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Page 1: 第1章  电力半导体器件

第 1章 电力半导体器件

1.1 电力半导体器件种类与特点 1.2  功率二极管 1.3 功率晶体管 1.4 功率场效应管 1.5 绝缘栅极双极型晶体管 1.6 晶闸管 1.7 晶闸管的派生器件 1.8 主要电力半导体器件特性比较

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1.1 电力半导体器件种类与特点

1.1.1 半导体器件分类 从功率等级来分类 有微功率器件、小功率器件、大功率器件等等制造材料分类 有锗管、硅管等等从导电机理分类 有双极型器件、单极型器件、混合型器件等等 从控制方式来分类 可分为不可控器件、半可控器件和全可控器件三类器件

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1.1.2 电力半导体器件使用特点 • 电力半导体器件稳态时通常工作在饱和导

通与截止两种工作状态。• 饱和导通时,器件压降很小,而截止时它

的漏电流小得可以忽略,这样在饱和导通与截止两种工作状态下的损耗都很小,器件近似于理想的开关

• 但需要指出的是,电力半导体器件在开关状态转换过程时并不是瞬时完成的(所需时间称开关时间),而是要经过一个转换过程(称开关过程) 图 1-1 :简单的 bjt电路

Rb BC

E

UCE

Ic RL

T1 UCC

•例如,图 1-1 所示电路中 , 当工作在饱和导通状态时管压降, , 的管耗 , 截止的漏电流 ,即截止时的管耗 。如果 工作在线性放大状态时,设 ,则 的管耗 。

,VUCC 505LRVUCE 3.0 1T CECT UIP 1 WURU CELCC 33.010)/( 1T

0CI 01 TP 1TAIC 5 1T )( LCCCCCEC RIUIUI W75)5550(5

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从使用角度出发,主要可从以下五个方面考查电力半导体器件的性能特点:

导通压降

运行频率

器件容量

耐冲击能力

可靠性

此外,诸如控制功率、可串并联运行的难易程度、价格等等也是选择电力半导体器件应考虑的因数。

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1.1.3 电力半导体器件发展水平 • 在整流管类

中,快速恢复二极管将有较大的发展

• 在高压直流输电中,晶闸管(光控晶闸管)将有很好的发展机遇。

• 在功率晶体管类中,以IGBT发展最为迅速

A2800,V4500:IGBT

A28,kV2.1;A60,V800:SIT

A100,V500:MOSFET

A600,V1200:BJT

A600,kV2:SITH

kA5.2,kV4:MCT

kA1,kV8;kA3,kV5.4:GTO

kA1,kV2.1:

sμ30,kA1,kV5.2:

kA1,kV12,kA4,kV5:

KA3,V100:

sμ25.0,A450,KV2.1:

KA6,KV3:

功率功率晶体管

自关断型

双向晶闸管快速晶闸管普通晶闸管

换流关断型

晶闸管

肖特基二极管快速恢复二极管普通整流管

整流管

电力半导体器件

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1.2  功率二极管

• 1.2.1 二极管工作原理与伏安特性

• 它具单向导电性 • 当外加正向电压( P 区加正、

N 区加负)时, PN结导通,形成电流

• 二极管外加反向偏压( P 区加负、 N 区加正)时 ,所以反向电流非常小 .

