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Methoden zur Abbildung magnetischer Domänen
• Licht: Spin-Bahn-Wechselwirkung– Kerr-Effekt, Faraday-Effekt– X-Ray Magnetic Circular (Linear) Dichroism (PEEM)
• Elektronen:– Lorentz-Mikroskopie (Lorentzkraft)– SEMPA: Secondary Electron Microscopy with Polarization Analysis – SP STM: Nachweis der Spinpolarisation
• (andere) Rastersondenmethoden– MFM: magneto-statische-Wechselwirkung
Methoden zur Abbildung magnetischer Domänen
Gliederung:
• Kurzübersicht – Traditionelle Techniken:– Bitter-Streifen-Technik– Kerr-Mikroskopie– Lorentz-Mikroskopie
• Photoelektronenemissionsmikroskopie (PEEM)• Magnetic Force Microscopy (MFM)• Spin Polarized Scanning Tunneling Microscopy
Freeman and Choi, Advances in Magnetic Microscopy, Science 294, 1484 (2001)
Ferromagnetische Domänen
L. A
lff, G
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Ursache der Domänenbildung ist die Reduzierung der magnetischen Streufeldenergie ...
Ferromagnetische Domänen
Ch. K
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s. 2
1, 5
14 (
1949
)
... wie hier am Beispiel eines Si-Fe-Kristalls gezeigt.
Domänenwände
Jäge
r, P
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von
Fest
körp
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Bloch-Wand Néel-Wand
Drehung der Magnetisierung in der Ebene der Wand,stabil im Volumen
Drehung der Magnetisierung in einer Ebene senkrecht zur Wand,es ragt kein Streufeld aus der Oberfläche herausstabil an der Oberfläche
Bitter-Streifen-TechnikFrancis Bitter 1902-1967
B. E
lsch
neri
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sen
`Phy
sik`
• Beschichtung einer ferromagnetischen Probe mit einer kolloidalen Lösung ferromagnetischer Teilchen (z.B. Magnetit Fe3O4)
• diese sammeln sich an Stellen hoher großer Gradienten des Streufeldes (Bloch-Wänden)
• im Lichtmikroskop können dann die Bereichswände aufgrund der Ansammlung von Teilchen beobachtet werden
Kerr-MikroskopieJohn Kerr 1824 - 1907
• Kerr-Effekt (1877): Drehung der Polarisationsebene linear polarisierten Lichts aufgrund der Reflexion an einer ferromagnetischen Oberfläche
• in der Lichtmikroskopie mit Polarisationsanalyse können magnetische Domänen beobachtet werden
• Messungen im Magnetfeld möglich• Auflösung bis etwa 100nm
Williams et al. Phys. Rev. 82, 119 (1951)
Kerr-Mikroskopie
Kron
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Fes
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per
Magnetooptische Kerr-Effekt-Abbildung der Bereichsstruktur auf der (110)-Ebene eines Ni-Kristalls. Die rechte Seite zeigt die Bereichsanordnung schematisch.
Lorentz-MikroskopieHendrik Antoon Lorentz (1853-1928)
• Elektronen (100-1000keV) werden beim Durchgang durch eine dünne (<150nm) ferromagnetische Schicht abgelenkt
• diese Ablenkung kann in Transmissions-Elektronen-Mikroskopie beobachtet werden
• empfindlich auf paralleleMagnetisierung (in-plane)
• Auflösung < 10nm
• Elektronenholographie: Interferenzmusteraufgrund Phasenverschiebung K
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App
l. P
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Let
t. 75
, 368
3 (1
999)
Photo Electron Emission Microscopy• Materialkontrast
Belichtung mit Quecksilberlampe (4.9eV) führt zu unterschiedlichen Photo-e-Intensitäten in Abhängigkeit von der Austrittsarbeit
• Chemischer KontrastAnregung mit Röntgenstrahlung an charakteristischen Absorptionskanten
• Magnetischer Kontrast– Nutzung zirkular polarisierter
Rö-Strahlung (XMCD)– Photo-e-Intensität abhängig von
relativer Orientierung von Photonenspin und Magnetisierungsvektor
– Asymmetrie-Bildσ+-σ- / σ++σ-
– mit Linearem Dichroismus (XMLD) Abbildung antiferromagnetischer Domänen möglich
Kuch et al., Surf. Rev. Lett. 5, 1241 (1998)
Photo Electron Emission Microscopy
Grundlage für magnetischen Kontrast: X-Ray Magnetic Circular DichroismRöntgen-Absorption abhängig von Magnetisierung
M+ / M --
Bsp. Fe-Film / W(110)
Stöhr, J. Electr. Spectr. 75, 253 (1995)
Photo Electron Emission Microscopy
10x10 µm2
Magnetische Domänen auf einer CoPtCr Festplatte
XMCD images of magnetic domains on a magnetic recording disk, recorded with right polarized x-rays of different energies. We obtained the images shown by dividing the original images by a corresponding image taken at a photon energy of 810eV to remove the nonuniform response of the optical system across the field of view.
