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METROLOGÍA DE SUPERFICIESMETROLOGÍA
DE SUPERFICIES
Lic. Fernando [email protected]
Lic. Fernando [email protected]
Nov-Dic 2004Nov-Dic 2004
TEXTURA SUPERFICIAL(LO “RUGOSO” Y LO “SUAVE” )
TEXTURA SUPERFICIAL(LO “RUGOSO” Y LO “SUAVE” )
Superficie periódica anisótropicaproducida por torneado
Superficie periSuperficie perióódica dica anisanisóótropicatropicaproducida por torneadoproducida por torneado
Superficie aleatoria anisótropicaproducida por moldeado
Superficie aleatoria Superficie aleatoria anisanisóótropicatropicaproducida por moldeadoproducida por moldeado
Hoja de acero laminadaHoja de acero laminadaHoja de acero laminada
Hoja de acero laminada –representación tridimensional
Hoja de acero laminada Hoja de acero laminada ––representacirepresentacióón tridimensionaln tridimensional
TEXTURA SUPERFICIALPreguntas Iniciales
TEXTURA SUPERFICIALPreguntas Iniciales
¿Por qué medir la textura superficial?
¿Qué medir de la textura superficial?
¿Cómo medir la textura superficial?
¿Por qué medir la textura superficial?
¿Qué medir de la textura superficial?
¿Cómo medir la textura superficial?
¿Qué medir de la textura superficial?
¿Qué medir de la textura superficial?
¿Qué es lo que diferencia a estas montañas?
¿¿QuQuéé es lo que diferencia es lo que diferencia a estas montaa estas monta ññas?as?
Rugosidad:Irregularidades inherentes al proceso de producción, generados por el maquinado, herramientas de corte, granulados, o por defectos de uso (rayas, etc)
Ondulación:Componente de la textura sobre la cual se superpone la rugosidad. Puede ocasionarse por deflexiones de la maquinaria o del trabajo, vibraciones, tensiones en el material, u otros factores
Perfil:Forma general de la superficie, una vez que se descartan las variaciones de rugosidad y ondulación. Relacionada con los “errores de forma”, o desvíos respecto de la forma pretendida en el diseño. Estos desvíos pueden ser causados por flexión de la máquina o pieza, o errores de guiado.
Rugosidad:Rugosidad:Irregularidades inherentes al proceso de producciIrregularidades inherentes al proceso de produccióón, n, generados por el maquinado, herramientas de corte, generados por el maquinado, herramientas de corte, granulados, o por defectos de uso (rayas, etc)granulados, o por defectos de uso (rayas, etc)
OndulaciOndulacióón:n:Componente de la textura sobre la cual se superpone la Componente de la textura sobre la cual se superpone la rugosidad. Puede ocasionarse por deflexiones de la rugosidad. Puede ocasionarse por deflexiones de la maquinaria o del trabajo, vibraciones, tensiones en el maquinaria o del trabajo, vibraciones, tensiones en el material, u otros factoresmaterial, u otros factores
Perfil:Perfil:Forma general de la superficie, una vez que se Forma general de la superficie, una vez que se descartan las variaciones de rugosidad y ondulacidescartan las variaciones de rugosidad y ondulacióón. n. Relacionada con los Relacionada con los ““errores de formaerrores de forma””, o desv, o desvííos os respecto de la forma pretendida en el diserespecto de la forma pretendida en el diseñño. Estos o. Estos desvdesvííos pueden ser causados por flexios pueden ser causados por flexióón de la mn de la mááquina quina o pieza, o errores de guiado. o pieza, o errores de guiado.
¿Cómo medir la textura superficial?
¿Cómo medir la textura superficial?
Métodos subjetivos de caracterizar superficies
�aspecto
�tacto
�reflexión de la luz
Métodos subjetivos de caracterizar superficies
�aspecto
�tacto
�reflexión de la luz
Patrón de comparaciónPatrón de comparación
Rugosímetros primitivosRugosímetros primitivos
Obtención de un perfil impreso de la superficie
Amplificaciones del perfilAmplificaciones del perfil
¿por qué medir la textura superficial?¿por qué medir la textura superficial?
�relación con la función del producto
�caracterísitca de su calidad
�costo
• “tanto más suave mejor”
• “tanto más rugoso mejor” (picos)
• “tanto más rugoso mejor” (valles)
�relación con la función del producto
�caracterísitca de su calidad
�costo
• “tanto más suave mejor”
• “tanto más rugoso mejor” (picos)
• “tanto más rugoso mejor” (valles)
�¿por qué medir la textura superficial?�¿por qué medir la textura superficial?
Algunos ejemplos
•lubricación
•superficies en movimiento relativo
•abrazaderas
•apariencia del producto
•conducción del calor
•conducíón de la corriente eléctrica
Algunos ejemplos
•lubricación
•superficies en movimiento relativo
•abrazaderas
•apariencia del producto
•conducción del calor
•conducíón de la corriente eléctrica
SwitchSwitchGran Gran áárea de contactorea de contactoConducciConduccióón n elelééctricactrica
hoja de hoja de aceroacero
Rugosidad, Rugosidad, áárea de rea de contactocontactoAdhesiAdhesióónn
Anillo pistAnillo pistóónnGran Gran áárea de contacto, bajo rea de contacto, bajo desgastedesgasteSelladoSellado
RodilloRodilloPicos en punta, poca Picos en punta, poca áárea rea de contactode contactoFricciFriccióónn
Pintura de Pintura de automautomóóvilvilReflexiReflexióón de luz uniformen de luz uniformeDecoraciDecoracióónn
Paletas Paletas deslizantesdeslizantesBaja fricciBaja friccióón, desgasten, desgasteMovimiento Movimiento
relativorelativo
EjemploEjemploCriterio de CalidadCriterio de CalidadFunciFunci óónn
Productos cuya textura cumplen una función determinada
Productos cuya textura cumplen una función determinada
Creación de superficies
�Proceso de remoción de material (molido, afilado, grabado)
�Procesos de agregado de material (enchapado, pintura, bañado)
�Procesos de elaboración de forma (apisonado, bruñido, moldeado)
CreaciCreacióón de superficiesn de superficies
�Proceso de remoción de material (molido, afilado, grabado)
�Procesos de agregado de material (enchapado, pintura, bañado)
�Procesos de elaboración de forma (apisonado, bruñido, moldeado)
Superficie rayada
Superficie rayada
Superficie lijada
Superficie lijada
Superficie maquinadaSuperficie maquinada
Superficie amoladaSuperficie amolada
Superficie amolada finaSuperficie
amolada fina
Superficie torneada al diamante
Superficie torneada al diamante
Superficie lapidadaSuperficie lapidada
Superacabado
Lapidado
Pulido
Afilado
Amolado
Rectificado
Rectificado cilíndrico
Torneado
Fresado
Molido
Corte
Moldeado
Aplanado
SuperacabadoSuperacabado
LapidadoLapidado
PulidoPulido
AfiladoAfilado
AmoladoAmolado
RectificadoRectificado
Rectificado cilRectificado cilííndricondrico
TorneadoTorneado
FresadoFresado
MolidoMolido
CorteCorte
MoldeadoMoldeado
AplanadoAplanado
RUGOSIDADES TRUGOSIDADES TÍÍPICAS DE DISTINTOS PROCESOS DE ACABADO SUPERFICIALPICAS DE DISTINTOS PROCESOS DE ACABADO SUPERFICIAL
La textura superficial es una huella digital del proceso de producción
Afecta al costo y a la calidad del producto
La textura superficial es una huella digital del proceso de producción
Afecta al costo y a la calidad del producto
10 20 30 40
rugosidad alcanzada (Rz, en µm)
cost
o re
lativ
o de
pr
oduc
ción
lapidadolapidado
pulidopulido
molidomolido
Rugosidad alcanzada, en función del proceso superficial
Rugosidad alcanzada, en función del proceso superficial
Perfiles de superficies amoladas, de acuerdo al filo de la amoladora
Perfiles de superficies amoladas, de acuerdo al filo de la amoladora
Control del proceso de terminación a través de la evaluación de la textura
Control del proceso de terminación a través de la evaluación de la textura
Parámetros de rugosidad
Parámetros de rugosidad
¿cómo asignar valores numéricos a las texturas de superficies?