• 二极管的伏安特性如图 1-3所示。

图 1-2 二极管耗尽层与少数载流子浓度分布

图 1-3 二极管伏安特性

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1.2.2 功率二极管开关特性

• 关断过程的三个时间段。• 反相恢复时间,反相恢

复电流。研究二极管关断过程的电路

二极管关断过程的波形

功率二极管开通时间很短,一般可以忽略不计,但二极管的关断过程较复杂,对电路的影响不能忽视。

Page 8: 第1章  电力半导体器件

1.3 功率晶体管

图 1-6 BJT内部结构与元件符号

( a) BJT内部结构; ( b)元件符号

BJT是一种双极型半导体器件,即其内部电流由电子和空穴两种载流子形成。基本结构有 NPN和 PNP两种。

为了提高 BJT耐压,一般采用 NPvN三重扩散结构(图 1-6 )。

图 1-7 集电极耐压与单位发射面积电流密度关系

功率晶体管 BJT一般是指壳温为 25℃时功耗大于 1W 的晶体管

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1.3.2 工作原理及输出特性

RB BC

E

UCE

Ic RL

T1UCC

UBE

UBB

UCC

RB

B

CE

UCE

RL

T1

UBB

UEB UCB

UCCRB B

C

E

UCE

Ic

RL

T1

UBB

图1-8 BJT

三种基本电路

( a)共发射极电路

( b)共基极电路

( c)共集电极电路

EIα /IC

系数 是共基极电路的电流放大倍数,亦称电流传输比

11 EC

EC

CE

C

B

C

I/I

I/I

II

I

I

I

β称为共射极电路的电流放大倍数。若接近于 1,则 β的数值会很大 ,它反映了BJT的放大能力,就是用较小的基极电流

IB 可以控制大的集电极电流 IC

α

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BJT共发射极电路的输出特性

图 1-10 BJT共发射极电路的输出特性

◤该图表示集电极电流 IC 与集射极电压 UCE

的关系,其参变量为 IB ,特性上的四个区域反映了 BJT的四种工作状态。◢

◤在晶体管关断状态时,基极电流 IB = 0,集电极发射极间电压即使很高,但发射结与集电结均处于反向偏置,即 UBE≤0, UBC<0,发射结不注入电子,仅有很少的漏电流流过,在特性上对应于截止区( I 区),相当于处于关断状态的开关。 ◢

◤当发射结处于正向偏置而集电结仍为反向偏置时,即 UBE>0, UBC<0,随着 IB增加,集电极电流 IC 线性增大,晶体管呈放大状态,特性上对应线性放大区( II区)。◢◤当基极电流 IB>( IC /β)时,晶体管就充分饱和了。这时发射结和集电结都是正向偏置,即 UBE>0, UBC>0,电流增益和导通压降UCE均达到最小值, BJT进入饱和区( IV区)。 BJT工作在饱和区,相当于处于导通状态的开关。◢

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BJT的开关特性

图 1-11 BJT的开关特性

◤当基极回路输入一幅值为UP ( UP>>UBB )的正脉冲信号时,基极电流立即上升到 ,在IB 的作用下,发射结逐渐由反偏变为正偏, BJT由截止状态变为导通状态 ,集电极电流 IC上升到负载电阻压降 。集电极电流 IC上升到负载电阻压降 ,集电结变为零偏甚至正偏,集电极与发射极之间的压降UCE≈0, BJT工作在饱和状态, BJT相当于闭合的开关。◢

B

BEBBPB R

UUUI

)( BECCLC UURI

◤当基极输入脉冲为负或零时, BJT的发时结和集电结都处于反向偏置,集电极电流逐渐下降到 IC =ICEO≈0,因此负载电阻 RL上的压降可以忽略不计,集电极与发射极之间的压降 UCE≈UCC ,即 BJT工作在截止状态, BJT相当于一断开的开关◢

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BJT的开关特性

图 1-11 BJT的开关特性

◤图 1-11 b)中的 ton叫开通时间,它表示BJT由截止状态过渡到导通状态所需要的时间。它由延迟时间 td 和上升时间 tr 两部分组成, ton = td + tr 。 ◢

◤ td 为延迟时间,表示从加入驱动脉冲,到集电极电流上升到 0.1ICsa 所需要的时间 tr 为上升时间,表示集电极电流从 0.1ICsa

上升到 0.9ICsa 所需要的时间。◢

◤ toff叫关断时间,表示 BJT由导通状态过渡到截止状态所需要的时间。它由存贮时间ts 和下降时间 tf组成, toff = ts + tf 。◢

◤ ts 为存贮时间,表示输入脉冲由正跳变到零时刻开始,直到集电极电流下降到0.9ICsa 所需要的时间。 ◢

◤ tf 为下降时间,表示集电极电流从0.9ICsa 下降到 0.1ICsa 所需要的时间。 ◢

图 1-12 功率晶体管的开关损耗 ccuiP

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1.3.4 BJT的二次击穿

图 1-13 二次击穿实验曲线

图 1-14 二次击穿临界线

反偏二次击穿触发功率

零偏二次击穿触发功率

正偏二次击穿触发功率

SBRSBRSBR UIP

000 SBSBSB UIP

SBFSBFSBF UIP

◤在二次击穿现象中,当第一次雪崩击穿后,从电流上升到 ISB ,再到触发产生二次击穿的时间延迟,称为触发时间。意味着 BJT工作点进入一次击穿区时,并不立即产生二次击穿,而要有一个触发时间。当加在 BJT上的能量超过临界值(触发能量)时,才产生二次击穿,也就是说二次击穿需要能量。◢

