功率計使用及衰減器與t形管量測cc.ee.ntu.edu.tw/~thc/course_emexp/note/exp - 02.pdf ·...
TRANSCRIPT
31
實驗二
2 功率計使用及衰減器與T形管量測
2-1 功率計與衰減器量測
實驗原理:
在微波量測中,絕對功率(absolute power)通常使用功率計(power meter)或頻譜分析儀
(spectrum analyzer)量測。本實驗係配合 Agilent N1918 功率分析管理軟體使用 Agilent
U2000A感測器(power sensor),如圖一(a)所示,或使用 Agilent E4418B功率計配合 Agilent
E4412A 功率感測器,如圖一(b)所示,量測實驗過程及步驟所需之微波功率。因功率感測器對
功率之感測功能將隨頻率變化,故需於功率計中建立一感測器校準係數表 (sensor
calibration table),以利功率計進行頻率特性修正,該校準係數表已建於功率感測器內。
Agilent N1918功率分析管理軟體安裝及 U2000A功率計使用詳見附錄 A-3。Agilent E4412A
功率計之控制面板及量測程序詳見附錄 A-4、A-5。
(a)
圖一、(a)Agilent U2000A 功率感測器,(b) AgilentE4418B 功率計及 E4412A 功率感測器。
在微波系統中,使用被動元件將造成能量損耗,該項損耗並非刻意製造,乃元件本身特性所
32
造成,稱為『穿透損耗』(insertion loss)。但在特殊應用中,能量損耗可被刻意製造,而稱
為『衰減』(attenuation)。在此實驗中,將使用衰減器作為能量損耗元件,用以衰減傳輸能
量,並探討衰減器之特性。本實驗將量測兩種基本衰減器:(1)固定式衰減器(fixed attenuator)
及(2)可調式衰減器(variable attenuator)。
上列兩種衰減器皆由電阻性材料構成,因其材料特性,傳播至衰減器之能量將被衰減。固定
式衰減器的電阻值為固定值,而可調式衰減器係藉由調整電阻值之大小,達到功率衰減。圖二為
兩種可調式衰減器,在圖(a)中藉由電阻性材料拉出或插入導波管之比例,決定其衰減量大小。
圖(b)中電阻性材料則置於導波管內,當此材料靠近側邊時,將使得衰減量調至最小。但當此材
料靠近中央時,訊號傳播的過程中就會遇到愈大的阻攔,因而衰減量也愈多,衰減器之衰減量表
示係輸入能量(Pin)與輸出能量(Pout)的比值。通常微波能量都是以對數型式取值,並且以分貝
(dB)表示
( ) 10 log in
out
PAttenuation dB
P
圖二、可調式衰減器。
實驗器材:
1. 微波信號源(Agilent N5183A)
2. 功率感測器(Agilent U2000A),含 USB連線用以連接個人電腦
3. 功率分析管理軟體(Agilent N1918),安裝個人電腦及使用參見附錄 A-3。
4. 功率感測器(Agilent E4412A)。
5. 功率計(Agilent 4418B),面板操作參見附錄 A-4,量測步驟參見附錄 A-5。
6. 轉接器(HP adapter X281A N-WR90)
7. 轉接頭(N-SMA)
8. 同軸纜線(coaxial cable)
9. 可調式衰減器 #506
10. 固定式衰減器 #513A/513B
注意:如配合個人電腦使用 Agilent U2000A 功率感測器,則不須使用 Agilent E4412A 功率
感測器及 Agilent 4418B功率計。
33
實驗目的:
熟悉功率計之基本操作及瞭解功率衰減效應。
實驗步驟:
1. 如使用 Agilent U2000A 功率感測器,參照附錄 A-3之操作程序,安裝 Agilent N1918 功
