Metrologija trumpaiEUROMETo projektas Nr.595 Pradia Matavimai 2000, Nr.3(15)

5. Matavimo vienetai Metrins sistemos matavimo vienet sistemos metro ir kilogramo pagrindu idja atsirado Pranczijos revoliucijos metu, 1799 m., kada buvo pagaminti du etaloniniai platininiai metro ir kilogramo etalonai, kurie laikomi Pranczijos nacionaliniame archyve Paryiuje. Vliau ie etalonai buvo vadinami archyviniu metru ir archyviniu kilogramu. Nacionalinis susirinkimas pareigojo Pranczijos moksl akademij sukurti nauj vienet sistem, kuri bt priimtina visame pasaulyje. 1946 m. Metro konvencijos valstybs prim MKSA sistem (metras, kilogramas, sekund, amperas). 1954 m. i vienet sistema buvo iplsta, papildant j Kelvino laipsniu ir kandela. Vliau i sistema buvo pavadinta Tarptautine vienet sistema (SI) (Le Systme International d'Units). SI sistem patvirtino 11-oji Generalin svarsi ir mat konferencija (CGPM) 1960 metais: Tarptautin vienet sistema SI tai suderintoji (koherentin, cohrent) vienet sistema, kuri patvirtino ir rekomendavo CGPM. SI sistema pagrsta septyniais pagrindiniais vienetais, kurie kartu su ivestiniais vienetais sudaro suderintj vienet sistem.Be to, be SI sistemos vienet, buvo priimti vartoti tam tikri vienetai, neeinantys SI. emiau pateikiamos vienet lentels (5.1-5.7): SI vienetai 5.1 lentel 5.2 lentel 5.3 lentel 5.4 lentel Pagrindiniai SI vienetai Ivestiniai SI vienetai, ireikti pagrindiniais SI vienetais Ivestiniai SI vienetai, turintys specialius pavadinimus ir simbolius Ivestiniai SI vienetai, kuri simboliai ir pavadinimai apima ivestinius SI vienetus, turinius specialius pavadinimus ir simbolius

5.1 lentel. Pagrindiniai SI vienetai [2]

Dydis ilgis mas laikas elektros srov termodinamin temperatra mediagos kiekis viesos stipris

Pagrindinis vienetas metras kilogramas sekund amperas kelvinas molis kandela

Simbolis m kg s A K mol cd

5.2 lentel. SI sistemos ivestini vienet ireikt pagrindiniais SI vienetais, pavyzdiai, [2]

Ivestinis dydis plotas tris greitis pagreitis kampinis greitis kampinis pagreitis tankis magnetinio lauko stipris (ilginis srovs tankis) srovs tankis (pavirinis srovs tankis) jgos momentas elektrinio lauko stipris magnetin (absoliutin) skvarba elektrin (absoliutin) skvarba savitoji (specifin) ilumin talpa mediagos kiekio koncentracija skaistis

Ivestinis vienetas kvadratinis metras kubinis metras metrai per sekund metrai per sekund kvadratu radianai per sekund radianai per sekund kvadratu kilogramai kubiniam metrui amperai metrui amperai kvadratiniam metrui niutonmetras voltas metrui henris metrui faradas metrui daulis kilogramui kelvinui molis kubiniam metrui kandela kvadratiniam metrui

Simbolis m3 m3 ms-1 ms-2 rads-1 rads-2 kgm-3 Am-1 Am-2 Nm Vm-1 Hm-1 Fm-1 Jkg-1K-1 molm-3 cdm-2

Vienetai, neeinantys SI sistem 5.5 lentel Vienetai, priimti dl to, kad yra plaiai vartojami 5.6 lentel Vienetai, vartotini specifinse srityse 5.7 lentel Vienetai, kuri verts nustatytos eksperimentikai, vartotini specifinse srityse

Spausdinama iame urnale prastu formatu, kiek sutrumpinus pagal Metrology-in short, Ist edition, October 2000, Editor P.Howarth, DFM, 55 p.; vert A.Jonelinien, koregavo V.Dailidnas. Leidinyje pateikiama mediaga gali bti naudinga alies metrologams; tai nra oficialus dokumentas, bet EUROMETo prezidento patvirtinimu j platina DFM. Projekto dalyviai: Pranczijos BNM, Ispanijos CEM, ekijos Respublikos CMI, Danijos DFM, Portugalijos IPQ, veicarijos OFMET, Vokietijos PTB, Slovnijos SMIS, Slovakijos SMU, vedijos SP.

5.1. Pagrindiniai SI vienetai Pagrindinis vienetas yra dydio, kuris tam tikroje sistemoje suprantamas kaip pagrindinis, matavimo vienetas. Pagrindini SI sistemos vienet apibrimas ir realizavimas keiiasi, kai metrologiniais tyrimais atrandama galimyb pasiekti tikslesn vieneto apibrim ar realizavim. Pavyzdys: 1889 m. metro apibrimas buvo pagrstas tarptautiniu prototipu, pagamintu i platinos ir iridio lydinio ir esaniu Paryiuje. 1960 m. metras buvo naujai apibrtas kaip 1650763,73 tam tikros kriptono 86 spektro spektrins linijos bangos ilgiai. 1983 m. is apibrimas neatitiko reikalavim ir buvo nusprsta naujai apibrti metr kaip atstum, kur nueina viesa vakuume per 1/299792458 dal sekunds ir pateikiam (reprezentuojam) per bangos ilg spinduliuots, sleidiamos jodu stabilizuoto helio neono lazerio. Naujai apibriant, santykin neapibrtis buvo sumainta nuo 10-7 iki 10-11. Pagrindini SI vienet apibrimai Metras yra kelio ilgis, kur nueina viesa vakuume per 1/299792458 dal sekunds. Kilogramas yra lygus kilogramo tarptautinio prototipo masei. Sekund yra spinduliuots, atitinkanios uol tarp dviej hipersmulki pagrindins cezio 133 atomo bsenos lygmen, 919263770 period trukm.

