특허청구의 범위 -...
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특허청
청 항 1
원공 원 가 한 원 ;
상 원 통해 가 원 변압하여, 동차에 착 에 가 는 압에 하는 고
압 생시 시험 상 에 가시키 한 원 ;
동차에 착 에 가 는 스에 하는 스 생시 상 시험 상 에 가시키
한 스 ;
상 시험 상 압 또는 스 신 가 는 피- 포함하 ,
상 단 에 는 , 시험 는 것 특징 하는 동
차 시험 .
청 항 2
1 항에 어 ,
상 피- 는,
상 시험 상 연결 경우,
동차에 착 에 향 미 는 피 스 건, 항 건, 압 건 어도 어느 하나에
하는 피 스 건, 항 건, 압 건 , 상 시험 상 에 가 도 하는 것 특징 하는
동차 시험 .
청 항 3
1 항에 어 ,
상 시험 상 , 상 동차에 는 FP 또는 HTP-FP 경우, 상 원 에
원 가 상태에 , 상 원 원 가 스 , 상 스 스 스 , 상 피- 피-
스 (OP I/N S/W)는 ON 상태 고,
상 원 원단 , 상 스 스 단 상 피- 피- 단 는 상 FP 또는 상
HTP-FP 에 연결 ,
상 시험 는, 상 FP 또는 상 HTP-FP 에 하고 하는 단 에 연결 는 것
특징 하는 동차 시험 .
청 항 4
원공 원 가 한 원 ;
상 원 통해 가 원 변압하여, 동차에 착 하나 FT 에 가 는
압에 하는 고 압 생시키 한 원 ;
상 FT 에 는 압과 스 생하여 상 FT 가하는 에프티- (FT IN)
포함하 ,
상 FT 단 에 는 , 시험 는 것 특징 하는 동차
시험 .
청 항 5
4 항에 어 ,
상 원 에 원 가 상태에 , 상 원 원 가 스 상 에프티- 에프티-
스 는 ON 상태 고,
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상 에프티- 에프- 단 는 상 FT 에 연결 ,
상 FT 에 하고 하는 단 에는 상 시험 가 연결 는 것 특징 하는 동
차 시험 .
청 항 6
원공 원 가 한 원 ;
상 원 통해 가 원 변압하여, 동차에 착 HTP-FP 에 가 는 압에 하는
고 압 생시 HTP-FP 에 가시키 한 원 ;
상 원 가변 압 생하여 상 FTP-FP 가하 한 AVR 포함하는 동차
시험 .
청 항 7
6 항에 어 ,
상 원 에 원 가 상태에 ,
상 원 원 가 스 상 AVR AVR 스 는 ON 상태 고,
상 AVR AVR 단 1 단 에는 1리드 연결 고,
상 2리드 그라운드에 연결 고,
상 HTP-FP 에 하고 하는 단 에는 상 개 리드 연결 , 상 AVR 볼
스 에 해 0~10V 가변 압 상 HTP-FP 에 가 는 것 특징 하는 동차
시험 .
상 한
술 야
본 비 능 시험하는 시험 에 한 것 , 특 , GEC 동차에 동 달 [0001]
어하 해 고 는 과, 동차량 변 에 상 생시 동차량 주 변
에 남아 는 에 지 가 귀시키는 시험하는 에 한 것 다.
경 술
철도차량 차량 주 어 에 사 리스 사 하는 사 리스 어 식 많 사 고 [0002]
, 어 등 사 하여 생 동 가능하도 하는 여 첨가계 어나 계 어 술 등도
고 다.
사 리스 어는 항 어보다 차량 비 보수 비 하 도 생 동 사 가능한 [0003]
에 많 사 었다.
어란 - 프(ON-OFF) 복하는 것 통해, , 끊었다 었다 하는 식 복하는[0004]
것 통해, 직 또는 원 실 값 압 나 사 만들어 내는 원
어 식 , 러한 어 식 주 동차 주 동 어나 직 안 원(AC 어
) 등에 고 , 특 , GEC 동차에 주 고 다. 러한 어는, 항 어에 비해 열
에 한 에 지 실 , 어 는 사 리스 등 한다. 특 , 어 식 하고
는 동차 경우, 동시 생하는 에 지 돌 보내는 생 동 벽하게 사 할 수
다는 특징 가지고 다. 연하여 하 , 어는 1500V 운행하는 직 타 ,
1500V 직 압 어가 직 고 낮 는 능 수행하 , 원리 하여 어 동
차가 운행 다.
