mediciÓn de rugosidad

1

Abril 2010 No. 7

MEDICIÓN DE RUGOSIDAD Los equipos para medición de rugosidad lucen como es mostrado en la Figura 1, aunque también existen de tipo portátil. Sobre una base se coloca un dispositivo de nivelación/sujeción/alineación sobre el que se coloca la pieza a medir, un palpador con una punta cónica con un radio esférico muy pequeño recorre una pequeña distancia sobre la superficie a la que se desea medir la rugosidad el palpador es movido por el dispositivo de alimentación que esta montado sobre una columna. Las características nominales del equipo de medición de rugosidad están representadas en la Figura 2. Estos equipos pueden transmitir los datos obtenidos a una PC para evaluar los parámetros de acuerdo con norma desde tres perfiles diferentes, el primario, el de rugosidad y el de ondulación mediante filtrado.

Forma de la punta Una forma típica para el extremo de un palpador es cónica con una punta esférica. Radio de la punta = 2 µm, 5 µm ó 10 µm Ángulo de la pendiente del cono: 60°, 90° En medidores de rugosidad típicos, el ángulo de la pendiente del cono del extremo de la punta es 60° a menos que otra cosa sea especificada.

Palpador

Ciclo de medición

Dispositivo

Pieza

Dispositivo de alimentación

Punta del palpador

Base

Columna

Figura 1

Figura 3

Mitutoyo Mexicana, S.A. de C.V. Oficinas de servicio: Naucalpan: [email protected] Monterrey: [email protected] Aguascalientes: [email protected] Querétaro: [email protected] Tijuana: [email protected] Colaboradores de este número Ing. José Ramón Zeleny Vázquez Ing. Hugo D. Labastida Jiménez Ing. Héctor Ceballos Contreras

CONTENIDO Medición de rugosidad Página 1 Verificación geométrica de producto sin contacto con equipo óptico y láser Página 9

Boletín Técnico

Guía de referencia

Línea de referencia

Transductor Amplificador

Apariencia

Punta del palpador

Perfil primario

Ciclo de medición

Superfi-cie de la pieza

Palpador

Evaluación de

parámetros de acuerdo con norma

Entrada/Salida Entrada/Salida

Convertidor A/D

Dispositivo de

alimentación

Medición del perfil

Figura 2

Filtro del

perfil

Supresión del acabado

nominal Medición del

perfil cuantificado

Unidad de transferencia de la señal del eje Z

Unidad conductora

2

PROXIMOS CURSOS INSTITUTO DE METROLOGÍA MITUTOYO

Metrología Dimensional 1 (MD1) 19 - 20 Abril Naucalpan $ 4300 más IVA21 – 22 Junio Naucalpan

Metrología Dimensional 2 (MD2) 21 – 22 - 23 Abril Naucalpan $ 6200 más IVA23 – 24 – 25 Junio Naucalpan 04, 05 y 06 Mayo Tijuana

Calibración de Instrumentos (CIVGP) 26 – 27 – 28 Abril Naucalpan $ 6600 más IVA

Control Estadístico del Proceso (CEP) 29 y 30 Abril Naucalpan $ 4300 más IVA

Tolerancias Geométricas Norma ASME Y14.5-2009 03 – 04 – 05 Mayo Naucalpan $ 7500 más IVA 23 – 24 – 25 Junio Monterrey

Especificación y Verificación Geométrica de Producto 07 de Mayo Naucalpan $ 5100 más IVA

Incertidumbre en Metrología Dimensional 17 – 18 – 19 Mayo Naucalpan $ 6200 más IVA 28 – 29 – 30 Abril Monterrey

Análisis de Sistemas de Medición (MSA) 20 – 21 de Mayo Naucalpan $ 4400 más IVA27 – 28 Mayo Monterrey

Aplicación de ISO 17025 en Laboratorios de Calibración 24 – 25 -26 Mayo Naucalpan $ 6200 más IVA

Verificación Geométrica de Producto con CMM 26 Mayo Naucalpan $ 2100 más IVA

Medición de Acabado Superficial para Verificación Geométrica de Producto

27 Mayo Naucalpan $ 2100 más IVA

Equipo Óptico y láser para Verificación Geométrica de Producto sin contacto

28 Mayo Naucalpan $ 2100 más IVA

Cualquiera de los cursos anteriores en sus instalaciones Fechas de común acuerdo

Informes e inscripciones: [email protected] Tel: (0155) 5312 5612 www.mitutoyo.com.mx

