабуга Стекловолокно – Glasseiden Werk Германия

Гостомельский Стеклотарный Завод – VetroPack Швейцария

Гомель Стекло

Сергиево-Посадский Стеклотарный Завод

Вишневогорский ГОК

Page 10: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Стекольная и керамическая промышленность в СНГ

Керамин

Технониколь

ОАО «ЛМЗ» - производство фритт

ООО Кералит – огнеупорные бетоны

Азбентонит (строительные силикатные смеси, бентонит)

Ураласбест ТИМ (базальтовый утеплитель)

ООО «Агидель»

Page 11: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Методы классической химии Физические методы «мокрой» химии:

Метод ААСМетоды ICP-MS и ICP-OES

Методы элементного анализа

MS с лазерной абляцей Оптико-эмиссионный метод

Рентгенофлуоресцентный метод

только растворы сложная пробоподготовка расходные материалы длительность анализа высокая точность

только твердые материалы сложная пробоподготовка экспрессность высокая точность

любые материалы относительно простая пробоподготовка экспрессность высокая точность низкая себестоимость

Page 12: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

широкий диапазон концентрации: от миллионных долей (ppm) до 100 % высокая точность до 0.1 % отн. экспрессность: время анализа до 1 мин. минимальная пробоподготовка минимальная трудоемкость анализ без использования стандартных образцов

Рентгенофлуоресцентный анализПреимущества метода - универсальность

все материалы: жидкости, металлы, порошки, газы (на фильтрах)

все элементы: от Be(4) до U(92)

Page 13: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

От получения пробы до оценки результатов анализа – считанные минуты

отбор пробы

измельчение & прессование

(5-10 мин)

загрузка

(1-2 мин)

анализ

(10 с на элемент)

Оценка результатов

(2-3 с)

Page 14: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Рентгенофлуоресцентный анализ

Различия ВД и ЭД метода

ВД спектрометр:• анализ элементов от Be до U• выбор условий измерения для каждого элемента• выше энергетическое разрешение• выше скорость анализа• ниже пределы обнаружения• мощные рентгеновские трубки

ЭД спектрометр:• низкое разрешение• анализ от Na до U• простота эксплуатации

Page 15: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Рентгенофлуоресцентный анализ

КРФ-18

СРМ-25

СРМ-35

СПЕКТРОСКАН MAKC-GV

Page 16: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

S8 TIGER – 1-3-4 кВт: высокая аналитическая гибкость, чувствительность и разрешение

вакуум-затвор

возбуждение: 1-3-4 kW

проточный счетчик

Сцинтилляционный детектор

до 4 коллиматоров

до 8 кристаллов-анализаторов

до 10 фильтров первичного пучка

75m

проба

коллиматорная маска

Rh

Page 17: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

S8 TIGER(((

Новый РФА Спектрометр

Рентгеновская трубка с торцевым окном 1, 3 и 4кВт

Наилучшая чувствительность по легким элементам благодаря 170 мА

Улучшенная система защиты спектрометрической камеры и трубки от загрязнений

Высокая скорость движущихся механизмов

Встроенный сенсорный экран управления.

Малые размеры (менее 1 м2)

Page 18: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Защита спектрометра от просыпания образца

Page 19: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

S8 TIGER((( TouchControl™Полноценный технологический анализ

Простое управление Быстрый и легкий запуск

измерений Представление текущих и

предыдущих результатов Состояние спектрометра S8

TIGER Справочная система Различные уровни доступа Русификация

Page 20: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

S8 TIGER(((

Улучшение аналитических характеристик

Трубка 4 кВт, ток до 170 мА Автоматический сменщик масок (3 поз.) Выбор из 14 разнообразных

кристаллов-анализаторов (в барабане 8 позиций): Обяз. XS-55, PET и LiF(200) Дополнительные:

XS-B, XS-C, XS-N

InSb, TlAP, ADP, Ge,

LiF (220), LiF (420) Новые:

XS-CEM and XS-GE-C

Page 21: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

количественный и полуколичественный анализ

простое, удобное и безопасное управление приборами

обработка результатов во время измерения в реальном многозадачном режиме

современная матричная коррекция и анализ без использования стандартных образцов

гибкое и удобное для пользователя представление результатов анализа (Word, Excel, PowerPoint,…)

интегрированная база данных для любых параметров интересуемой пробы

быстрая и надежная передача всех данных по локальной сети

Управление приборами, измерение, обработка и передача данных: SPECTRAplus

Page 22: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Готовность прибора к работе

Page 23: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Провести исследование материала Подобрать режимы пробоподготовки Максимально корректно применить все физико-математические возможные программного обеспечения

- дружелюбность программного обеспечения- правильно организованной последователь-ность действий

Как же добиться такого результата?

