Mikroskop- und Messsysteme für Qualitätssicherung und -kontrolleErfassen Sie das Wesen Ihres Bauteils:

Schnell. Einfach. Übergreifend.

// prÄzision made by Carl zeiss

Der Moment, in dem Sie ein präzises Ergebnis erhalten. Und absolute Sicherheit. Für diesen Moment arbeiten wir.

5

Sie haben Ihre Wertschöpfungskette im Auge: Jede Optimierung steigert die Leistung

Ihrer Produktion. Sie verschaffen sich wertvolle Wettbewerbsvorteile. Sie achten auf Ihre

Energieeffizienz. Sie verbessern Ihre Umweltbilanz. Und Sie senken Ihre Herstellungs­

kosten.

Ihre Kunden verlangen, dass Sie Ihre Werkstücke prüfen. Mikroskopie ist für Qualitäts­

kontrolle und Fehleranalyse längst unerlässlich geworden. Erkennen Sie schon in der

Produktion fehlerhafte oder verunreinigte Stellen, läuft die Zeit: Sie ermitteln die Ursache

so zügig wie möglich und ergreifen alle Maßnahmen, damit nicht ganze Produktionslose

entsorgt werden müssen.

Durch die Kombination sich ergänzender Mikroskopieverfahren und ­methoden

analysieren und charakterisieren Sie Bauteile, Werkstoffe und Materialien umfassend.

Lichtmikroskopische Techniken liefern Ihnen Informationen über Farbe, Morphologie,

Struktur, Textur und Dimensionen. Untersuchungen mit Elektronen mikroskopen

geben zusätzlich Aufschluss über die Zusammensetzung des Materials und die einzelnen

Elemente.

Erkennen Sie Ihre Wettbewerbs-Vorteile

Ihr Wettbewerbsdruck im Automobil­, Flugzeug­ und

Maschinenbau, in der Elektro­ und Chemieindustrie

und in den erneuerbaren Energien ist enorm.

Ihren Vorsprung vergrößern Sie mit immer besseren

Produktionsprozessen.

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Konfokal

500 nm

Compound

1 µm

Zoom

5 µm

Stereo

5 µm

Von Mikro bis Nano –

das breiteste Produktportfolio auf dem Markt

Wählen Sie das beste Mikroskop für Ihre Anwendung:

Die Systeme von Carl Zeiss Microscopy sorgen für

Erkenntnisse vom Mikro­ bis zum Nano­Bereich.

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FIB

5 nm

TEM

0,1 nm

Helium­Ionen

0,5 nm

REM

1 nm

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Die Wahl des Werkzeugs zeigt den Meister

Sie untersuchen Stahl, Verbundwerkstoffe, Kunststoffe, Keramiken und Bio­

materialien. Sie quantifizieren Strukturen und Objekte. Sie analysieren mikros­

kopische Aufnahmen und dokumentieren Ihre Erkenntnisse. Nutzen Sie schon

bei der Wahl Ihres Mikroskops die Erfahrung aus dem Hause Carl Zeiss:

Mit einer umfassenden Auswahl an Methoden und Systemen unterstützen wir

Sie rund um Produktion, Fertigung und Qualitätsprüfung.

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Visuelle Inspektions-Systeme

Sie produzieren und kontrollieren kleinste Komponenten mit Abmessungen im Mikrometer­

bereich. Ihre Fingerfertigkeit wird auf die Probe gestellt, wann immer Sie filigrane Zahn­

räder in Uhrenwerken justieren und medizintechnische Bauteile bearbeiten. Sie inspizieren

die Lötstellen von Platinen und Leiterplatten oder untersuchen die Struktur Ihrer Metalle.

Einfach, schnell, visuell.

Seite 10

Automatisierte Imaging-Systeme

Mikroskopische Analysen liefern Ihnen präzise, reproduzierbare Ergebnisse. Motorisierte

Komponenten Ihres Mikroskops und automatisierte Arbeitsabläufe vereinfachen Ihre Aus­

wertung. Sie finden heraus, wie Herstellungsprozesse und Verschleiß Tex turen beeinflussen

und sich auf Interaktionen mit anderen Komponenten und Materialien auswirken. Zahl­

reiche Software­Module runden Ihr System ab.

Seite 24

Korrelative Mikroskopie

Charakterisieren Sie identische Probenstellen in Licht­ und Elektronenmikroskopen umfassend:

Mit Shuttle & Find, der Lösung für die korrelative Mikroskopie, schaffen Sie eine Verbindung

zwischen beiden Systemen in der Material analyse.

Seite 42

Topografie und 3D-Messtechnik

Sie analysieren und vermessen technische und funktionale Oberflächen dreidimensional

im Mikro­ und Nanometerbereich. Von Ihren exakten und reproduzierbaren Ergebnissen

hängen wesentliche Eigenschaften ab wie Haftung, Rauheit und Reibung.

Seite 48

Visuelle Inspektions-Systeme

Bearbeiten Sie kleine Teile mit großer Präzision

10

11

Visuelle Inspektions-Systeme

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Stemi DV4 ist ein besonders kompaktes Stereomikroskop. Die

solide, strapazierfähige Technik ist leicht zu bedienen. Sie erfassen

hochaufgelöste Bilder dreidimensional und stufenlos von der

Übersicht bei 8­facher Ver größerung bis ins 32­fach vergrößerte

Detail. Ihr Bild bleibt über den gesamten Zoombereich im Fokus –

kontrastreich und scharf bis zum Objektfeldrand.

In den Mikroskopkörper von Stemi DV4 SPOT ist eine faseroptische

Kaltlichtquelle integriert. Sie leuchtet Ihr Objektfeld homogen und

schattenfrei aus. In Kombination mit dem Neigarmstativ U eignet

sich Stemi DV4 SPOT ganz besonders für Ihre Proben: Sie fokus­

sieren präzise und Ihre Probe bleibt immer zugänglich – dafür sorgt

das variabel einstellbare Vorsatzsystem.

Konfigurieren Sie Ihr System.

Mikroskop

Stemi DV4

Stemi DV4 SPOT mit integrierter

faseroptischer Kaltlichtbeleuchtung

Beleuchtungsverfahren

Auflicht: Spot­Beleuchtung, neigbar, Optional: Polarisation

Durchlicht: homogenes Hellfeld, Optional: Polarisation,

Dunkelfeld, Schräglicht mit Reliefkontrast

Zubehör

Okulare, Okularmesseinrichtung, Kamera­Okularadapter,

Vorsatzsysteme, faseroptische Kaltlichtquellen mit

diversen Lichtleitern

Stemi DV4 und Stemi DV4 SPOT

Ein Mikroskop wie Ihre Bauteile: klein, präzise, stabil.

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Einfacher, intelligenter, integrierter.

• Profitieren Sie in der industriellen Qualitätskontrolle von

der hochwertigen Optik und der variabel einstellbaren

LED­Beleuchtung in einer kompakten Einheit.

• Am Okular mikrometer 8x/32x/18 lesen Sie die Werte direkt

an der Skala ab – entweder in der Übersicht bei 8­facher

Vergrößerung oder am Detail bei 32­facher Vergrößerung.

• Sie dokumentieren Ihre mikroskopischen Bilder digital:

Bringen Sie Ihre digitale Kompakt­, Spiegelreflex­ oder

C­Mount­Kamera über einen Okular­Adapter am Mikroskop an.

• Mit dem am Stativ C LED nachrüstbaren Objektmagazin

positionieren Sie bis zu 16 unterschiedliche Objekte zielsicher

unter dem Stereomikroskop. ClickStop sorgt für die exakte

Position unter dem Mikroskop, eine reflexarme Glasplatte

schützt die Objekte.

Für Ihre Anwendungen geschaffen.

• Sie sind Zahntechniker und bearbeiten vollkeramische Kronen

exakt und sicher – Gussperlen im Gerüst erkennen und

entfernen Sie mit höchster Präzision.

• Ein gutes Auge zählt zu Ihren wichtigsten Uhrmacher­

Eigenschaften: Mit Stemi DV4 verarbeiten Sie winzige Rädchen,

Federn, Kloben, Brücken, Triebe, Glocken­ und Sperrrad­

schrauben, Zifferblatt­, Federkern­, Riegel­ und Ansatzschrauben.

• Sie kontrollieren und bearbeiten Elektroden

für Herzschrittmacher.

• Sie erfassen wertvolle forensische Beweise indem Sie

Munitionsteile, Werkzeugspuren, Dokumente, Fasern,

Lacke, Glas, Textilien und Haare analysieren.

• Körnen, bohren und fräsen Sie filigranste Schmuckstücke.

Stechen Sie feinste Konturen, ohne zu ermüden.

• Sie sind Archäologe und dokumentieren Fundstellen und

Fundstücke wie Splitter oder Schmuckstücke.

Mit Stemi DV4 verarbeiten Sie winzige Rädchen, Federn, Kloben, Brücken,

Triebe, Glocken- und Sperrradschrauben, Zifferblatt-, Federkern-, Riegel- und

Ansatzschrauben in Ihrem Uhrwerk

Die Kombination von Stemi DV4 SPOT mit dem flexiblen Stativ U ist ein

unentbehrliches Arbeitsmittel für den Zahntechniker. Sie bearbeiten Ihre Objekte

durch die verbesserte Feinmotorik in besserer Qualität und kürzerer Zeit

Visuelle Inspektions-Systeme

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Stemi 2000 zeigt Ihnen Proben so wie sie sind: detailreich, scharf

bis zum Objektfeldrand und absolut verzeichnungsfrei. Profitieren

Sie von be ein druckendem Bildkontrast.