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(二) BJT 的安全工作区( SOA)

◤ BJT工作的安全范围由图 1-15 所示的几条曲线限定:①集电极最大允许直流电流线 ICM ,由集电极允许承受的最大电流决定;②集电极允许最高电压 UCE0 ,由雪崩击穿决定;③集电极直流功率耗散线 PCM ,由热阻决定;④二次击穿临界线 PSB ,由二次击穿触发功率决定。◢

图 1-15 BJT的安全工作区

图 1-16 不同工作状态下 BJT的安全工作区

( a)正向偏置安全工作区;

( b)反向偏置安全工作区

◤从图 1-16 可以看出 BJT的反向偏置安全工作区比正偏时大得多◢

◤可以在元件关断瞬间,想办法使元件真正置于反偏工作状态,即对 BJT基极驱动电路,在元件截止时,施加负的基射极电压。 来利用反偏安全工作区的特性 ◢

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1.3.5 达林顿 BJT与 BJT模块

T1

T2

C

BT1

T2

E

C

B

R1 R2

图 1-17 达林顿 BJT的等效电路

T1

T2

E

C

B

R1 R2

D1DF

达林顿 BJT有以下特点:

1 共射极电流增益值大

)1()1(12

2221

B

BE

IR

Uββββ

图 1-18 BJT模块的等效电路 BJT模块除了有上述达林顿 BJT的特点外,还有如下优点: 1 ) 它是能量高度集中的组合器件,大大缩小了变换器的体积;

2 ) 有电绝缘且传热好的固定底座,安装使用很方便; 3 ) 内含续流二极管减少了线路电感,降低了器件关断时电流变化率造成的过电压。

2 饱和压降 UCEsa 较高

3 关断速度减慢

ts = ts1 + ts2

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1.4 功率场效应管

1.4.1 概述◤功率场效应管,即功率MOSFET (Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor) 是一种单极型的电压控制器件,有驱动功率小、工作速度高、无二次击穿、安全工作区宽等显著优点。◢

◤在中小功率的高性能开关电源、斩波器、逆变器中,功率场效应管成为双极型晶体管的竞争对手,并得到了越来越广泛的应用。◢

图 1-19 功率场效应管结构图( a “) T”MOSFET ; ( b “) V”-

MOSFET

Page 17: 第1章  电力半导体器件

1.4.2 MOSFET的基本特性

1 ;转移特性

图 1-20 N 沟道型 MOSFET的转移特性 ◤ 只有 UGS 大于门槛电压 UGS ( th )才有漏极电流 ID 流过,在 ID 较大时, ID 和 UGS

近似为线性关系,亦即跨导 gFS 为常数:

GSDFS dUdIg /◤ U GS = 10V之后, MOSFET的 ID 由外电路限制了。因此工作在开关状态的MOSFET正向驱动电压 Ug≈10V 。 ◢

(二)输出特性

◤输出特性可以分为三个区域 :可调电阻区 I,饱和区II和雪崩区 III ◢

图 1-21  功率 MOSFET输出特性

Page 18: 第1章  电力半导体器件

1.4.2 MOSFET的基本特性 (三) MOSFET的电容

图 1-22 MOSFET各端点之间的电容◤ MOSFET各极之间的结电容由其

物理结构所决定,金属氧化膜的栅极结构决定了栅漏之间的结电容 Cgd 和栅源之间的结电容 Cgs , MOSFET的PN结形成了漏源间的结电容 Cds 。

◤ 图 1-22表示了 MOSFET的输入电容 Ciss 、输出电容 Coss 和反向传输电

容 Crss 与结电容之间的关系。 ◢

(四)开关特性

90%

UDS

UGS

t rt d(on) td(off ) t f

10%

图 1-23 开关特性测试电路与波形td(on) :开通延迟时间tr :上升时间 td(off) :关断延迟时间,tf :下降时间

rondon ttt )( foffdoff ttt )(

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1.4.3 MOSFET安全工作区

图 1-24 MTM 4N 50的安全工作区( a)最大额定开关安全工作区; ( b)最大额定正偏安全工作区

◤ 由于电流具有随温度上升而下降的负反馈效应,因而 MOSFET中不存在电流集中和二次击穿的限制问题,它有较好的安全工作区( SOA) ◢

◤ 图 1-24 是型号为 MTM 4N 50(500V, 4A)的 MOSFET的安全工作区,它分最大额定开关安全工作区和最大额定正向偏置安全工作区两种。 ◢

◤最大额定开关安全工作区是负载线可跨越而不会招致 MOSFET损坏的界限,基本的限制是峰值电流 IDM 和击穿电压U(BR)DSS ,这个安全工作区只适用于器件开关时间小于 1μs的开通和关断过程 ◢

