1 3 o teste misto (ieee 1149.4) -...

7
LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - O teste misto (IEEE 1149.4) © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC) 1 O teste misto (IEEE 1149.4) J. M. Martins Ferreira FEUP / DEEC - Rua Dr. Roberto Frias 4200-465 Porto - PORTUGAL Tel. 351-22-5081748 / Fax: 351-22-5081443 ([email protected] / http://www.fe.up.pt/~jmf) LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - O teste misto (IEEE 1149.4) © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC) 2 Objectivos Introduzir o tema do teste de circuitos mistos Realçar o facto de que a norma IEEE 1149.4 é uma extensão do 1149.1 Permitir aos alunos compreender a arquitectura e funcionamento da infra-estrutura 1149.4 LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - O teste misto (IEEE 1149.4) © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC) 3 Conteúdo O âmbito do 1149.4 Apresentação geral da arquitectura 1149.4 O circuito de interface ao barramento de teste (TBIC, Test Bus Interface Circuit) e os módulos periféricos analógicos (ABM, Analog Boundary Modules) O 1149.4 na prática: Teste de ligações e teste paramétrico LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - O teste misto (IEEE 1149.4) © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC) 4 A norma IEEE 1149.4 O 1149.4 constitui uma extensão da norma IEEE 1149.1 e define as estruturas adicionais a serem adicionadas a um componente 1149.1: Um TAP analógico (ATAP) com dois pinos (AT1, AT2) Um barramento de teste analógico interno constituído por (pelo menos) duas linhas (AB1, AB2) Um circuito de interface ao barramento de teste (TBIC) Módulos periféricos analógicos (ABM) em cada pino analógico e opcionalmente em outros pinos funcionais

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LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

1

O te

ste

mis

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EEE

1149

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J. M

. Mar

tins F

erre

iraFE

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/ DEE

C -

Rua

Dr.

Rob

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Fria

s42

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65 P

orto

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GA

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1-22

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1748

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3(jm

f@fe

.up.

pt/ h

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ww

w.fe

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jmf)

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

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ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

2

Obj

ectiv

os

•In

trodu

zir o

tem

a do

test

e de

circ

uito

s mis

tos

•R

ealç

ar o

fact

o de

que

a n

orm

a IE

EE 1

149.

4 é

uma

exte

nsão

do

1149

.1•

Perm

itir a

os a

luno

s com

pree

nder

a a

rqui

tect

ura

e fu

ncio

nam

ento

da

infr

a-es

trutu

ra 1

149.

4

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

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erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

3

Con

teúd

o

•O

âm

bito

do

1149

.4•

Apr

esen

taçã

o ge

ral d

a ar

quite

ctur

a 11

49.4

•O

circ

uito

de

inte

rfac

e ao

bar

ram

ento

de

test

e (T

BIC

, Te

st B

us In

terf

ace

Cir

cuit)

e o

s mód

ulos

per

iféric

os

anal

ógic

os (A

BM

, Ana

log

Boun

dary

Mod

ules

)•

O 1

149.

4 na

prá

tica:

Tes

te d

e lig

açõe

s e te

ste

para

mét

rico

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

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erre

ira -

Uni

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idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

4

A n

orm

a IE

EE 1

149.

4

•O

114

9.4

cons

titui

um

a ex

tens

ão d

a no

rma

IEEE

114

9.1

e de

fine

as e

stru

tura

s adi

cion

ais a

sere

m a

dici

onad

as a

um

com

pone

nte

1149

.1:

–U

m T

AP

anal

ógic

o (A

TAP)

com

doi

s pin

os (A

T1, A

T2)

–U

m b

arra

men

to d

e te

ste

anal

ógic

o in

tern

o co

nstit

uído

por

(p

elo

men

os) d

uas l

inha

s (A

B1,

AB

2)–

Um

circ

uito

de

inte

rfac

e ao

bar

ram

ento

de

test

e (T

BIC

)–

Mód

ulos

per

iféric

os a

naló

gico

s (A

BM

) em

cad

a pi

no

anal

ógic

o e

opci

onal

men

te e

m o

utro

s pin

os fu

ncio

nais

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

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EUP

/ DEE

C)

5

A in

fra-

estru

tura

de

test

e P1

149.