Sie verschaffen sich Überblick in einem 35 mm großen Objektfeld

und bringen mit Ihrem großen Zoombereich von 7,7:1 Ihr Detail

auf 50­fache Vergrößerung. Das leistet kaum ein anderes

Stereomikroskop dieser Klasse. Sie zoomen komfortabel stufenlos

oder reproduzierbar mit Clickstops – das Objekt bleibt scharf

fokussiert.

Ihr Stemi 2000 ist robust und universell einsetzbar, und es

arbeitet präzise.

Konfigurieren Sie Ihr System.

Mikroskop

Stemi 2000

Stemi 2000C (mit schaltbarem Anschluss

für Foto­ oder Videokamera)

Stemi 2000CS (mit fester Strahlenteilung

zum Anschluss für Foto­ oder Videokamera)

Beleuchtungsverfahren

Auflicht und Durchlicht:

Hellfeld, Dunkelfeld, Schräglicht, Polarisation

Beleuchtung

Faseroptische Kaltlichtquellen mit Spot­, Ring­, Linien­, Vertikal­,

Diffusor­ und Flächen beleuchtungen, LED­Ringleuchten mit

Segmentfunktion, faseroptische sowie LED­Durchlichteinrichtungen

Zubehör

Okulare, Okularstrichplatten, Vorsatzsysteme, Kamaraadapter, Tisch­

und Auslegerstative, Gleit­, Kugel­ und Drehtisch, faseroptische und

LED­Beleuchtungen, Pol­Einrichtungen für Auflicht und Durchlicht

Stemi 2000

Zoomen Sie sich stufenlos in wichtige Details

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Einfacher, intelligenter, integrierter.

• Kombinieren Sie Ihr Stemi 2000 mit Ausleger­ und Neigarm­

stativen zur Untersuchung großflächiger Proben.

• Ein Arbeitsabstand von maximal 286 mm bietet Ihnen viel Raum

zum Beleuchten, Positionieren und Bearbeiten Ihrer Probe.

• Eine Vielzahl an Wechseloptiken geben Ihnen zusätzliche

Auflösung, Vergrößerung, Arbeitsabstand oder Objektfeldgröße.

Flexibel zugeschnitten auf Ihre Bedürfnisse.

• Mit dem Vorsatzsystem 0,3x erhalten Sie ein Objektfeld bis

118 mm, mit dem Sie selbst eine CD als Ganzes betrachten.

• An Stemi 2000C und ­CS schließen Sie komfortabel Foto­

und Video­Kameras an.

Für Ihre Anwendungen geschaffen.

• Sie kontrollieren Leiterplatten auf Lötstellen, Partikel

und Artefakte.

• Sie arbeiten in der Forensik, begutachten Munitionsteile

und ordnen Geschosshülsen ihren Waffen zu.

Sie vergleichen Dokumente, Sie prüfen Werkzeugspuren,

Fasern, Lacke, Glas, Textilien und Haare.

• Sie analysieren, restaurieren, reinigen und konsvervieren

Kunstwerke wie Gemälde und Skulpturen. Schicht für

Schicht analysieren und identifizieren Sie das Material.

Stemi 2000 liefert Ihnen brillante Bilder Ihrer dreidimensionalen Objekte und

erlaubt die präzise Untersuchung von Lötverbindungen, Bohrungen, Rissen und

Gewindeformen an zum Beispiel Leiterplatten und Platinen

Qualitätsanalyse von Trikotagen

Visuelle Inspektions-Systeme

16

Mit SteREO Discovery.V8 erleben Sie deutlich mehr Flexibilität

durch den modularen Aufbau. Wählen Sie zwischen Ergotuben,

koaxialer Beleuchtung, Mitbeobachterbrücke und Zeichen­,

Foto­ und Fluoreszenzzwischentuben.

Profitieren Sie von dem intensiven 3D­Eindruck Ihrer Objekte,

parallaxefrei und brillant.

Das Stativ 450 von SteREO Discovery.V8 ist groß, stabil und

besonders schwingungsarm. Genießen Sie Platz im Probenraum,

der auch die Adaption großer Tische erlaubt.

Konfigurieren Sie Ihr System.

Mikroskop

SteREO Discovery.V8

Beleuchtungsverfahren

Hellfeld, Dunkelfeld, Schräglicht, Polarisation, Fluoreszenz

Beleuchtung

Faseroptische Kaltlichtquellen mit Spot­, Ring­, Linien­,

Vertikal­, Diffusor­, Flächen­ und Koaxialbeleuchtungen,

LED­Ringleuchten mit Segmentfunktion, faseroptische

und LED­Durchlichteinrichtungen

Zubehör

Okulare, Okularstrichplatten, Kameraadapter, Binokular und

Trinokulartuben, Foto­, Zeichen­, Fluoreszenz­ und Y­Zwischentuben

sowie Mitbeobachtereinrichtung, diverse Objektive Achromat S,

Plan S und PlanApo S, Tisch­ und Auslegerstative, manuelle und

motorische Fokussiersäulen, Gleit­ und Kugeltisch, 360°­Pol­Dreh­

tisch, Kreuz­ und Messtische, faseroptische und LED Beleuchtungen

und Polarisationseinrichtungen für Auflicht und Durchlicht

SteREO Discovery.V8

Steigern Sie Ihre Flexibilität

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Einfacher, intelligenter, integrierter.

• VisiLED Ringleuchten mit Segmentfunktion: Per Knopfdruck

wechseln Sie von Ringbeleuchtung zu seitlichem Schräglicht.

Drehen Sie das Schräglicht um Ihr Objekt und rotieren die

Beleuchtung für einen räumlichen Objekteindruck in Ihrem

Live­Bild.

• Die faseroptischen Kaltlichtquellen CL6000 LED und CL9000 LED

liefern intensives Kaltlicht bei homogener Ausleuchtung des

Objektfeldes. Durch die lange Lebensdauer der LED sind Lam­

penwechsel unnötig. Mit ihrem breiten Spektrum an Lichtleitern

und Zubehör heben sie Ihre Objektstrukturen deutlich hervor.

• Sie nutzen verschiedene Fototuben mit der Schnittstelle 60N

für Ihre digitalen Foto­ und Videokameras. Für Ihre hohen An­

sprüche empfehlen wir die hochauflösenden Mikroskopkameras

AxioCam und die Imaging Software AxioVision von Carl Zeiss.

• Mit Objektivschlitten oder Objektivrevolver S/doc schieben Sie Ihr

Objektiv senkrecht unter den rechten Stereokanal. Für senkrechte

Beobachtung und Z­Stapel erhalten Sie so Abbildungen ohne

Parallaxenfehler.

Für Ihre Anwendungen geschaffen.

• Sie analysieren Lötstellen, Partikel und Artefakte

auf Leiterplatten.

• Sie erfassen wertvolle forensische Beweise indem Sie

Munitionsteile, Werkzeugspuren, Dokumente, Fasern,

Lacke, Glas, Textilien und Haare analysieren.

• Sie sichern die Qualität medizinischer Geräte mit

kontrast reichen Bildern, die kleinste Unregelmäßigkeiten

auf und unter der Oberfläche von Kathetern und

Skalpell klingen zeigen.

SMD-Platine mit weißem Lötstopplack, Auflicht mit Spaltringleuchte mit

Polfiltereinrichtung zur Minimierung spiegelnder Reflexe,

Objektiv: Plan S 1,0x; Vergrößerung: 15x

Leiterplatte, Ringlicht,

Objektiv: PlanApo S 1,5x; Vergrößerung: 16x

Visuelle Inspektions-Systeme

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Axio Vert.A1 ist ein kompaktes, inverses Mikroskop, das Ihnen

brillante Einblicke verschafft: Sie untersuchen große, schwere

Bauteile mit allen üblichen Kontrastverfahren im Auflicht und

im Durchlicht.

Sie wählen ohne Kompromisse das beste Verfahren. Oder Sie

kombinieren mehrere Kontrasttypen und gewinnen zusätzliche

Erkenntnisse. Der kodierte 5­fach Objektivrevolver erfasst einen

Objektivwechsel automatisch. Mit Hilfe des Lichtmanagers passen

Sie die Beleuchtungsintensität an. Sie quantifizieren Ihr Gefüge

effizient, beurteilen Eigenschaften und Qualität Ihrer Werkstoffe.

Konfigurieren Sie Ihr System.

Mikroskop

Axio Vert.A1 (kodiert)

Kontrastverfahren

Auflicht: Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, C­DIC, Polarisation, Fluoreszenz

Durchlicht: Hellfeld, Polarisation, Phasenkontrast

Beleuchtung

50 W HAL, 100 W HAL, VisLED

Zubehör

Strich­ und Gefügevergleichsplatten,

Ergotuben und Ergofototuben,

Kreuz­, Gleit­ und Scanningtische

Axio Vert.A1

Alle Kontraste. Keine Kompromisse.

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Einfacher, intelligenter, integrierter.

• Mit dem 5­fach Objektivrevolver von Axio Vert.A1 haben Sie

immer die passende Vergrößerung zur Hand. Der Revolver ist so

kodiert, dass Axio Vert.A1 Ihr Objektiv automatisch erkennt.

• Mit dem 4­fach Reflektorrevolver von Axio Vert.A1 bewegen Sie

sich einfach und schnell zwischen den Kon trastverfahren.

• Strich­ und Gefügevergleichsplatten statten Sie für Überblicks­

messungen bestens aus. Die Imaging­Software AxioVision

von Carl Zeiss hält zusätzlich ein leistungs fähiges Spektrum an

Modulen wie Korngrößen­ und Phasen analysen, Schichtdicken

und Interaktives Messen für Ihre Untersuchungen bereit.