한편, GEC 동차 다 간 사 하게 , 어 식 하 한 다양한 ( 하, 간단 '[0005]
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' 라 함) 검하거나 하여야 하는 경우가 생하게 , 라 , 검할 수 는 시험 가
어야 한다.
그러나, 재 러한 에 간편하게 시험할 수 는 가 공 고 지 않 , 시험[0006]
경우, 신 들 검 수리 시, 어진 스신 가 안 하고 들림 많아 검 수리
에도 한 에 격 가할 수 어 , 실하고 신뢰 는 시험 안 고 다.
내
해결 하고 하는 과
상 같 해결하 한 본 , 동차에 는 능 시험할 수[0007]
는, 동차 시험 공하는 것 다.
과 해결수단
상 달 하 한 본 , 원공 원 가 한 원 ; 상 [0008]
원 통해 가 원 변압하여, 동차에 착 에 가 는 압에 하는 고 압
생시 시험 상 에 가시키 한 원 ; 동차에 착 에 가 는 스에
하는 스 생시 상 시험 상 에 가시키 한 스 ; 상 시험 상
압 또는 스 신 가 는 피- 포함하 , 상 단 에 는
, 시험 는 것 특징 한다.
과
본 간단하 도 과 검 수리 보 할 수 고, 신뢰 는 값 재 해 수[0009]
, 주수리 비 감하여 산 감시킬 수 다는 과 가지고 다.
, GEC 동차 다 간 사 한 검 다량 생하고 는 상 에 , 본 과 같 [0010]
하고 신뢰 는 시험 사 한다 , 과 시험실 비가 수 고, 주수 비
업 개 에도 큰 과가 어, 나아가 고객 비스 향상에 지할 수 다.
실시 한 체 내
하, 첨 도 참 하여 본 상 다.[0011]
도 1 어 식 하는 동차 원공 나타낸 시도 다.[0012]
, 어 식 하는 동차 원공 (300)는, 동차 라 어 는 [0013]
원 가 한 원 가 (350), 원 가 가 원 - 프시키 압
상승시키 한 에프 피 (FIRING AMPLIFIER PANEL)( 하, 간단 'FP ' 라 함)(310), FP
원 동차 각 동 ( )(380) 가시키 한 에프 티 (FIRING TRANSFORMER
PANEL)( 하, 간단 'FT ' 라 함)(320), FP 과 FT 통과하는 원 상 여 단하
한 어 (340) 어 에 해 과 하 등 FP 또는 FT 에 가 었다고 단 는 경우 FP 또
는 FT 고 는 원 원 가 시 (가 ) 돌 보내 한 에 티
피-에프피 ( 하, 간단 'HTP-FP ' 라 함)(330) 포함한다.
FP(FIRING AMPLIFIER)(5EP06B1) (310) , 학 차단 (OPTO-ISOLATOR) 거쳐 스 생 하여 압과 [0014]
폭하여 싸 리스 게 트 변압 동 시키는 만드는 사 한다. FP 에는 안 가 포
함 어 어 , 생 하여 싸 리스 가 안 하게 동 수 다. 또한, 클램프 신 사
하여 스 없애도 하는 비도 가능하다. , FP (120) 내 학 차단 (OPTO-
ISOLATOR) 거쳐 스 , 스 압과 폭 하여 싸 리스타 게 트 변압 에 직
시키는 것 , 당한 만드는 에 사 다. 또한, FP 에는 안 가 포함 어 어 ,
어 한 압 에 도 생 한 가 , 싸 리스 가 안 하게 도 하 , 클램프 신
사 하여 스 OFF 시킬 수도 다.
FT(FIRING TRANSFORMER) (320) 2개 변압 2차 단 S1, S2에 연결 항/다 드 망[0015]
포함하여 변압 다. 상 변압 는 보통 고압 싸 리스 (T1, TA2, T1B1, T1B2, T21, T22, T23,
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T31, T32) 게 트에 트리거 동 스 주는 능 수행한다. 또한, 변압 는 어 (FP )
차단하는 능 수행한다. , FT 에 비 는 상 변압 는 FP 단 8, 단 9에
는 스 P1, P2 통해 , 상 변압 S1, S2 통해, 각 싸 리스 트리거에 스 태
다. , FT (320) 고압 싸 리스 (THYRISTOR) 게 트 트리거 고, 고압
압 어 사 차단하 , 는 연 어 나 결합 어 다.
