conferencista: ing. favio casas ospina
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CONFERENCISTA: ING. FAVIO CASAS OSPINA
E-mail: [email protected]
Web: www.segelectrica.com.co
Bogotá - Colombia
1 • LA HISTORIA
2 • LAS NORMAS
3 • EL LÉXICO
4 • RESISTIVIDAD APARENTE
5 • RESISTENCIA DE PUESTA A TIERRA
6 • TENSIONES DE SEGURIDAD (CONTACTO Y PASO)
7 • EQUIPOTENCIALIDAD
8 • CORRIENTES DE MODO COMÚN
9 • TENSIÓN NEUTRO-TIERRA
10 • pH
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• BAJA TENSIÓN: NEC / NTC 2050 / IEC 60364 / NBR 5410
• DISTRIBUCIÓN: ANSI C2 / IEEE 1410 /
• SUBESTACIONES: IEEE 80 / IEEE 837 / NBR 15751 / NBR 15749
• GENERACIÓN: IEEE 665
• TELECOMUNICACIONES: UIT / EIA / TIA / MOTOROLA R56
• PROTECCIÓN CONTRA RAYOS: IEC 62305 / NTC 4552 / NBR
• EQUIPO ELECTRÓNICO: IEEE 1100 / IEC 61000-5-2
• MEDICIONES: IEEE 81 / IEC 61557
• TIERRAS TEMPORALES: IEC 61230 / IEEE 1048
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Aire
Puesta a Tierra (PT)
(Earthing /
Grounding
/Aterramento)Tierra (Earth / Ground)
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Puesta a Tierra (PT)
(Earthing
Arrangement /
Grounding
Arrangement)
N
T
Red Equipotencial
(Equipotential
Bonding Network /
Grounded System)
S
P
T
Grounding
System
Earthing
System
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• Por toma de muestras
• De cuatro electrodos
• De Schlumberger o de gradiente
• De Schlumberger modificado
• De A.L. Kinyon
• De Wenner o de potencial
• De Palmer
• De Lee
• Dipolares
• De dos electros
• Por medida de resistencia
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Placa metálica( o mercurio)
Muestra
MA N
B
M
A
N
B
ARr Rar 2
TOMA DE MUESTRAS
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Disposición de losElectrodos.
Coeficiente del Dispositivo > 20pa
222222 444
2
43
1
4
pa
a
pa
a
pa
a
aRr
A
A B
V
M N
a a a
A
V
A M B N
a a a
A
A B
V
M N
a a a
2222 4943
2
4
pa
a
pa
a
aRr
2222 4943
2
4
pa
a
pa
a
aRr
Rar 6
Rar 3
Rar 3
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Disposición de losElectrodos.
Coeficiente del Dispositivo > 20pa
A
V
A M N B
a aa5
V
M A B N
a aa5
A
2222
42 5
3 6
2
4
2
3
1
4
pa
a
pa
a
aRr
2222
42 5
3 6
2
4
2
3
1
4
pa
a
pa
a
aRr
Rar 6
Rar 6
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Rar 4
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IEEE 81 Std. 81 – 1983. Measuring Earth Resistivity, Ground
Impedance, and Earth Surface Potentials of a Ground System
(Pag. 15 Numeral (2))
A
V
A M N B
a d a
d
daRa
r
Schlumbeger Palmer A.L. Kinyon
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DIRECCIÓN DE UBICACIÓN DE LOS ELECTRODOS
a/4 a/4
b/4
b/4
A
E B
C
D
b/4b
a
a/2
y
x
• Características del sitio de ubicación de electrodos
• Dimensiones de la PT
• Grandes diferencias de valores obtenidos en cada medición
• Aplicar bien el método de medición
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• De curva de caída de potencial
• De la regla del 62%
• De los cuatro potenciales o de Tagg
• De la pendiente
• De intersección de curvas
• Selectivo
• De triangulación o de Nippold
• Estrella triángulo
• Por corriente inyectada
• Por tensión inducida
• Con referencia natural
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SPT amedir 0,618d
6,5d
0,5
1,0
1,5
2,0
2,5
0