Für Ihre Anwendungen geschaffen.

• Sie analysieren die Gefügestrukturen geätzter Oberflächen.

Sie erkennen Korngrenzen und ziehen Rückschlüsse auf

Korngrößen, Phasen und Gefügebestandteile. Sie sehen Farben

und Pigmente. Verunreinigungen und Gefügebestandteile,

wie zum Beispiel Graphit im Gusseisen, erfassen Sie bereits vor

dem Ätzen.

• Mechanische Störungen der Oberfläche, Bruchstellen, Poren

und Einschlüsse kommen genauso gut zum Vorschein wie Risse,

Kratzer und Lunker. Sie beurteilen die Oberflächengüte

bearbeiteter Werkstücke präzise und erkennen ebenso leicht

Korngrenzen an geätzten Schliffen.

• Sie untersuchen die Struktur anisotroper Materialien, wie zum

Beispiel Magnesium, Aluminium, Bronze und Messing.

Im polarisierten Licht zeigen Ihnen die einzelnen Körner des

Kristallgitters ihre charakteristische Farbe.

• Höhenunterschiede in Form von natürlichen Differenzen oder

durch die Präparation erzeugte Artefakte erhalten als reliefartige

Struktur einen 3D­Effekt.

Aluminiumlegierung, 100x, Hellfeld Aluminiumguss, 500x, C-DIC,

Fotogenehmigung: Allied High Tech Products Inc.

Visuelle Inspektions-Systeme

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Axio Lab.A1 ist in Leistung und Optik unschlagbar:

Sie nutzen hervorragende Ergonomie, leichte Bedienbarkeit

und exzellente Bildqualität für Ihre Anwendungen.

Das Mikroskop ist klein und flexibel. Sie setzen es überall ein –

Axio Lab.A1 ist enorm strapazierfähig. Alle wichtigen Bedien­

elemente sind ergonomisch angeordnet und ausge sprochen

leicht zu bedienen.

Mit dem Stativ für Polarisation machen Sie anisotrope

Strukturen sichtbar, wie zum Beispiel Kristalle und Fasern.

Konfigurieren Sie Ihr System.

Mikroskope

Axio Lab.A1 (integrierte Auflichtbeleuchtung)

Axio Lab.A1 (integrierte Durchlichtbeleuchtung für Orthoskopie)

Axio Lab.A1 ( integrierte Durchlichtbeleuchtung für Konoskopie)

Kontrastverfahren

Auflicht: Hellfeld, Dunkelfeld, C­DIC, Polarisation

Durchlicht: Orthoskopie: lineare und zirkulare Polarisation,

Konoskopie, Hellfeld, Dunkelfeld, Phasenkontrast

Beleuchtung

Auflicht: 12 V 50 W HAL, Optional: LED

Durchlicht: 12 V 35 W HAL, Optional: LED

Zubehör

Kreuztisch, Polarisationsstativ für Orthoskopie und Konoskopie

und 360°­Polarisations­Drehtische, Messkompensatoren,

Fototuben, Ergofototuben

Axio Lab.A1

Ihr Universalwerkzeug für Materialanalyse

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Einfacher, intelligenter, integrierter.

• Mit 5 Objektivpositionen bietet Axio Lab.A1 ausreichend Platz

für Ihre wichtigen Objektive – für schnellen Probendurchsatz und

hohen Bedienkomfort. Wählen Sie zwischen Hellfeld­, Hell­ und

Dunkelfeld­ sowie DIC­ oder POL­Objektiven.

• Wechseln Sie mit dem 4­fach Reflektorrevolver ganz einfach

zwischen den verschiedenen Kontrastverfahren.

• Das Kontrastverfahren C­DIC wandelt auch kleinste Änderungen

der Oberflächenmorphologie in Helligkeitsunterschiede um und

sorgt so für einen sehr guten Kontrast bei sonst kontrastarmen

Proben.

• Axio Lab.A1 für Konoskopie sorgt für besonders einfache

Bedienung: Analysator und Bertrandlinse sind im Gerät integriert

und logisch miteinander gekoppelt. Mit dem Einschwenken

der Bertrandlinse in den Strahlengang sorgt diese mechanisch

logische Koppelung dafür, dass auch der Analysator in die

Betriebsposition schwenkt.

• Ihre Werkzeuge und Kabel bewahren Sie in einer Klappe

an der Rückseite Ihres Axio Lab.A1 auf.

Für Ihre Anwendungen geschaffen.

• Axio Lab.A1 ist das kompakte Mikroskop für Ihre Gefügeunter­

suchungen, für das Bestimmen von Korngrößen, Struktur,

Verteilung, Phasen und für Ihre schnellen Analysen vor Ort.

• Sie analysieren die Mikrostruktur von Metallen und erfassen

Informationen über Mechanismen, die zu Materialfehlern wie

Ermüdung, Korrosion, Kriechverformung, Spannungsrissen

und Brüchen fuhren.

• Mit dem Polarisationskontrast charakterisieren Sie Haare,

Erde und Fasern in der Forensik. Farbsplitter analysieren Sie

mit Hellfeld­, Fluoreszenz­ und Polarisations­Mikroskopie.

• Als Geologe analysieren Sie Gesteins­ und Mineralproben,

zum Beispiel für die Erdölproduktion.

• Im Umweltschutz identifizieren Sie beispielsweise Typen

von Asbestfasern.

Plagioklas (Feldspat), Zwillingslamellierung im Polarisationskontrast.

Dr. M. Magnus, Institut für Geologie und Paläontologie, TU Bergakademie Freiberg

Stahlgefüge, EC Epiplan 20x/0,4 im Dunkelfeld

Visuelle Inspektions-Systeme

22

Das Allround­Mikroskop Axio Scope.A1 ist modular konzipiert.

Aus fünf Oberteilen, drei Unterteilen oder zwei Vario­Säulen

konfigurieren Sie Ihr System nach Maß. Für Durchlicht, Auflicht

oder beides.

Axio Scope.A1 ist besonders wirtschaftlich: Sie beschaffen immer

nur die Komponenten, die Sie gerade brauchen. Alle weiteren

rüsten Sie nach, sobald Sie Ihr Einsatzgebiet ausweiten oder

verändern.

Mit umfangreichem Zubehör passen Sie das System individuell

an Ihre Anwendungen an.

Konfigurieren Sie Ihr System.

Mikroskop

Axio Scope.A1

Kontrastverfahren

Auflicht: Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, C­DIC,

Polarisation, Fluoreszenz

Durchlicht: Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, PlasDIC,

Polarisation, Phasenkontrast

Beleuchtung

Auflicht: 12 V 50 W HAL, 12 V 100 W HAL,

100 W HBO, 75 W XBO, LED

Durchlicht: 12 V 50 W HAL, 12 V 100 W HAL, LED

Zubehör

Reflektoreinsätze, Zwischenstücke, Kreuztische,

Ergotuben, Infinity Space Camera Port

Axio Scope.A1

Nutzen Sie genau das Mikroskop, das Sie gerade brauchen

23

Einfacher, intelligenter, integrierter.

• Sie untersuchen große Proben zerstörungsfrei in einem Stück:

Variieren Sie Ihren Probenraum durch Zwischenstücke.

Mit Axio Scope.A1 erreichen Sie bis zu 110 mm Probenraum­

höhe, mit der Vario Säule sogar bis zu 380 mm.

• Durch 23 Stativvarianten und zahlreiche Schnittstellen

passen Sie Ihr Mikroskop Ihren Anforderungen an.

So sind Sie auf alles vorbereitet, was Ihre Arbeit auch in

Zukunft mit sich bringen wird.

• Konsequent schwingungsarm, basierend auf einer Grundplatte

aus Metall, erfüllt die spezielle Konstruktion der Stativsäulen

höchste Anforderungen an die Standfestigkeit.

Für Ihre Anwendungen geschaffen.

• Sie prüfen Gefüge großer Bauteile und analysieren Korngrößen,

Struktur, Phasen und Kornverteilung.

• Sie messen die Schichtdicken und den gleichmäßigen

Auftrag von Lacken. Sie bewerten die Oberflächenqualität

und erkennen Einschlüsse und Schmutzpartikel.

Dünnschicht-Solarzelle, Auflicht, Polarisationskontrast,

EC Epiplan-NEOFLUAR 50x/0,80

Kupfersulfatkristalle, Auflicht, PlasDIC,

A-Plan 10x/0,25 ∞/-

Schnelles und komfortables Imaging erleichtert die Analyse

Automatisierte Imaging-Systeme

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25

Automatisierte Imaging-Systeme

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SteREO Discovery.V12 und SteREO Discovery.V20

Brillante Bilder in 3D

Mit SteREO Discovery.V12 und SteREO Discovery.V20 profitieren

Sie von vielseitig verwendbaren, motorisierten Stereomikroskopen.

Umfangreiches Zubehör stattet Sie für Ihre individuellen Anfor­

derungen bestens aus. Wählen Sie zwischen Ergotuben,

Mitbeobachterbrücke­ und Foto­ und Fluoreszenzzwischentuben.

Sie arbeiten mit professionellen Komplettsystemen zur digitalen

Bildverarbeitung. Der große Arbeitsabstand lässt Ihnen Spielraum

für Ihre Proben.

Mit dem 20­fach Zoom von SteREO Discovery.V20 gewinnen

Sie an Flexibilität und wechseln von der Übersicht bis in kleinste

Details – brillant, kontrastreich, dreidimensional.

Konfigurieren Sie Ihr System.