Radio de curvatura

nominal de la punta del

palpador µm

Fuerza de medición estática

en la posición intermedia de la

punta mN

Tolerancia de la proporción de las variaciones de la

fuerza de medición estática

mN/µm 2 0.75 0.035 5

10 0.75 (4.0)Nota 1 0.2

Definición: Perfil que resulta de la intersección de la superficie real y un plano rectangular a ella

Definición: Lugar geométrico del centro de la punta del palpador que traza la superficie de la pieza

Definición: Datos obtenidos cuantificando el perfil medido

Perfil de la superficie sobre la superficie real

Medición

Perfil medido

Conversión A/D

Perfil cuantificado

Suprime geometría irrelevante de la superficie tal como inclinación de un elemento plano y curvatura de un elemento cilíndrico usando el método de mínimos cuadrados

Filtro paso bajo con valor de cutoff λs

Perfil primario Parámetros del perfil primario

Filtro paso alto con valor de cutoff λc

Filtro paso banda que pasa longitudes de onda entre los

valores de cutoff λc y λf

Perfil de rugosidad

Parámetros del perfil de rugosidad

Perfil de ondulación

Parámetros del perfil de ondulación

Fuerza de medición estática Fuerza de medición en la posición media de un palpador: 0.75 mN Proporción de variación de la fuerza: 0 N/m Valor característico estándar: Fuerza de medición estática en la posición media de un palpador

Flujo del procesamiento de datos

Caracterización metrológica de filtros de fase corregida (ISO 11562-1996) Un filtro de perfil es un filtro de fase corregida sin retraso de fase (causa de distorsión del perfil dependiente de la longitud de onda. La función peso de un filtro de fase corregida muestra una distribución normal (Gaussiana) en la cual la amplitud de transmisión es 50% de la longitud de onda cutoff.

Nota 1 El valor máximo de la fuerza de medición estática en la posición promedio de un palpador tiene que ser 4.0 mN para un palpador con estructura especial incluyendo una punta reemplazable.

3

λc mm

λs mm λc/λs

rtip máximo µm

Longitud de muestreo

máxima mm 0.08 2.5 30 2 0.5 0.25 2.5 100 2 0.5 0.8 2.5 300 2 Nota 1 0.5 2.5 8 300 5 Nota 2 1.5 8 25 300 10 Nota 2 5

Nota 1: Para una superficie con Ra>0.5 µm ó Rz>3 µm un error significativo usualmente no ocurrirá en una medición aún si rtip = 5 µm Nota 2: Si un valor de cutoff λs es 2.5 µm u 8 µm, atenuación de la señal debida al efecto de filtrado mecánico de una punta con el radio recomendado aparece fuera del perfil de rugosidad paso banda. Por lo tanto un pequeño error en el radio o forma de la punta no afecta los valores del parámetro calculado desde mediciones si una proporción de cutoff especifica es requerida, la proporción debe ser definida

NOMBRE DEL CURSO M3SC Naucalpan M3SC Monterrey M3SC Tijuana COSTO

GEOPAK-WIN V 3.0 Abril 12, 13 y 14 Abril 19, 20 y 21 Abril 26, 27 y 28 $ 7500.00 más IVA

SCANPAK Abril 15 Abril 22 Abril 29 $ 2500.00 más IVA CMM SOFTWARE

CAT100 PS Abril 16 Abril 23 Abril 30 $ 2500.00 más IVA

QVPAK V 7.0 Mayo 03, 04 y 05 Mayo 10, 11 y 12 Mayo 17, 18 y 19 $ 7500.00 más IVA VISION SOFTWARE

QSPAK V 7.0 Mayo 06 y 07 Mayo 13 y 14 Mayo 20 y 21 $ 5000.00 más IVA

FORMPAK-1000 Junio 07 y 08 Junio 14 y 15 $ 5000.00 más IVA

ROUNDPAK V 5.0 Junio 09 y 10 Junio 16 y 17 $ 5000.00 más IVA FORM SOFTWARE

SURFPAK Junio 11 Junio 18

$ 2500.00 más IVA

Perfil primario Perfil obtenido desde el perfil medido aplicando un filtro paso bajo con valor de cutoff λs

Perfil de ondulaciónPerfil obtenido aplicando un filtro paso banda al perfil primario para remover las longitudes de onda más largas arriba de λf y las longitudes de onda debajo de λc.