◤在其余工作条件下,使用正向偏置安全工作区。正向偏置安全工作区受功率损耗的限制,而结温是随功率损耗的变化而变化,图 1-29 b)表示的是温度为 25℃时的正向偏置安全工作区。 ◢ ◤在任一温度下,某一工作电压的允许电流可通过下列等式算出:

CjcD

CCACDATcD RP

TII

}{

25}{1}{}{

θ25()(

Page 20: 第1章  电力半导体器件

1. 4. 4 MOSFET的基本参数

(一)漏极额定电流 ID 和峰值电流 IDM

(二)通态电阻 rDS(ON

(三)阀值电压 UGS(th)

(四)漏源击穿电压 U(BR)DSS

(五)最大结温 TJM

(六)最大耗散功率 PD

(七)热阻

jcRθ

jcRθTC +PD < TJM

Page 21: 第1章  电力半导体器件

1.5 绝缘栅极双极型晶体管 (IGBT )1.5.1 IGBT的结构与工作原理

图 1-25 IGBT的结构剖面图 图 1-26 IGBT简化等效电路及信号

◤绝缘栅极双极型晶体管简称IGBT,它将功率 MOSFET 与 BJT的优点集于一身,既具有输入阻抗高、速度快、热稳定性好、驱动电路简单等优点,又具有通态压降低、耐压高和承受电流大等优点 ◢

◤由结构图可以看出, IGBT相当于一个由MOSFET驱动的厚基区 BJT,其简化等效电路如图 1-26 所示,图中电阻 Rdr 是厚基区 BJT

基区内的扩展电阻。 ◢ ◤ IGBT是以 BJT为主导元件, MOSFET为驱动元件的达林顿结构器件,图示器件是 N 沟道 IGBT, MOSFET为 N 沟道型, BJT为PNP型。 ◢

Page 22: 第1章  电力半导体器件

1.5.2 IGBT的基本特性

伏安特性 转移特性◤ IGBT的伏安特性是指以栅极电压 UGE 为参变量时,集电极电流 IC 与集电极电压 UCE

之间的关系曲线 ◢

◤ IGBT的伏安特性与 BJT的输出特性相似,也可分为饱和区 I、放大区 II和击穿区III三部分 ◢

◤ IGBT作为开关器件稳态时主要工作在饱和导通区 ◢

◤ IGBT的转移特性是指集电极输出电流 IC 与栅极电压之间的关系曲线。 ◢

◤它与 MOSFET的转移特性相同,当栅极电压 UGE 小于开启电压UGE(th) 时, IGBT处于关断状态。在 IGBT导通后的大部分集电极电流范围内, IC 与 UGE呈线性关系。 ◢

Page 23: 第1章  电力半导体器件

1.5.2 IGBT的基本特性

ET2

CT1

RL

UCC

I C

UCE

+UGE

-UGE

(a)

0.9IC 0.9IC

tftd(off)td(on)

ton

0.9VCC 0.9VCC

t

t

0.1UG

E

+UGE

0.9UG

E

0

UGE

IC

IC=VCC/RL

0.1IC

-UGE t

0

0tr

toff

0.1IC

UC

E

0.1VCC 0.1VCC

(b)

IGBT的开关特性的测试电路 IGBT的开关特性的开关特性曲线

◤ IGBT的开关特性如图 1-35 所示。由图可知 IGBT的开关特性与功率 MOSFET基本相同。◢

◤ td(on)+ tr= ton叫开通时间, td(off)+ tf= toff叫关断时间◢

1 10 100 10001

10

100

1000

I集电极电流

C(A)

U极射极电压 CE V( ) U极射极电压 CE V( )200 400 600 800 10000

1

10

100

1000

I集电极电流

C(A)

DC

1ms

100us

15us

IGBT的正偏安全工作区和反偏安全工作区

◤ IGBT开通时的正向偏置安全工作区 FBSOA是由最大集电极电流 ICM 、最大集射极电压UCEM 、最大功耗三条边界极限曲线包围而成的, ◢

◤ IGBT的反向偏置安全工作区 RBSOA如图 1-29 b)所示。它基本上是一矩形: 2倍的额定集电极电流( 2IC )和额定集射级电压( UCE )所围成的矩形。 ◢