¿cómo asignar valores numéricos a las texturas de superficies?
Superficie realSuperficie realSuperficie contorno de un cuerpo, que separa a éste del medio que lo circunda
Perfil de superficie:Intersección de la superficie real con un plano especificado
dirección de palpado
dirección de palpado
perfil obtenidoperfil obtenido
x
z
Perfil medidoPerfil medido
Recta de cuadrados
mínimosRecta de cuadrados
mínimos
x
z
zznivniv
xxx
Perfil niveladoPerfil nivelado
Recta de cuadrados mRecta de cuadrados m íínimos:nimos:
( )xbya
;xx
yxyxb
⋅−=−
⋅−⋅=2
2
( )xbazzniv ⋅+−=Perfil niveladoPerfil nivelado
Filtros de perfilFiltros que separan perfiles de acuerdo a sus longitudes de onda
Filtro λλλλsfiltro que define la separación entre la rugosidad y componentes de ruido de longitud de onda aún más cortas
Filtro λλλλcfiltro que define la separación entre los componentes de rugosidad y los componentes de ondulación
Filtro λλλλffiltro que define la separación entre los componentes de ondulación y los componentes de longitud de onda aún mayores de la superficie
Perfil primarioBase para la evaluación de los parámetros primarios de perfil
Perfil de rugosidadPerfil derivado del primario, modificado intencionalmente para suprimir los componentes de longitud de onda mayores que λcBase para la evaluación de los parámetros de rugosidad.
Perfil de ondulaciónPerfil derivado del primario, modificado intencionalmente para suprimir los componentes de longitud de onda menores que λc. y los mayores que λf. Base para la evaluación de los parámetros de ondulación
Perfil primario
Perfil de rugosidad
Perfil de ondulación
Perfil filtrado
Perfil primario
Perfil de rugosidad
Perfil de ondulación
Perfil filtrado
Longitud de base ( Lp, Lr, Lw)
Longitud en la dirección del eje x usada para identificar las irregularidades del perfil bajo evaluación (Habitualmente, Lr=λc; Lw = λf )
Longitud de evaluación ( L )
Longitud en la dirección del eje x usada para medir el perfil bajo evaluación. Puede comprender varias longitudes de base.
ParParáámetros estimado a partir de una longitud de basemetros estimado a partir de una longitud de base
ParParáámetros estimado a partir del promedio aritmmetros estimado a partir del promedio aritm éético tico de todas las longitudes de base en la longitud de de todas las longitudes de base en la longitud de evaluacievaluaci óón (habitualmente 5) n (habitualmente 5)
ParParáámetros definidos directamente sobre la longitud de metros definidos directamente sobre la longitud de evaluacievaluaci óónn
Curvas estimadas a partir de los datos tomados de l a Curvas estimadas a partir de los datos tomados de l a longitud de evaluacilongitud de evaluaci óón n
DIFERENTES TIPOS DE PARÁMETROS
ParParáámetros de amplitudmetros de amplitud
ParParáámetros de espaciadometros de espaciado
ParParáámetros hmetros h ííbridosbridos
ParParáámetros de rugosidadmetros de rugosidad
ParParáámetros de ondulacimetros de ondulaci óónn
ParParáámetros de perfilmetros de perfil
DesviaciDesviaci óón media aritmn media aritm éética del perfil tica del perfil (rugosidad media aritm(rugosidad media aritm éética)tica)
promedio de los desvíos absolutos con respecto ala línea media
(análogo a Pa, Wa )
En la práctica:
( )∫=L
adxxZ
LR
0
1
( )∑=x
axZ
LR
1
RepresentaciRepresentaci óón grn gr ááfica de fica de RRaa
longitud de base
RRaa es utilizado para monitorear procesos de producción donde puede haber cambios graduales en el acabado superficial debidos a desgaste del herramental
No está afectado por defectos de la superficie, los que son eliminados al promediar
La repetibilidad al medir RRaa es mejor que al medir otros parámetros
Muchas veces Ra no es suficiente para caracterizar la textura o rugosidad de una superficie:
PICOS Y VALLESPICOS Y VALLES
Altura mAltura m ááxima de perfil (picos)xima de perfil (picos)
Rp máxima altura de perfil dentro de una longitud de base
(análogo a Pp, Wp )
Profundidad mProfundidad m ááxima de perfil (valles)xima de perfil (valles)
Rv máxima altura de perfil dentro de una longitud de base
(análogo a Pv, Wv )
Altura mAltura m ááxima de perfil (picos y valles)xima de perfil (picos y valles)
Rzsuma de la altura del mayor pico Zp y del mayor valle Zv dentro de una longitud de base
(análogo a Pv, Wv )
( )54321 zzzzzmax R,R,R,R,RmaxR =
ParParáámetros mmetros m ááximos en la longitud de ximos en la longitud de evaluacievaluaci óónn
5
54321 zzzzzz
RRRRRR
++++=
��RRzz es mes máás sensible a los cambios en el s sensible a los cambios en el tratamiento superficial que Ra. en este sentido, es tratamiento superficial que Ra. en este sentido, es un herramienta un herramienta úútil para monitorear el proceso de til para monitorear el proceso de producciproduccióónn
��RRmaxmax es una medida del mes una medida del mááximo defecto de ximo defecto de altura (picos y valles) en la longitud de altura (picos y valles) en la longitud de evaluacuevaluacuóónn, , y es y es úútil en superficies donde no es admisible ni til en superficies donde no es admisible ni siquiera tener un defecto (por ejemplo, en sellos)siquiera tener un defecto (por ejemplo, en sellos)
��RRzz yy RRmaxmax usados conjuntamente son usados conjuntamente son herramientas herramientas úútiles al monitorear la variacitiles al monitorear la variacióón del n del acabado superficial en un proceso de producciacabado superficial en un proceso de produccióón. n. Valores muy diferentes entre estos dos parValores muy diferentes entre estos dos paráámetros metros puede significar un acabado superficial no puede significar un acabado superficial no consistenteconsistente
ParParáámetros definidos directamente sobre la longitud metros definidos directamente sobre la longitud de evaluacide evaluaci óónn
Pt : Altura máximo del perfil sobre la longitud de evaluación (análogo a Pt, ,Wt)
Se aplica sobre un perfil nivelado pero no filtrado
LA SUPERFICIE COMO OBJETO ESTADÍSTICO
DistribuciDistribucióón de amplitudesn de amplitudes
La textura de una superficie puede estar sujeta a diferentes causas de variación (por ejemplo, cuando se somete la superficie a diversos
procesos sucesivos). La estadística analiza la interrelación de diversas causas
DISTRIBUCIDISTRIBUCIÓÓN DE AMPLITUDESN DE AMPLITUDES
DISTRIBUCIDISTRIBUCIÓÓN ACUMULADA DE AMPLITUDESN ACUMULADA DE AMPLITUDES(Curva de Abbott(Curva de Abbott --Firestone)Firestone)
(Curva de Abbott(Curva de Abbott --Firestone)Firestone)La calidad de una superficie a veces depende de cómo se relaciona ésta con otra superficie.