Mayor altura del perfil de picos Zp dentro de una longitud de muestreo

Relación entre el valor del cutoff y el radio de la punta del palpador La siguiente tabla lista la relación entre el perfil de rugosidad cutoff valor λc, radio de punta del palpador y proporción de cutoff λc/λs.

Perfil de rugosidadPerfil obtenido desde el perfil medido aplicando un filtro De paso bajo con un valor de cutoff λs.

Definición de parámetros (pico y valle) Parámetros de amplitud (pico y valle) Altura máxima de picos del perfil primario Pp Altura máxima de picos del perfil de rugosidad Rp Altura máxima del perfil de ondulación Wp


Rp

Máxima profundidad de valles del perfil primario Pv Máxima profundidad de valles del perfil de rugosidad Rv Máxima profundidad de valles perfil de ondulación Wv

Mayor profundidad del perfil de valles Zv dentro de una longitud de muestreo

Rv

Perfiles de la superficie ISO 4287:1997 (JIS B0601)

Longitudes de onda

Perfil de rugosidad

Perfil de ondulació

λs λc λfAmpl

itud

de tr

ansm

isió

n %

100

50

Perfil primario

4

∑=

=m

iiZtm

WcRcPc1

1,,

dxxZl

WaRaPal

∫=0

)(1,,∫=l

dxxZl

WqRqPq0

2 )(1,,

Altura máxima del perfil primario Pz Altura máxima del perfil de rugosidad Rz Altura máxima del perfil de ondulación Wz

Suma de la altura del pico más alto y la mayor profundidad del perfil de valles Zv dentro de una longitud de muestreo

En JIS antigua e ISO 4287-1:1984 Rz fue usada para indicar la altura de irregularidades de diez puntos. Debe tenerse cuidado dado que las diferencias entre los resultados obtenidos de acuerdo a las normas actuales y normas antiguas no son siempre despreciablemente pequeñas. Asegúrese de verificar si las instrucciones del dibujo están de acuerdo con las normas actuales o las antiguas.

Altura promedio de elementos del perfil primario Pc Altura promedio de elementos del perfil de rugosidad Rc Altura promedio de elementos del perfil de ondulación Wc

Altura total del perfil primario Pt Altura total del perfil de rugosidad Rt Altura total del perfil de ondulación Wt

Valor promedio de las alturas de elementos del perfil Zt dentro de una longitud de muestreo

Suma de la altura más grande altura del perfil de picos Zp y la mayor profundidad del perfil de valles Zv dentro de una longitud de evaluación

Longitud de evaluación Longitud de

muestreo

Rt

Rz

Rz

Rz

Zt1

Zt2

Zt3

Zt4

Zt5 Zt

6



Rz

Rv

Rp

Parámetros de amplitud (promedio de ordenadas) Altura total del perfil primario Pa Altura total del perfil de rugosidad Ra Altura total del perfil de ondulación Wa

Media aritmética de los valores absolutos de las ordenadas Z(x) dentro de una longitud de muestreo

Altura total del perfil primario Pq Altura total del perfil de rugosidad Rq Altura total del perfil de ondulación Wq

Valor de la raíz cuadrática media de los valores de la ordenada Z(x) dentro de una longitud de muestreo

‐Duración 8 horas‐Solo en instalaciones del usuario fecha y horario de común acuerdo ‐Costo $ 12850.00 más IVA más gastos de viaje desde la Ciudad de México. ‐Líneas y Símbolos, Proyecciones en el tercer cuadrante (sistema americano), Cortes y secciones, Vistas auxiliares, Tolerancias y ajustes Disponible también usando proyecciones en el primer cuadrante (sistema europeo).

Siendo l = a lp, lr o lw de acuerdo al caso Siendo l = a lp, lr o lw de acuerdo al caso

5

= ∫

lr

dxxZlrRq

Rku0

44 )(11

= ∫

lr

dxxZlrRq

Rsk0

33 )(11

∑=

=m

iSiXm

WSmRSmPSm1

1,,

Sesgo del perfil primario Psk Sesgo del perfil de rugosidad Rsk Sesgo del perfil de ondulación Wtsk

Kurtosis del perfil primario Pku Kurtosis del perfil de rugosidad Rku Kurtosis del perfil de ondulación Wku

Cociente del promedio del valor cúbico de los valores ordenados Z(x) y el cubo de Pq, Rq o Wq respectivamente, dentro de una longitud de muestreo

La ecuación anterior define Rsk. Psk y Wsk son definidos en una manera similar. Psk, Rsk y Wsk son medidas de la asimetría de la función de densidad de probabilidad de los valores ordenados