4

•C

ada

pino

de

E/S

anal

ógic

o te

m u

m A

BM

ass

ocia

do

que

prop

orci

ona

oper

açõe

s de

cont

rola

bilid

ade

e ob

serv

abili

dade

tam

bém

no

dom

ínio

mis

to•

Os s

inai

s de

test

e an

alóg

icos

pod

em se

r enc

amin

hado

s de

/ pa

ra o

s pin

os fu

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nais

ana

lógi

cos a

travé

s do

TBIC

e A

TAP,

que

liga

m o

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ram

ento

de

test

e in

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o ao

ext

erio

r (ba

rram

ento

na

CC

I e e

quip

amen

to d

e te

ste)

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

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ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

6

Estru

tura

de

um c

ompo

nent

e co

mpa

tível

com

a n

orm

a 11

49.4

(1)

(as c

élul

as d

igita

is 1

149.

1 sã

o ag

ora

desi

gnad

as p

or D

BM

)

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

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ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

7

Estru

tura

de

um c

ompo

nent

e co

mpa

tível

com

a n

orm

a 11

49.4

(2)

•A

ope

raçã

o da

infr

a-es

trutu

ra 1

149.

4 po

de se

r ex

empl

ifica

da c

omo

se se

gue:

–U

ma

entra

da a

naló

gica

é a

plic

ada

exte

rnam

ente

em

AT1

e a

sa

ída

anal

ógic

a é

obse

rvad

a em

AT2

–A

T1 e

AT2

pod

em se

r lig

ados

ao

barr

amen

to in

tern

o co

nstit

uído

pel

as li

nhas

AB

1 e

AB

2–

De

AB

1 o

sina

l pod

e se

r enc

amin

hado

par

a o

circ

uito

inte

rno

ou p

ara

um p

ino

func

iona

l de

saíd

a–

As r

espo

stas

são

enca

min

hada

s par

a A

B2

a pa

rtir d

o ci

rcui

to

inte

rno

ou d

e um

pin

o fu

ncio

nal d

e en

trada

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

8

Estru

tura

de

regi

stos

de

test

e no

114

9.4

(1)

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

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ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

9

Estru

tura

de

regi

stos

de

test

e no

114

9.4

(2)

•A

est

rutu

ra d

e re

gist

os d

e te

ste

no 1

149.

4 é

inte

iram

ente

dig

ital e

ess

enci

alm

ente

idên

tica

à qu

e é

defin

ida

para

o 1

149.

1•

O re

gist

o B

S co

mpr

eend

e a

estru

tura

de

cont

rolo

do

TBIC

e d

os A

BM

(par

a al

ém d

a es

trutu

ra d

e co

ntro

lo,

quer

o T

BIC

que

r os A

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pos

suem

tam

bém

um

a es

trutu

ra d

e co

mut

ação

)•

Os r

egis

tos d

e co

ntro

lo d

o TB

IC e

dos

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M d

efin

em

os m

odos

de

oper

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des

tes b

loco

s

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

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erre

ira -

Uni

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idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

10

A in

stru

ção

PRO

BE

•Pa

ra a

lém

das

três

inst

ruçõ

es o

brig

atór

ias,

a no

rma

1149

.4 d

efin

e um

a qu

arta

inst

ruçã

o ob

rigat

ória

de

sign

ada

PRO

BE:

–O

regi

sto

de d

ados

sele

ccio

nado

é o

regi

sto

BS

–C

ada

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M li

ga o

pin

o re

spec

tivo

ao c

ircui

to in

tern

o–

AT1

e A

T2 e

stão

liga

dos a

AB

1 e

AB

2–

A li

gaçã

o en

tre o

s pin

os fu

ncio

nais

ana

lógi

cos e

AB

1 / A

B2

é de

finid

a pe

lo re

gist

o de

con

trolo

de

cada

AB

M–

Cad

a m

ódul

o pe

rifér

ico

digi

tal (

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M) o

pera

em

mod

o tra

nspa

rent

e (c

omo

para

S/P

e B

YPA

SS)

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

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ira -

Uni

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idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

11

BY

PASS

, S/P

e E

XTE

ST

•Pa

ra a

lém

da

desc

rição

apr

esen

tada

na

norm

a 11

49.1

, ap

licam

-se

as se

guin

tes r

egra

s no

1149

.4:

–B

YPA

SS e

S/P

: i) A

T1 /

AT2

dev

em e

star

isol

ados

de

AB

1 /

AB

2, b

em c

omo

de o

utra

s fon

tes d

e te

nsão

; ii)

todo

s os p

inos

fu

ncio

nais

ana

lógi

cos d

evem

est

ar li

gado

s ao

circ

uito

inte

rno;

iii

) tod

os o

s pin

os fu

ncio

nais

ana

lógi

cos d

evem

est

ar is

olad

os

de A

B1

/ AB

2, b

em c

omo

de o

utra

s fon

tes d

e te

nsão

–EX

TEST

: Os A

BM

dev

em in

terr

ompe

r a li

gaçã

o en

tre o

pin

o e

o ci

rcui

to in

tern

o

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

12

Inst

ruçõ

es o

pcio

nais

114

9.4

•A

s ins

truçõ

es o

pcio

nais

114

9.4

são

as m

esm

as q

ue n

o 11

49.1

(IN

TEST

, ID

/ U

SER

CO

DE,

RU

NB

IST,

C

LAM

P e

HIG

HZ)

