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Messen mit LabVIEW National Instruments LabVIEW 8 6 National Instruments LabVIEW 8.6

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Page 1: Messen mit LabVIEW - iks.hs-merseburg.deuheuert/pdf/Virtuelle Instrumentierung II... · Fall 1: Geräteschnitte von NI oder USB yKonfiguration und Test im NI Measurement & Automation

Messen mit LabVIEW

National Instruments LabVIEW 8 6National Instruments LabVIEW 8.6

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Externe Geräte mit SCPIVielzahl von SchnittstellenVielzahl von Schnittstellen

GPIB (IEEE 488)USBUSBLANUSB-GPIB-GatewayUSB GPIB GatewayLAN-GPIB-Gateway

Unterschiedliche Hersteller der SchnittstellenUnterschiedliche Hersteller der SchnittstellenAgilent VISA (Virtual Instrument Software Architecture)NI VISANI VISA

Ggf. Konfiguration an mehreren Stellen notwendig

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Fall 1: Geräteschnitte von NI oder USBKonfiguration und Test im NI Measurement & Automation Konfiguration und Test im NI Measurement & Automation Explorer (MAX)

V d i L bVIEWVerwendung in LabVIEW

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Fall 1: Geräteschnitte von NI oder USBScan for Instruments

Communicate

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Fall 2: Geräteschnittstelle von AgilentKonfiguration und Test im Konfiguration und Test im Agilent Connection ExpertTest der Sichtbarkeit der Geräte für NI mit VISA O ROpen Report

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Fall 2: Geräteschnittstelle von AgilentÜberprüfung der Überprüfung der Sichtbarkeit mit NI Measurement & Measurement & Automation E lExplorerVerwendung in LabVIEW

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Fall 2: Geräteschnittstelle von AgilentTest im MAXTest im MAX

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VI für Instrumenten-I/O aus VorlageLesen und anzeigenLesen und anzeigen

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VI komplettierenExpress VI Assistent zur Instrumenten I/O“Express VI „Assistent zur Instrumenten I/O

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KonfigurationGerät wählen Gerät wählen (über Adresse)

Schritt hinzufügen Schritt hinzufügen (Abfragen und analysieren)analysieren)

Schritt ausführen

Auto AnalyseAuto-Analyse

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VI fertig stellenGgf Signalverlaufsdiagramm durch Signalverlaufsgraphen Ggf. Signalverlaufsdiagramm durch Signalverlaufsgraphen ersetzen

Anzeigeformat der Numerischen Anzeige anpassenAnzeigeformat der Numerischen Anzeige anpassen

Verbindungen hinzufügen

A fühAusführen

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DAQ Devices (Data Aquisition)Messkarten mit

AI (Differentiell [DI] und Single-Ended [SI])AODIODIOTimer, Counter…

Formfaktor:(ISA)PCIPCIPCIePXIUSB

Kanalanzahl, Abtastrate, Auslösung, Genauigkeit, …

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MAXAngeschlossene und simulierte GeräteAngeschlossene und simulierte Geräte

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TestpanelFunktionstestFunktionstest

Wertebereichstest

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VI aus VorlageDatenerfassung mit NI-DAQmxDatenerfassung mit NI-DAQmx

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DAQ AssistentTask konfigurierenTask konfigurieren

Kanal wählen

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DAQ AssistentDetails konfigurierenDetails konfigurieren

MessbereichSchaltungsartSchaltungsartSkalierungAbtastpunkteAbtastpunkteAbtastrateTriggerunggge u g

Test

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VI fertig stellenAnzeige erstellenAnzeige erstellen

Verbindungen erzeugen

A fühAusführen