Parámetros de espaciamiento Altura total del perfil primario PSm Altura total del perfil de rugosidad RSm Altura total del perfil de ondulación WSm

Valor promedio de los anchos de elementos de perfil Xs dentro de una longitud de muestreo

Parámetros Híbridos Raíz cuadrática media pendiente del perfil primario P∆q Raíz cuadrática media pendiente del perfil de rugosidad R∆q Raíz cuadrática media pendiente del perfil de ondulación W∆q

Curso de Tolerancias Geométricas (GD&T) basado en la nueva

norma ASME Y14-5-2009

Después de 15 años la norma ASME sobre dimensionado y tolerado fue actualizada incluyendo diversas mejoras entre las que destacan la diferenciación de los modificadores de la condición de material cuando es aplicada a la tolerancia o a los datos llamando a esto ultimo frontera de máximo o mínimo material. Se introducen algunos símbolos nuevos incluyendo el de perfil desigualmente dispuesto y la aplicación de una zona de tolerancia no uniforme. Se usa el concepto de grados de libertad con relación al establecimiento de marcos de referencia dato. Se permite la aplicación de marcos de referencia dato, personalizados y datos movibles. Se introduce el concepto de sistema coordenado con relación al marco de referencia dato. Se permite usar más segmentos en los marcos de control de elemento compuestos. Todo el material fue reacomodado en 9 secciones en vez de las 6 de la versión anterior. Para saber más: [email protected]

Calibración de anillos patrón de 6 a 120 mm con máquina que incorpora una holo escala láser con resolución de 0,1 µm y repetibilidad de 0,2 µm SERVICIOS ACREDITADOS

Cociente del promedio del valor a la cuarta de los valores ordenados Z(x) y la cuarta potencia de Pq, Rq o Wq respectivamente, dentro de una longitud de muestreo.

La ecuación anterior define Rku. Pku y Wku son definidos en una manera similar. Pku, Rku y Wku son medidas de la asimetría de la función de densidad de probabilidad de los valores ordenados

XS1 XS2 XS3 XS4 XS5 XS6


Valor de la raíz cuadrática media de la pendientes ordenadas dZ/dX dentro de una longitud de muestreo

dZ(x) dx

dZ(x) dx

dZ(x) dx

dZ(x) dx

dZ(x) dx

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Servicio de calibración de patrones de rugosidad y medición de rugosidad

El laboratorio de calibración de Mitutoyo Mexicana, S.A. de C.V. ha instalado un equipo de medición de rugosidad para proporcionar a sus clientes usuarios servicio de calibración de patrones de rugosidad, así como, servicio de medición de rugosidad, ambos acreditados. De acuerdo con los requerimientos actuales de los sistemas de gestión de calidad, todos los equipos y patrones de medición, deben ser calibrados periódicamente y antes de usarlos cuando son nuevos. En muchos casos, los equipos de medición de rugosidad son calibrados de acuerdo con lo anterior, sin embargo, no ocurre lo mismo con los patrones. Los patrones de rugosidad son utilizados para determinar si, en un momento dado, es necesario ajustar la ganancia de los equipos, para verificaciones periódicas de los mismos y para la calibración de los rugosímetros. El servicio, ya esta disponible con ACREDITACIÓN a los patrones nacionales

3 equipos 10% 6 equipos 15% Más de 6 equipos 20%

PAQUETES DE CALIBRACIÓN

Incluye 20% de descuento en refacciones y en servicio de reparación durante la vigencia del contrato

Condiciones sujetas a cambio sin previo aviso

Uso de software de inspección original de Mitutoyo

Prioridad en programación

Sin gastos de viaje dentro de un radio de 50 km desde nuestros centros de servicio

Mitutoyo Mexicana, S.A. de C.V. a través de su departamento de ingeniería de servicio tiene disponible servicio de medición de piezas, para lo cual cuenta con variedad de equipo, tal como Máquinas de Medición por Coordenadas (CMM), equipo de medición por visión (QV, QS, QI), máquina de medición de redondez y otras características geométricas, equipo de medición de contorno (perfil), máquinas de medición de dureza, equipo de medición de rugosidad, comparadores ópticos y microscopios, lo cual permite una gran variedad de opciones para resolver eficientemente cualquier tipo de medición dimensional.