0 30 60 90 120 150 180 210
0,5
1,0
1,5
2,0
2,5
0
0 30 60 90 120 150 180 210
Parte llanade la curva
Valor de laResistencia
61,8 %
CPT CPT CPT
0,4 0,643 0,8 0,58 1,2 0,494
0,41 0,642 0,81 0,579 1,21 0,491
0,42 0,64 0,82 0,577 1,22 0,488
0,43 0,639 0,83 0,575 1,23 0,486
0,44 0,637 0,84 0,573 1,24 0,483
0,45 0,636 0,85 0,571 1,25 0,48
0,46 0,635 0,86 0,569 1,26 0,477
0,47 0,633 0,87 0,567 1,27 0,474
0,48 0,632 0,88 0,566 1,28 0,471
0,49 0,63 0,89 0,564 1,29 0,468
0,5 0,629 0,9 0,562 1,3 0,465
0,51 0,627 0,91 0,56 1,31 0,462
0,52 0,626 0,92 0,558 1,32 0,458
0,53 0,624 0,93 0,556 1,33 0,455
0,54 0,623 0,94 0,554 1,34 0,452
0,55 0,621 0,95 0,552 1,35 0,448
0,56 0,62 0,96 0,55 1,36 0,445
0,57 0,618 0,97 0,548 1,37 0,441
0,58 0,617 0,98 0,546 1,38 0,438
0,59 0,615 0,99 0,544 1,39 0,434
0,6 0,614 1 0,542 1,4 0,431
0,61 0,612 1,01 0,539 1,41 0,427
0,62 0,61 1,02 0,537 1,42 0,423
0,63 0,609 1,03 0,535 1,43 0,418
0,64 0,607 1,04 0,533 1,44 0,414
0,65 0,606 1,05 0,531 1,45 0,41
0,66 0,604 1,06 0,528 1,46 0,406
0,67 0,602 1,07 0,526 1,47 0,401
0,68 0,601 1,08 0,524 1,48 0,397
0,69 0,599 1,09 0,522 1,49 0,393
0,7 0,597 1,1 0,519 1,5 0,389
0,71 0,596 1,11 0,517 1,51 0,384
0,72 0,594 1,12 0,514 1,52 0,379
0,73 0,592 1,13 0,512 1,53 0,374
0,74 0,591 1,14 0,509 1,54 0,369
0,75 0,589 1,15 0,507 1,55 0,364
0,76 0,587 1,16 0,504 1,56 0,358
0,77 0,585 1,17 0,502 1,57 0,352
0,78 0,584 1,18 0,499 1,58 0,347
0,79 0,582 1,19 0,497 1,59 0,341
12
23
RR
RR
C
PT
*CPT
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RzRyR
RzRxR
RyRxR
0
0
0
3
2
1
2
321 RRRRx
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De los dos
puntos
No se debe desconectar el sistema bajo prueba
Caída de
Potencial
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A M N
B
Electrod ode m edic ión
Co m p en sad or
Electrodode corriente
SPT amedir
+ I - I
TENSIÓN POR CORRIENTES ESPURIAS
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MEDICIONES EN SITIOS DE ALTA RESISTIVIDAD O RESISTENCIA
DE CONTACTO
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Mediciones en sitios donde no es posible enterrar los
electrodos de prueba
1 k
1
0
51 0 5 0
5 0 01 0 0
2 5
G R O U N D R E S I S T A N C E T E S T E RM O D E L 3 6 2 0
YP 2
ZC 2
A E M CI N S T R U M E N T S
X - Z F a u l t
X - Y H i R e s i s t a n c e
X - Y H i N o i s eP r e s s T oM e a s u r e
XC 1
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PROTOCOLOS
• Protocolo de medición
• Protocolo de certificación
EQUIPO PARA MEDICIÓN
• Telurómetro. De buena calidad, calibrado
• Electrodos de prueba
• CUIDADO con Medición de resistencia de puesta a tierra con
pinzas
• PRECUACIONES con Medición de resistencia de puesta a tierra
por el método “selectivo”
NORMATIVIDAD. Aplicarla
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Aislador
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MÉTODO DE LAS CUATRO PUNTAS O MÉTODO DE KELVIN
88,7
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Selectorde escala
Display
Bornes o terminales
Puente
Circuito demedición
Circuito de emisión
BATERIA
20
200
2000
20000
ENCENDIDO
1k
10
510 50
500
10025
GROUND RESISTANCE TESTERMODEL 3620
YP2
ZC2
AEMCINSTRUMENTS
X - Z Fault
X - Y Hi Resistance
X - Y Hi NoisePress ToMeasure
XC1
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FCO/hmm