Amperas yra nuolatin srov, kuri, tekdama dviem tiesiais lygiagreiais begalinio ilgio, nykstamai mao apskrito skerspjvio laidininkais, esaniais vakuume 1 metro atstumu vienas nuo kito, sukelia tarp j 210-7 niutono jg kiekvienam laid ilgio metrui. Kelvinas, termodinamins temperatros vienetas, yra 1/273,16 dalis vandens trigubojo tako termodinamins temperatros. Molis yra mediagos kiekis sistemoje, sudarytoje i tiek elementari vienod esybi (daleli), kiek atom yra 0,012 kg anglies 12. Naudojant mol, elementariosios esybs (dalels) turi bti apibdintos ir gali bti atomai, molekuls, jonai, elektronai ir kitos dalels arba toki daleli apibdintos grups. Kandela yra viesos stipris tokio altinio, kuris nustatyta kryptimi skleidia 5401012 herc danio vienspalv (monochromatin) 1/683 vato steradianui stiprio spinduliuot. 5.2. Ivestiniai SI vienetai Ivestiniais vadinami ivestinio toje vienet sistemoje dydio matavimo vienetai. SI ivestiniai vienetai ivedami i pagrindini SI vienet panaudojant fizikinius ryius tarp jais matuojam dydi. Pavyzdys: I fizikinio ryio tarp atstumo (ilgio), matuojamo vienetais m, ir laiko, matuojamo vienetais s, gali bti ivesti dydio greiio matavimo vienetai m/s. Ivestiniai vienetai ireikiami pagrindiniais vienetais

5.3 lentel. Ivestiniai SI sistemos vienetai, turintys specialius pavadinimus

Ivestinis dydis danis jga slgis, raa (tempis) energija, darbas, ilumos kiekis galia, spinduliuots energijos srautas elektros krvis, elektros kiekis elektros potencial skirtumas, elektrovaros jga (elektrovara), tampa elektrin talpa elektrin vara elektrinis laidumas (laidis) magnetinis srautas magnetin indukcija, magnetinio srauto tankis induktyvumas viesos srautas apvieta aktyvumas (radioaktyvij nuklid) sugertoji doz, kerma, savitoji energija (perduodama) lygiavert doz plokiasis kampas erdvinis kampas

SI ivestinis vienetas Specialus pavadinimas hercas niutonas paskalis daulis vatas kulonas voltas faradas omas simensas vberis tesla henris liumenas liuksas bekerelis grjus sievertas radianas steradianas

Simbolis SI Specialus simbolis vienetais Hz N Pa N/m2 J Nm W C V F S Wb T H lm lx Bq Gy Sv rad sr J/s W/A C/V V/A A/V Vs Wb/m2 Wb/A cd;sr lm/m2 J/kg J/kg

Pagrindiniais SI vienetais s-1 mkgs-2 m-1kgs-2 m2kgs-2 m2kgs-3 sA m2kgs-3A-1 m-2kg-1s4A2 m2kgs-3A-2 m-2kg-1s3A2 m2kgs-2A-1 kgs-2A-1 m2kgs-2A-2 m2m-2cd=cd m2m-4cd=m-2cd s-1 m2s-2 m2s-2 mm-1=1 m2m-2=1

5.4 lentel. SI sistemos ivestini vienet, kuri pavadinimai ir simboliai apima SI sistemos ivestinius vienetus, turinius specialius pavadinimus ir simbolius, pavyzdiai

Ivestinis dydis dinamin klampa jgos momentas pavirinis tempis kampinis greitis kampinis pagreitis ilumos srauto tankis, energin apvieta ilumin talpa, entropija savitoji ilumin talpa, savitoji entropija savitoji energija savitasis ilumos laidumas energijos tankis elektroninio lauko stipris elektros krvio tankis elektros krvio srauto tankis dielektrin skvarba magnetin skvarba molio energija molio entropija, molio ilumin talpa spinduliuots ekspozicin doz (rentgeno ir spinduli) sugertoji doz spinduliuots intensyvumas (stipris) energinis skaistis

Ivestinis vienetas paskalsekund niutonmetras niutonas metrui radianas per sekund radianas per sekund kvadratu vatas kvadratiniam metrui daulis kelvinui daulis kilogramui kelvinui daulis kilogramui vatas metrui kelvinui daulis kubiniam metrui voltas metrui kulonas kubiniam metrui kulonas kvadratiniam metrui faradas metrui henris metrui daulis moliui daulis moliui kelvinui kulonas kilogramui grjus per sekund vatas steradianui vatas kvadratiniam metrui steradianui

Simbolis Pas Nm N/m rad/s rad/s2 W/m2 J/K J/(kgK) J/kg W/(mK) J/m3 V/m C/m3 C/m2 F/m H/m J/mol J/(molK) C/kg Gy/s W/sr W/(m2sr)