Ejemplos de superficies con buenas propiedades de contacto son sellos, rodamientos, contactos eléctricos o térmicos, recubrimientos adhesivos, etc.
Si las dos superficies están sepradas por un fluido lubricante, cualquier pico mayor que el espesor de fluido contatcará la superficie opuesta, causando desgaste y fricción. PAra esta aplicación es preferible una superficie con picos bajos (aunque tenga valles profundos). Sin embargo, los parámetros definidos hasta aquí no diferencian entre picos y valles.
La superficie es la transición entre dos medios (aire y material). La curva de Abbott-Firestone describe cómo es esa transición, estadísiticamente
(Curva de Abbott(Curva de Abbott --Firestone)Firestone)Se calcula, a cada profundidad, la proporción de material.
La línea de referencia puede ser el pico más alto del perfil, o, más para mayor precisión, la línea correspondiente a un pocentajeespecificado
Otros casosOtros casos
La curva de Abbott- Firestoe se utiliza para el cálculo de
los cocientes tp, que simulan el desgaste de la pieza.
DesviaciDesviaci óón media cuadrn media cuadr áática del perfil tica del perfil (rugosidad media cuadr(rugosidad media cuadr áática)tica)
( )∫=L
q dxxZL
R0
21
(análogo a Pq, ,Wq)
( )∑= xZL
R iq21
En la práctica,.:
RRqq es la desviacies la desviaci óón n standardstandard de la distribucide la distribuci óón de n de amplitudesamplitudes
Representación gráfica de Rq
(desviación standard del perfil)
Representación gráfica de Ra y Rq pàradiferentes perfiles
perf
il pe
rfil
gaus
sian
oga
ussi
ano
perf
il co
n pe
rfil
con
valle
sva
lles
AsimetrAsimetr íía (a (skewnessskewness ))
( )
= ∫
L
sk dxxZLR
R
q 0
3
3
11
otra forma de evaluar si el perfil posee picos o valles)
En la práctica
( )
= ∑ isk xZLR
R
q
3
3
11
Representación gráfica del coeficiente de asimetría en diferentes perfiles
AsimetrAsimetr íía negativa indica concentracia negativa indica concentraci óón del material n del material cerca del tope de la superficie (mcerca del tope de la superficie (m áás valles que picos)s valles que picos)
Es un parEs un par áámetro muy sensible a defectos de superficiemetro muy sensible a defectos de superficie
KurtosisKurtosis
( )
= ∫
L
ku dxxZLR
R
q 0
4
4
11
Mide la forma de la distribución de amplitudes
( )
= ∑ isk xZLR
R
q
4
4
11En la práctica
Representación gráfica de la kurtosis en diferentes perfiles
Representación gráfica de la kurtosis en diferentes perfiles (II)
ParParáámetros de espaciadometros de espaciado
La apariencia de la superficie depende no sólo de la profundidad de los picos y los vallles, sino también del espacio entre ellos. Superficie con el mismo Ra o Rzpueden variar mucho en apariencia.
En casos donde la apariencia es crítica, se utilizan parámetros de espaciado.
Por ejemplo, hojas de metal, moldes plásticos, terminaciones texturadas, o recubrimientos.
En la industria metalúrgica, por ejemplo: con picos muy espaciados puede resultar dificultosa la adhesión de pintura. En cambio, picos demasiado juntos puednocasionar roturas o fallas.
ParParáámetros de espaciadometros de espaciado
Se basan en el conteo de picos por unidad de Se basan en el conteo de picos por unidad de longitud, pero longitud, pero
¿¿ququ éé es un pico?es un pico?