FT 20㎲ 폭 주 수 283HZ 스 생시킬 수 다.
HTP-FP(5EP07B1) (330) 학 연 OPI1 에 라 결 Mark-Space 스 연[0016]
생시킨다. 스들 폭 압, 게 생 Thyristor T61, T62 게 트 동
시키는 스 변압 FT61, FT62(7TF11C) 차 (P1,P2)에 직 , 변압 Crowbar
Thyristor T61, T62 트리거 시킨다. 그리고, 싸 리스 T61 ANODE에 연결 M11 고, 싸 리스
T62 CATHODE 단 에 연결 M8 다. T61,T62는 직 연결 어 다. , HTP-FP (330) CROWBAR
PANEL 라고도 하 , HTP-FP 에 한 보 시스 극단 경우에만 사 하도 계 어진 것 , 학
연 압 에 하여 결 MARK-SPACE PULSE 연 생시키는 능 수행한다. HTP-
FP pulse tests wiper 시 90±20ms 지 스 train 생시킨다.
상 한 같 어 식 하는 동차 원공 (300)는, FP (310), FT (320) [0017]
HTP-FP (330)과 같 개 포함하고 , 러한 개 간 사
후, 또는 그 능 시험하여 그 안 보 어야 한다.
라 , 하에 는 상 한 같 개 능 시험할 수 는 동차 시험 [0018]
가 다.
도 2는 본 에 동차 시험 실시 도 다. [0019]
본 에 동차 시험 는 상 한 같 , 동차에 는 능 시험[0020]
하 한 것 , 원 (210), 압 시 (220), 시 (230), 원 (240), 스 (250), 피-
(260), 에프티- (270) AVR (280) 포함하고 다. 한편, 시험 (290)는 본 에
동차 시험 에 해 각 에 는 검 하 한 것 , 독립
는 것 나, 본 에 포함 수도 다.
원 (210)는 본 에 동차 시험 에 원 공 하는 능 수행한다.[0021]
압 시 (220) 시 (230)는 압과 하 한 것 , 시험 상 가 는[0022]
압과 가 시 다.
원 (240)는 원 (210) 통해 가 원 변압하여 30V 압 FP HTP-FP 에 공[0023]
할 수 다.
스 (PULSE)(250)는 283Hz 주 수 생시 , FP HTP-FP 에 공 할 수 다. [0024]
피- (O/P IN)(260)는 FP HTP-FP 시험시, FP HTP-FP 신 는 단[0025]
, FP HTP-FP 피 스가 실 동차 동 한 값 갖도 하는 능 수행한다. ,
FP HTP-FP 동 체 피 스뿐만 아니라, 상 들과 연결 어 는 동차
내 별도 들간 피 스에 해 도 향 게 다. 라 , 본 실 동차에
FP HTP-FP 동 향 게 는 피 스 경과 동 한 건 피- 함
, 본 에 한 시험시, FP HTP-FP 실 동차에 동 는 경우 동 한 피 스
갖도 하고 다.
에프티- (FT IN)(270)는 FT 시험시, FT 에 는 압 또는 스 어도 어느 하나 [0026]
생하여 FT 가시키는 능 수행한다.
AVR (280)는 HTP-FP 시험시, 가변 압 생하여 HTP-FP 가시키는 능 수행한다. [0027]
시험 ( 실 스 프)(290)는 시험 상 하 한 것 , 시험 [0028]
단 시험 상 단 에 결 시킴 , 시험 상 검 할 수
다. , 특 에 해 상동 여 또는 상 생 여 에 한 단 가능함
, 사 는 각 별 하에 는 에 라 단 결 시킨 후, 각 에
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원하는 단 에 시험 단 연결시킨 상태에 니 링함 , 시험 상
상 여 등 단할 수 다.