Dimensija m-1kgs-1 m2kgs-2 kgs-2 mm-1s-1=s-1 mm-1s-2=s-2 kgs-3 m2kgs-2K-1 m2s-2.K-1 m2s-2 mkgs-3K-1 m-1kgs-2 mkgs-3A-1 m-3sA m-2sA m-3kg-1s4A2 mkgs-2A-2 m2kgs-2mol-1 m2kgs-2K-1mol-1 kg-1sA m2s-3 m4m-2kgs-3=m2kgs-3 m2m-2kgs-3=kgs-3

naudojant daugybos ir dalybos matematinius simbolius. Pavyzdiai pateikti 5.2 lentelje. CGPM patvirtino specialius kai kuri ivestini vienet, nurodyt 5.3 lentelje, pavadinimus ir simbolius. Kai kurie pagrindiniai vienetai naudojami skirting dydi vienetams aprayti, kaip parodyta 5.4 lentelje. Ivestinis vienetas danai ireikiamas skirtingais deriniais 1) pagrindini vienet ir 2) ivestini vienet, turini specialius pavadinimus. Praktikoje pirmenyb teikiama speciali vienet pavadinimams ir vienet kombinacijoms, siekiant iskirti skirtingus dydius, turinius t pai dimensij. Taigi matavimo prietaisas turi rodyti ne tik matavimo priemons dydio vert, bet ir jo vienetus.

5.3. Vienetai, nepriklausantys SI 5.5 lentelje pateikti specifinse srityse kartu su SI vienetais plaiai naudojami SI sistemai nepriklausantys vienetai. 5.6 lentelje pateikti ne SI sistemos vienet pavyzdiai, kuriuos prasta naudoti tik specifinse srityse. 5.7 lentelje pateikti SI sistem neeinantys specifinse srityse naudojami vienetai, kuri verts nustatomos eksperimentikai. Paskutini dviej nurodomo skaiiaus skaitmen jungtin neapibrtis (sklaidos dsnio koeficientas k=1) yra pateikiama skliaustuose dviem skaitmenimis.

5.5 lentel. Plaiai vartojami vienetai, nepriklausantys SI sistemai Dydis Vienetas Simbolis minut min laikas valanda h diena d laipsnis plokiasis kampas ! minut ' sekund " nigradas gon tris litras l, L mas metrin tona t skysio, oro slgis baras bar5.6 lentel. Ne SI sistemos vienetai, vartojami tik specifinse srityse

Vert SI vienetais 1 min =60 s 1 h = 60 min = 3600 s 1 d = 24 h 1 ! = ( /180) rad 1' = (1/60) ! = ( /10800) rad 1" = (1/60)' = ( /648000) rad 1gon = ( /200) rad 1 l = 1 dm3 = 10-3 m3 1 t = 103 kg 1 bar = 105 Pa

Dydis atstumas greitis mas ilginis tankis li sistem lauiamoji geba slgis (spaudimas)mogaus kne plotas slgis ilgis skerspjvio plotas

Vienetas jrmyl mazgas karatas tex dioptrija gyvsidabrio stulpelio milimetrai arai hektarai barai angstremai barnai

Simbolis ct tex mmHg a ha bar b

Vert SI vienetais 1 jrmyl=1852 m 1 jrmyl per valand=(1852/3600)m/s 1 karatas=2x10-4kg=200mg 1 tex=10-6 km=1mg/m 1 dioptrija=1 m-1 1mmHg=133,322Pa 1 a =100 m2 1 ha=104 m2 1bar=100kPa=105Pa 1=0,1nm=10-10 m 1b=10-28 m2

5.7 lentel. Vienetai, nepriklausantys SI sistemai, vartojami specialiems objektams; vienet verts yra nustatytos eksperimentikai [2]

Dydis energija

Vienetas elektronvoltas

Simbolis Apibrimas 1eV yra elektrono, perjusio 1V poeV tencial skirtum vakuume, kinetin energija u 1u yra lygus 1/12 neutralaus pagrindins bsenos anglies atomo izotopo 12C rimties mass

Vert SI vienetais 1eV=1,60217733(49) 10-19 J

mas

atominis mass vienetas astronominis vienetas

1u=1,6605402(10) 10-27 kg

ilgis

ua

1ua=1,49597870691(30)1011m

5.4. SI priedliai CGPM pritaikyti ir rekomenduoti priedliai ir priedli simboliai pateikti 5.8 lentelje. Taisyklingo priedli vartojimo taisykls: 1. Priedliai apibria skaiiaus 10 laipsn (r, pavyzdiui, negali bti skaiiaus 2 laipsniai ). Pavyzdys: vienas kilobitas reikia 1000 bit, o ne 1024 bitus. 2. Priedliai prie vieneto simbolio raomi nepaliekant tarpo Pavyzdys: centimetras raomas cm, o ne c m.

5.8 lentel. SI priedliai [2] Dau- Prie- Sim- Daugiklis dlis bolis giklis deka da 10-1 101 2 10 hekto h 10-2 3 kilo k 10-3 10 6 mega M 10-6 10 9 giga G 10-9 10 12 tera T 10-12 10 15 peta P 10-15 10 18 eksa E 10-18 10 21 zeta Z 10-21 10 24 10 jota Y 10-24

Priedlis** deci centi mili mikro nano piko femto ato zepto jokto

Simbolis d c m n p f a z y

Simbolis numatytas Europos direktyvoje neautomatinms svarstyklms Red.past.

lietuvi k. rayba (tarimas) Red. past.