Mikroskope

SteREO Discovery.V12 (motorisierter Zoom)

SteREO Discovery.V20 (motorisierter Zoom)

Beleuchtungsverfahren

Hellfeld, Dunkelfeld, Schräglicht, Polarisation, Fluoreszenz

Beleuchtungen

Faseroptische Kaltlichtquellen mit Spot­, Ring­, Linien­,

Vertikal­, Diffusor­, Flächen­ und Koaxialbeleuchtungen,

LED­Ringleuchten mit Segmentfunktion, faseroptische

sowie LED­Durchlichteinrichtungen.

Zubehör

Okulare, Okularstrichplatten, Kameraadapter, Binokular und Tri ­

no kulartuben, Foto­, Zeichen­, Fluoreszenz­ und Y­Zwischentuben

sowie Mitbeobachtereinrichtung, diverse Objektive Achromat S,

Plan S und PlanApo S, Tisch­ und Auslegerstative, manuelle und

motorische Fokussiersäulen, Gleit­ und Kugeltisch, 360°­Pol­Dreh­

tisch, Kreuz­ und Messtische, faseroptische und LED­Beleuchtungen

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Halbleiterelement, Auflicht-Dunkelfeld,

Objektiv: PlanApo S 1,5x, Vergrößerung: 125x

Halbleiter, Auflicht-Dunkelfeld,

Objektiv: PlanApo S 1x, Vergrößerung: 7,5x

Einfacher, intelligenter, integrierter.

• SteREO Discovery.V12 und SteREO Discovery.V20 arbeiten mit

einer elektronisch erzeugten Zoomsteuerkurve. Sie profitieren

von der präzisen Ansteuerung frei wählbarer Vergrößerungs­

posititonen mit einer Reproduziergenauigkeit des Abbildungs­

maßstabes von mehr als 99%.

• Durch den großen Zoombereich des Mikroskopkörpers realisieren

Sie mit SteREO Discovery.V20 auch hohe Vergrößerungen mit

kleineren Objektiven. Die damit verbundenen kleineren Stereo­

winkel verbessern den Raumeindruck des mikroskopischen Bildes.

Sie nehmen selbst kleinste Details sehr viel schneller wahr.

• SteREO Discovery bietet Ihnen ein breites Spektrum an Modulen

und Zubehörkomponenten. Für welchen Gerätetyp Sie sich

entscheiden, Sie haben jederzeit die Freiheit, Ihr System bedarfs­

gerecht auszubauen. Bis hin zu dem leistungsfähigsten Imaging­

System, das die Stereomikroskopie zu bieten hat.

• Mit dem Controlpanel SyCoP steuern Sie alle wesentlichen

Funktionen des Mikroskops. Schnell, präzise und reproduzierbar.

Ohne dabei den Blick vom Okular zu nehmen:

Ihre Aufmerksamkeit gilt dem Objekt.

Für Ihre Anwendungen geschaffen.

• Sie analysieren Lötstellen, Partikel und Artefakte auf

Leiterplatten.

• Sie erfassen wertvolle forensische Beweise, indem Sie

Munitionsteile, Werkzeugspuren, Dokumente, Fasern,

Lacke, Glas, Textilien und Haare analysieren.

• In der Pharmaindustrie testen Sie therapeutische Produkte,

analysieren deren Zusammensetzung und Qualität.

Automatisierte Imaging-Systeme

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Axio Zoom.V16

Ihr eZoom-Mikroskop für große Objektfelder

Ihr Axio Zoom.V16 ist das hochauflösende, apochromatische

On­Axis­Zoommikroskop von Carl Zeiss mit einem Vergrößerungs­

bereich von 16:1. Mit großen Arbeitsabständen und einem einzigen

Objektiv zoomen Sie von großen Objektfeldern bis zum kleinsten

Detail. Die besondere Stärke Ihres Axio Zoom.V16 sind große Kachel­

Bilder bei niedriger Vergrößerung zum automatischen Stitchen.

Durch die große Objektivapertur im Vergleich zu Stereomikroskopen

erzielen Sie gerade im unteren Vergrößerungsbereich eine deutlich

bessere Auflösung. Durch deutlich geringere Aufnahmezeiten er­

fassen Sie Ihre Bilder effizienter. Und Sie beschleunigen Ihre quan­

titative Analyse.

Konfigurieren Sie Ihr System.

Mikroskop

Axio Zoom.V16 (manueller Fokus)

Axio Zoom.V16 (Fokusmotor)

Beleuchtungsverfahren

Durchlicht: Hellfeld, Dunkelfeld, Schräglicht

Auflicht: Hellfeld, Dunkelfeld, Schräglicht, Fluoreszenz

Beleuchtung

Kaltlichtquellen CL 1500 Eco, CL 6000 LED, CL 9000 LED CAN

mit faseroptischen Spot­, Ring­, Linien­, Vertikal­, Diffusor­,

Flächen­ und Koaxial­Beleuchtungen.

VisiLED Ringleuchten mit Segmentfunktion.

Faseroptische sowie LED­ Durchlichteinrichtungen.

Zubehör

Gleittisch, Kreuztisch, HIP, MaRC, SyCoP 3

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Einfacher, intelligenter, integrierter.

• Ihr Axio Zoom.V16 kombiniert seinen 16­fachen Zoom mit hoher

Apertur und großem Arbeitsabstand: Schon im unteren bis

mittleren Vergrößerungs bereich erzielen Sie eine sehr hohe

Auflösung. In großen Objektfeldern erhalten Sie deutlich mehr

Informationen. Und das bis zu viermal

schneller und effektiver als mit konventionellen Mikroskopen.

• Ihr Axio Zoom.V16 nutzt eine motorische Irisblende.

Per Knopfdruck wählen Sie den Ideal­Modus für Ihre Anwendung

• Mit dem EpiRel­Kontrast Ihres Axio Zoom.V16 erfassen Sie

Höhen unterschiede im Hellfeld: Sie beleuchten Ihre Probe von

der Seite im koaxialen Auflicht. Helle und dunkle Flanken verleihen

Ihrem Objekt deutlich mehr Plastizität als im herkömmlichen

Hellfeld.

Für Ihre Anwendungen geschaffen.

• Sie analysieren den Gefügeaufbau (z.B. Phasen, Korngröße,

Texturen, Ausscheidungen) und Gefügefehler (z.B. Einschlüsse,

Poren, Lunker, Risse, Inhomogenitäten) Ihrer Bauteile.

• Sie erstellen Übersichtsaufnahmen kompletter Bauteile und

zoomen in kleinste Details ohne Objektivwechsel.

• Sie erfassen die Morphologie und inneren Strukturen Ihrer

Wafer.

Zündkerze: Inspektion von Funktionskeramikbauteilen; Analyse unterschiedlicher

Werkstoffgefügetypen wie zum Beispiel Porenausbildung in Isolatorkeramik,

leitfähige Verbundmaterialien, Stahl- und Kupferstifte

Kohlebürste: Großflächige Betrachtungen von Gefügeinhomogenitäten;

Verteilung leitender Phasen wie zum Beispiel Cu-Partikel und harter Phasen;

Visualisierung von Fertigungseinflüssen

Automatisierte Imaging-Systeme

30

Axio Imager und Axio Imager Vario

Navigieren Sie komfortabel

Sie sichern die Qualität und untersuchen unterschiedlichste

Materialien. Axio Imager 2 und Axio Imager Vario passen sich Ihren

Aufgaben an. Die leistungsstarken Imaging­Systeme sind leicht

zu bedienen und liefern verlässliche Ergebnisse. Alle wesentlichen

Komponenten sind kodiert und auf Wunsch motorisiert. Von der

Bildaufnahme über automatisierte Workflows bis zum komplexen

Scanning sind Ihre Aufgaben jederzeit präzise reproduzierbar.

Konfigurieren Sie Ihr System.

Mikroskop

Axio Imager.A2m (manuell, kodiert)

Axio Imager.D2m (teilweise motorisiert)

Axio Imager.M2m (teilweise motorisiert)

Axio Imager.Z2m (motorisiert)

Axio Imager Vario.A2 (manuell, kodiert mit motorisiertem Fokus)

Axio Imager Vario.Z2 (motorisiert)

Kontrastverfahren

Auflicht: Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, C­DIC, Polarisation, Fluoreszenz

Durchlicht: Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, PlasDIC, Polarisation, Phasen­

kontrast

Beleuchtung

Auflicht: 12 V, 100 W HAL und 12 V 100 W HBO, 12 V LED, 75 W XBO

Durchlicht: DL 12 V 100 W HAL und 12 V LED

Zubehör

Manuelle und motorische Kreuztische, 360°­Polarisations­Drehtische,

Scanningtische, Einlegeplatten und Objekthalter, Ergotuben,

Ergofototuben, Docking Station, MARC

31

Einfacher, intelligenter, integrierter.

• Die stabile und verwindungssteife Säule von Axio Imager Vario

verschafft Ihnen einen XXL­Probenraum für Werkstücke bis

zu 254 mm Höhe und 300 mm seitlicher Ausdehnung.

• Ihre Arbeitsabläufe lassen sich automatisieren, Sie messen

schnell und reproduzierbar.

• Die Kernelemente von Axio Imager wie Objektivrevolver,

Fokusführung und Tisch sind als Stabile Zelle vom Rest des

Stativs entkoppelt. Die gesamte Einheit ist praktisch

schwingungsfrei ausgelegt und unempfindlich gegenüber

thermischen Einflüssen.

• Die Objektivrevolver von Axio Imager bieten Platz für bis zu

sieben Objektive. Nutzen Sie die gesamte Normvergrößerungs­

reihe von 1­fach bis 100­fach.