The Co L-edge dichroism spectra, which correlate photon energies and images.
Stöhr, Science 259, 658 (1993)
Photo Electron Emission MicroscopyMagnetische Domänen auf einer CoPtCr Festplatte
10x1 µm2
High-resolution XMCD images obtained by subtracting images obtained at the L3 and L2 edges for enhanced contrast.
Stöhr, Science 259, 658 (1993)
Photo Electron Emission Microscopy
hν
Permalloy ´Flux closure domains` 40x40 µm2
Ch. Ziethen et al., J. Electr. Spect. 88, 983 (1998)
Photo Electron Emission MicroscopyCo/Cr- Keilschichten auf einem Fe(001) Whisker
Zwischenschichtaustauschkopplung
Co
Fe (001)
5ML Co
0-3ML Cr
CrFe
Kuch et al., Surf. Rev. Lett. 5, 1241 (1998)
Magnetic Force Microscopy
H)(mF •∇=
m magnetisches Moment der SpitzeH Streufeld der Probe
nano
scie
nce.
com
Material: single crystal siliconMagnetic Coating: CoCrTa, FeRadius: < 10 nmCone angle: for min. of 3µm from apex, < 12°
Magnetic Force Microscopy
Two MFM images of closely spaced bit tracks on a tape, which is used as mass data storage device. While the read head can only disinguish "1" and "0" along the tracks, MFM is able to resolve the fine structure of the magnetic bit structure. Regarding device optimations the area where neighbouring meet (right image) are of particular importance to increase the bit density.
AG Wiesendanger: http://www.nanoscience.de
Magnetic Force Microscopy
Circular Co dots / GaAs Ø=150nm
Topographie MFM
2x2
µm2
Magnetisierung direkt nach der Präparation (as prepared state) in-plane mit statistischer Orientierung
Kleiber, Phys. Rev. B 58, 5563 (1998)
Magnetic Force Microscopy
Elliptical Co dots / GaAs 140nm x 250nm
Topographie MFM
6x6
µm2
Magnetisierung direkt nach der Präparation (as prepared state) in-plane entlang der großen Hauptachse
(Formanisotropie)
Kleiber, Phys. Rev. B 58, 5563 (1998)
Magnetic Force Microscopy
Elliptical Co dots / GaAs 140nm x 250nm
Lokales Umschalten eines ‘Dots‘ ist durch Kombination eines externen Feldes und dem Streufeld der Spitze möglich
Kleiber, Phys. Rev. B 58, 5563 (1998)
Spin Polarized Scanning Tunneling Microscopy
erstmals beobachtet an Cr(001)
Modell: • Topologischer Antiferromagnetismus, d.h. benachbarte Terrassen sind entgegengesetzt magnetisiert• konnte nicht mit räumlich mittelnden Methoden beoachtet werden(spinaufgelöste Photoemission)
Blügel et al., Phys. Rev. B 39, 1392 (1989), Wiesendanger et al., Phys. Rev. Lett. 65, 247 (1990)
Spin Polarized Scanning Tunneling Microscopy
STM mit W-Spitze:vorwiegend einatomare Stufen
erstmals beobachtet an Cr(001)
STM mit ferromagnetischer
CrO2-Spitze
STM mit W-Spitze
Modell: • Topologischer Antiferromagnetismus, d.h. benachbarte Terrassen sind entgegengesetzt magnetisiert• konnte nicht mit räumlich mittelnden Methoden beoachtet werden(spinaufgelöste Photoemission)
Blügel et al., Phys. Rev. B 39, 1392 (1989), Wiesendanger et al., Phys. Rev. Lett. 65, 247 (1990)
Spin Polarized Scanning Tunneling Microscopy
erstmals beobachtet an Cr(001)
Unterschiedlicher Tunnelstrom in Abhängigkeit von Magnetisierung der Terrassen führt im `Constant current mode` zu unterschiedlichen Stufenhöhen h1 und h2