3. Nevartotini kombinuoti priedliai. Pavyzdys: 10-6 kg turi bti raoma 1 mg, o ne 1 kg. 4. Priedlis negali bti raomas vienas. Pavyzdys: 109/m3 negali bti uraoma G/m3. 5.5. SI vienet pavadinim ir simboli raymas 1. Simboliai raomi maosiomis raidmis, taiau pirmoji simbolio raid raoma didioji, jeigu: 1) vieneto pavadinimas kildinamas i mogaus pavards arba 2) simboliu prasideda sakinys. Pavyzdys: vienetas kelvinas uraomas simboliu K. 2. Raant simbol daugiskaita, galn nepridedama. 3. Po simbolio takas raomas tik tada, kai simboliu baigiasi sakinys. 4. Tarp vienet, gaunam dauginant kelet vienet, turi bti raomas pakeltas takas arba paliekamas tarpas. Pavyzdys: Nm arba N m. 5. Vienetai, gaunami dalijant vienus vienetus i kit, gali bti uraomi naudojant dalybos brkn arba neigiam laipsnio rodikl. Pavyzdys: m/s arba ms-1. 6. Vienet deriniuose gali bti raomas tiktai vienas dalybos brknys. Leidiama vartoti skliaustus ir neigiamus laipsnio rodiklius sudtinguose deriniuose. Pavyzdys: m/s2 arba ms2, bet ne m/s/s. Pavyzdys: mkg/(s3A) arba mkgs-3A, bet ne mkg/s3/A ir ne mkg/s3A. 7. Simboliai nuo skaitins reikms, po kurios jie raomi, turi bti atskiriami intervalu. Pavyzdys: 5 kg, bet ne 5kg. 8. Vienet simboliai ir vienet pavadinimai neturi bti mirs. Skaitmenini duomen uraymas 1. Tarp trij skaitmen grupi turi bti paliekami intervalai i kairs ir i deins puss nuo deimtains vietos (15 739,012 53). Keturi skaitmen skaiiuose intervalas gali bti praleidiamas. Tkstani negalima atskirti kableliu. 2. Matematini veiksm operacijos gali bti atliekamos tik su vienet simboliais(kg/m3), bet ne su vienet pavadinimais (kilogramas kubiniam metrui). 3. Turi bti aiku, kuriai skaitinei reikmei priskiriamas vienet simbolis ir kokia matematin operacija atliekama su dydio reikme. Pavyzdys: 35 cm48 cm, bet ne 3548 cm; 100 g 2 g, bet ne 1002 g. 6. Svokos ir santrumpos [x] nurodo informacijos altin 7 skyriuje, kurio numeris [x].

Lietuvos dokumentuose tokie intervalai nepaliekami Red.past. Eils tvark nusako pirmoji odio raid lietuvikos abcls atvilgiu; santrumpos pateikiamos atskirai nuo svok Red.past.

Absoliuioji matavimo paklaida terminas, vartojamas, kai reikia atskirti paklaid ir santykin paklaid; pirmoji kartais vadinama absoliuija paklaida [4]. Artefaktas (dirbinys) dirbtinai mogaus sukurtas objektas. Artefakt (dirbini) pavyzdiai matavimams atlikti pagaminti svarstis ir metrolazd. Akredituota laboratorija laboratorija, kurios technin kompetencija, jos naudojama kokybs utikrinimo sistema ir jos bealikumas yra patvirtinti treiosios alies. r.2.2.5 skyri. Antrinis etalonas etalonas, kurio vert lyginimo bdu nustatoma i to paties dydio pirminio etalono [4]. Atramins (pamatins) slygos naudojimo slygos, nurodytos matavimo priemons parametrams tikrinti arba matavimo rezultatams tarpusavyje palyginti [4]. Atramin (pamatin) sertifikuota (patvirtinta dokumentais) mediaga (Certified Reference Material, CRM) turinti liudijim atramin (pamatin) mediaga, kurios vienos ar keli savybi verts yra patvirtinamos susietumo (sieties) su tikslia vieneto, kurio vertmis ireikiamos savybs, realizacijos procedra ir kuriai kiekviena patvirtinta vert turi tam tikr neapibrt, esant nustatytam pasikliautinumo lygiui [4]. Atramin (pamatin) (Reference Material, RM) mediaga mediaga ar terp, kurios viena ar kelios savybi verts yra pakankamai vienodos ir tiksliai nustatytos, kad galt bti vartojamos prietaisams kalibruoti, matavimo metodui vertinti ar mediagoms suteikti vertes [4]. Atramin mediaga, pirmin aukiausi metrologin kokyb turinti atramin mediaga, kurios verts apibriamos, taikant pirmin metod [3]. Atraminis (pamatinis) etalonas etalonas, paprastai turintis geriausi metrologini savybi toje vieto(v)je ar toje organizacijoje, kurioje matuojama [4]. r. 2.1.3 skyri. Atsakas matavimo sistemos jimo signalas gali bti vadinamas poveikiu, o ijimo signalas atsaku [4]. Atsitiktin paklaida matavimo rezultato ir to paties matuojamojo dydio be galo daug kart kartojimosi slygomis atlikt matavim vidurkio skirtumas [4]. Bandymas numatyto gaminio, proceso ar paslaugos vienos ar keli charakteristik nustatymo nustatyta tvarka technin procedra [5]. Darbinis etalonas etalonas, kuriuo nuolat kalibruojami ar tikrinami matai, matavimo priemons ar atramins (pamatins) mediagos (terps) [4]. Detektorius taisas ar mediaga, kuri parodo reikin, bet nebtinai pateikia su juo susijusio dydio vert. Pvz., lakmuso popierius. Dydio dimensija formul, tam tikroje dydi sistemoje pateikianti dyd, kaip sandaug laipsnini daugikli, reikiani ios sistemos pagrindinius dydius [4]. (Dydio) vert kiekybin tam tikro dydio iraika, daniausiai sudaryta i matavimo vieneto, padauginto i skaiiaus [4]. Eksperimentinis standartinis nuokrypis to paties matuojamojo dydio matavim serijos rezultat sklaid