Distinguimos picos sDistinguimos picos sóólo cuando se supera una lo cuando se supera una profundidad predeterminadaprofundidad predeterminada
Distinguimos picos sDistinguimos picos sóólo cuando se supera una lo cuando se supera una profundidad predeterminadaprofundidad predeterminada
no son picosno son picossí son picossí son picossí son picosno son picosno son picossí son picossí son picossí son picos
TambiTambi één se define:n se define:
donde D es la longitud total de picos sobre la longitud de evaluación
DL
RSm =
NR: Número de picos en la longitud de evaluación, normalizado a una longitud standard
Perfiles con diferentes Perfiles con diferentes NR
Aplicación:Industria metalúrgica: Nr y Rz suelen ser parámetros suficientes para caracterizar la apariencia y funcionalidad del producto final
FUNCIFUNCIÓÓN DE AUTOCORRELACIN DE AUTOCORRELACI ÓÓN N DE UNA SUPERFICIEDE UNA SUPERFICIE
( ) ( ) ( )dxxxyxyxAC ∆+=∆ ∫permite caracterizar superficies de permite caracterizar superficies de
perfil periperfil peri óódicodico
Reglas y
procedimientos para
evaluar la textura
superficial
(ISO 4288)
Reglas y
procedimientos para
evaluar la textura
superficial
(ISO 4288)
ParParáámetro estimado:metro estimado: Estimación a partir de una longitud de base
ParParáámetro estimado promediometro estimado promedio : A partir del promedio aritmético de todas las longitudes de base en la longitud de evaluación (habitualmente 5)
ParParáámetros definidos sobre la longitud de evaluacimetros definidos sobre la longitud de evaluaci óón: n: Son estimados directamente sobre toda la longitud de evaluación (por ejemplo: Pt, Rt, ,Wt)
Curvas y parCurvas y par áámetros relacionadosmetros relacionados :: Son estimados a partir de los datos tomados de la longitud de evaluación
Reglas y procedimientos para evaluar la textura superficial – cómo evaluar los parámetros
AreasAreas de la superficie a inspeccionar:de la superficie a inspeccionar: Se debe proceder a inspeccionar visualmente la superficie
�Si aparenta ser homogénea, los parámetros se miden sobre la superficie entera
�Si hay áreas obviamente diferentes, los parámetros se determinan en cada área por separado, o bien en la que aparenta tener valores máximos (si la especificación corresponde a un valor máximo)
Regla del 16%: Regla del 16%: Para especificaciones correspondientes a límites máximos, la superficie se considera aceptable si no más del 16% de todos los valores medidos del parámetro indicado excede el valor especificado Para especificaciones correspondientes a límites mínimos, la superficie se considera aceptable si no más del 16% de todos los valores medidos es menor que el valor especificado
Justificación de la regla del 16% Justificación de la regla del 16% (límites inferior y superior de especificación)(límites inferior y superior de especificación)
%68
σµ ±16% 16%
Porcentaje
%68
σµ ±16% 16%
Porcentaje permitido sobre un
límite superior
Porcentaje permitido debajo
de un límite inferior
Justificación de la regla del 16% Justificación de la regla del 16% (límites inferior y superior de especificación)(límites inferior y superior de especificación)
%68
σµ ±
%68
σµ ±16% 16%
Porcentaje
%68
σµ ±
%68
σµ ±16% 16%
Porcentaje permitido sobre un
límite superior
Porcentaje permitido debajo
de un límite inferior
Justificación de la regla del 16% Justificación de la regla del 16% (límites inferior y superior de especificación)(límites inferior y superior de especificación)
%68
σµ ±
%68
σµ ±16% 16%
Porcentaje
%68
σµ ±
%68
σµ ±16% 16%
Porcentaje permitido sobre un
límite superior
Porcentaje permitido debajo
de un límite inferior
Justificación de la regla del 16% Justificación de la regla del 16% (límites inferior y superior de especificación)(límites inferior y superior de especificación)
%68
σµ ±
%68
σµ ±16% 16%
Porcentaje
%68
σµ ±
%68
σµ ±16% 16%
Porcentaje permitido sobre un
límite superior
Porcentaje permitido debajo
de un límite inferior
Porcentaje permitido debajo
de un límite inferior
Regla del mRegla del m ááximo: ximo: Si el requerimiento especifica el valor máximo de un parámetro, ninguno de los valores medidos de ese parámetro debe superar al valor especificado
Ramax, Rz1 max, etc
Incertidumbre de mediciIncertidumbre de medici óónn : : En la evaluación de la conformidad de una superficie, al evaluar la incertidumbre no debe tenerse en cuenta el componente asociado a la falta de homogeneidad de la misma, el cual ya es considerado en la regla del 16%
NNúúmero de longitudes de basemero de longitudes de base: Al calcular un parámetro de rugosidad promedio, se utilizan 5 longitudes de base. Si se utilizara un número diferente (n), hay que tener en cuenta que la dispersión del valor promedio σn se modifica de acuerdo a:
55 nn ⋅= σσ
GuGuíía para determinar el a para determinar el cutcut --offoff λλλλλλλλcc
Ra
[ µm]
LONGITUD DE BASE
[mm]
LONGITUD DE EVALUACIÓN
[mm] 0,006 a 0,02 0,08 0,4
0,02 a 0,1 0,25 1,25 0,1 a 2 0,8 4 2 a 10 2,5 1,25
10 a 80 8 40
1. Perfil no periódico, determinación de Ra
Rz
[ µm]
LONGITUD DE BASE
[mm]
LONGITUD DE EVALUACIÓN
[mm] 0,025 a 0,1 0,08 0,4 0,1 a 0,5 0,25 1,25 0,5 a 10 0,8 4 10 a 50 2,5 1,25 50 a 200 8 40
2. Perfil no periódico, determinación de Rz
RSm
[ µm]
LONGITUD DE BASE
[mm]
LONGITUD DE EVALUACIÓN
[mm] 0,013 a 0,04 0,08 0,4 0,04 a 0,13 0,25 1,25 0,13 a 0,4 0,8 4 0,4 a 1,3 2,5 1,25 1,3 a 4 8 40
3. Perfil periódico, determinación de Ra y Rz,,
y perfil periódico o no periódico, determinación de Sm,
4. Longitudes establecidas en las especificaciones o los requerimientos de diseño: de acuerdo a ellos
Paralelo
Perpendicular
Cruzado
Multidireccional
Particulado
Circular
Radial
ParaleloParalelo
PerpendicularPerpendicular
CruzadoCruzado
MultidireccionalMultidireccional
ParticuladoParticulado
CircularCircular
RadialRadial
RUGOSÍMETROSMecánicos (de palpado)
Transductor piezoleléctrico
Transductor de bobina
Transductor láser
Ópticos
RUGOSÍMETROSMecánicos (de palpado)
Transductor piezoleléctrico
Transductor de bobina
Transductor láser
Ópticos
Componentes de un Componentes de un rugosrugos íímetrometro de palpado de palpado
((stylusstylus instrumentinstrument –– ISO 3274)ISO 3274)
PalpadorPalpador ((pick up):pick up):Componente que contiene el elemento de trazado, la Componente que contiene el elemento de trazado, la ppúúa a ((stylusstylus tiptip)) y el transductory el transductor
Elemento de trazadoElemento de trazadoElemento que transmite los desplazamientos de la pElemento que transmite los desplazamientos de la púúa a al transductoral transductor
PPúúa a ((stylusstylus tiptip ))Cono con un Cono con un áángulo definido (ngulo definido (normalamentenormalamente, 60, 60ºº o 90o 90ºº) ) y con una punta esfy con una punta esféérica de un radio definido (2rica de un radio definido (2 µµm, m, 55 µµm, 10m, 10 µµm )m )
TransductorTransductorDispositivo que convierte las coordenadas z del perfil Dispositivo que convierte las coordenadas z del perfil trazado, referido al perfil de referencia, en una setrazado, referido al perfil de referencia, en una seññal al
Radio de la punta:Radio de la punta:
6060ºº ±± 55ºº 9090ºº ±± 55ºº
Angulo de la puntaAngulo de la punta ::
22ºº±±11ºº 55ºº±±22ºº 1010ºº±±33ºº
Fuerza de mediciFuerza de medici óón estn est ááticatica
≤≤0,7 0,7 mNmN ≤≤4 4 mNmN ≤≤16mN 16mN
VariaciVariaci óón en la fuerza de medicin en la fuerza de medici óón estn est ááticatica
≤≤0,035 0,035 mNmN/m /m ≤≤0,2 0,2 mNmN/m /m ≤≤0,8 0,8 mNmN/m/m
CaracterCaracter íísticas de los sticas de los palpadorespalpadores
Distancia de la pDistancia de la p úúa:a:
dependiendo del disedependiendo del diseñño de la po de la púúaa
RadioRadio ::
0,3mm 1mm 0,3mm 1mm 3mm 3mm 10mm 10mm 30mm 30mm ∝∝
AnchoAncho
dependiendo del disedependiendo del diseñño de la po de la púúaa
RugosidadRugosidad
RRzz ≤≤ 0,10,1µµmm
CaracterCaracter íísticas de los patinessticas de los patines
Diferentes tipos de Diferentes tipos de palpadorespalpadores
Transductor Transductor piezolelpiezolelééctricoctrico
Transductor de bobinaTransductor de bobina
Transductor lTransductor lááserser
Transductor inductivoTransductor inductivo
Es capaz de medir la posiciEs capaz de medir la posicióón absoluta del, palpado, n absoluta del, palpado, es utilizado en la mayores utilizado en la mayoríía de los equipos de exactitud.a de los equipos de exactitud.