率分析管理軟體於個人電腦。如使用 Agilent E4412A功率感測器及 4418B功率計,參照附
錄 A-5之操作程序,進行功率計校準。
2. 調整微波信號源之輸出頻率為 CW 10GHz、功率為 10dBm。
3. 將實驗儀器裝置如圖三(a)所示。
4. 將功率感測器連接至右側之 N型接頭,再將左側之 SMA-N轉接頭經同軸纜線連接至微波射頻
源輸出端。
注意:此連接順序則對微波射頻源輸出端之同軸纜線,不會造成不必要之扭曲傷害。同理,
實驗結束則先拆除連接至微波射頻源輸出端之同軸纜線。
5. 設定可調式衰減器之衰減值為 0、3、6、12、24dB,並記錄功率計讀值於紀錄表中之輸出功
率值。
6. 將左側連接至微波射頻源輸出端之 SMA-N轉接頭含同軸纜線一起移除,再將右側功率感測器
移除,最後再移除可調式衰減器。將左側之 SMA-N 轉接頭及 N-WR90 轉接器,連接至右側之
WR90-N轉接器,再依步驟 4連接功率感測器及微波射頻源,並記錄功率計讀值於紀錄表中之
輸入功率值。
7. 重複步驟 4~6 二次,將輸出功率值減去輸入功率值(即衰減量為 0dB),計算可調式衰減器
各於設定值之平均衰減量。
7. 將可調式衰減器設定值與平均衰減量繪成曲線圖,附於實驗報告繳交。
8. 利用功率計的『relative』設定功能,即以輸入功率值為基準,重複步驟 4 之量測。
9. 依圖三(b)裝置固定式衰減器(波導管上裝置白色衰減材料)。
10. 依量測可調式衰減器之方法,並配合使用『relative』設定功能,量測固定式衰減器之衰
減量。
11. 將圖三(b)之固定式衰減器更換成裝置黑褐色衰減材料之衰減器,重複實驗步驟 10。
圖三、(a)可調式及(b)固定式量測裝置圖。
34
※各組思考問題 2-1:
1. 實驗結果是否顯示可調式衰減器之設定值與平均衰減量呈線性關係?試說明其原因。
2. 試舉兩則衰減器在微波量測系統中之應用實例,並請列出參考文獻。
3. 圖四為一簡單之微波系統方塊圖,射頻訊號源連接至 50Ω傳輸線,經過一 3dB 衰減器,並於
系統末端連接一短路器,試計算由、看入之反射係數大小( )及電壓駐波比(VSWR)。將
衰減器更換為 6dB 衰減器,重複上述問題,計算由、看進去之反射係數大小以及電壓駐
波比。
Transmision Line Attenuator
ShortCircuit
RFSource
1 2
圖四
4. 請簡單歸納問題 3.之物理意義,並且將實驗一的 1-1 節之實驗結果和問題 3.的情況相互比
較討論。
5. 當電磁波在導波管內傳播時,若電磁波的頻率低於此導波管截止頻率,信號將會有衰減的現
象,此電磁波將不會在此導波管傳遞。有一種衰減器叫 cutoff attenuator,係利用此原
理實現信號衰減的功能,在傳輸線中間插入另一段導波管,此導波管的截止頻率高於輸入信
號之頻率。藉由調整此段額外接上之導波管的長度L,調整衰減量的大小(如圖五)。請參
考電磁學課本,說明為何電磁波在截止頻率以下有衰減的現象。
圖五
35
2-2 T形導波管量測
實驗原理:
T 形管之基本性質已於導論中介紹,在此不再贅述。本實驗原理將介紹散射參數
(scattering parameters)[1],並藉由散射參數預測及驗證 T形管之特性。
一、散射參數:
微波接合面(microwave junction)可連結二個或更多的微波裝置,以構成微波系統或次系
統。經常使用的微波接合面有 E平面 T形管、H平面 T形管、神奇 T形管、混合環(hybrid ring)
及方向耦合器(directional coupler)等,散射參數是描述上列數種接合面特性的有效工具。
『散射參數』簡而言之即為散射波(反射波或穿透波)與入射波之比值。於介紹 N 埠散射