apibdinantis dydis, ireikiamas standartinio nuokrypio formule [4]. Etalonas matas, matuoklis, atramin mediaga ar matavimo sistema, skirta dydio vienetui, vienai arba kelioms jo vertms kaip atraminms apibrti, realizuoti, isaugoti ar atkurti [4]. Fundamentalioji metrologija tarptautinio apibrimo nra, taiau is pavadinimas vartojamas daugeliui matavimo tikslumo lygi apibrti. r. 1.2 skyri. Galimybi bandym laboratorija performance testing laboratorijos galimybi atlikti bandymus vertinimas tarplaboratoriniais lyginimais. Generalin mat ir svarsi konferencija r. CGPM. Industrin metrologija utikrina prastas pramonje naudojam matavimo priemoni, skirt gamybos ir bandymo procesams, funkcijas. Iskirties ( diskriminavimo) slenkstis pats didiausias ltai ir monotonikai kintanio poveikio pokytis, nesukeliantis apiuopiamo matavimo priemons atsako pokyio [4]. Ivestinis dydis tam tikros dydi sistemos dydis, ireiktas ios sistemos pagrindini dydi funkcija [4]. Ivestinis (matavimo) vienetas r. 5.2 skyri. Itaisytasis rezultatas matavimo rezultatas, kai jau skaityta sistemingoji paklaida [4]. Jutiklis matuoklio dalis arba matavimo grandin, kuri tiesiogiai veikia matuojamasis dydis [4]. Kalibravimo liudijimas kalibravimo rezultatas (ai) gali bti uraomas dokumente, kuris kartais vadinamas kalibravimo liudijimu arba kalibravimo protokolu [4]. Kalibravimo intervalas laiko intervalas tarp dviej gretim matavimo priemons kalibravim. Kalibravimo protokolas kalibravimo rezultatas (ai) gali bti registruojamas dokumente, kuris kartais vadinamas kalibravimo liudijimu arba kalibravimo protokolu [4]. Kalibravimas veiksm visuma, kuri nurodytomis slygomis nustato matavimo priemons ar matavimo sistemos rodom dydi veri arba veri, kurias teikia matas ar atramin terp, ry su etalonu sukurtomis atitinkamomis vertmis [4]. Kilnojamasis etalonas daniausiai specialios konstrukcijos i vienos vietos kit perneamas ar perveamas etalonas [4]. Kaitumas (dreifas, angl. drift) ltas matavimo priemons metrologins charakteristikos kitimas [4]. Maksimalios leidiamosios matavimo priemons paklaidos tam tikros matavimo priemons kratutins paklaidos verts, kurias leidia apraai, reglamentai ir t.t. [4]. Mokslin metrologija pastangos organizuoti, pltoti ir isaugoti matavimo etalonus. r. 1.2 skyri. Matavimo priemons tikslumas matavimo priemons savyb teikti atsakus, artimus tikrajai vertei [4]. Matavimo priemons kalibravimo istorija matavimo dalies arba matavimo dirbinio (artefakto) kalibravimo rezultat isamus registravimas per ilg laikotarp, kad bt galima vertinti ilgalaik renginio dalies arba matavimo dirbinio stabilum.