Dos bobinas forman los brazos de un circuito puente, Dos bobinas forman los brazos de un circuito puente, prpróóximos a dos planos de ferrita adheridos al ximos a dos planos de ferrita adheridos al palpadorpalpador
Una tensiUna tensióón alterna ( 10 n alterna ( 10 kHzkHz) es aplicada al circuito. ) es aplicada al circuito.
Un cambio en la Un cambio en la pocicipocicióónn del del palpadorpalpador modifica la modifica la inductancia de las bobinas. Esto inductancia de las bobinas. Esto desbalanceadesbalancea el el crcuitocrcuito, modificando su tensi, modificando su tensióón. La salida del puente n. La salida del puente es rectificada, obteniendo una sees rectificada, obteniendo una seññal proporcional, en al proporcional, en polaridad y amplitud, al perfil medido.polaridad y amplitud, al perfil medido.
Transductor inductivoTransductor inductivo
Ventajas: Ventajas:
��Alta linealidad. El instrumento se calibra para un Alta linealidad. El instrumento se calibra para un superficie suave, y puede ser utilizado para medir superficie suave, y puede ser utilizado para medir rugosidades diferentes. rugosidades diferentes.
��InsensiblidadInsensiblidad al ambiente. La exactitud del equipo al ambiente. La exactitud del equipo no es influenciada por temperatura, humedad, o no es influenciada por temperatura, humedad, o vibraciones. vibraciones.
��TamaTamañño. Las bobinas pueden ser miniaturizadas o. Las bobinas pueden ser miniaturizadas para permitir para permitir rugosrugosíímetrosmetros muy pequemuy pequeññosos
Transductor inductivoTransductor inductivo
AmplificadorAmplificador
Convertidor AnalConvertidor Anal óógicogico --digitaldigital
Interfase (data Interfase (data inputinput --output)output)
Software de procesamiento de perfilesSoftware de procesamiento de perfiles
Registrador de perfilesRegistrador de perfiles
Otros componentes Otros componentes (ISO 3274)(ISO 3274)
CaracterCaracter íísticas metrolsticas metrol óógicas y geomgicas y geom éétricastricas
Fuerza de medición estática: nominal 0,00075 N
Cambio de la fuerza de medición estática: nominal 0 N/m
Fuerza de medición dinámica: resultantes de la aceleración del palpador
Histéresis
Función de transmisión de ondas sinusoidales
Rango de palpado
Rango del instrumento
Resolución de cuantización CAD
Resolución del instrumento
Linealidad del palpado
Límite de transmisión de onda corta
Fuerza de medición estática: nominal 0,00075 N
Cambio de la fuerza de medición estática: nominal 0 N/m
Fuerza de medición dinámica: resultantes de la aceleración del palpador
Histéresis
Función de transmisión de ondas sinusoidales
Rango de palpado
Rango del instrumento
Resolución de cuantización CAD
Resolución del instrumento
Linealidad del palpado
Límite de transmisión de onda corta
RelaciRelaci óón entre radio de la punta del n entre radio de la punta del palpadorpalpador , , cutcut --off off λλλλλλλλcc y y λλλλλλλλss (ISO 3274)(ISO 3274)
510300258
1,5530082,5
0,523002,50,8
0,521002,50,25
0,52302,50,08
Distancia de muestreo
máxima [µm]
radio máximo [µm]λλλλs/ λλλλsλλλλs [nm]λλλλc [nm]
RugosRugosíímetrosmetros opticosopticos
FILTROS
¿Qué es un filtro?
FILTRO ANALÓGICO (2RC)
Separa los componentes de alta y baja Separa los componentes de alta y baja frecuencia (baja y alta longitud de onda)frecuencia (baja y alta longitud de onda)
¿Cómo filtrar un perfil como este?
