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Agilent TechnologiesUHS-II 物理層試験ソリューション
アジレント・テクノロジー株式会社アプリケーション・エンジニアリング部坂田 健
15min
UHS-II Test GuidelineTo support adoption & improve interoperability, SDAssociation developed “UHS-II Test guideline” along with “UHS-II Spec”.Dedicated verification tools, 3rd party test houses services are available.
Test Specification for:
Part 1 UHS-II AddendumVersion 1.01
Technical Committee SD Card Association
UHS-II SpecificationsPart 1
UHS-II PHY Test Guidelines
Version 1.00
Test Specification for:
Part 1 UHS-II AddendumVersion 1.01
Technical Committee SD Card Association
UHS-II SpecificationsPart 1
UHS-II Protocol Test Guidelines
Version 1.00
Agilent UHS-II物理層ソリューションが対応している測定方法“SDA PHY Test Guidelines”
Host Synchronous
PLL PLL
DESSER
SERDES
10b/8b
8b/1
0b
10b/
8b
8b/10bOSC
TX
TX
RX
RX
D0+
D0-
D1+
D1-
UHS-II CardUHS-II HostPH
Y/Lo
gic
Link
Laye
r
PHY/
Logi
c
Link
Laye
r
RCLK+
RCLK-
TX RX
Return Loss “Tx/Rxポート正しく終端されているか?”
Tx “信号品質 良いか? Rx “ジッタ耐性 十分か?”
UHS-II Test Guideline 物理層測定・三分野
“Test Fixture” と測定器を使った“単体測定”
Host Test Fixture
D0+/-
D1+/-
RCLK
VDD1.8V/3.3V
Device Test Fixture
VDD1.8V/3.3VD1+/-
D0+/-
RCLK
RCLKD0 D1
PWR 3.3V1.8VGND
Model#:SKU: A9-UHS2-03SKU: A9-UHS2-01
Available from Astek or Bitifeyehttp://newweb.astekcorp.com/
PLL
SER
DES
10b/8b
8b/1
0b
OSC
TX
RX
HostPH
Y/Lo
gic
Link
Laye
r
TX
Loop Backed PRBS
CLK In
N4903B JBERTINOUT
N4880AClock Multiplier
CLK
Data Out
NO SSC
RCLK
TTC150ps PRBS with Jitter
測定フロー
1: DUTをLoop backに設定2: DUTへTest patterns入力3: DUT Tx Signal を計測器へ
Rx Test : JBERT Error DetectorTx Test : オシロとプローブ Return Loss: ネットアナ
“Loop Back Modeで測定を行う”Host接続例
UHS-II DC coupled, Diff 100ohm 終端
E2695A InfiniiMaxSMA Probe Head- InfiniiMax
+ -
InfiniiMax+ -
Ope
n+
Probe AMPProbe Head
-
InfiniiMax
+ -
Ope
n+
Probe AMPProbe Head
Differential
Single Ended &Common Mode
Tx測定 UHS-II 用の終端プローブ
Tx Rx
50Ω
50Ω
C
Test Equipment
100nFHigh Z
High Z
N6461A Agilent Infiniiumオシロ90000シリーズ用UHS-II Card&Host Tx 自動測定アプリケーション
DUT type選択Test項目選択
接続図による確認 RUN TEST
Pass/Fail & レポート自動生成
1001010……
N4903B JBERTJitter印可Bit Error Ratio試験機1000010……
TX
RX
Rxの物理性能評価とは?Jitterや低振幅など、シビアな信号でも受信できるか?
1001010……
Loop Backたたき直し
RJ+SJ+ISIRJ+SJ+ISI
Bit Error 検出
N5990A#120 Valiframe UHS-II Host/Device Rx 自動測定ソリューション
Test Automation
Connection diagram
Pre-Calibration at the Connector End
Jitter 周波数・振幅をスイープし境界測定
Tota
l Jitt
er (
UI)
Sinusoidal Jitter Frequency (Hz)
ジッタ・トレランスカーブ評価 自動測定
Device & Host Rxの性能 “評価”
なぜ Return Lossは重要なのか?
終端
LSI内部終端は理想的でなく信号は反射する。
ネットワークアナライザで何が見えるのか?
Impedance (ohm
)
Time(sec) = location
Reflection (dB)
Frequency (Hz)FFT
Agilent E5071C ENA Opt TDR / Return Loss 試験
インピーダンスとS-Para 一台で同時測定S-parameter Test with Pass/Fail LimitDiff TDR / Debug
Debug play zone
UHS-II Agilent 物理層測定ソリューション
ネットワークアナライザ
JBERT BER試験機
Device Tx試験Data信号品質
Host Tx試験RCLK信号品質Data信号品質
Device Rx試験Data受信耐性
Host Rx試験Data受信耐性RCLK受信耐性
オシロスコープ
Device Return Loss試験Txポート差動SparaRxポート差動Spara
Host Return Loss 試験Txポート差動SparaRxポート差動Spara
SDA UHS-II PHY Test Guidelineに沿った測定を提供
PLL PLL
DESSER
SERDES
10b/8b
8b/1
0b
10b/
8b
8b/10b
OSC
TX
TX
RX
RX
D0+
D0-
D1+
D1-
UHS-II CardUHS-II HostP
HY/
Logi
c
Link
Laye
r
PH
Y/Lo
gic
Link
Laye
r
RCLK+
RCLK-
TX RX
Return Loss E5071C ENA opt TDRネットワークアナライザ Z/Spara測定
Tx 90000AオシロUHS-II 信号品質自動測定
Rx N4903B JBERTUHS-II ジッタ耐性自動測定
UHS-II Agilent 物理層測定ソリューション