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1.6 晶闸管

图 1-31 晶闸管的双三极管模型

(一)晶闸管的结构

(二)晶闸管的双三极管模型

1)无信号下的电路工作状态

在无信号状态下,电路电流很小,因而可近似地认为电路处于断态( T1 、 T2 相应地处于截止状态),更确切地应称为正向阻断状态。

)(1)(1 2010

0

2010

0201

αα

I

αα

III cbcbcba

2 )有信号下的电路工作状态

在 UAK >0的情况下,若加入幅值足够大的电流 ig ,且满足,就可以使电路从断态转换到通态。

2121

21

2

2

1

1

2

2

1

1

2

1

1

1

2

10 )(111 αααα

αα

α

α

α

α

i

i

i

i

i

i

i

i

i

b

c

b

c

b

b

b

c

b

c

通过上述分析可知晶闸管有如下特性:

( 1 )晶闸管导通的条件是:阳阴极间必须加正向电压,控制极施加正的控制极电流;

( 2 )晶闸管具有正向阻断的能力;

( 3 )元件在正压时是可控的,在反压时则完全处于断态,也就是说它具有单向导电性质。

( 4 )元件触发导通后,控制极失去作用,即元件的可控性是不可逆的。

Page 25: 第1章  电力半导体器件

1.6.2 晶闸管的伏安特性与参数I a

UAK

UBR

UBF

I a

UBR

UAK

(a) (b)

0 0

图 1-32   晶闸管的伏安特性

( a ) ( b) 0gi gtg Ii

◤它的反向特性见图1-32 a) 、 b)的第三象限,它与一般二极管的反向特性相似,具有很好的反向阻断能力,此时只有很小的漏电流(若干微安到几十毫安)通过元件。当反向电压增加到 - UBR 时,漏电流急剧增加,特性曲线开始弯曲,称 UBR 为反向转折电压。若进一步增大反向电压,就会使晶闸管击穿。 ◢

◤晶闸管的正向特性见 图 1-32 a )、 b )的第一象限。当门极没有正向电压,即门极电流 ig = 0 时,正向流过晶闸管的漏电流也很微小,晶闸管具有正向阻断能力。只要正向电压低于正向转折电压 UBF ,晶闸管就处于断态,一旦正向电压达到 UBF ,则电流突然增加,端电压很快下降,晶闸管处于通 态 , 见 图 1-32 a)所示。 ◢

Page 26: 第1章  电力半导体器件

晶闸管的一些主要参数(一)晶闸管的电压定额:1.断态重复峰值电压 Udrm

2.反向重复峰值电压 Urrm

3.额定电压值4.通态(峰值)电压 UTm

(二)晶闸管的电压定额:1.通态平均电流 ITa

2.维持电流 IH

3.擎住电流 ILH

4.断态重复峰值电流 Idrm及反向重复峰值电流 Irrm

(三)晶闸管的门极参数定额 1.门极触发电流 Igt

2.门极触发电压 Ugt

(四)动态参数和结温 1. 断态电压临界上升率 du/dt

2. 通态电流临界上升率 di/dt

3.额定结温 TJM

Page 27: 第1章  电力半导体器件

1.6.3 晶闸管的开关过渡过程

图 1-34 晶闸管元件的开通过程

(一)晶闸管的开通过程 :1. 延迟时间 td (由 ig = 0.1Igt 到 UAK = 0.9 Ea 的时间间隔)。2.上升时间 tr (由 UAK = 0.9 Ea 到 UAK = 0.1 Ea 的这段时间间隔) 3.扩散时间 ts (由 UAK = 0.1Ea 到UAK=UT(av) 的这段时间间隔)

图 1-35 晶闸管元件的关断过程

( a)关断晶闸管元件的原理电路; ( b)关断过程

(二)晶闸管的关断过程

1.反向恢复时间 trr

2 .控制极的恢复时间tgr

Page 28: 第1章  电力半导体器件

晶闸管的串并联

图 1-39 晶闸管的串联运行( a)晶闸管串联后的反向电压;

( b)晶闸管串联均压电路

通常选均压电阻为 :

均压电阻 Rj 的功率可按下式计算:

元件串联时,必须降低电压的额定值作用,一般取晶闸管的额定电压为:

)(

)25.0~1.0(avDR

Hj Iπ

UR

js

mRjRj Rn

VKP

12

s

mH n

UU )8.3~2.2(

图 1-40 晶闸管并联运行

( a)晶闸管并联时的电流分配; ( b)串联电阻法均流

( c)串联互感法均流; ( d)三个晶闸管并联的串联互感法均流

◤用串联电阻法均流虽然简单,但因电阻上有损耗,并且对于动态均流不起作用,故只在小功率的场合下适用 ◢

◤采用均流电抗器均流,其优点是损耗小,电感还有限制电流上升率的作用,但均流电抗器只能起动态均流的作用。◢

Page 29: 第1章  电力半导体器件

1.7 晶闸管的派生器件 1.7.1 双向晶闸管

图 1-41 双向晶闸管内部结构

图1-42

双向晶

闸管的伏安特性

1.7.3 光控晶闸管 A

KG

A

G

K

图 1-46 光控晶闸管符号及等效电路

1.7.2 可关断晶闸管

图 1-44 GTO的结构与符号

图中: A--阳极; K--阴极; G--控制级

Page 30: 第1章  电力半导体器件

1.8 主要电力半导体器件特性比较 1.8.1 晶闸管与 BJT的性能比较

项目 晶闸管 BJT

最高耐压额定电流

12000V4000A

1200V600A

开通时间 ≤ 几微秒 几微秒( 1 )

关断时间 几十至几百微秒 几微秒( 2 )

正向压降 1 ~ 2V 0.1~0.7V (单管)0.8~2.1V (达林顿管)

漏电流 几毫安以下 几百微安以下

开关方法及所需能量

开通:控制极触发电流(功率为几瓦以下)关断:阴极加负电压( 3 )、( 4 )

开通:基极流过电流(功率为几瓦以下)关断:基极电流消失( 5 )

关断时的保护 用缓冲电路抑制反峰电压及 du/dt 用缓冲电路将电压电流限制在安全工作区

浪涌冲击 10 倍的额定电流(重复性)20 倍的额定电流(非重复性)

二倍的额定电流(非重复性)

误动作(控制可靠性)

控制极干扰信号,过大的 du/dt 会引起误触发,故需抑制措施,以防止电源短路损坏元件

基极干扰信号,过大 du/dt 造成瞬时导通,但可复原,不致引起损坏。若是电源短路,工作点超出安全工作区,会损坏元件

维护 无活动部件,不易损坏部件,需维护 (同晶闸管)

寿命 半永久性 半永久性

二次击穿 不存在 存在

Page 31: 第1章  电力半导体器件

BJT

、功率M

OSFET

IGBT

的性能比较

CI

dc WI

器件名称 BJT MOSFET IGBT

驱动方式 电流 电压 电压

驱动功率 大 小 小

存储时间 5~20 无 几乎无

开关速度 1~5 0.1~0.5 0.5~1

高压化 容易 难 容易

大电流化 容易 难 容易

高速化 难 极容易 极容易

SOA 窄 宽 宽

饱和电压 低 高 低

工作机理 少数载流子导电 多数载流子导电 少子、多子混合导电

I-U 特性 电流控制指数伏安特性

电压控制低电流平方伏安特性高电流区线性伏安特性 (沟道宽度)

电压控制大电流指数伏安特性,小电流 MOS 伏安特性 Id 决定于沟道宽度和栅有效面积并联应用 不能简单并联,须采用均流电阻等措施 不产生电流集中,能直接并联 不产生电流集中,能直接并联

耐压能力 采用深结、台面等终端技术 采用场板、分压环等平面终端技术 采用场板、分压环等平面终端技术

输入阻抗 小,要求较大的基极电流,故驱动电路设计复杂

大,驱动电路设计简单 大,驱动电路设计简单

跨导 β 换 算 成 gm 较 MOS 大 , 但 IC 上升, gm 下降

受沟道宽长比限制, Id 上升, gm 下降

跨导大

开关特性 少子存储效应,限制开关速度 多子漂移,无存储效应,开关速度较BJT 高一个数量级

比MOSFET 慢

安全工作区 SOA 受二次击穿影响, SOA 小 无二次击穿, SOA 大 无二次击穿, SOA 大

温度特性 电流温度系数为正,会发生热崩 电流温度系数为负,稳定性好 调整结构参数,能使温度系数为零

工作频率 低 最高 高

开关损耗 中~高(取决于与通态损耗的折衷) 很低 低~中(取决于与通态损耗的折衷)

BI

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