FILTRO 2RCFILTRO 2RC
ondulaciondulacióónn rugosidadrugosidad
Ventana rectangular
FILTROS DE PROMEDIOS MÓVILES
x
Perfil filtrado (ondulación)
Diferencia (rugosidad)
PARA OTRO TAMAÑO DE VENTANA
Perfil filtrado (FORMA)
Diferencia (rugosidad y ondulación)
Los resultados dependen del cut-off
utilizado (λc)
FILTRO 2RCFenómeno de Gibbs
El filtro RC El filtro RC ““camina para atrcamina para atrááss””. No es posible . No es posible ““verver”” que que pasa hacia delante. Reacciona a un cambio en el perfil pasa hacia delante. Reacciona a un cambio en el perfil una vez que este ya ocurriuna vez que este ya ocurrióó. Esto puede distorsionar el . Esto puede distorsionar el
resultadoresultado
Ventanas gaussianas
Promedio pesado
FILTRO GAUSSIANO
FILTRO GAUSSIANO(corrección de fase)
perfil original
Promedio pesado
perfil filtrado
Como funciona el filtro gaussiano
FunciFunci óón de transmisin de transmisi óón de la longitud n de la longitud de onda (filtro rectangular)de onda (filtro rectangular)
λs λc λfrugosidad ondulación formaforma
longitudes de onda
100%
0%
porc
enta
je d
e tr
ansm
isió
n
FunciFunci óón de transmisin de transmisi óón de la longitud n de la longitud de onda (filtro de onda (filtro gaussianogaussiano ))
longitudes de ondalongitudes de onda
λs λc λfrugosidad ondulación
100%
0%
porc
enta
je d
e tr
ansm
isió
n
50%
λs λc λfrugosidad ondulación
100%
0%
porc
enta
je d
e tr
ansm
isió
n
50%
λs λc λfrugosidad ondulación
100%
0%
porc
enta
je d
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ansm
isió
n
50%
λs λc λfrugosidad ondulación
100%
0%
porc
enta
je d
e tr
ansm
isió
n
50%
EjemploEjemplo
SeSeññal originalal original
Filtro 2 RCFiltro 2 RC
Filtro Filtro gaussianogaussiano
Efectos del palpador: filtro mecánicoEfectos del palpador: filtro mecánico
PalpadorPalpador ccóónico nico (60(60ºº))
Los ángulos mayores que 45º en el perfil serán modif icados
PalpadorPalpador ccóónico nico dadaññadoado
Efecto del radio de la punta del palpador
Cuanto menor sea la punta, más fiel es el perfil trazado a la superficie original
Perfiles Perfiles reentrantesreentrantes
PATINESPATINES
Para guiar el movimiento del palpador puede utilizarse un patín (skid)
El patín viaja a través de las irregularidades de ondulación y forma, pero filtra las de rugosidad
El patEl pat íín puede utilizarse sn puede utilizarse s óólo slo s íí::��Se miden parSe miden paráámetros de rugosidad (no de metros de rugosidad (no de ondulaciondulacióón o perfil)n o perfil)
��El radio del patEl radio del patíín en la direccin en la direccióón de trazado debe n de trazado debe superar 50 vecessuperar 50 veces λλcc
��La fuerza aplicada por el patLa fuerza aplicada por el patíín sobre la superficie n sobre la superficie no debe superar 0,5Nno debe superar 0,5N
RUGOSRUGOSÍÍMETRO CON PATMETRO CON PATÍÍN INTERNO N INTERNO ((skidlessskidless ))
Este modo de funcionamiento asegura mayor exactitud
RugosRugos íímetrometro en modo paten modo pat íínn
1: 1: palpadorpalpador
2: ajuste fino 2: ajuste fino
3: soporte m3: soporte m óóvilvil
Patrones de rugosidad(ISO 5436)
Patrones de rugosidad(ISO 5436)
Medidas materiales�El material debe ser lo suficientemente duro como para garantizar larga vida útil en relación al costo
�La superficie debe ser lo suficientemente suave y plana
�La zona de medición debe ser lo suficientemente grande como para garantizar las longitudes de evaluación
�El mismo bloque puede tener una o más zonas de medición
�Limpieza de los patrones:
El mejor método de limpiarlos es evitar que se ensucien!
TIPOS DE PATRONES
Patrón de medición decoordenadas de perfil
E
Patrón de medición
de rugosidadD
Patrón de longitud de ondaC
Patrón de verificación dela punta del palpador
B
Patrón de profundidadA
NOMBRETIPO
PATRONES DE TIPO A1 Y A2PATRONES DE TIPO A1 Y A2
A1:caracterizado por d y W
A2:caracterizado por d y r
Cómo calibrarlos
rectas de rectas de cuadrados cuadrados mmíínimosnimos
círculo de cuadrados mínimos
PATRONES DE TIPO B2PATRONES DE TIPO B2
deben ser calibrados con un palpador con punta de ra dio < 2µm, con filtro gaussiano, no menos que 18 trazas
patrones para verificar la punta del palpador
PATRONES DE TIPO B3PATRONES DE TIPO B3
patrón para verificar la punta del palpador
Si el radio de la superficie es mucho menor que el del palpador, el radio de curvatura del perfil es similar a éste
último
PATRONES DE TIPO CPATRONES DE TIPO C
C1
C2
C3
Caracterizados por RSsmy Ra
PATRPATRÓÓN DE TIPO CN DE TIPO C
C4
Caracterizados por PSsmy Pa
En los patrones de tipo C la distorisón causada por la punta y por el filtro se considera
despreciable
PATRONES DE TIPO DPATRONES DE TIPO D
Patrones irregulares unidireccionales o circulares, caracterizados por Ra y Rz
El perfil debe repetirse en forma periódica cada 5λc
PATRONES DE TIPO EPATRONES DE TIPO E
Esferas, semiesferas o prismas de precisión
Caracterizados por los ángulos entre sus caras, o por sus radios, y por Pz en cada cara
COMPONENTES DEL CERTIFICADO DE COMPONENTES DEL CERTIFICADO DE CALIBRACICALIBRACIÓÓNN
�Radio efectivo
�Detalles del procedimeinto, número de repeticiones efectuadas
�Valores obtenidos, o su promedio
�Incertidumbre estimada
�Desviación standard de los valores obtenidos
�Referencia a las condiciones de medición
�Identificación del patrón
CALIBRACICALIBRACIÓÓN DE N DE RUGOSRUGOSÍÍMETROS DE PALPADORMETROS DE PALPADOR
(EA (EA -- G20)G20)
�El instrumento comprende: el indicador, las unidades de control y evaluacuón, la unidad de recorrido, los palpadores con sus puntas, y el registrador. Sólo las combinaciones completas son calificadas para calibración. Si se utilizan varias combinaciones, éstas deben ser calibradas separadamente
�El instrumento debe ser calibrado en su lugar de uso, para que las condiciones ambientales que puedan afectar a las mediciones sean tenidas en cuenta
CALIBRACICALIBRACIÓÓN DE RUGOSN DE RUGOSÍÍMETROS DE PALPADORMETROS DE PALPADOR
�Patrones de referencia
•Plano óptico
•Patrón de profundidad, tipo A1 o A2 (asegura la trazabilidad del perfil vertical: Pt
• Patrones de rugosidad, preferiblementetipo D. Reproducen Ra, Ra, ,y Rmax
�Pueden uitilizarse también
•patrón de inclinación
•esfera
•Patrón tipo C
EJEMPLO DE PROCEDIMIENTO DE CALIBRACIÓN
Previo a la calibración�Verificar el correcto funcionamiento del instrumento, de acuerdoa las indicaciones del fabricante
�Establecer los efectos de desvíos de rectitud, condiciones
ambientales y ruido instrumental por medio de la medición de Ra
y Rz sobre un plano óptico. Estos valores deben ser informados
�Alinear el plano del patrón de profundidad el eje de desplazamiento del palpador dentro de un 10% del rango de medición
�Elegir siempre el rango de medición más pequeño posible
�Tomar las mediciones en el centro de tal rango
EJEMPLO DE PROCEDIMIENTO DE CALIBRACIÓN (2)
Calibración por medio de un patrón de profundidad
Medir cada ranura en 5 secciones de perfil, y calcular Pt en cada
una deellas. Indicar el desvío del valor medio respecto del valor
indicado en el certificado del patrón, en % y en µm
Calibración por medio de un patrones de rugosidad�Realizar 12 mediciones en cada patrón, distribuidas sobre la
superficie de medición, de acuerdo a las siguientes condiciones:
5 longitudes de muestreo sobre L = 4 mm, cut-off=0,8 mm
�Calcular el promedio y desviación standard para cada
parámetro medido, e indicar los desvíos de los promedios
respecto del valor indicado en el certificado
EJEMPLO DE PROCEDIMIENTO DE CALIBRACIÓN (3)
Incertidumbre de medición
�Debe calcularse de acuerdo a EA-4/02
�Deben contemplarse dos componentes
• La incertidumbre del valor medidio del patrón, indicada en el
certificado de calibración. Incluye la falta de uniformidad del
patrón
•la incertidumbre experimental de la transferencia del valor del
patrón al instrumento. Incluye la repetuibilidad del mismo.