본 에 동차 시험 는, 가 태 함 , 보 하게 할[0029]
수 다. , 도 2는 상 한 같 본체 개 가 태 동차 시험
나타낸 것 , 특 , 본체에 해당 는 나타낸 것 , 여 , 실 스 프(290)는 본체에
수납 (400) 통해 본체 탈, 착 가능하다. 여 , 가 태 동차 시험 개(미도
시)에는 다양한 시험 수행하 해 필 한 등과 같 비들 수납 수 다.
한편, 동차 시험 내 WV1 0.75SQ or 1.25SQ 사 하여 수 다.[0030]
또한, 시험 (290) 는 실 스 프(핸 스 프)는 상 한 같 동차 시험
본체 탈, 착 가능하도 계 수 다. 또한, 동차 시험 체 동
어하는 어 ( 컨트 (CPU) PCB)(미도시)는 각 시험에 통합 게 수 다.
본 에 동차 시험 각 다 과 같다. , 본 에 동차 [0031]
시험 는 원 (210) 압 AC 220V , 원 (240) 또는 AVR (280) 통해
압 DC 30V±2V 또는 DC 0 ~ 10V 할 수 다. 각 에 라, 본 에 동차
시험 에 는 압 아래 [ 1]과 같다.
1
FP PANEL[0032] P-P 10V PULSE 283Hz WIDTH20μS
HTP-FP PANEL 0 ~ 10V가변 , P-P 10V 283Hz WIDTH20μS
FT 변압 P1-P2 INPUT 26V±2V, 20μS±3μS, 283Hz
, 본 에 동차 시험 (200)는 도 2에 도시 같 , 원 [0033]
한 원 (210), 원 가 원 변압하여 각 시험에 필 한 압 생하여
공 하 한 원 (240), 각 시험에 필 한 주 수 생시키 한 스 (250), 동
압 시하 한 압 시 (220), 비 시하 한 시 (230), 시험 상
가 거나 또는 시험 상 에 생 는 하 한 시험 (290) 피-
(260), 에프티- (270) AVR (280) 포함한다.
한편, 상 한 같 본 에 동차 시험 에 상 생한 경우 사항 간단[0034]
리하 아래 [ 2] 같다.
2
[0035]
상 사항
비에 원 지지 않는다 - AC220V 원 한다
- SMPS 압 검한다.
FP PANEL 시험 안 경우 - 압 주 수 검한다.
- P-P 10V PULSE 283HZ WIDTH 20μS
HTP-FP PANEL시험 안 경우 - 압 주 수 검한다.
- P-P 10V PULSE 283HZ WIDTH 20μS
FT변압 시험 안 경우 - 압 주 수 검한다.
- P1-P2 INPUT 26V±2V, 20μS+3μS
LED가 등 안 경우 - 압 검한다.
- 각 연결 단락 등 상 가능
도 3 본 에 동차 시험 하여 FP 시험하는 상태 나타낸[0036]
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시도 다.
우 , FP (310) 시험하 한, 동차 시험 사 상태 FP 과 단 연결 [0037]
하 다 과 같다.
, FP 시험하 하여, 원 원 드(211)에 원 가 상태에 , 원 [0038]
원스 (MAIN S/W)(212), 원 30V 원 가 스 (241), 스 스 스 (251), 피- 피-
스 (OP I/N S/W)(261) ON 상태 한다.
한편, 원 원단 (242) 1단 (상단 색 단 )는 FP 7 단 에 연결 고, 2단 (하단[0039]
색 단 )는 FP 12 단 에 연결 도 한다.
또한, 스 스 단 (252) 1단 (상단 란색 단 )는 FP 6 단 에 연결 고, 2단 (하[0040]
단 색 단 )는 FP 5 단 에 연결 도 한다.
또한, 피- (260) 피- 단 (262) 1단 (상단 단 )는 FP 8 단 에 연결 고,[0041]
2단 (하단 단 )는 FP 9 단 에 연결 도 한다.
또한, FP 에 하고 하는 단 에는 시험 (290) , 실 스 프(핸 스 프) 단 가[0042]
연결 도 한다.
한편, 상 한 같 각 단 FP 단 간 연결상태에 한 보는 동차 시험[0043]
각 단 에 시 어 에 사 는 해당 는 FP 단 찾아 연결하 만 하 다( 하,
FT 또는 HTP-FP 에 도 동 하게 ).