• Mit Axio Imager Vario wird nicht die Probe, sondern der Objektiv­

revolver fokussiert. Vor allem bei schweren Proben haben Sie

somit eine hohe Fokussier­ und Wiederholgenauigkeit.

Für Ihre Anwendungen geschaffen.

• Sie untersuchen die Oberflächen von Solarzellen auf

Homogenität und Regelmäßigkeit der Struktur, auf Verteilung

und auf Spannungen und Mikrorisse.

• Sie bestimmen Partikel, Kratzer und Defekte bei Wafern.

• Sie finden Pixeldefekte bei TFT­Displays.

• Sie analysieren automatisiert metallische Gefüge.

• Sie führen Restschmutzanalysen automatisiert durch.

Monokristalline Silizium-Solarzelle, C-DIC,

EC Epiplan-APOCHROMAT 50x/0,95

TFT-Bildschirm im Durchlicht, Hellfeld,

EC Epiplan-APOCHROMAT, 10x/0,30

Automatisierte Imaging-Systeme

32

Silizium-Oberflächen:

Der Wirkungsgrad steigt mit der Homogenität

Photonen übertragen Kräfte. Wenn sie beim Auftreffen auf eine

Oberfläche Elektronen aus ihrer Bindung lösen, entsteht elektrischer

Strom – man spricht vom Fotoeffekt. Hersteller fotoelektrischer

Oberflächen betrachten Effizienz und Kosten­Nutzen­Verhältnis als

entscheidende Größen. Die Anforderungen an Reinheit und Güte

sind enorm. Mit Mikroskopie­Systemen von Carl Zeiss sichern

Solarspezialisten die Qualität ihrer Produkte.

In mono­ oder polykristalline Silizium­Oberflächen wird eine Struk­

tur geätzt, damit sie mehr Licht aufnehmen. Je gleichmäßiger die

Struktur, desto höher ist der Wirkungsgrad. Auf Vorder­ und Rück­

seite werden Metallkontakte aufgebracht. Die feinsten Kontakte

sind rund 120 Mikrometer breit und nur 20 bis 30 Mikrometer

hoch. Mit Ihrem Mikroskop erkennen Sie Topografie und Güte der

Verbindung. Als einer der letzen Arbeitsschritte bei der Herstellung

werden die Isolationsgräben gezogen – mechanisch oder mit

Laserlicht. Ihr ZEISS­Mikroskop erfasst, wie gleichförmig Ihre Iso­

lierung gearbeitet ist.

Solarzellen unter dem Mikroskop

Prüfen Sie die Mikrostruktur und verbessern Sie die Energieausbeute

Isolationsgraben einer monokristallinen

Silizium-Solarzelle, Axio Imager,

EC Epiplan-APOCHROMAT 20x/0,60

33

Dünnschichtzellen:

Präzision prüfen im Nanometer-Bereich

Dünnschichtzellen bestehen aus nur wenigen Mikrometer starken

Siliziumschichten auf Glasträgern. Wird der Träger erhitzt, bilden

sich Kristalle. Mit dem Mikroskop erfassen Sie Verteilung und

Ausrichtung der Kristalle. Sie erhalten Rückschlüsse zu Spannungs­

differenzen, und Sie untersuchen die kristallinen Siliziumschichten

auf Haarrisse. Im Hellfeld mit Auf­ und Durchlicht prüfen Sie die

Homogenität der Schichten. Die Schichtstärke beträgt nur einige

hundert Nanometer. An den Zellrändern misst ein konfokales

Mikroskop oder ein Lichtmikroskop mit Total Interference Contrast

die Schichtdicke einfach, präzise und berührungsfrei.

Das Zusammenspiel hunderter Zellen sorgt für die nötige Spannung.

Die Zellen werden mechanisch oder mit Laserlicht isoliert. Der Iso­

lationsgraben muss durchgängig und gleichmäßig tief sein. Mit

Ihrem Lichtmikroskop von Carl Zeiss prüfen Sie, ob er zuverlässig

trennt, die untere Schicht nicht verletzt und frei von Rückständen ist.

Oberfläche einer mono-

kristallinen Silizium-Solar-

zelle, Axio Imager,

EC Epiplan-APOCHROMAT

100x/0,95

Oberfläche einer Dünnfilm-

Solarzelle, Axio Imager,

Auflicht, Polarisation,

EC Epiplan-APOCHROMAT

50x/0,95

Silberfinger auf poly-

kristalliner Solarzelle,

Axio Imager,

EC Epiplan-APOCHROMAT

20x/0,60

Oberfläche einer Dünnfilm-

Solarzelle, Axio Imager,

Durchlicht, Polarisation

mit Lambda-Platte,

EC Epiplan-APOCHROMAT

50x/0,95

200 µm

20 µm

Automatisierte Imaging-Systeme

34

Nicht­metallische Einschlüsse beeinflussen die Eigenschaften von

Stahl. Die Kenntnis des Gefüges und die Identifikation von Ein­

schlüssen liefern Ihnen wichtige Informationen für Produkt­

entwicklung und Qualitätssicherung.

Die neue Norm EN 10247 sieht Standards vor, nach denen Sie die

Reinheit von Stahl automatisch erfassen. Die europaweite Richtlinie

setzt präzise Messergebnisse voraus.

Gemeinsam mit Stahlexperten hat Carl Zeiss eine vollautomatisierte

Bildanalyse entwickelt: Das System NMI. Damit greifen Sie jederzeit

auf exakt reproduzierbare Ergebnisse zu.

Konfigurieren Sie Ihr System.

Mikroskope

Axio Imager.M2m

Axio Imager.Z2m

Axio Observer.Z1m

Software

NMI (Bildanalyse), MosaiX (Bildaufnahme Scanningtisch)

Optional: weitere metallographische Module, z.B. Korngrößen­

analyse, Mehrphasenanalyse, Gusseisenanalyse, Richtreihen

Zubehör

AxioCam MRc

AxioCam MRm

System NMI

Analysieren Sie nicht-metallische Einschlüsse. Automatisch. Normgerecht.

35

Einfacher, intelligenter, integrierter.

• Reproduzierbarkeit: Die Stative Axio Imager.Z2m und

Axio Observer.Z1m arbeiten motorisch, die automatische Bild­

analyse sowie speicherbare Einstellparameter stehen für exakte

Reproduzierbarkeit.

• Arbeiten Sie gleichzeitig nach mehreren Normen:

Das System NMI misst nach den Normen DIN 50602, EN 10247,

ASTM E45, ISO 4967 und JIS G 0555 gleichzeitig. Sie profitieren

vor allem in der Übergangsphase von DIN 50602 zu EN 10247

vom Vergleich Ihrer Ergebnisse.

• Verschaffen Sie sich einen schnellen Überblick: Der Workflow

des Systems NMI passt sich Ihren Arbeitsabläufen in der Routine

an. Mit wenigen Klicks starten Sie die Analyse, erstellen Sie Ihren

Prüfbericht und archivieren Sie Ihre Ergebnisse. Das System prä­

sentiert Ihnen Ihre Kenngrößen auf einen Blick. Normspezifische

Verfahren sind übersichtlich dargestellt. Die Galerieansicht erfasst

die Einschlusstypen – Sie erhalten einen schnellen Überblick über

sulfidische, oxidische und globulare Einschlüsse. Interessante

Einschlüsse relokalisieren Sie per Mausklick.

Für Ihre Anwendungen geschaffen.

• Sie analysieren die Mikrostruktur von Stahl qualitativ

und quantitativ und bestimmen die Stahlreinheit.

• Sie untersuchen Gehalt und Verteilung nicht­metallischer

Einschlüsse basierend auf Farbe, Helligkeit, Form und

Anordnung.

• Sie bewerten Einschlüsse über Vergleiche mit Bildern

einer Richtreihe.

• Sie identifizieren Sulfide und Oxide präzise und

normgerecht.

Bei der Aufnahme von MosaiX Bildern werden große Einschlüsse vollständig

erfasst, bei der Einzelbildaufnahme könnten diese abgeschnitten werden.

Mit freundlicher Genehmigung der SKF GmbH, Schweinfurt

Sulfidische Einschlüsse in Stahl

Automatisierte Imaging-Systeme

36

Ihre Anforderungen an die Sauberkeit von Materialien steigen.

Sie tragen dieser Entwicklung Rechnung, beobachten immer

kleinere Partikel und analysieren Ihr Material wiederholt.

Particle Analyzer ist für die Praxis gemacht, für die Qualitäts­

kontrolle in der industriellen Routine. Sie identifizieren Partikel

lichtmikroskopisch anhand ihrer Morphologie. Ob ISO 16232,

VDA Band 19, ISO 4406/4407.

ParticleScan VP ist das Prozess­Analyse­Tool für Ihre Produktions­

umgebung: Die Partikelanalyse­Software SmartPI™ macht Ihr

ParticleScan­System zum Spezialisten für pharmazeutische Pulver

bis zu Stahleinschlüssen. Sie erhalten Aufschlüsse über die Material­

zusammensetzung der Partikel im nanoskopischen Bereich und

ziehen Rückschlüsse auf den Fertigungsprozess.

Konfigurieren Sie Ihr System.

Mikroskope

Axio Imager.M2m und Axio Imager.Z2m:

mit Scanningtisch Partikelgröße ab 2,5 µm

SteREO Discovery.V8 und SteREO Discovery.V12:

mit Scanningtisch Partikelgröße ab 25 µm

Rasterelektronenmikroskop: ParticleSCAN VP

Software

Particle Analyzer (Bildanalyse)

MosaiX (Bildaufnahme Scanningtisch)

Optional: GxP

SmartPI

Zubehör

AxioCam MRc

AxioCam MRm

AxioCam ICc

System Particle Analyzer

Untersuchen Sie kleinste Partikel im großen Stil

37

Einfacher, intelligenter, integrierter.