�La incertidumbre expandida será informada con un factor de
cobertura k = 2
EJEMPLO DE PROCEDIMIENTO DE CALIBRACIÓN (4)
El certificado de calibración debe contener
�Identificación de todos los componentes relevantes del instrumento
�Lugar de la calibración
�Método de calibración
�Tipos de patrones utilizados
�Condiciones de la medición
•rango de medición•velocidad de recorrido
•longitud de evaluación•cut-off utilizado
•tipo de filtro•radio de la punta del palpador
EJEMPLO DE PROCEDIMIENTO DE CALIBRACIÓN (5)
El certificado de calibración debe contener
�Resultados de Ra y Rz sobre un plano óptico
�Profundidad promedia medida para cada patrón de ranura, y sus desvíos respectos de su certificado de calibración
�Valores medidos de Ra y Rz en cada patrón de rugosidad, su
desviación standard experimental y los desvíos respectos de su certificado de calibración
�Cada resultado de medición informado debe estar acompañado de su incertidumbre
Evaluación de la IncertidumbreFuentes de incertidumbre a tener en cuenta en
una medición de rugosidad
1.Homogeneidad de alturas del patrón utilizado para calibrar el instrumentoEsto genera una incertidumbre en las mediciones del patrón con el rugosímetro, al obtener la constante de calibración del instrumentoPor lo general, el certificado de calibración debería informar valores estadísticos asociados a la falta de homogeneidad del patrón
Evaluación de la IncertidumbreFuentes de incertidumbre a tener en cuenta en
una medición de rugosidad
1.Homogeneidad de alturas del patrón utilizado para calibrar el instrumentoEsto genera una incertidumbre en las mediciones del patrón con el rugosímetro, al obtener la constante de calibración del instrumentoPor lo general, el certificado de calibraciPor lo general, el certificado de calibracióón n deberdeberíía informar valores estada informar valores estadíísticos sticos asociados a la falta de homogeneidad del asociados a la falta de homogeneidad del patrpatróónn
2.Variaciones en la constante de calibració n asociadas con ruidos en el transductor, errores de topografí a de la superficie patró n, efecto de muestreo y digitalizació n en el controlador y redondeo en los cálculosEste componente puede estimarse a partir de Este componente puede estimarse a partir de la medicila medicióón de n de RRzz en una superficie tan plana en una superficie tan plana como se pueda conseguircomo se pueda conseguir
3.Variaciones asociadas con la no linealidad del transductorEste componente es estimado a partir de Este componente es estimado a partir de verificaciones de la linealidad con patrones de verificaciones de la linealidad con patrones de diversos valores, diferentes al diversos valores, diferentes al ppáátrtróónn de de calibracicalibracióón. Debe incluirse la incertidumbre de n. Debe incluirse la incertidumbre de calibracicalibracióón de estos patronesn de estos patrones
4. La incertidumbre de calibració n del patró n utilizado para calibrar el factor de ajuste del instrumento. Este componente se origina en la calibraciEste componente se origina en la calibracióón n de ese patrde ese patróón (ya sea por otro instrumento de n (ya sea por otro instrumento de palpado o bien palpado o bien interferominterferoméétricotrico))
5.Incertidumbre en la resolució n horizontal del instrumento (para mediciones de rugosidad: Ra, Rz, Sm , etc). Este componente se origina en el ancho de la punta del palpadorEste componente puede estimarse a partir del mediciones realizadas con palpadores con puntas de diferentes radios
6. Ruido instrumentalPuedePuede ser ser estimadoestimado a a partirpartir de la de la resoluciresolucióónn de de la la salidasalida del del instrumentoinstrumento
7. Exactitud en la longitud de de palpado (sólo para Sm u otrosparámetros de espaciado , no de amplitud)A menudo está especificado en el instrumento. Si no puede realizarse una verificación a travésde un patróm geométrico
6.Variación aleatoriaEvaluada por medio de la desviación standard
del promedio informado, s/√n donde n es el número de mediciones promediadas.