다 , 하에 는 FP 본 에 동차 시험 하여 시험하는 체 과[0044]
다. 하 , FP , 실 사 는 FP 에 라 변경 수 는
것 , 하에 는 다만 편 하여 재 것 본 한 하는 것 아니다.
, 하 에 는 FP 들 체 재 어 나, 것 재 사 고
는 FP 하여 본 하 한 것 , 본 에는 포함 지 않는 , 에
한 상 한 생략 다( 하, FT 또는 HTP-FP 에 도 동 하게 ).
, FP 스 단 5 6 단 통하여 P-P 10V, 스 283HZ, WIDTH 20㎲ 공 한다.[0045]
스는 OPI1 다 드 에미 에 공 한다. R1과 R2는 OPI1에 가 는 압 한하 , D1 역 압
지한다. R26 피 스 나타내어 단 한한다.
들어 OPI1 트랜지스 가 지고 라 T1 R6 거쳐 동 한다. R5는 OPI1 동 했[0046]
TP1에 압 나 도 택 다.
T1, T2 는 Schmitt 트리거 한다. T1 스 압 어스 R11과 R12에 해 트[0047]
T2 스 압 지 상승하 T1 지 시 하고 T2는 꺼지 시 한다. 단 러한 상 시 T2
어스는 R8에 재생 피드 통해 감 어 T1과 T2가 빠 고 과 도 한다.
는 R9 통해 러 D2 극 압 ZD1에 해 해진 한계 지 끌어내린다(공 압보다 약 10V ).[0048]
결과 T3가 진다. C1 가 R14 통과하여 R14/C1 T3 ON 압 하 어뜨리 에
C1 T3 짐 지연시키지 않는다. 단 T3가 지 다아링 T4 T5가 가 하 통
해 게 한다. 특 T4는 D4 통해 게 하여 D4 C1 압 강하시킨다.
C1 쪽 상 압 강하에 라 T3 짐 빠 게 한다.[0049]
R17과 R20 T4 스가 한 압에 도 한다. T5 에미 는 링크1 통해 원[0050]
공 거나 링크2 통해 20V 내 원 원공 는 ZD2에 해 3.3V 지 다.
ZD2는 T5 ON시키 해 T5 스가 필 하는 압 상승시 C3,C4,C5 같 에 한 역[0051]
가시킨다.
D7과 ZD4는 T5가 꺼 하에 해 생 는 역 압 한하 하여 착 어 다. R27 에[0052]
한 역 개 하 하여 피 스 하 착 것 다.
(-) 원 한 항 R22 직 다 드 D6 거쳐 C6과 C7에 공 다. C6과 C7 T5가 꺼진동안[0053]
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, T5가 지 하에 피 스 공 한다.
R23과 ZD3 다 에 20V 공 한다. 것 C2에 해 평 하게 다. D6 원[0054]
들어가는 것 막는다. 스가 료 T1 꺼지고 D2 극 압 공 압 돌아 간다. C1
R13과 R15 통해 다(그러나 는 T3 스 거쳐 들어 다). 결 T3 스는 T3
꺼지 시 하는 지 상승하 , 라 T4가 꺼진다. T4가 꺼지 R14 C1 에 압 상승하
시 하고, C1 스트랩(Bootstrap) T3 꺼지는 것에 여한다.
에 프(Turn Off)에 해 는 지연 싸 리스 가는 스 크게 하여[0055]
가 실하고 안 하게 루어지도 한다.
D3 C1 가 공 압 상 는 것 지한다.[0056]
(T4가 꺼질 ) D4는 20V 다 드에 원공 는 에 역 는 것 지한다.[0057]
RL1( 어 는 경우) T5 에미 스 단락시키는 N.C 에 연결 어 다. 클램프 능[0058]
필 없고 라 RL1에 한 픽업 신 가 필 없는 에 는 RL1 생략 어 다.
상 한 같 본 에 하 , 사 는 시험 원하는 동차 직 하여, 동차 크 시험[0059]
통해 동차 내 FP 에 스 압 가한 상태에 , FP 원하는 단 에 시험
단 결합시킨 후, 시험 창 통해 는 함 ,
에 직 FP 상여 할 수 다. , 본 동차 동 시, 실질 FP 에
는 원, 스 피 스 상태 , 원 (240), 스 (250) 피- (260) 하여 동 한 상태
지하 , 시험 통해 FP 에 는 검 하는 통해 FP 상여
단할 수 다.