•Pa

ra a

lém

da

desc

rição

apr

esen

tada

na

norm

a 11

49.1

, a

desc

rição

114

9.4

dest

as in

stru

ções

incl

ui a

s reg

ras q

ue

defin

em o

mod

o de

ope

raçã

o do

TB

IC e

dos

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M

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

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e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

13

O c

ircui

to d

e in

terf

ace

ao b

arra

men

to d

e te

ste

(TB

IC)

•O

TB

IC c

ontro

lo a

s lig

açõe

s ent

re o

ATA

P (A

T1 e

A

T2) e

o b

arra

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to d

e te

ste

inte

rno

(pel

o m

enos

dua

s lin

has d

e te

ste

anal

ógic

o in

tern

as —

AB

1 e

AB

2)•

Os A

BM

e o

TB

IC a

sseg

uram

a c

arac

terís

tica

prin

cipa

l do

114

9.4

—a

aplic

ação

e o

bser

vaçã

o de

sina

is d

e te

ste

anal

ógic

os•

O T

BIC

con

tém

um

a es

trutu

ra d

e co

mut

ação

e u

ma

estru

tura

de

cont

rolo

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

14

TBIC

: Est

rutu

ra d

e co

mut

ação

(1)

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

15

TBIC

: Est

rutu

ra d

e co

mut

ação

(2)

•A

est

rutu

ra d

e co

mut

ação

do

TBIC

per

mite

:–

Liga

r AT1

ou

AT2

a V

Hou

VL

–Li

gar A

T1 o

u A

T2 a

AB

1 ou

AB

2–

Liga

r AT1

ou

AT2

à fo

nte

de te

nsão

inte

rna

VC

LAM

P

–O

bter

um

a re

pres

enta

ção

em u

m b

it da

tens

ão e

m A

T1 o

u A

T2

(com

para

tivam

ente

ao

valo

r de

VTH

)

•O

uso

ade

quad

o de

stes

mod

os d

e op

eraç

ão p

erm

ite o

te

ste

de li

gaçõ

es e

par

amét

rico

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

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/ DEE

C)

16

TBIC

: Est

rutu

ra d

e co

ntro

lo (1

)

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

17

TBIC

: Est

rutu

ra d

e co

ntro

lo (2

)

•A

est

rutu

ra d

e co

ntro

lo d

o TB

IC (q

uatro

bits

) faz

par

te

do re

gist

o B

S e

cont

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–U

m a

ndar

de

capt

ura

/ des

loca

men

to: C

ALI

BR

ATE

, C

ON

TRO

L, D

ATA

1 e

DA

TA2

(a re

pres

enta

ção

em u

m b

it da

s ten

sões

em

AT1

e A

T2 é

cap

tura

da n

os b

its D

ATA

1 e

DA

TA2)

–U

m a

ndar

de

rete

nção

, que

def

ine

(em

con

junt

o co

m o

de

scod

ifica

dor d

e in

stru

ções

) o m

odo

de o

pera

ção

da

estru

tura

de

com

utaç

ão(a

s cél

ulas

do

TBIC

são

sem

elha

ntes

a c

élul

as 1

149.

1, a

m

enos

do

mux

de sa

ída

no a

ndar

de

rete

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)L

EON

AR

DO

INSI

GH

T II

/ T

AP-

MM

AST

EP

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ste

mis

to (I

EEE

1149

.4)

© J.

M. M

artin

s Fer

reira

-U

nive

rsid

ade

do P

orto

(FEU

P / D

EEC

)18

Os m

ódul

os p

erifé

ricos

ana

lógi

cos

(AB

M) —

O c

oraç

ão d

o 11

49.4

•O

s AB

M d

eter

min

am o

flux

o de

sina

is a

naló

gico

s de

/ pa

ra o

s pin

os fu

ncio

nais

•A

apl

icaç

ão e

obs

erva

ção

de si

nais

de

test

e at

ravé

s dos

A

BM

é p

ossí

vel c

ombi

nand

o o

aces

so sé

rie a

o re

gist

o B

S e

o ac

esso

de

estím

ulos

ana

lógi

cos a

o A

TAP

•C

ada

AB

M c

onté

m u

ma

estru

tura

de

com

utaç

ão e

um

a es

trutu

ra d

e co

ntro

lo

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

19

AB

M: E

stru

tura

de

com

utaç

ão (1

)