Matavimo priemons maksimalios leidiamosios paklaidos ribos tam tikros matavimo priemons kratutins paklaidos verts, kurias leidia apraai, reglamentai ir t.t. [4]. Matavimo priemons paklaidos ribos tam tikros matavimo priemons kratutins paklaidos verts, kurias leidia apraai, reglamentai ir t.t. [4]. Matavimo priemoni istorija r. kalibravimo istorij. Matavimo priemons rodmuo matavimo priemons rodoma dydio vert [4]. Matavimo priemons konstanta koeficientas, i kurio turi bti padaugintas matavimo priemons tiesioginis rodmuo, norint gauti matuojamojo dydio arba dydio, vartojamo jam apskaiiuoti, vert [4]. Matavimo etalono isaugojimas visuma priemoni, kuriomis siekiama isaugoti matavimo etalono metrologines charakteristikas nustatytose ribose [4]. Matas taisas, kuris naudojimo metu tolydiai atkuria arba teikia vien ar kelias inomas tam tikro dydio vertes. Pvz., svarstis, trio matas, galinis ilgio matas ar atramin mediaga [4]. Matuojamasis dydis atskirasis dydis, kuris matuojamas [4]. Matavimo tvarka (procedra) visuma atitinkamai aprayt veiksm, atliekam matuojant nurodytu metodu [4]. Matavimas visuma veiksm, kuriais siekiama nustatyti dydio vert [4]. Matavimo vienetas susitarimu apibrtas ir teisintas atskirasis dydis, su kuriuo lyginami kiti vienariai dydiai, norint juos kiekybikai ireikti io dydio atvilgiu [4]. Matavimo grandin matuoklio arba matavimo sistemos element grandin, kuria matavimo signalas perduodamas nuo jo (jos) jimo iki ijimo [4]. Matavimo paklaida matuojamojo dydio matavimo rezultato ir tikrosios matuojamojo dydio verts skirtumas[4]. Matavimo priemon taisinys, skirtas matuoti savarankikai arba kartu su kitais papildomais taisais. Matavimo sritis visuma matuojamojo dydio veri, kuri matavimo priemons paklaidos yra normini veri ribose [4]. Matavimo rezultatas matavimo bdu rasta matuojamojo dydio vert [4]. Matavimo sistema kartu sujungt matavimo priemoni ir kit rengini grup tam tikriems matavimams atlikti [4]. Metro konvencija tarptautin konvencija, kurta 1875 metais siekiant utikrinti vienod pasaulyje matavimo vienet sistem. 1998 metais j sudar 48 valstybs nars. r. 2.2.1 skyri. Matavimo metodas bendrais bruoais aprayt ir matavimo metu naudojam veiksm login seka [4]. Metrin sistema metrais ir kilogramais grindiama matavimo sistema, ipltota SI sistem. r. 5 skyri. Metrologijos sritys metrologija skirstoma 11 srii. r. 2.1.1 skyri.

r. [4] 1.1 termino 1 pastab.

Metrologija terminas kils i graik kalbos odio metron matavimas. Matavimo mokslas. Matavim principas mokslinis matavim pagrindas [4]. (Matusis) dydis reikinio, kno arba mediagos esmin savyb, kuri gali bti kokybikai iskirta ir kiekybikai surasta [4]. Matavimo priemons rodmen kartojimasis matavimo priemons savyb teikti beveik tuos paius rodmenis, kai j tomis paiomis matavim slygomis pakartotinai veikia tas pats matuojamasis dydis [4]. Matavimo rezultat kartojimasis to paties matuojamojo dydio matavim, atlikt vienas po kito, rezultat, gaut tokiomis paiomis matavimo slygomis, atitikimo artumas [4]. Matavimo intervalas absoliuioji dviej matavimo rib skirtumo vert [4]. Matavim vienet sistema tam tikros dydi sistemos pagrindini ir ivestini vienet, apibriam tam tikromis taisyklmis, visuma [4]. Matavimo neapibrtis su matavimo rezultatu susijs parametras, apibdinantis sklaid veri, kurias pagrstai galima bt priskirti matuojamajam dydiui [4]. Paprastai neapibrtis vertinama remiantis ISO nuorodomis [6]. (Matavimo) vienetas susitarimu apibrtas ir teisintas atskirasis dydis, su kuriuo lyginami kiti vienariai dydiai, norint juos kiekybikai ireikti io dydio atvilgiu [4]. r. 5 skyri. Matavimo sritis visuma matuojamojo dydio veri, kurioms matavimo priemons paklaidos yra normini veri ribose [4]. Matavim susietumo (sieties) seka nepertraukiamoji lyginim seka; etalonavimo seka [4]. (Matavim) susietumas (sietis) matavimo rezultato arba etalono savyb, leidianti juos sieti su atraminmis (pamatinmis) vertmis, daniausiai su valstybiniais arba tarptautiniais etalonais, taikant pasirinktos neapibrties nepertraukiamj lyginim bd [4]. Nacionalinis metrologijos institutas, NMI r. 2.2.2 skyri. Nacionalin atramin (pamatin) laboratorija laboratorija, utikrinanti susietum su pirmine laboratorija kitoje alyje bei galinti kalibruoti matuojamj dyd aukiausiame charakteristik lygmenyje toje alyje. Nesisteminis matavimo vienetas matavimo vienetas, nepriklausantis nustatytai vienet sistemai [4]. Nejautrumo sritis didiausias intervalas, kurio ribose abiem kryptimis galima keisti poveik, nesukeliant matavimo priemons atsako pokyio [4]. Nuokrypis (deviacija ) vert, gauta atmus atramin vert [4]. Pastovumas matavimo priemons gebjimas laikui bgant ilaikyti pastovias metrologines savo charakteristikas [4]. Poveikis matavimo sistemos jimo signalas gali bti vadinamas poveikiu, o ijimo signalas atsaku [4]. Santykin paklaida matavimo paklaidos ir tikrosios matuojamojo dydio verts santykis [4]. SI sistema Tarptautin suderintoji vienet sistema (Le Systme International dUnits), kuri patvirtino