, 사 는 상상태 FP 에 한 보 별도 단말 에 하고 다니거나 또[0060]
는 트 등에 하고 다니 시험 통해 과 비 할 수도 , 사 본 가
지고 는 지식 하여 비 할 수도 다( 하 FT 또는 HTP-FP 시험에 도 동 하게
).
, 본 FP 과 동차 시험 상 한 같 연결 에 해, 사 가 FP[0061]
상여 단할 수 도 하 한 것 , FP 과 동차 시험 간에, 스
원공 한 만 상 루어진다 , FP 동 에 실질 착 어 운행 는 상
태에 동 한 상태 항, 압 피 스 경에 FP 상여 단할 수 다. 러한 원리
는 하에 , FT (320) 또는 HTP-FP (330)에 도 동 하게 다.
도 4는 본 에 동차 시험 하여 FT 시험하는 상태 나타낸 시도 다.[0062]
우 , FT (320) 시험하 한, 동차 시험 사 상태 FT 과 단 연결 [0063]
하 다 과 같다.
, FT 시험하 하여, 원 원 드(211)에 원 가 상태에 , 원 [0064]
원스 (MAIN S/W)(212), 원 30V 원 가 스 (241), 스 스 스 (251), 피- 피-
스 (OP I/N S/W) 에프티- 에프티- 스 (271) ON 상태 한다.
에프티- 에프- 단 (272) 1단 (P1단 )는 FT P1단 에 연결 고, 2단 (P2단 )는 FT[0065]
P2단 에 연결 도 한다.
또한, FT 에 하고 하는 단 에는 시험 (290) , 실 스 프(핸 스 프) 단 가[0066]
연결 도 한다.
다 , 하에 는 FT 본 에 동차 시험 하여 시험하는 체 과[0067]
다. 하 , FT , 실 사 는 FT 에 라 변경 수 는
것 , 하에 는 다만 편 하여 재 것 본 한 하는 것 아니다.
, 원 단 7과 단 12에 한 30V 원 가 스 (241) 끄고 나 (OFF), 약 20㎲ 동안 약300㎐[0068]
(T=3.3㎳) 주 수 스가 계 나 도 에프티- 맞 다. 에 한 보고 할 는
실 스 프(290) 프 브 5EP06B1 단 6과 단 5에 연결해 검사한다. 다시 실 스 프 CH1 프
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브는 변압 P1과 P2에, CH2프 브는 S1과 S2단 에 연결해 검사한다.
다시, 30V 원 가 스 (241) 고, 단 7과 단 12에 한 공 압 30±0.1V에 맞 다. 변압 P1과[0069]
P2단 에 생하는 스 상승 향 실 스 프 트리거 시키고, 스 생 하여 실
스 프 에 나타나는 스시간 (P1과P2, S1과 S2) 25㎲±2V가 나 야 한다. 실 스 프 상승
향 하강 향 에 상승 하강 시간 2㎲ 하 지 한다.
변압 S1-S2 단 에 연결 실 스 프 에 나타난 에 스 압진폭 16V±2V 지 검한다.[0070]
상 한 같 본 에 하 , 사 는 시험 원하는 동차 직 하여, 동차 크 시험[0071]
통해 동차 내 FT 에 스 가한 상태에 , FT 원하는 단 에 시험
단 결합시킨 후, 시험 창 통해 는 함 , 에 직
FT 상여 할 수 다. , 본 동차 동 시, 실질 FT 에 는
원, 스 피 스 상태 , 에프티- (270) 하여 동 한 상태 지하 , 시험 통
해 FT 에 는 검 하는 통해 FT 상여 단할 수 다.
도 5는 본 에 동차 시험 하여 HTP-FP 시험하는 상태 나타낸 시도[0072]
다.
우 , HTP-FP (330) 시험하 한, 동차 시험 사 상태 HTP-FP 과 단 연[0073]
결 하 다 과 같다.
, HTP-FP 시험하 하여, 원 원 드(211)에 원 가 상태에 , 원[0074]
원스 (MAIN S/W)(212), 원 30V 원 가 스 (241), 스 스 스 (251), 피-
피- 스 (OP I/N S/W)(261) ON 상태 한다.