參數之前,先就單埠及雙埠散射參數作說明,再推廣至 N 埠之散射參數。就單埠元件而言,只
有一個散射參數,即為反射係數(reflection coefficient),定義為反射波與入射波之比值。
於實驗一已使用開槽線檢波器(slotline detector)量測微波元件之反射係數大小。就雙埠元
件而言,散射參數與入射及反射波間之關係可寫成
1 11 1 12 2
2 21 1 22 2
b S a S a
b S a S a
其中 a1, a2分別為埠 1 及埠 2之入射波,b1, b2分別為埠 1及埠 2之反射波。
上式寫成矩陣形式為
1 11 12 1
2 21 22 2
b S S a
b S S a
其中 S11為埠 1 之反射係數,S22為埠 2 之反射係數。藉由反射係數可求得待測元件之輸入阻抗
Zin、電壓駐波比(VSWR)等參數;S21為埠 1 至埠 2 之穿透係數(transmission coefficient,
T),由穿透係數則可求得待測元件之衰減常數 α、穿透損耗(insertion loss, IL)等參數。
如圖六所示,可將散射參數推廣至 N 埠的微波元件上,並假設任一埠皆為無損耗傳輸線。圖中
aj為進入該元件之入射波,bi則為離開該元件之散射波。
圖六、N 埠微波元件。
入射波與反射波之關係式可表示為
36
1
1, 2,3, ,
N
i ij j
j
b S a i N
若 i=j且其它埠皆匹配時,Sii=Γi為第 i埠的反射係數。若 ij且其它埠皆匹配時,Sij=Tij為
第 j埠至第 i埠的順向傳輸係數,Sji為第 j埠至第 i 埠的反向傳輸係數。
通常上式亦可寫為
1 11 1 12 2 1
2 21 1 22 2 2
1 1 2 2
N N
N N
N N N NN N
b S a S a S a
b S a S a S a
b S a S a S a
使用矩陣形式可寫成
b S a
其中 b和 a為行矩陣,通常寫為
1
2
N
b
bb
b
、
1
2
N
a
aa
a
此一 N N 矩陣[S]稱為散射矩陣(scattering matrix)
11 12 1
21 22 2
1 2
n
n
n n nn
S S S
S S SS
S S S
而這些係數 S11, S12, …, SNN 則稱為散射參數。
二、散射參數之特性:
特性一、對稱性(symmetry):
若微波接合面滿足互易條件(reciprocity condition)或該接合面處無真空管、電晶體等
元件,且該接合面為線性被動電路,則散射矩陣 S與其對應之轉置矩陣相同。
T
S S
特性二、單一性(unity):
散射矩陣 S中之任一行(或列),若將該行(或列)中之元素與其共軛複數相乘後相加,則
其和為 1。
*
1
1
N
ki ki
k
S S i
特性三、零和性(zero):
散射矩陣 S中之任一行(或列),若將該行(或列)中之元素,與其他行(或列)中相對應
之元素的共軛複數相乘後相加,則其和為 0。
37
*
1
0
N
ki kj
k
S S i j
特性四、相位移(phase shift):
若任何埠(以第 k 埠表示)之終端平面(或參考平面),移離接合面k kl 之電氣長度,則每
一包含有 k之散射矩陣元素 Sij乘上一位移因子 i i j jj l l
e ,而 Skk則乘上2
k kj l
e 。
若用 S’表示移動到新參考平面後的散射參數,用 S 代表移動到新參考平面之前原有的散射
參數,且第 k埠的參考平面移動接合面k kkl 之電氣長度,則 S’和 S的關係可表示為
1 1
2 2
0 0 0 0
0 0 0 0'
0 0 0 0N N
j j
j j
j j
e e
e eS S
e e
三、電場平面 T形管:
T形管之分支在電場平面者,則稱為電場平面 T 形管(見圖七)。如圖七 (b) 所示,若由電
場平面支臂輸入信號時,則在二主臂可分別得到振幅相同,但相位反相之輸出信號,由此可推知
S13 = – S23。
圖七、電場平面 T 形管(a)由主臂輸入(b)由電場支臂輸入。
由於二主臂對電場支臂對稱, S11 = S22,故電場平面 T形管之散射矩陣可表示為
11 12 13 11 12 13
21 22 23 12 11 13
31 32 33 13 13 33
S S S S S S
S S S S S S S
S S S S S S
若電場平面 T形管之三支臂完全匹配,則各埠之反射係數為零,上式之散射矩陣 S可簡化如下
12 13
12 13
13 13
0
0
0
S S
S S S
S S
所以依輸入埠的不同,有下列幾種情形
38
甲、 自電場支臂(埠 3)輸入:
1312 13
12 13 13
13 13
0 0
0 0
0 0
aSS S
S S aS
S S a
由上式可知,若由電場平面支臂輸入,則在二主臂可分別得到振幅相同,但相位反相之輸出
信號。
乙、 自主臂一(埠 1)輸入:
12 13
12 13 12
13 13 13
0 0
0 0
0 0
S S a
S S aS
S S aS
由上式可知,若由主臂一 (埠 1)輸入,則在主臂二(埠 2)與電場平面支臂(埠 3)可分別得
到部份比例之能量(視 S12與 S13而定),且輸出信號之相位相同。
丙、 自主臂二(埠 2)輸入:
1212 13
12 13
13 13 13
0 0
0 0
0 0
aSS S
S S a
S S aS
由上式可知,若由主臂 2(埠 2)輸入,則在主臂 1(埠 1)與電場平面支臂(埠 3)可分別得到
部份比例之能量 (視 S12與 S13而定) ,且輸出信號之相位相反。
丁、 自主臂一(埠 1)與主臂二(埠 2)分別輸入大小相位相同之信號:
1212 13
12 13 12
13 13
0
0
0 0 0
aSS S a
S S a aS
S S
由上式可知,若由主臂一(埠 1)與主臂二(埠 2)分別輸入大小相位相同之信號時,則在主臂
一(埠 1)與主臂二(埠 2)可分別得到大小相位相同之信號,且電場平面支臂(埠 3)之輸出為零。
四、磁場平面 T形管:
T形管之分支在磁場平面者,則稱為磁場平面 T 形管(見圖八)。若由磁場平面支臂輸入時,
則在二主臂可分別得到振幅相同,且相位相同之輸出信號,由此可推知磁場平面 T 形管之散射
矩陣和電場平面 T形管相似,唯該散射矩陣 S13 = S23。
11 12 13 11 12 13
21 22 23 12 11 13
31 32 33 13 13 33
S S S S S S
S S S S S S S
S S S S S S
若磁場平面T形管之三支臂完全匹配,則各埠之反射係數皆為零,上式之散射矩陣S簡化如
下
12 13
12 13
13 13
0
0
0
S S
S S S
S S
39
圖八、磁場平面T形管。
五、神奇 T形管(magic tee):
圖九、神奇 T 形管。
神奇 T形管為電場平面和磁場平面T形管之組合,並有以下特性
1. 若兩大小且相位相同之信號由主臂兩端輸入,則電場平面之輸出將為零,而磁場平面之輸出
為兩信號之和。
2. 若信號由磁場平面支臂輸入,則信號由兩主臂均分輸出,而電場平面支臂輸出為零。
3. 若信號由電場平面支臂輸入,則在兩主臂有大小相同,相位相反之信號輸出,而在磁場平面
支臂輸出為零,亦即 S43 = S34 = 0,此可由圖九解釋(磁場支臂同理可證)。
4. 若信號由主臂任一端輸入,則在主臂的另一端將不可能出現輸出信號。因電場支臂使相位延
遲,而磁場支臂使相位提前,亦即 S12 = S21 = 0。