Generalin svarsi ir mat konferencija. r. 5 skyri. SI vienetas SI sistemos vienetas. r. 5 skyri. Sistemingoji matavimo priemons paklaida sistemingoji matavimo priemons rodmen paklaida [4]. Sistemingoji paklaida to paties matuojamojo dydio be galo daug kart kartojimosi slygomis atlikt matavim vidurkio ir tikrosios matuojamojo dydio verts skirtumas [4]. Skals rodmen sritis veri, kurias riboja kratiniai rodmenys, sritis [4]. (Skals) padalos ilgis atstumas tarp dviej gretim ymi, imatuotas iilgai tos paios linijos, kaip ir skals ilgis [4]. Sudtinis etalonas Compound standard panai mat ar matavimo priemoni, kuri deriniu sukuriamas etalonas, visuma. Sutartin tikroji dydio vert atskirajam dydiui priskirtoji vert ir kartais, esant pasirinktai neapibriai, susitarimu pripainta kaip j ireikianti tam tikro vartojimo atveju. Kartais vadinama normine verte, geriausiu verts veriu, sutartine verte arba atramine verte[4]. Suderintasis (ivestinis) matavimo vienetas ivestinis matavimo vienetas, kuris gali bti ireiktas pagrindini vienet simboli, pakelt atitinkamais laipsniais, sandauga, kai proporcingumo koeficientas lygus vienetui [4]. Tarptautinis etalonas tarptautine sutartimi pripaintas (teisintas) etalonas, kuris vartojamas tarptautiniu mastu kaip pagrindinis, tam tikro dydio vertes priskiriant kitiems etalonams [4]. Tarpinis etalonas etalonas kaip tarpin priemon etalonams palyginti [4]. Tarpinis renginys terminas, kuris turt bti vartojamas tada, kai tarpin grandis nra etalonas [4]. Teisingumas (vaiskumas, skaidrumas, angl. Transparency) matavimo priemons savyb nepakeisti matuojamojo dydio [4]. Teisin metrologija utikrina matavimo tikslum, kai imatuotos verts gali veikti sveikat, saug bei finansini sandori teisingum. r. 1.1 skyri. Tikroji (dydio) vert tam tikro atskirojo dydio vert, atitinkanti jo apibrim [4]. Tikslumo klas matavimo priemoni, atitinkani tam tikrus metrologinius reikalavimus nustatytose ribose ilaikyti paklaidas, klas [4]. Tikrinimo etalonas Check standard darbinis etalonas, kuris nuolat vartojamas, norint sitikinti, ar matavimai atlikti tinkamai [4]. Padala skals dalis tarp dviej gretim ymi. Pagrindinis (matavimo) vienetas tam tikros dydi sistemos pagrindinio dydio matavimo vienetas. Pakeistoji (matuojamojo dydio) vert matavimo signalo vert, ireikianti tam tikr matuojamj dyd [4]. Pataisos daugiklis skaitinis daugiklis, i kurio dauginamas neitaisytasis matavimo rezultatas, kad bt panaikinta sistemingoji paklaida [4]. Pataisos vert prie neitaisytojo matavimo rezultato algebrikai pridedama vert, naikinanti sistemingj paklaid [4].

Paveikusis dydis nematuojamas, taiau turintis takos matavimo rezultatui, dydis [4]. Pirmin laboratorija laboratorija, kuri atlieka tarptautiniu mastu pripaintus metrologinius tyrimus ir realizuoja bei ilaiko etalonus aukiausiu tarptautiniu lygiu. r. 2.2.3 skyri. Pirminis metodas geriausios metrologins kokybs metodas, kuris gali bti realizuotas, apraytas ir visikai suprantamas, ir kuriam gali bti vertinta SI vienetais pilnosios neapibrties smata, todl jo rezultatas tampa priimtinas nesiremiant etalonu kuriam nors matuojamam dydiui. Pirminis etalonas patvirtintas arba plaiai pripaintas kaip geriausi metrologini savybi etalonas, kurio vert nustatoma nesiremiant kitais to paties dydio etalonais [4]. r. 2.1.3 skyri. Prototipas dirbinys (artefaktas), kuris apibria matavimo vienet. Kilogramo prototipas (1 kg svarstis) Paryiuje iandien yra vienintelis SI sistemos prototipas. Valstybinis (nacionalinis) etalonas valstybs sprendimu pripaintas (teisintas) etalonas, kuris vartojamas valstybje kaip pagrindinis, priskiriant tam tikro dydio vertes kitiems etalonams. Vardin vert apvalintoji arba apytiksl matavimo priemons charakteristikos vert, kuria vadovaujamasi, naudojant matavimo priemon [4]. BIPM Bureau International des Poids et Mesures Tarptautinis svarsi ir mat biuras. r. 2.1 skyri. BNM Bureau National de Metrologie Pranczijos nacionalinis metrologijos institutas. CCEM Consultative Committee for Electricity and Magnetism Konsultacinis komitetas elektros ir magnetizmo reikiniams. kurtas 1927 metais. CCL Consultative Committee for Length Konsultacinis komitetas ilgiui. kurtas 1952 metais. CCM Consultative Committee for Mass and related quantities Konsultacinis komitetas masei ir su ja susietiems dydiams. kurtas 1980 metais. CCPR Consultative Committee for Photometry and Radiometry Konsultacinis komitetas fotometrijai ir radiometrijai. kurtas 1933 metais. CCQM Consultative Committee for Amount of Substance Konsultacinis komitetas mediagos kiekiui. CCRI Consultative Committee for Ionising Radiation Konsultacinis komitetas jonizuojaniajai radiacijai. kurtas 1958 metais. CCT Consultative Committee for Thermometry Konsultacinis komitetas termometrijai. kurtas 1937 metais. CCTF Consultative Committee for Time and Frequency Konsultacinis komitetas laikui ir daniui. kurtas 1956 metais. CCU Consultative Committee for Units Konsultacinis komitetas vienetams. kurtas 1964 metais. CEM Centro Espaol de Metrologia Ispanijos nacionalinis metrologijos institutas. CEN Comit Europene de Normalisation Europos standartizacijos organizacija.