Se requiere dibujo o modelo CAD o instrucciones detalladas de, que es lo que se desea medir para obtener una cotización y acordar tiempo de entrega. Este servicio se ofrece con trazabilidad a patrones nacionales de longitud. Se entrega reporte de medición.

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ln)()(),(),( cMlcWmrcRmrcPmr =

55432154321 ZvZvZvZvvZZpZpZpZpZp

RzJIS+++++++++

=

xdxZRa ∫=ln

075 )(

ln1

Rz Rz1max mm

Longitud de muestreo lr mm

Longitud de evaluación ln mm

(0.025)<Rz, Rz1max≤0.1 0.1< Rz, Rz1max ≤0.5 0.5< Rz, Rz1max ≤10 10< Rz, Rz1max ≤50 50< Rz, Rz1max ≤200

0.08 0.25 0.8 2.5 8

0.08 0.25 0.8 2.5 8

Ra mm



(0.006)<Ra≤0.02 0.02<Ra≤0.1 0.1<Ra≤2 2<Ra≤10 10<Ra≤80

0.08 0.25 0.8 2.5 8

0.08 0.25 0.8 2.5 8

Símbolo Perfil usado RzJIS 82 Perfil de superficie como es medido RzJIS 94 Perfil de rugosidad derivado a partir de un perfil

primario usando un filtro paso alto de fase corregida

Tabla 1. Longitudes de muestreo para parámetros del perfil de rugosidad no periódicos (Ra, Rq, Rsk, Rku,R∆q), curva de proporción de material, función de densidad de probabilidad y parámetros relacionados

Tabla 2. Longitudes de muestreo para parámetros del perfil de rugosidad no periódicos (Rz, Rp, Rc, Rt)

Curvas, Función de Densidad de Probabilidad y parámetros relacionados Curva de proporción de material del perfil (Curva Abbot-Firestone)

Curva representando la proporción de material del perfil como una función del nivel corte, c

Proporción de material del perfil primario Pmr(c) Proporción de material del perfil de rugosidad Rmr(c) Proporción de material del perfil de ondulación Wmr(c)

Proporción de la longitud de material de los elementos del perfil Ml(c) en un nivel dado c a la longitud de evaluación

Proporción de material determinada en un nivel de sección de perfil Rδc (o Pδc o Wδc), relacionada al nivel de sección de referencia c0

Parámetros específicos JIS Altura de irregularidades de diez puntos


Línea media

0 20 40 60 100 Rmr(c), %

Distancia vertical entre dos niveles de sección de una proporción dada de material

Rdc = c(Rmr1) – c(rmr2); Rmr1<Rmr2


Proporción de material relativo del perfil primario Pmr Proporción de material relativo del perfil de rugosidad Rmr Proporción de material relativo del perfil de ondulación Wmr

Pmr,Rmr,Wmr=Pmr(c1),Rmr(c1),Wmr(c1) Donde c1 = c0 – Rdc (o Pdc o Wdc) c0 = c(Pm0, Rmr0, Wmr(0)

Función de densidad de probabilidad Curva de distribución de amplitud del perfil

Función de densidad de probabilidad muestra de la ordenada Z(x) dentro de la longitud de evaluación

Longitud de evaluación

Línea media

Densidad de amplitud

Suma de la altura promedio absoluta de los cinco picos más altos del perfil y la profundidad promedio absoluta de los cinco valles más profundas, medidas desde la línea media dentro de la longitud de muestreo de un perfil de rugosidad. Este perfil es obtenido desde el perfil primario usando un filtro paso banda de fase corregida con valores de cutoff de lc y ls.

Desviación promedio aritmético del perfil Ra75

Promedio aritmético de los valores absolutos de las desviaciones del perfil desde la línea media dentro de la longitud de muestreo del perfil de rugosidad (75%). Este perfil es obtenido a partir de la medición de un perfil usando un filtro analogo paso alto con un factor de atenuación de 12db/oct y un valor de cutoff de λc.

8

Rsm mm



(0.013)<RSm≤0.04 0.04<RSm≤0.13 0.13<RSm≤0.4 0.4<RSm≤1.3 1.3<RSm≤4

0.08 0.25 0.8 2.5 8

0.08 0.25 0.8 2.5 8

Estimar Ra, Rz, Rz1max ó RSm de acuerdo a las

formas de onda registradas, inspección visual, etc.

Estimar la longitud de muestreo desde un valor estimado y las tablas 1 a 3

Medir Ra, Rz, Rz1max ó RSm de acuerdo al valor estimado de la longitud de muestreo

Cambiar a una longitud de muestreo

mayor o menor

¿Cada valor medido esta dentro de los intervalos de las

tablas 1, 2 ó 3?