Page 24: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Отбор и Пробоподготовка

Из огромного количества материала обобрать 50 гр. представительной пробы

Подготовить эту пробу для анализа

Метод пробоподготовки???

Page 25: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Налить небольшое количество жидкости в кювету

Поместить пробу в прободержатель с маской

Пробоподготовка: анализ жидких проб, маленьких образцов

Page 26: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Отшлифовать

Время на пробоподготовку - 1 минута

Пробоподготовка шлифование, фрезерование

Закрепить заготовку Проверить поверхность

Page 27: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Добавление образца к флюсу Перемешивание Нагревание тигля в печке Отливка стеклянного диска

Время на пробоподготовку - 10-20 минут

Пробоподготовка сплавление

Page 28: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Измельчение материала на вибро или планетарной мельнице до крупности частиц <70 мкм(при анализе легких элементов менее 30 мкм)

Прессование на полуавтоматическом, ручном прессе с нагрузкой до 40 тонн

Время на пробоподготовку - 3-10 минуты

Пробоподготовкаизмельчение и прессование

Page 29: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Толщина слоя: глубина насыщения

Sample

B KA1 (0,18 keV)Sn LA1 (3,4 keV)Cr KA1 (5,4 keV)

Sn KA1 (25,2 keV)

трубка

щели Соллера

Гомогенен ли образец ?

Page 30: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

анализируемый

слой

Эффект размера зерен: неоднородные порошковые пробы

Page 31: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Эффект размера зерен: неоднородные порошковые пробы

Инт. откорректированная

Отк

орре

кти

рова

нная

инт

енси

внос

ть (

кИм

п/с)

Концентр. (%)

78,0

78,1

78,2

78,3

78,4

78,5

78,6

78,7

78,8

78,9

79,0

79,1

79,2

79,3

79,4

79,5

79,6

79,7

72,0 72,1 72,2 72,3 72,4 72,5 72,6

Отк

орре

кти

рова

нная

инт

енси

внос

ть (

кИм

п/с)

Концентр. (%)

47

48

49

50

51

72,0 72,1 72,2 72,3 72,4 72,5 72,6

Отк

орре

кти

рова

нная

инт

енси

внос

ть (

кИм

п/с)

Концентр. (%)

47

48

49

50

51

72,0 72,1 72,2 72,3 72,4 72,5 72,6

Отк

орре

кти

рова

нная

инт

енси

внос

ть (

кИм

п/с)

Концентр. (%)

47

48

49

50

51

72,0 72,1 72,2 72,3 72,4 72,5 72,6

Отк

орре

кти

рова

нная

инт

енси

внос

ть (

кИм

п/с)

Концентр. (%)

47

48

49

50

51

72,0 72,1 72,2 72,3 72,4 72,5 72,6

Отк

орре

кти

рова

нная

инт

енси

внос

ть (

кИм

п/с)

Концентр. (%)

47

48

49

50

51

72,0 72,1 72,2 72,3 72,4 72,5 72,6

Отк

орре

кти

рова

нная

инт

енси

внос

ть (

кИм

п/с)

Концентр. (%)

47

48

49

50

51

72,0 72,1 72,2 72,3 72,4 72,5 72,6

Отк

орре

кти

рова

нная

инт

енси

внос

ть (

кИм

п/с)

Концентр. (%)

47

48

49

50

51

72,0 72,1 72,2 72,3 72,4 72,5 72,6

Отк

орре

кти

рова

нная

инт

енси

внос

ть (

кИм

п/с)

Концентр. (%)

47

48

49

50

51

72,0 72,1 72,2 72,3 72,4 72,5 72,6

Пример калибровки на SiO2 в Стекле

- до подбора оптимальных режимов пробоподготовки

Отк

орре

кти

рова

нная

инт

енси

внос

ть (

кИм

п/с)

Концентр. (%)

47

48

49

50

51

72,0 72,1 72,2 72,3 72,4 72,5 72,6

- после подбора

Эффект особенно заметен при анализе легких

элементов, характерных для стекольной

промышленности !!!

Page 32: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

Наш опыт в стекольной и керамической промышленности!!!

Page 33: Современн ый рентгеновский  анализ в стекольном производстве

ООО Брукер

www.bruker.ru www.bruker-axs.com

Благодарю за внимание!Благодарю за внимание!