EJEMPLO: Balance de incertidumbres de las EJEMPLO: Balance de incertidumbres de las
calbracionescalbraciones realizadas por el NIST. Patrrealizadas por el NIST. Patr óón de n de RRaa
( ) nsIuuc22 +=
Incertidumbre standard de cada componente
H(µm) 1 2 3 40 5
(nm)6
(nm)
IncertidumbreCombinada
0.02937 0.014 R 0.0064 R 0.0018 R 0.0073 R 0.13 0.08 [ ( 0.017 R )2 + ( 0.15 nm )2 ]1/2
Incertidumbre standard de cada componente
H(µm) 1 2 3 40 5
(nm)6
(nm)
IncertidumbreCombinada
0.02937 0.014 R 0.0064 R 0.0018 R 0.0073 R 0.13 0.08 [ ( 0.017 R )2 + ( 0.15 nm )2 ]1/2
0.09065 0.0035 R 0.0030 R 0.0018 R 0.0024 R 0.13 0.08 [ ( 0.0055 R )2 + ( 0.15 nm )2 ]1/2
0.3024 0.00085 R 0.0015 R 0.0012 R 0.0041 R 3.5 0.08 [ ( 0.0046 R )2 + ( 3.5 nm )2 ]1/2
0.09065 0.0035 R 0.0030 R 0.0018 R 0.0024 R 0.13 0.08 [ ( 0.0055 R )2 + ( 0.15 nm )2 ]1/2
0.3024 0.00085 R 0.0015 R 0.0012 R 0.0041 R 3.5 0.08 [ ( 0.0046 R )2 + ( 3.5 nm )2 ]1/2
1 and 2 Combinados1.0157 0.0054 R 0.0012 R 0.0012 R 3.5 [ ( 0.0057 I>R )2 + ( 3.5 nm )2 ]1/2
1 and 2 Combinados1.0157 0.0054 R 0.0012 R 0.0012 R 3.5 [ ( 0.0057 I>R )2 + ( 3.5 nm )2 ]1/2
2.587 0.0054 R 0.0012 R 0.0093 R 3.5 [ ( 0.011 R )2 + ( 3.5 nm )2 ]1/2
3.0289 0.0054 R 0.0012 R 0.0064 R 3.5 [ ( 0.0085 R )2 + ( 3.5 nm )2 ]1/2
2.587 0.0054 R 0.0012 R 0.0093 R 3.5 [ ( 0.011 R )2 + ( 3.5 nm )2 ]1/2
3.0289 0.0054 R 0.0012 R 0.0064 R 3.5 [ ( 0.0085 R )2 + ( 3.5 nm )2 ]1/2
12.668 0.0054 R 0.0020 R 0.0047 R 3.5 [ ( 0.0074 R )2 + ( 3.5 nm )2 ]1/2
22.90 0.0054 R 0.0020 R 0.00087 R 3.5 [ ( 0.0059 R )2 + ( 3.5 nm )2 ]1/2
152.37 0.0054 R 0.0020 R 0.00066 R 3.5
12.668 0.0054 R 0.0020 R 0.0047 R 3.5 [ ( 0.0074 R )2 + ( 3.5 nm )2 ]1/2
22.90 0.0054 R 0.0020 R 0.00087 R 3.5 [ ( 0.0059 R )2 + ( 3.5 nm )2 ]1/2
152.37 0.0054 R 0.0020 R 0.00066 R 3.5 [ ( 0.0058 I>R )2 + ( 3.5 nm )2 ]1/2
u(I)
EJEMPLO: Balance de incertidumbres de las EJEMPLO: Balance de incertidumbres de las calbracionescalbraciones realizadas por el NIST. Medicirealizadas por el NIST. Medici óón de ranura n de ranura
( ) nsIuuc22 +=
Componentes de
incertidumbre standard
Incertidumbre combinada
H
µm
1
2
3
4 u(I)
0.02937 0.014 X 0.0064 X 0.0018 X 0.0073 X 0.017 X
0.09065 0.0035 X 0.0030 X 0.0018 X 0.0024 X 0.0055 X
0.3024 0.00085 X 0.0015 X 0.0012 X 0.0041 X 0.0046 X
1.0157 0.0010 X 0.0015 X 0.0012 X 0.0012 X 0.0025 X
2.587 0.0013 X 0.0014 X 0.0012 X 0.0093 X 0.0096 X
3.0289 0.0010 X 0.0016 X 0.0012 X 0.0064 X 0.0068 X
12.668 0.00095 X 0.0012 X [ ( 0.0020 X )2 + ( 8.7 nm )2 ]1/2 0.0047 X [ ( 0.0053 X )2 + ( 8.7nm )2 ]1/2
22.90 0.0013 X 0.00079 X [ ( 0.0020 X )2 + ( 8.7 nm )2 ]1/2 0.00087 X [ ( 0.0027 X )2 + ( 8.7nm )2 ]1/2
152.37 0.00073 X 0.00053 X [ ( 0.0020 X )2 + ( 8.7 nm )2 ]1/2 0.00066 X [ ( 0.0023 X )2 + ( 8.7nm )2 ]1/2
12.668 0.00095 X 0.0012 X [ ( 0.0020 X )2 + ( 8.7 nm )2 ]1/2 0.0047 X [ ( 0.0053 X )2 + ( 8.7nm )2 ]1/2
ELEMENTOS NECESARIOS PARA ELEMENTOS NECESARIOS PARA PREPARAR UN LABORATORIO PREPARAR UN LABORATORIO
DE RUGOSIDADDE RUGOSIDAD
1.1. EquipoEquipo
1.1.Equipo general (no es 1.1.Equipo general (no es necearioneceario con trazabilidad): con trazabilidad): Registro de temperatura y humedad.Registro de temperatura y humedad.
CCáámara con amplificador (5xmara con amplificador (5x--10x)10x)
1.2. Equipo de medici1.2. Equipo de medicióón n
RugosRugosíímetrometro de palpadode palpado
Unidad de alimentaciUnidad de alimentacióónn
PalpadoresPalpadores, con radios de (2, con radios de (2µµm y 5m y 5µµm)m)
Sistema de patSistema de patíín, si sern, si seráá utilizadoutilizado
Columna si serColumna si seráá utilizarutilizaráá
Mesa de posicionamiento Mesa de posicionamiento xyxy (con resoluci(con resolucióón de 1n de 1ºº))
Mecanismo de inclinaciMecanismo de inclinacióón y posicionamiento de las n y posicionamiento de las piezas a medirpiezas a medir
Plano de basePlano de base
Unidad de evaluaciUnidad de evaluacióónn
1.3. Patrones 1.3. Patrones
PatrPatróón de ranuran de ranura
Patrones de rugosidad irregulares o periPatrones de rugosidad irregulares o perióódicosdicos
Patrones de verificaciPatrones de verificacióón de la linealidad n de la linealidad
Cristal tan plano como sea posibleCristal tan plano como sea posible
Patrones de trabajo para cadena de trazabilidad Patrones de trabajo para cadena de trazabilidad internainterna
2. Documentaci2. Documentaci óónn
Manuales de instrumentos, registros y certificados Manuales de instrumentos, registros y certificados de calibracide calibracióón, procedimientos escritos, n, procedimientos escritos, etcetc
2.2. Normas2.2. Normas
ISO 3274 DescripciISO 3274 Descripci óón de instrumentos, n de instrumentos, definicidefinici óón de tn de t éérminos, condiciones rminos, condiciones de medicide medici óónn
ISO 4287 DefiniciISO 4287 Definici óón de los parn de los par áámetrosmetros
ISO 4288 Condiciones de evaluaciISO 4288 Condiciones de evaluaci óónn
ISO 5436 DescripciISO 5436 Descripci óón de patronesn de patrones
ISO 11562 DescripciISO 11562 Descripci óón del comportamiento de n del comportamiento de los filtroslos filtros
EA G20 CalibraciEA G20 Calibraci óón de n de rogosrogos íímetrosmetros de de palpadopalpado
Eso fue todo
Muchas gracias por su atención!!
Eso fue todoEso fue todo
Muchas gracias Muchas gracias por su atencipor su atencióón!!n!!