universidade tecnológica federal do paraná desenvolvimento de um software para métricas em...

Universidade Tecnológica Federal do Paraná

Desenvolvimento de um software para métricas em rastreabilidade de

artefatos de software

Jorge Roberto Rosa PereiraOrientador Profº Dr. Elias Canhadas Genvigir

Cornélio Procópio, 22 de Junho de 2011

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RoteiroIntrodução;Métricas para Rastreabilidade de Artefatos;

◦Modelo de Hull Et Al (2002);◦Modelo de Costello; Liu (1995);◦Um Modelo de Métrica para Rastreabilidade de

Artefatos;Justificativas;Tecnologias Utilizadas;Modelo Arquitetural do Projeto;

◦Metodologia de Desenvolvimento;◦Requisitos Funcionais do Projeto;

Demonstração da Solução;Cronograma;Referências;

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Introdução

Oriundo de um Projeto de Iniciação Científica;

Desenvolvimento de uma Ferramenta para Rastreabilidade de Artefatos;

Composto de dez módulos que se complementam;◦Participação de alunos de graduação da UTFPR;

◦Projeto trabalhado desde 2010;

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Introdução

Controle de Acesso

Gerenciador de Projetos

Segurança

Criação e Recuperação de

Projetos

Registro de Design

Rationale

Controle de Matrizes

Controle de Artefatos

Gerenciador de

Documentos

Análise de Impacto

Controle de Métricas

Ferramenta para Rastreabilidade de Artefatos

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Métricas para Rastreabilidade de Artefatos de Software

Melhoria na qualidade dos artefatos rastreados;

Melhoria na qualidade da rastreabilidade;

Estudo de duas abordagens;◦ Hull Et Al (2002);◦ Costello; Liu (1995);

Definição de um modelo baseado nos padrões existentes;

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Modelo de Hull et al. (2002)

Modelo de HULL et al. (2002), define cinco padrões de métricas;

Crescimento ProfundidadeLargura

Mudança Latente

Balanço

Modelo de Métrica por Hull et al. (2002)

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O modelo de métricas definido por Costello; Liu (1995) apresenta cinco padrões de métricas:

Modelo de Costello; Liu (1995)

Profundidade Plena e Alta Cobertura

Estatística de Vinculação

Cobertura de Próximo Nível

Rastreabilidade Indefinida

Rastreabilidade Inconsistente

Modelo de Métrica por Costello; Liu (1995)

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Junção dos padrões definidos por HULL ET AL (2002) e COSTELLO; LIU (1995);

Um Modelo de Métrica para Rastreabilidade de Artefatos

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Análise de Cobertura;◦ Indicar quantitativamente a cobertura total dos

artefatos rastreados para com a especificação;

◦ Por exemplo: 100 Artefatos Especificados / 80 Artefatos

Rastreados; Nível Cobertura da Rastreabilidade: 80% ;

Um Modelo de Métrica para Rastreabilidade de Artefatos

100

80

20

Artefatos Especificados

Artefatos Rastreados

Artefatos Não Rastreados

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Análise de Profundidade;◦ A partir de um artefato, determina-se a

quantidade de camadas que a rastreabilidade se estende;

Um Modelo de Métrica para Rastreabilidade de Artefatos

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Análise de Crescimento ou Elos;◦Avalia o nível de crescimento de cada Artefato da Matriz;

Um Modelo de Métrica para Rastreabilidade de Artefatos

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Análise de Inconsistência;◦Identificação dos elos ou artefatos

inconsistentes em relação a especificação;

Um Modelo de Métrica para Rastreabilidade de Artefatos

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Análise de Indefinição;◦ Identificação dos artefatos que não

possuem elos em uma determinada matriz;

Um Modelo de Métrica para Rastreabilidade de Artefatos

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JustificativasMelhoria da qualidade da rastreabilidade e

dos artefatos rastreados;

Mensuração da rastreabilidade de artefatos;

Auxilio nas tomadas de decisões da equipe;

Adaptação e junção de modelos de métricas;◦Criação e implementação de um novo modelo

de métrica para rastreabilidade de artefatos;

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Tecnologias UtilizadasAtividades Tecnologias Utilizadas

Modelagem de Dados UML IDE ASTAH (Versão Gratuita)Modelagem do Banco de Dados DBDesignerAmbiente de Desenvolvimento IDE NetBeans

Tecnologias de Desenvolvimento

Java

Plataforma Web Java Server Pages (JSP)API Java Servlet

Linguagem de Marcação HTMLSistema de Banco de Dados PostgreSQLComunicação com Banco de Dados API Java JDBC

Manipulação e Geração de Gráficos API JFreeChartCeWolf

Manipulação e Geração de Relatórios API JasperReports

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Modelo Arquitetural do ProjetoModelo de arquitetura em três

camadas;

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Metodologia de Desenvolvimento

Uso de um processo adaptativo;◦Ciclo de Vida Iterativo e Incremental;

Composto de quatro fases;

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Metodologia de Desenvolvimento

Desenvolvimento executado em quatro iterações;

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Requisitos Funcionais do Projeto

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Demonstração da Solução

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Cronograma Executado

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Referências COSTELLO, R.; LIU, D. Metrics for requirements

engineering. Journal of Systems and Software, 1995.

FENTON, N, PFLEEGER, S. Software Metrics: A Rigorous and Practical Approach. 2ed. Boston, MA: PWS Publishing, 1998.

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HULL, E.; JAKSON, K.; DICK, J. Requirements engineering. London: Spring Verlag, 2002.

INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS – IEEE.

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23

Referências MENDES, A. Arquitetura de Software: Desenvolvimento

orientado para arquitetura. 1ed. Rio de Janeira, RJ: Editora Campus, 2002.

PETERS, JAMES F. Engenharia de Software. 1ed. Rio de Janeiro, RJ: Editora Campus, 2001.

PRESSMAN, R.S. Engenharia de Software. 1ed. Rio de Janeiro, RJ: Makron Books, 1995.

______. 3ed. Rio de Janeiro, RJ: Makron Books, 1995.

SOMMERVILLE, I. Engenharia de Software. 6ed. Nacional: Addison Wesley Editor, 2003.

______. 8ed. Nacional: Addison Wesley Editor, 2007.

VAZQUEZ, C.E; SIMÕES, G.S; ALBERT, R.M. Análise de Pontos de Função: Medição, Estimativas e Gerenciamento de Projetos de Software. São Paulo, SP: Érica, 2008.