• Von den Kontrastverfahren, der Wahl der Objektive, der

Belichtungszeit der Kamera bis hin zu Beleuchtungseinstellungen:

Ihre motorischen Mikroskopsysteme stellen sicher, dass alle

Einstellungen korrekt gewählt sind. In Kombination mit der voll­

automatischen Bildanalyse in AxioVision erhalten Sie jederzeit

reproduzierbare Ergebnisse – sicher und zuverlässig.

• Die Galerieansicht bietet einen schnellen Überblick über die

reflektierenden, nicht­reflektierenden und faserförmigen Partikel.

Interessante Partikel relokalisieren Sie so schnell.

• In Kombination mit einem Röntgenstrahlen­Analyse­System

messen, klassifizieren und dokumentieren Sie Größe, Form und

chemische Zusammensetzung Ihrer Partikel­Proben.

Für Ihre Anwendungen geschaffen.

• Überprüfung der Bauteilsauberkeit: Sie bestimmen den

Restschmutzgehalt auf Bauteilen nach Reinigung normgerecht

und automatisch bzgl. Anzahl, Größe, Morphologie, Typ

(reflektierend, nicht­reflektierend, Fasern) nach ISO 16232, VDA 19.

• Sie bestimmen den Restschmutzgehalt in Frisch­ und

Gebrauchtölen sowie in Schmierstoffen normgerecht und auto­

matisch bzgl. Anzahl, Größe, Morphologie, Typ (reflektierend,

nicht­reflektierend, Fasern) nach ISO 4406/4407.

• Druckgussbauteile inspizieren Sie auf herstellungsbedingte

Fehler wie Poren, Lunker und Hohlräume vollautomatisch bzgl.

Anzahl, Größe und Flächenanteile.

• In der Pharmaindustrie, Medizintechnik sowie der Chemischen

Industrie detektieren und bestimmen Sie Objekte und Strukturen

vollautomatisch bzgl. Anzahl, Größe und Morphologie.

Reflektierende, nicht-reflektierende Partikel, Polymere und Fasern auf Filtermembran

Mikroskop: Axio Imager.Z2m

Objektiv: EC Epiplan-NEOFLUAR 10x/0,25

Kamera: AxioCam MRc 3

Klassifikation der Partikel anhand ihrer Elementzusammensetzung

und Morphologie

Automatisierte Imaging-Systeme

38

Mit den Rasterelektronen­Mikroskopen der EVO­Serie genießen

Sie ein Maximum an Freiheit: Sie nutzen genau die zu Ihren bild­

gebenden und analytischen Verfahren passenden Detektoren,

Kammergrößen und Probentische – auch bei Ihren In­situ­

Experimenten. Sie wählen aus drei Strahlquellen und einer um­

fassenden Palette an Zubehör.

Sie betrachten und analysieren Ihre elektrisch leitenden und nicht­

leitenden Proben. Druck und Restfeuchte stellen Sie variabel ein.

Die High­Definition­Technologie brilliert mit stark verbesserter Bild­

gebung und Analytik. Bei niedriger Beschleunigungs­Spannung

sorgt sie für oberflächensensitive Abbildung mit hohem Material­

kontrast. Sie erfassen deutlich mehr Details und erhalten reprodu­

zierbare Daten.

Konfigurieren Sie Ihr System.

Auflösung

3 nm (2 nm) @ 30 kV SE und W (LaB6)

4,5 nm @ 30 kV BSD (VP Modus)

15 nm @ 30 kV 1 nA

20 nm (15 nm / 8 nm) @ 1 kV SE und W (LaB6 / HD)

10 nm (5 nm) @ 3 kV SE und W (HD)

Beschleunigungsspannung

0,2 – 30 kV

Vergrößerung

< 7 – 1.000.000 x / < 5 – 1.000.000 x

Röntgenstrahlenparameter

8,5 mm WD / 35° TOA

Druckbereich

10 – 400 Pa

Verfügbare Detektoren

BSD, ETSE, VPSE, SCD

EVO MA und EVO HD

Rasterelektronen-Mikroskopie für Ihre anspruchsvollen Proben

39

Einfacher, intelligenter, integrierter.

• Die analytische Plattform macht Ihr System besonders vielseitig:

Sie wählen aus drei Kammergrößen.

• Die langen Verfahrwege des Probentisches ermöglichen

Ihnen die Arbeit mit großen Proben.

• Dank EasyVP wechseln Sie schnell zwischen Hochvakuum

und variablem Druck.

• Mit dem SmartSEM® Interface bedienen Sie Ihr System

leichter und Sie arbeiten produktiver.

• Ihr System ist zukunftssicher und jederzeit erweiterbar:

Sie ergänzen Ihr System mit Detektoren künftiger Generationen.

Für Ihre Anwendungen geschaffen.

• Sie analysieren Autolacke.

• Sie prüfen die Sauberkeit im Produktionsprozess.

• Sie betrachten Einschlüsse in Stählen.

• Sie arbeiten forensisch und bewerten Schmauchspuren

und Schlagbolzenabdrucke in Patronenhülsen.

• Sie untersuchen Glühlampen und Farbschichten

nach Autounfällen.

• Sie erfassen Edelmetalle in Gesteinsproben und Aushub.

• Bei der Suche nach fossilen Brennstoffen erhalten Sie

wertvolle Informationen aus Bohrkern­Untersuchungen.

Hartmetall Stellit abgebildet bei 1 kV mit dem SE Detektor im EVO® HD Schaltkreis eines Halbleiters, aufgenommen bei 20 kV mit dem SE Detektor

Automatisierte Imaging-Systeme

40

Ihr Feldemissions­Rasterelektronenmikroskop SIGMA erzielt bei

jedem Material herausragende Abbildungen und Analyse­Ergebnisse.

Das System setzt auf die bewährte GEMINI®­Technologie, die auf

Ihre analytischen Anwendungen zugeschnitten ist: SIGMA ist

einfach zu bedienen und einzigartig in der Bildgebung bei Nieder­

spannung – das System erfasst Ihre Probe mit stabilen Sonden­

strömen.

SIGMA ist mit variabler Drucktechnologie verfügbar. Sie erhalten

außergewöhnliche präzise Bild­ und Analyse­Ergebnisse selbst bei

Ihren nicht­leitenden Proben. Das Feldemissions­Rasterelektronen­

mikroskop ist mit einer Vielzahl von Zubehör kompatibel – zum

Beispiel mit zahlreichen Detektoren für beeindruckenden Kontrast.

Konfigurieren Sie Ihr System.

Auflösung

1,3 nm @ 20 kV

1,5 nm @ 15 kV

2,8 nm @ 1 kV

2,5 nm @ 30 kV (im VP Modus)

Beschleunigungsspannung

0,1 – 30 kV

Sondenstrom

4 pA – 20 nA (100 nA optional)

Vergrößerung

12x – 1.000.000x

Elektronenemitter

Thermische Feldemission

Standarddetektoren

In­lens SE Detektor, ETSE Detektor, VPSE Detektor (im VP Modus)

SIgMA

Bildanalyse mit Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopen

Sekundär-Elektronenbild der Oberfläche einer Solarzelle Chrombeschichtete Polymerfolie, aufgenommen mit 5 kV.

Mit freundlicher Genehmigung der Universität von Brighton

41

Einfacher, intelligenter, integrierter.

Analytische Plattform

• SIGMA erlaubt simultane EDS und EBSD Analysen.

• Der Universal­WDS­Port gehört bei SIGMA zum Standard:

Ihr System bleibt offen für Erweiterungen.

• Mit dem erweiterten Verfahrweg analysieren Sie auch Ihre

großen Proben bis 250 mm Durchmesser und 145 mm Höhe.

• Sie untersuchen Ihr Material hochauflösend mit präziser

Röntgenstrahlen­Geometrie für EDS und WDS.

Beste Abbildungsqualität durch gEMINI Technologie

• Sie nutzen In­lens­ und SE­Detektion für echte Oberflächenanalyse.

• Strahlempfindliche und nicht­leitende Proben stellen Sie

bei niedrigen Spannungen exzellent dar.

• Ihre magnetischen Proben untersuchen Sie mit GEMINI®­

Objektiven: Ihre Abbildungen sind frei von Verzerrungen.

Für Ihre Anwendungen geschaffen.

• Sie analysieren Ihre Materialien in­situ bei erhöhten Temperaturen,

um die Prozesse beim Erwärmen und Abkühlen besser zu

verstehen – beispielsweise beim Sintern, bei der Rekristallisation,

bei der Korngrenzenmigration und der Phasentransformation.

• Ihre mikroelektronischen Bauteile werden immer kleiner.

Sie analysieren im Nanometerbereich.

• Sie bewerten Lagerstätten von Bodenschätzen in der Öl­ und

Gasindustrie: Mit Hilfe der chemischen Analyse treffen Sie

quantitative und qualitative Aussagen zu Dichte, Bestandteilen

und Reinheit.

• Sie betrachten als Forensiker eine große Materialpalette von

hoher bis niedriger Auflösung mit außergewöhnlicher Schärfen­

tiefe. Ihre Element­Analysen liefern wertvolle Hinweise zur

Herkunft von Materialien und damit stichhaltige Beweise –

zum Beispiel bei Schussrückständen und Waffen, Edelsteinen

und Schmuck, Lacken und Fasern, Papieren und Fälschungen.