한편, 원 원단 (242) 1단 (상단 색단 )는 HTP-FP 8 단 에 연결 고, 2단 (하[0075]
단 색단 )는 HTP-FP 7 단 에 연결 도 한다.
또한, 스 스단 (252) 1단 (상단 란색 단 )는 HTP-FP 1 단 에 연결 고, 2단[0076]
(하단 색단 )는 HTP-FP 2 단 에 연결 도 한다.
또한, 피- 피- 단 (262) 1단 (상단 단 )는 HTP-FP 4 단 에 연결 고, 2[0077]
단 (하단 단 )는 HTP-FP 5 단 에 연결 도 한다.
또한, HTP-FP 에 하고 하는 단 에는 시험 (290) , 실 스 프(핸 스[0078]
프) 단 가 연결 도 한다.
다 , 하에 는 FT 본 에 동차 시험 하여 시험하는 체 과[0079]
다. 하 , HTP-FP , 실 사 는 HTP-FP 에 라 변경
수 는 것 , 하에 는 다만 편 하여 재 것 본 한 하는 것 아
니다.
, 하 택(Hypertac)핀 1.2에 나타나는 리 OPI1 LED 동한다. D3 역 압 지하 R2[0080]
R14는 압 한 역할 한다. 항 R2는 IC1a에 가 는 당한 리 에 라 OPI1 끝단 트랜지스 동
시키 하여 항 R3x가 가 어 고, IC1a는 다. 에 나타나는 리 1에 하여 IC1a
9 10 핀 0 고 8 핀 리 1 다.
IC3a는 Positive-Going Edge에 트리거 어 C3, C4, R4 단안 시간에 해 결 크 갖는 [0081]
스 6 핀에 공 한다.
IC1b에 해 어 IC1c 2 핀에 Positive-Going 스 공 한다. 만약에 IC2b가 안 스[0082]
생하지 못한다 8 핀 리 1 고 IC1c 핀 리 0 어 IC1d는 6
핀 리 1 공 한다.
Positive_Going Edge는 IC2a 안 시키 Short 트리거 스(크 는 R5, C5, C6에 해 결 다)가 IC2a[0083]
2 핀에 주어진다.
스는 Darlington pair T2, T3 동 시키는 트랜지스 T1 시키는 사 다. R8, R10과 ZD3 T2[0084]
스에 가 는 압 실하게 하여 T2가 하고 안 동 하도 한다.
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T3가 ON 는 항 R12 통해 고 항에 걸리는 압 다 리스 스 변압 차 에 신[0085]
가한다. D2 ZD4는 T3가 픈 었 변압 차 에 나타나는 역 압 한시 과 압 T3
보 한다.
R13, C11과 ZD5는 억 하여 에 한 시스 감도 한한다.[0086]
T2가 OFF 었 R11 스 원 시 C9, C10에 나타나 것 낮 피 스 스 나타난다.[0087]
스 OFF-TIME" 동안 C9 C10 R7 통하여 다.[0088]
는 원 공 에 커다란 피크 가 들어 지 못하도 보 한다.[0089]
스 끝 에 IC2a 핀 2는 리 0 고 핀 6에 리 1 나타난다. Positive Going[0090]
Edge는 핀 8에 Negative Going 스 생시키는 IC2b 핀 13 트리거시키 Negative Going
스 크 는 R6, C7, C8에 해 결 다.
것 IC1c 핀 1에 어 IC1c 핀 3 리 1 IC1d 핀 6 리 0 다. 것 [0091]
스 Train 간겨 생하므 주 수 결 한다. IC2b 안 스끝단에 IC1 핀 1 리 1 고 만약에
핀 2가 아직 리 1 라 ( IC3a가 아직 스 생시키 ) IC1c 핀 3 리 0 고 IC1d 핀 6
리 1 어 IC2a 재트리거하고 Mark-Space-Pulserk 다.
스는 IC3a 핀 6 안 상태가 지 지 다. IC1c 핀 2가 리 0 고 IC2a[0092]
가 상 트리거 는 것 한다. IC3a 능 미 언 하 지만 만약 IC3a가 없다 Link1 나 2가 고
수 다. 러한 경우에는 Link1 지 시 Mark-Space Pulses 공 하 Link2는 없
는 동안에 Mark-Space Pulses 공 한다. ZD1과 ZD2는 +15V 원 공 하 C12 연결 어 다. C1과 C2
는 D1df 통하여 다.