Blügel et al., Phys. Rev. B 39, 1392 (1989), Wiesendanger et al., Phys. Rev. Lett. 65, 247 (1990)
Spin Polarized Scanning Tunneling Microscopyam Beispiel des austauschaufgespaltenen Gd (0001) Oberflächenzustandes
∆ex = 700 meV
Gd-Oberfläche mit spinpolarisierterZustandsdichte um EF
Fe-Spitze mit konstanter Spinpolarisation um EF
M+ / M --
Erhöhter Tunnelstrom der Spinkomponente parallel zur Spitzenmagnetisierung
Spin valve effect
Bode, Phys. Rev. Lett. 81, 4256 (1998)
Spin Polarized Scanning Tunneling Microscopyam Beispiel des austauschaufgespaltenen Gd (0001) Oberflächenzustandes
erwartete Tunnelspektren:
Leitf
ähig
keit
~
loka
le Z
usta
ndsd
icht
e
angelegte Spannung (bias voltage)
M+ / M --
Bode, Phys. Rev. Lett. 81, 4256 (1998)
Spin Polarized Scanning Tunneling Microscopyam Beispiel des austauschaufgespaltenen Gd (0001) Oberflächenzustandes
gemessene Tunnelspektren:
Bode, Phys. Rev. Lett. 81, 4256 (1998)
Spin Polarized Scanning Tunneling Microscopyam Beispiel des austauschaufgespaltenen Gd (0001) Oberflächenzustandes
U= -0.2 V
2x2
µm2
U= +0.45 V
(besetzte Zustandsdichte) (unbesetzte Zustandsdichte)
Bode, Phys. Rev. Lett. 81, 4256 (1998)
Spin Polarized Scanning Tunneling Microscopyam Beispiel des austauschaufgespaltenen Gd (0001) Oberflächenzustandes
Asymmetriebild:
Auflösung < 20nm
Bode, Phys. Rev. Lett. 81, 4256 (1998)
Spin Polarized Scanning Tunneling Microscopy
• 1,5 ML Fe / W (110)• mit Gd bedeckte W-Spitze: Magnetisierung senkrecht zur OF (out-of-plane)
Tunnelspektren`Constant current´ Bild
Kubetzka et al., Phys. Rev. B 63, 140407 (2001)
Spin Polarized Scanning Tunneling Microscopy
• 1,5 ML Fe / W (110)• mit Gd bedeckte W-Spitze: Magnetisierung senkrecht zur OF (out-of-plane)
Fe-Inseln parallel und antiparallel zur Spitzenmagnetisierung
Asymmetriebild bei U = -0,25V`Constant current´ Bild
Kubetzka et al., Phys. Rev. B 63, 140407 (2001)
Spin Polarized Scanning Tunneling Microscopy
Kubetzka et al., Phys. Rev. B 63, 140407 (2001)
Bed
ecku
ngFe / W(110)
• immer noch senkrechte Magnetisierung• Domänengröße durch Terrassenweite
bestimmt
• alle Inseln eindomänig• kleine Inseln in-plane magnetisiert
(parallel zu Magnetisierung der Monolage)
• eine Insel mit 2 Domänen• Ketten von parallel magnetisierten Inseln an
Stufenkanten - Austauschkopplung
• Koaleszenz der Inseln Versetzungslinien• Ausbildung von Domänenwänden in Inseln
~ 30nm(Blochwände, Wandbreite ~7nm)
Zusammenfassung
Methoden zur Abbildung magnetischer Domänen empfindlich auf ...
• das magnetische Streufeld• Bitter-Streifen-Technik• Magnetic Force Microscopy
• die Magnetisierung• Lorentz-Mikroskopie (eigentlich Messung des B-Feldes)• Magnetooptik
• Kerr-Mikroskopie• Photoelektronenmikroskopie
• XMCD: linearer m.o. Effekt, prop. zur M• XMLD: quadratischer m.o. Effekt, prop. M2
• Nachweis der Spinpolarisation• SEMPA (Secondary electron microscopy with polarization analysis)• SP STM (Spin polarized STM)
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