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

20

AB

M: E

stru

tura

de

com

utaç

ão (2

)

•A

est

rutu

ra d

e co

mut

ação

dos

AB

M p

erm

ite:

–D

eslig

ar o

circ

uito

inte

rno

do p

ino

func

iona

l–

Com

anda

r o p

ino

a pa

rtir d

e A

B1

(con

trola

bilid

ade)

–C

oman

dar A

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a pa

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o pi

no (o

bser

vabi

lidad

e)–

Cap

tura

r um

a re

pres

enta

ção

em u

m b

it da

tens

ão n

o pi

no

(com

para

da c

om V

TH)

–Li

gar V

Hou

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ao p

ino

(par

a o

test

e de

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ções

)–

Liga

r a te

nsão

de

uma

font

e de

refe

rênc

ia (V

G) a

o pi

no (ú

til

para

a re

aliz

ação

de

med

idas

par

amét

ricas

)

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

21

AB

M: E

stru

tura

de

cont

rolo

(1)

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

22

AB

M: E

stru

tura

de

cont

rolo

(2)

•A

est

rutu

ra d

e co

ntro

lo d

e ca

da A

BM

(qua

tro b

its) f

az

parte

do

regi

sto

BS

e co

ntém

:–

Um

and

ar d

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ptur

a / d

eslo

cam

ento

: DA

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ON

TRO

L,

BU

S1 e

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S2 (a

repr

esen

taçã

o em

um

bit

da te

nsão

no

pino

é

capt

urad

a no

and

ar D

ATA

)–

Um

and

ar d

e re

tenç

ão, q

ue d

efin

e (e

m c

onju

nto

com

o

desc

odifi

cado

r de

inst

ruçõ

es) o

mod

o de

ope

raçã

o da

es

trutu

ra d

e co

mut

ação

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

23

Test

e de

liga

ções

com

o 1

149.

4

•O

test

e de

liga

ções

(par

a a

dete

cção

de

circ

uito

s abe

rtos

ou c

urto

-circ

uito

s) é

idên

tico

ao 1

149.

1:–

No

caso

de

pino

s dig

itais

, os d

ados

são

carr

egad

os

dire

ctam

ente

nos

DB

M–

No

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dos

pin

os a

naló

gico

s, os

cód

igos

que

pro

voca

m a

ap

licaç

ão d

as te

nsõe

s int

erna

s (V

Hou

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aos

pin

os sã

o ca

rreg

adas

nas

est

rutu

ras d

e co

ntro

lo d

os A

BM

–A

apl

icaç

ão d

e ve

ctor

es d

e te

ste

e a

capt

ura

de re

spos

tas

com

eça

com

a in

stru

ção

S/P

e lid

a ap

enas

com

val

ores

dig

itais

(par

a pi

nos d

igita

is o

u an

alóg

icos

)

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

24

1149

.4: M

edid

a de

um

a im

pedâ

ncia

ent

re

um p

ino

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assa

(1)

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

25

1149

.4: M

edid

a de

um

a im

pedâ

ncia

en

tre u

m p

ino

e m

assa

(2)

•Pr

oced

imen

to:

–In

ject

ar a

cor

rent

e I T

na im

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des

conh

ecid

a (Z

D),

atra

vés

de A

T1 e

dos

inte

rrup

tore

s S5

e SB

1–

Med

ir a

tens

ão V

Tem

AT2

, lig

ado

a Z D

atra

vés d

os

inte

rrup

tore

s SB

2 e

S6–

Z Dse

rá e

ntão

dad

a po

r ZD

= V

T/ I

T

•A

ssun

ções

:–

Z V>>

ZS6

+ Z S

B2

(que

da d

e te

nsão

em

S6

e SB

2)–

Z V+

Z S6

+ Z S

B2

>> Z

D(p

erce

ntag

em d

e I T

que

não

atra

vess

a Z D

)

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

26

1149

.4: I

nfor

maç

ões a

dici

onai

s (1)

LEO

NA

RD

O IN

SIG

HT

II /

TA

P-M

M A

STE

P -O

test

e m

isto

(IEE

E 11

49.4

J. M

. Mar

tins F

erre

ira -

Uni

vers

idad

e do

Por

to (F

EUP

/ DEE

C)

27

1149

.4: I

nfor

maç

ões a

dici

onai

s (2)