들 원공 평 하게 하지만 D1 원공 차단시 시동안 동 할 수 도 하[0093]
고 비상시 Crowbar 트리거할 수 게 한다.
원 필 는 R1(취 어 다 )과 L1 하다.[0094]
상 한 같 본 에 하 , 사 는 시험 원하는 동차 직 하여, 동차 크 시험[0095]
통해 동차 내 HTP-FP 에 스 압 가한 상태에 , HTP-FP 원하는 단
에 시험 단 결합시킨 후, 시험 창 통해 는 함
, 에 직 HTP-FP 상여 할 수 다. , 본 동차 동 시, 실질
HTP-FP 에 는 원, 스 피 스 상태 , 원 (240), 스 (250) 에프티- (270)
하여 동 한 상태 지하 , 시험 통해 HTP-FP 에 는 검 하는
통해 HTP-FP 상여 단할 수 다.
도 6 본 에 동차 시험 하여 HTP-FP 시험하는 또 다 상태 나타낸[0096]
시도 다.
HTP-FP 도 5에 같 , 고 압(30V) 스 가한 상태에 그 할 필[0097]
가 지만, 도 6에 같 , 가변 압 가하 는 해볼 필 가 다. , 도 6에 도
시 연결상태는 HTP-FP 가변 압 가시 상여 단하 한 시험에 는 연결상태 나타
낸 것 다.
우 , HTP-FP (330) 시험하 한, 동차 시험 사 상태 HTP-FP 과 단 연[0098]
결 하 다 과 같다.
, HTP-FP 에 0~10V 가변 원 가하여 시험하 해, 원 원 드(211)에 원 [0099]
가 상태에 , 원 원스 (MAIN S/W)(212), 원 30V 원 가 스 (241), 스 스
스 (251), 피- 피- 스 (OP I/N S/W)(261) AVR AVR 스 (281) ON 상태 한
다.
한편, AVR AVR 단 (282) 1 단 에는 리드 연결 고, 스 스단 (252) 2단 (2 )에는[0100]
리드 연결 도 한다.
또한, HTP-FP 에 하고 하는 단 에는 상 개 리드 결 한 후, AVR (280) 볼 스[0101]
공개특허 10-2011-0018677
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하여 0~10V 가변 압 생시 HTP-FP 에 가시킨다.
상 한 같 본 에 하 , 사 는 시험 원하는 동차 직 하여, 동차 크 시험[0102]
통해 동차 내 HTP-FP 에 스 가변 압 가한 상태에 , HTP-FP 원하는
단 에 시험 단 결합시킨 후, 시험 창 통해 는 함
, 에 직 HTP-FP 상여 할 수 다. , 본 동차 동 시, 실질
HTP-FP 에 는 원, 스 피 스 상태 , 원 (240), 스 (250) 에프티- (270)
하여 동 한 상태 지하 , 시험 통해 HTP-FP 에 는 검 하는
통해 HTP-FP 상여 단할 수 다.
상 한 내 통해 당업 라 본 술사상 탈하지 아니하는 에 다양한 변경 수[0103]
가능함 알 수 것 다. 라 , 본 술 는 상 한 에 재 내 한
는 것 아니라 특허 청 에 해 하여 야만 할 것 다.
도 간단한
도 1 어 식 하는 동차 원공 나타낸 시도.[0104]
도 2는 본 에 동차 시험 실시 도. [0105]
도 3 본 에 동차 시험 하여 FP 시험하는 상태 나타낸 시도.[0106]
도 4는 본 에 동차 시험 하여 FT 시험하는 상태 나타낸 시도.[0107]
도 5는 본 에 동차 시험 하여 HTP-FP 시험하는 상태 나타낸 시도.[0108]
도 6 본 에 동차 시험 하여 HTP-FP 시험하는 또 다 상태 나타낸[0109]
시도.
<도 주 에 한 >[0110]
100 : 동차 원공 200 : 동차 시험 [0111]
310 : FP 320 : FT [0112]
330 : HTP-FP [0113]
[0114]
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도
도 1
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도 2
도 3
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도 5
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도 6
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