CGPM Confrence Gnrale des Poids et Mesures Generalin svarsi ir mat konferencija. Pirm kart sigaliojo 1889 metais. Susirinkimai vyksta kas 4 metai. r. 2.2 skyri. CIPM Comit Internationale des Poids et Mesures. r. 2.2 skyri. CMI Czech Metrology Institute ekijos Respublikos nacionalinis metrologijos institutas DANAK (Danisch Accteditation) Danijos akreditavimo organizacija. Suteikia akreditavim Danijoje, globojant Danijos prekybos ir pramons agentrai, Verslo ir pramons ministerijai. r. 2.3.2 skyri. DANIAmet Danijos pirmini ir atramini laboratorij kooperacija. DFM Dansk Institut for Fundamental Metrologi Danijos nacionalinis metrologijos institutas. EA Europos akreditavimo kooperacija, sudaryta, 1997 met lapkriio mn. susijungus EAL (Europos kooperacija laboratorij akreditavimui) ir EAC (Europos sertifikavimo akreditavimas). r. 2.3.2 skyri. EAC r. EA. EAL r. EA. EUROlab Europos kooperacija, jungianti bandymo ir kalibravimo laboratorijas savanorikumo principu. r. 2.3.3 skyri. EUROMET Europos 22 nacionalinius metrologijos institutus jungianti kooperacija, kartu su Turkija ir Europos Komisija. r. 2.3.1 skyri. GLP Good Laboratory Practice gera laboratorin praktika. Akredituojanios institucijos tvirtina laboratorijas, remiantis OECD GLP taisyklmis. GUM Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement Instrukcijos matavimo neapibrties vertinimui. Ileido BIPM, IEC, ISO, OIML ir IFCC (Tarptautin klinikins chemijos federacija), IUPAC (Tarptautin teorins ir taikomosios chemijos sjunga) ir IUPAP (Tarptautin teorins ir taikomosios fizikos sjunga) [6]. IEC Tarptautin elektrotechnikos komisija. IPQ instituto Portugus da Qualidade Portugalijos nacionalinis metrologijos institutas. IRMM atramini mediag ir matavim institutas, Europos Komisijos vadovaujamas jungtinis tyrim centras. ISO Tarptautin standartizavimo organizacija. Justervesenet Norvegijos nacionalinis metrologijos institutas. MID The Measuring Instruments Directive matavimo priemoni direktyva, r. 3.1.1 skyri. MKSA sistema matavimo vienet sistema, grindiama metru, kilogramu, sekunde ir amperu. 1954 metais buvo traukti kelvinas ir kandela. Tada sistema buvo pavadinta SI sistema. r. 5 skyri. NIST National Institute of Standards and Technology nacionalinis standart ir technologijos institutas. Nacionalinis JAV metrologijos institutas. NMI National Metrology Institute danai vartojama anglika alies nacionalinio metrologijos instituto santrumpa. r. 2.2.2 skyri. NMi-VSL Nederlands Meetinstituut Van Swinden Laboratorium Olandijos nacionalinis metrologijos institutas.

NPL Nacional Physical Laboratory Nacionalin fizikos laboratorija; Didiosios Britanijos nacionalinis metrologijos institutas. NRC National Research Council Kanados nacionalin tyrim taryba; nacionalinis matavimo etalon institutas bei nacionalinis metrologijos institutas. OFMET Office Fdral de Mtrologie veicarijos nacionalinis metrologijos institutas. OIML Organisation Internationale de Mtrologie Lgale Tarptautin teisins metrologijos organizacija. PTB Physikalisch Technishe Bundesanstalt Vokietijos nacionalinis metrologijos institutas. SMIS Standards and Metrology Institute of Slovenia Slovnijos etalon ir metrologijos institutas, Slovnijos nacionalinis metrologijos institutas. SMU Slovensky Metrologicky Ustav, Slovakijos nacionalinis metrologijos institutas. SP Sveriges Provnings - och Forskningsinstitut vedijos nacionalinis metrologijos institutas.

Informacijos altiniai1. 2. 3. 4. Arturo Garcia Arroyo. Dr. Director of Industrial & Material Technologies, CEC DG XII: Measurements for Europe, Measurements and Testing, June 93, vol. 1, No.1. BIPM: The International System of Units, 7th edition 1998. CCQM: Report of the President of the Comit Consultatif pour la Quantit de Matire, april 1995. BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, OIML: International Vocabulary of Basic and General Terms in Metrology, 2nd edition 1993. Tarptautinis pagrindini ir bendrj metrologijos termin odynas. Pareng V.Valiuknas ir P.J.ilinskas. Mokslo ir enciklopedij leidybos institutas, 1997. 93 p. EN 45 001: General criteria for the operation of testing laboratories, 1st edition 1989. ISO: Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement, Firs edition 1993, ISBN 92-67-10188-9.

5. 6.

* *

*

Student g. 50-454 k., 3031 Kaunas, tel. 35 12 52, el. patas metrol.inst@adm.ktu.lt