Verbinden Sie die Mikro­ mit der Nano­Welt

Korrelative Mikroskopie

42

43

Korrelative Mikroskopie

44

Kombinieren Sie die optischen Kontrastverfahren Ihres Lichtmikroskops

mit den analytischen Methoden Ihres Elektronenmikroskops. Gewinnen

Sie Informationen über Struktur und Funktion Ihrer Probe.

Das Softwaremodul Shuttle & Find sorgt für einen einfach zu

bedienenden, produktiven Workflow zwischen Ihrem Licht­ und

Ihrem Elektronenmikroskop.

Mit Ihrem Lichtmikroskop erfassen und markieren Sie interessante

Stellen Ihrer Probe. Über Shuttle & Find und den speziellen Proben­

halter relokalisieren Sie die Stelle anschließend im Elektronen­

mikroskop. Dort lösen Sie das Abbild Ihrer Probe mehr als doppelt

so hoch auf und untersuchen Ihr Material umfassend weiter.

Absolut reproduzierbar.

Shuttle & Find

Das Beste aus Licht- und Elektronenmikroskopie auf den Punkt gebracht

Konfigurieren Sie Ihr System.

Mikroskope

Lichtmikroskope: Axio Scope.A1, Axio Imager.M2m,

Axio Imager.Z2m, Axio Observer.Z1, SteREO Discovery

Elektronenmikroskope: EVO®, SIGMA, SUPRA, ULTRA,

MERLIN®

Software

Lichtmikroskope:

AxioVision, Modul Shuttle & Find

Elektronenmikroskope:

SmartSEM, AxioVision, Modul Shuttle & Find

Zubehör

Adapter

Probenhalter

45

Einfacher, intelligenter, integrierter.

• Mehr Produktivität: Mit nur wenigen Klicks relokalisieren Sie

interessante Probenstellen innerhalb der beiden Mikroskopsysteme.

Im Lichtmikroskop markierte Probenstellen speichert Shuttle &

Find in Kombination mit deren Koordinaten. So finden Sie sie im

Elektronenmikroskop innerhalb weniger Sekunden.

• Mehr Information: Aufgrund der zahlreichen optischen Kontrast­

verfahren gewinnen Sie mit Lichtmikroskopen Informationen

über Größe, Morphologie und Farbe Ihrer Probe. Mit Elektronen­

mikroskopen erweitern Sie Ihre Kenntnisse um Details zur Struk­

tur sowie der chemischen Materialzusammensetzung. Und das

mit bis in den Nanometerbereich gesteigerten Auflösung.

• Mehr Sicherheit: Durch die vollautomatische Bildanalyse

erhalten Sie zuverlässige und reproduzierbare Ergebnisse.

Für Ihre Anwendungen geschaffen.

• Bei Ihren Restschmutzanalysen in der Automobilindustrie

typisieren Sie metallische und nichtmetallische Partikel im Licht­

mikroskop. Interessante Partikel identifizieren Sie umfassend

im Elektronenmikroskop

• Sie prüfen die Reinheit von Stahl: Anhand von Farbe und

Form identifizieren Sie Sulfide, Oxide und Silikate im Licht­

mikroskop. Untypische Einschlüsse charakterisieren Sie über

die chemische Zusammensetzung mit Hilfe der Röntgen­

Spektroskopie im Rasterelektronen­Mikroskop.

• Der präzise, schnelle und zuverlässige Workflow steigert

die Produktivität Ihrer Nanofabrikation. Sie arbeiten mit beiden

Mikroskopsystemen hochgradig automatisiert und effektiv.

So reduzieren Sie Ihre Zykluszeiten und steigern Ihren

Durchsatz erheblich.

Lichtmikroskopische Aufnahme einer ADI Probe,

Vergrößerung: 400:1

BSE Aufnahme der selben Probenstelle;

Die Mikrostruktur ist deutlich sichtbar

Korrelative Mikroskopie

46

Merkmale charakterisieren und quantifizieren

Die Weiterentwicklung von Stromspeichern hilft uns, erneuerbare

Energien wirkungsvoller einzusetzen. Lithium­Ionen­Akkumulatoren

stehen mit ihrer hohen Energiedichte und einem Wirkungsgrad

von 90 Prozent ganz oben auf der Liste. Ihre Materialien unter­

liegen Diffusionsprozessen – Mikrostrukturen geben uns wertvolle

Hinweise auf die Zusammenhänge von Batterie­Design und Leistung.

Die korrelative Mikroskopie leistet einen entscheidenden Beitrag

zur Erforschung der Akku­Materialien: Die quantitative Gefüge­

analyse gibt Aufschluss über morphologische Eigenschaften der

Aktivmaterialien, den inneren Aufbau, die Geometrie sowie Zell­

designparameter. Sie macht Unregelmäßigkeiten innerhalb und an

den Übergängen zwischen den verschiedenen Schichten sichtbar.

Lichtmikroskope geben Auskunft über die Oberflächenstruktur, das

optische Erscheinungsbild und Schadstellen. Im Anschluss erfasst

das Elektronenmikroskop Größe und Form von Teilchen und deren

chemische Zusammensetzung.

Struktur- und Komponentenanalyse von Li-Ionen-Batterien

Analysieren Sie Li-Ionen-Batterien mit Shuttle & Find

a)

47

Schneller und intelligenter – Workflow mit Shuttle & Find

Shuttle & Find beschleunigt die Analyse mit Licht­ und Elektronen­

mikroskopie an ausgewählten Regionen Ihrer Probe signifikant.

Sie untersuchen deutlich mehr Proben und verkürzen Ihre Entwick­

lungszyklen. Sie profitieren von der systematischen Auswertung

Ihrer Bilddaten aus beiden Mikroskopie­Welten.

Shuttle & Find ist kompatibel mit Ihrer CrossBeam®­Workstation:

Sie übernehmen Ihre Probe komfortabel und erhalten zusätzliche

Details zur Analyse. Mit Focused Ion Beam (FIB) erfassen sie Struk­

turen in 3D. Feine Lamellen untersuchen Sie in hoher Auflösung

mit Transmissions­Elektronenmikroskopie (TEM) und Elektronen­

Energieverlustspektroskopie (EELS), bei der Sie Erkenntnisse übe

die lokale Verteilung des Lithiums erhalten.

CLEM einer interessierenden Probenstelle

a) mit verschiedenen lichtmikroskopischen

Kontrastverfahren wie b) Hellfeld und

c) Polarisationskontrast sowie d) BSE Signal

und e) EDS-Kartierung aus dem Elektronen-

mikroskop

40 µm b)

d)

c)

e)

Bringen Sie Oberflächen­Strukturen dreidimensional ans Licht

Topografie und 3D-Messtechnik

48

49

Topografie und 3D-Messtechnik

50

Axio CSM 700

Betrachten Sie 3D-Topografien in Echtfarben

Mit dem Echtfarben­Konfokalmikroskop Axio CSM 700 erstellen

Sie Ihre 3D­Topografien in hoher Auflösung. Sie arbeiten zer­

störungsfrei und sparen sich zeitraubende Probenvorbereitung.

Berührungslos vermessen Sie Oberflächen mit über 100 Aufnahmen

pro Sekunde. Sie messen Rauheit, bestimmen Schichtdicken,

untersuchen Partikel und protokollieren Ihre Ergebnisse digital.

Aus Ihren Messwerten schließen Sie auf Oberflächenbeschaffen­

heit, Farbe und Glanz.

In Ihren Multilayer­Proben und semi­transparenten Materialien

erfassen Sie mit Axio CSM 700 auch die Strukturen unterhalb

der Oberfläche – zum Beispiel Inhomogenitäten, Hohlräume,

Einschlüsse und Schnittstellen.

Konfigurieren Sie Ihr System.

Mikroskop

Axio CSM 700

Echtfarben­Konfokalmikroskop

Beleuchtung

Xenon­Leuchte (400 bis 700 nm)

Zubehör

Scanning­Tisch mit 6­Zoll­XY­Verfahrweg, flacher Auflage

oder Wafer­Halterung, optionaler Vakuum­Fixierung

und optionaler 12­Zoll Wafer­Halterung mit Vakuum­Fixierung

51

Bohrkopf, 3D-Topografie in Echtfarben,

EC Epiplan-NEOFLUAR 50x/0,80

Polymerfolie mit rauer Kante auf Metallsubstrat, Multilayer 3D-Ansicht,

EC Epiplan-NEOFLUAR 20x/0,50

Einfacher, intelligenter, integrierter.

• Sie erfassen Topografien präzise und schnell: in der Regel

nehmen Sie einen vollständigen Z­Stapel in Echtfarben

in weniger als 30 Sekunden auf. Das erleichtert Ihre tägliche

Arbeit und erhöht Ihre Produktivität.

• Sie erhalten bis zu 100 Aufnahmen pro Sekunde und

untersuchen berührungslos.

• So analysieren Sie auch Polymere, die zu weich sind,

um berührend gemessen zu werden.

• Sie verfügen über zahlreiche Analyseoptionen: Rauheits­

messungen, Schichtdickenbestimmung, Partikelanalyse,

laterale Messungen, Höhenmessungen und Messungen

von Volumen, Winkel und Traganteilen.

• Nutzen Sie Spacer­Systeme für zusätzlichen Probenraum

in Z­Richtung – beim manuellen Tisch insgesamt 123 mm.

Für Ihre Anwendungen geschaffen.

• Sie messen Rauheiten und detektieren Höheninformationen

von ca. 20 nm Stufenhöhe bis in den Millimeterbereich in einer

vibrationsfreien Umgebung nach DIN EN ISO 4287 in weniger

als 1 Minute.