Figura 1. Procedimiento para determinar la longitud de muestreo de un perfil no periódico si no es especificada

Medir el parámetrom de acuerdo al valor de la longitud de muestreo final

Cambiar a una longitud de muestreo

más corta

¿Ha sido usada una longitud de muestreo más corta?

Si

No

Si

No

Estimar RSm desde un perfil de rugosidad medido

Estimar la longitud de muestreo desde un valor estimado y la tabla 3

Medir RSm de acuerdo al valor estimado de la longitud de muestreo

Cambiar la longitud de muestreo para

satisfacer las condiciones de la

tabla 3

¿Cada valor medido esta dentro de los intervalos de la

tabla 3?

Medir el parámetro de acuerdo a longitud de muestreo final

Figura 2. Procedimiento para determinar la longitud de muestreo de un perfil periódico si no es especificada

Si

No

Tabla 3. Longitudes de muestreo para medición de parámetros del perfil de rugosidad periódicos y parámetros RSm de perfil periódico o no periódico

Rugosímetro portátil SJ-210 Perfiles: P, R, DF y R-Motif Parámetros: Ra, Rq, Rz, Ry, Rv, Rt, R3z, Rsk, Rku, Rc, RPc, RSm, Rmax*1 Rz1max, S, HSC, RzJIS*2, Rppi, R∆a, R∆q, Rlr, Rmr, Rmr(c), Rc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rpm, tp, Htp, R, Rx, AR Normas: JIS'82, JIS'94, JIS'01, ISO, ANSI, VDA Filtros digitales: 2CR75 / PC75 / Gaussian

Rugosímetro portátil SJ-500 Con impresora interconstruida

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VERIFICACIÓN GEOMÉTRICA DE PRODUCTO SIN CONTACTO CON EQUIPO OPTICO Y LÁSER

La medición de piezas sin contacto es requerida cuando se desea realizar mediciones repetibles sobre piezas hechas de materiales facilmente deformables Los equipos ópticos tradicionalmente usados para la medición de piezas pequeñas sin contacto son el comparador óptico y el microscopio. Ambos pueden ser utilizados en conjunto con un procesador de datos 2D para hacer fáciles mediciones que de otra manera son dificiles o requieren el uso de plantillas o retículas. Algunos microscopios pueden ser solo utilizados para observación como los estéreo microscopios pero otros como los microscopios de taller o microscopios de medición que están provistos de sistemas de medición de desplazamiento pueden ser utilizados para hacer mediciones en 2D e incluso 3D basándose en el enfoque de la superficie observada. Algunos microscopios pueden ser equipados con una unidad de Visión para hacer mediciones más rápidamente al utilizar un software con herramientas de un clic. Equipos específicamente diseñados para medir mediante Visión (sin contacto) están disponibles ya sea para realizar mediciones manual o automáticamente, permitiendo medir una gran cantidad de piezas en poco tiempo con alta exactitud y repetibilidad usando poderoso software con herramientas de un clic.

La utilización de micrometros láser permite hacer mediciones de gran exactitud en piezas de tamaño pequeño, siendo aplicaciones muy comunes la medición de alambres, cintas, hojas plasticas, de papel o metalicas durante sus procesos de manufactura. Siendo importante hacer las mediciones aún cuando la pieza a medir esta en movimiento. El desarrollo de "palpadores láser" que pueden ser utilizados para tomar una gran cantidad de puntos sobre una pieza al ser montados en equipos de medición 3D tales como brazos articulados y máquinas de medición por coordenadas permite actualmente verificar con facilidad la geometría de superficies de forma libre o aplicaciones de ingeniería inversa. La medición sin contacto a cobrado auge por la miniaturización de diversos componentes, utilización de materiales no rigidos, necesidad de mantener limpias partes manufacturadas o evitar daños tales como pequeñas rayaduras que pueden ser producidas cuando se hace medición con contacto. Diversas industrias como la automotriz, electrónica, medica plásticos etc. están usando cada vez más medición sin contacto. A través de nuestro curso de verificación geométrica de producto sin contacto con equipo óptico y láser conocerá más acerca de este tema. Solicite informes: [email protected]

Microscopio de taller

Microscopio de medición

Comparador óptico

Palpador láser Equipo de medición por Visión

Micrómetro láser

mediciÓn de rugosidad

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