由以上描述之特性,並假設神奇 T 形管之四個支臂完全匹配,即各埠之反射係數為零,則
其散射矩陣 S為
13 14
13 14
13 13
14 14
0 0
0 0
0 0
0 0
S S
S S
S S
S S
S
實驗器材:
1.~10. 同 2-1節
11. 磁場平面 T形管 #511
40
12. 電場平面 T形管 #516
13. 神奇 T形管 #521
實驗目的:
瞭解 T形管之功用及其工作原理,並驗證各臂間輸入功率與輸出功率之關係。
實驗步驟:
1. 依照 2-1節操作之功率計『relative』設定方式,設定功率參考位準。
第一部份-電場平面 T 形管
圖十、電場平面 T 形管量測裝置。
2. 裝置實驗儀器如圖十,注意需連接負載,依照記錄表中所要求測量的穿透損耗量,測量此時
之穿透損耗,將其記錄於表中。
3. 注意:請思考,如右側之 WR90-N轉接器之方向改變 90°,對量測值之影響。
第二部份-磁場平面 T 形管
4. 裝置實驗儀器如圖十一,注意需連接負載,依照記錄表中所要求測量的穿透損耗量,量測此
時之穿透損耗,將其記錄於表中。
第三部份-神奇 T形管:
5. 裝置神奇 T形管,注意需連接二只負載,依照記錄表中所要求測量的穿透損耗量,量測此時
之穿透損耗,將其記錄於表中。
6. 注意:請思考,如所接之二只 WR90-N 轉接器及 SMA-N-WR90 轉接器之方向造成量測不便,
如何處理。
7. 注意:該紀錄表共需記錄 12項量測值,對應 12 次連接及移除動作,造成相當不便,請思考,
如何處理,可減少裝卸螺絲之次數。
41
圖十一、磁場平面 T 形管量測裝置。
42
※各組思考問題 2-2:
1. 在本實驗中,我們在未連接微波射頻源與輸出端轉接器的 T形管開口上接上終端器,其目的
為何?
2. 除了導論與實驗原理中所提到的功能外,T形管以及神奇T形管還有哪些其它的功能?
3. 在本實驗中,驗證了 T 形管各臂間輸入功率與輸出功率間的大小關係。請設計一個實驗驗證
T形管各臂間輸入與輸出信號間的相位關係。
4. 由量測所得之資料,計算神奇 T形管的散射矩陣。
5. 假設 T形管的各支臂完全匹配,利用磁場平面 T 形管與神奇 T形管的散射矩陣,仿照實驗原
理中電場平面 T形管的方式,依輸入埠的不同,討論各種狀況下的輸出。
6. 請問一個三埠元件,是否可以同時擁有對稱性、各埠完全匹配以及無損耗?
參考資料:
[1] David M. Pozar, Microwave Engineering, 4th ed., John-Wiley, 2011.
43
實驗二 實驗紀錄表
組別:
2-1 功率計與衰減器量測
可調衰減器衰減量測實驗記錄表
衰減器設定 0 dB 3 dB 6 dB 12 dB 24 dB
輸出功率
(dBm)
第一次量測
第二次量測
輸入功率
(dBm)
第一次量測
第二次量測
平均衰減量 (dB)
使用設定『relative』方式量測衰減量
衰減器設定 0 dB 3 dB 6 dB 12 dB 24 dB
衰減量 (dB)
固定式衰減器衰減量測實驗記錄表
(使用設定『relative』方式量測)
1. 白:衰減量=
2. 黑:衰減量=
2-2 T形導波管量測
(使用設定『relative』方式量測)
第一部份-電場平面T形管
輸入端 輸出端
主臂一 Port 1 主臂二 Port 2 電場支臂 Port 3
電場支臂 Port 3
第二部份-磁場平面T形管
輸入端 輸出端
主臂一 Port 1 主臂二 Port 2 電場支臂 Port 3
磁場支臂 Port 3
44
第三部份-神奇T形管
輸入端 輸出端
主臂一 Port 1 主臂二 Port 2 電場支臂 Port 3 磁場支臂 Port 4
主臂一
主臂二
電場支臂
磁場支臂
操作實驗時之問題(對稱性與單一性的問題討論)