• Messen Sie Radien und Winkel von metallischen Bauteilen im

Mikrometerbereich ganz einfach. Um die Lebensdauer zu ver­

bessern und die Menge an Schmiermitteln zu reduzieren kann

die Rauheit von kleinen Flächen und Profilen analysiert werden.

Ra Werte von 0,1 µm und höher messen Sie reproduzierbar und

dreidimensional.

• Messen Sie die Dicke transparenter Schichten schnell und

berührungslos. Ziehen Sie aus den Messwerten Rückschlüsse

auf die Oberflächenbeschaffenheit, Farbe, Glanz und andere

Eigenschaften.

• Erfassen Sie Strukturen unterhalb der Oberfläche in Schichten:

Inhomogenitäten, Hohlräume, Einschlüsse.

Topografie und 3D-Messtechnik

52

Mit der Metrotomografie verschmelzen Sie die Tomografie mit der

Metrologie. Röntgenstrahlen durchleuchten Ihr Werkstück. Je nach

Werkstückgeometrie und Materialdichte wird die Strahlungsenergie

im Bauteil absorbiert. Berechnen Sie die Projektionen des konti­

nuierlich um 360 Grad gedrehten Bauteils zu einem 3D­Volumen­

modell. Nutzen Sie dieses Model als Basis für unterschiedliche

zerstörungsfreie Analysen. Die Analysen und Auswertungen lassen

Sie direkt in Ihren Qualitätsprozess einfließen.

Konfigurieren Sie Ihr System.

Messbereich

Ø x h 125 x 150 (420) mm

Detektor

1536 x 1920 Pixel

Röhre

130 kV / 39 W

Auflösung

4 μm

Messunsicherheit

(VDI/VDE 2630): 8 μm +L/100

Metrotom 800

Analysieren Sie Ihr Werkstück umfassend: dreidimensional und zerstörungsfrei.

Geometrievergleich: Die farbgrafische Darstellung zeigt die Bereiche,

die innerhalb und außerhalb der Toleranz sind

Defektanalyse: Lunker werden automatisch gefunden

und qualitativ und quantitativ ausgewertet

53

Einfacher, intelligenter, integrierter.

• Erzeugen Sie extrem scharfe 2D­ und 3D­Bilder mit der

Röntgenquelle zusammen mit dem hochauflösenden,

empfindlichen Detektor.

• Je nach Anforderung benötigen Sie für die Tomografie und

die Auswertung nur wenige Minuten. Automatisieren

Sie diesen Prozess, gewinnen Sie weitere wertvolle Zeit.

• Mit einer Tomografie führen Sie mehrere unterschiedliche

Auswertungen durch.

Für Ihre Anwendungen geschaffen.

• Sie zoomen in Werkstücke hinein, um die

Glasfaserverteilungen zu sehen.

• Sie finden Porositäten und Lunker in Ihren Bauteilen.

• Sie überprüfen den korrekten Zusammenbau Ihrer Teile.

• Sie analysieren komplexe Bauteile zerstörungsfrei.

Mikroskop-Kameras

54

AxioCam

Color

Die detailgetreue Dokumentation Ihrer Analyseergebnisse ist

wichtiger Bestandteil Ihrer täglichen Arbeit. Kontrastreiche Bilder

geben Ihnen Aufschluss über die Güte Ihrer Bauteile.

Schnelle Aufnahmezeiten garantieren effiziente Prozesse.

AxioCam Mikroskopkameras von Carl Zeiss bieten Ihnen auf

Ihre Anwendungen zugeschnittene Lösungen.

AxioCam ICc 1

CCD

1,4 Megapixel

AxioCam ICc 5

CCD

5 Megapixel

AxioCam MRc

1,4 Megapixel

AxioCam MRc 5

5 Megapixel

55

AxioCam

Monochrom

AxioCam ERc 5s

CMOS

5 Megapixel

AxioCam HRc

13 Megapixel

AxioCam ICm 1

CCD

1,4 Megapixel

AxioCam MRm

CCD

1,4 Megapixel

Modus für zusätzlich ge steigerte

Empfindlichkeit im nahen IR

57

Sie arbeiten hart – wir sorgen dafür, dass Ihr Mikroskop mit Ihnen Schritt hält

Qualität, Zeit, Kosteneffizienz – Kenngrößen, die Ihren Alltag bestimmen. Ihr ZEISS

Mikroskop fügt sich nahtlos selbst in Ihren anspruchsvollsten Workflow. Es liefert Ihnen

Erkenntnisse auf dem Weg zu noch mehr verlässlicher Sicherheit: Tiefgehend. Umfassend.

Reproduzierbar. Und das über seinen gesamten Lebenszyklus hinweg. Dafür sorgen wir

mit dem Life Cycle Management von Carl Zeiss.

Das Life Cycle Management von Carl Zeiss begleitet Ihr Mikroskop

Das Life Cycle Management von Carl Zeiss steht hinter unseren Lösungen über den

kompletten Lebenszyklus Ihres ZEISS Mikroskopsystems. Schon in der Anschaffungsphase

unterstützen wir Sie mit Site Surveys, damit die Raumumgebung optimal auf Ihr Mikro­

skopsystems abgestimmt ist. Während der Betriebsphase kommen Support für Relocations

und Life Time Extensions dazu. In der Phase von Neuinvestitionen kümmern wir uns um

Rückkauf, Abbau und Entsorgung nicht mehr benötigter Systeme. Verlassen Sie sich jeder­

zeit auf unsere klassischen Serviceleistungen: Unsere Mitarbeiter analysieren Ihren System­

Status und beheben jede Störung per Fernwartung oder direkt bei Ihnen vor Ort.

Qualifizieren Sie Ihr Team für Qualität

Fordern Sie die Unterstützung unserer Anwendungsspezialisten für genau Ihre Aufgaben.

Nutzen Sie unsere Trainings für Ihre Kollegen und Mitarbeiter, die an Ihrem ZEISS Mikroskop

arbeiten.

Kontrollieren Sie Kosten und Konditionen

Ihr Servicevertrag ist auf Sie zugeschnitten: Sie nutzen Ihr Mikroskopsystem von Carl Zeiss

mit allen seinen Möglichkeiten, optimieren Ihre Investitionen und planen die Folgekosten.

Sie wählen aus verschiedenen Service­Stufen von Preventive Maintenance Plus über den

Advanced Vertrag, der selbst Arbeitszeiten und Ersatzteile beinhaltet, bis hin zum Premium

Vertrag, der Ihnen Dienstleistungen wie höchste Priorität bei der Bearbeitung von System­

ausfällen zusichert. Auf Wunsch passen wir sogar die Oberfläche der System­Software von

Carl Zeiss speziell für Ihre wiederkehrenden Messungen an, um Ihre Prozesse zu verkürzen,

Fehler zu minimieren und Ihre Qualität noch weiter zu verbessern.

Dienst und Leistung

für Ihr Mikroskopsystem von Carl Zeiss

ZEISS Moments haben mit Leidenschaft zu tun. Es ist

diese Leidenschaft, mit der wir Ihr ZEISS­Mikroskop

warten, optimieren und auf dem neuesten Stand halten –

damit Ihre Arbeit systematisch zum Erfolg führt.

// erKennTnis made by Carl zeiss

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Wie werden Ärzte ihre Patienten künftig behandeln? Welche Rolle spielen Fotos und

Videos in der Kommunikation von morgen? Wie weit kann man die Miniaturisierung von

Halbleiterstrukturen vorantreiben? Diese und viele weitere Fragen sind es, die Carl Zeiss

täglich antreiben.

Als Pionier und eine der global führenden Unternehmensgruppen der Optik und Opto­

elektronik fordert Carl Zeiss seit jeher die Grenzen der Vorstellungskraft heraus.

Medizintechnik von Carl Zeiss setzt mit seinen Produkten und Lösungen weltweit Maß­

stäbe: So profitieren Ärzte als auch Patienten von den innovativen Technologien wie etwa

dem Bestrahlungsgerät INTRABEAM™. Brustkrebspatientinnen erfahren dadurch eine

deutlich schonendere und kürzere Behandlung.

Gestochen scharfe Bilder auf der Kinoleinwand bei der „Herr der Ringe“, der erfolg­

reichsten Filmtrilogie aller Zeiten, oder das präzise Bild, das ein Naturbeobachter durch

sein Fernglas oder Spektiv erhält, Carl Zeiss macht faszinierende Details sichtbar.

Wo Präzision gefragt ist, sichern Lösungen der industriellen Messtechnik von Carl Zeiss

höchste Qualitätsstandards: So werden Flugzeuge sicherer, Autos besser und Windkraft­

anlagen – die Zukunft der Energieversorgung – effizienter.

Pro Sekunde entscheiden sich zwei Menschen auf der Welt für Brillengläser von Carl Zeiss.

Mit Dynamik und Weitsicht entwickelt Vision Care neuartige Gläser, wie MyoVision™,

das die Verschlechterung von Kurzsichtigkeit bei Kindern reduziert.

Diese besondere Leidenschaft für Spitzenleistungen verbindet alle Unternehmensbereiche.

So schafft Carl Zeiss Kundennutzen und inspiriert die Welt, Dinge zu sehen, die ihr bisher

verborgen waren.

Der Moment, in dem Sie etwas sehen,dass Ihnen bisher verborgen war. Für diesen Moment arbeiten wir.

// anerKennUnG made by Carl zeiss

Der Moment, in dem Ihr Ergebnis der Fachwelt die Augen öffnet. Für diesen Moment arbeiten wir.

Carl Zeiss Microscopy gmbH 07745 Jena, Germany

Materialsmicroscopy@zeiss.comwww.zeiss.com/microscopy

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