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18e CONGRÈS INTERNATIONAL DE MÉTROLOGIE
CIM2017
MESURER POUR INVENTER LE FUTUR
www.cim2017.com [email protected]
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Pierre CLAUDELMiruna DOBRECo-présidents du Congrès
Pascal MELETDirecteur du Salon Enova
Le CIM est un évènement unique à la croiséedes chemins entre R&D et applicationsindustrielles. Il rassemble en un même lieuceux qui font la mesure et la métrologied’aujourd’hui et de demain et ceux qui,concrètement, l’exploitent ou vont l’exploiter.Cette édition mettra aussi en lumière lerôle de la mesure dans une industrie et deslaboratoires toujours plus robotisés, toujoursplus numérique, toujours plus connectés,sans oublier l’évolution majeure du SystèmeInternational d’unités qui se profi le pour 2018.Vous souhaitez :• améliorer vos processus de mesure,d’analyse et d’essais, et mieux maîtriserleurs risques,• suivre les évolutions des techniques,les avancées R&D et découvrir desapplications industrielles pratiques.Alors venez piocher dans les nombreux sujetsselon votre centre d’intérêt : du très pratiquedans les tables rondes, à plus d’expertise danscertaines sessions.La traduction simultanée est fournie pourtoutes les conférences orales. Pour les postersvous pouvez échanger directement avec leconférencier. Enfi n tous les acteurs du secteurse retrouvent sur place : l’occasion est idéalepour trouver les « bonnes personnes »et les « bonnes solutions » très rapidement.Bref construire son réseau.
De l’idée au produit fini, en passantpar le prototypage, ENOVA, plateformede convergence des technologiesde l’électronique, de la mesure,de la vision et de l’optique, fédère lesacteurs de l’industrie et de la rechercheà l’affut de solutions innovantes,quels que soient leurs domainesd’activité. Aéromil, automobile, médical,agri-alimentaire…. les entreprises, star-tups, centres de recherche, universités,pôles industriels et scientifiques, trouventsur ENOVA un espace convivialde rencontres et d’échanges,qui favorise le dialogue direct entre ceuxqui recherchent les solutions et produitsles plus performants et ceux qui lesconçoivent. Notamment en matièrede systèmes embarqués, d’IoTet de solutions liées à l’industriedu futur. Toutes les briques technologiquesnécessaires aux innovations de demainse trouvent dès aujourd’hui sur ENOVA !L’association entre ENOVA et le CongrèsInternational de Métrologie permetde trouver sur un même lieu et auxmêmes dates une offre complète et large.Bienvenue et bonne visite à tous !
18e CONGRÈS INTERNATIONAL DE MÉTROLOGIE
CIM2017LES PARTENAIRES & SPONSORS
LES ORGANISATEURS
LES PARTENAIRES PRESSE
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COMITÉ D’ORGANISATION
COMITÉ SCIENTIFIQUE ET TECHNIQUE
CONTACT
PRÉSIDENTPierre CLAUDEL - CETIAT (France) / Miruna DOBRE - SPF Economie (Belgique)
PRÉSIDENTMme DEL CAMPO - CEM (Espagne) / M. FILTZ - LNE (France)
MEMBRESMartine BLUM - EA (France)Maguelonne CHAMBON - LNE (France)Cosimi CORLETO - STIL (France)François DAUBENFELD - PSA Group (France)Gérard ECOTIERE - A3P (France)Jean-Rémy FILTZ - LNE (France)Pierre GOURNAY - BIPMFrançois HENNEBELLE - Université de Bourgogne (France)Carol HOCKERT - NIST (USA)Jenny HULLY - NPL (Royaume-Uni)
MEMBRESM. ALLARD, Mme CHAMBON, M. ERARD,M. PIQUEMAL - LNE (France)Mme BATISTA, Mme GODINHO - IPQ (Portugal)Mme BELL, M. BROWN, Mme HULLY,M. MACHIN - NPL (Royaume-Uni)M. BENHAMOU - CT2M (France)M. BRANDI - INMETRO (Brésil)Mme CARE - CETIAT (France)M. COOREVITS - Arts & Métiers Paris Tech (France)Mme MEDINA - CEM (Espagne)Mme DOBRE - SPF ECONOMIE (Belgique)M. FERNICOLA, Mme SEGA - INRIM (Italie)M. GOURNAY, M. RATEL - BIPMM. GUERDAT - Montres Rolex (Suisse)M. GUETTLER - PTB (Allemagne)M. HENNEBELLE - Université de Bourgogne (France)M. HIMBERT - LNE-LCM-CNAM (France)
Mme HOCKERT - NIST (USA)Mme LANGLOIS-BERTRAND - AFNOR (France)M. LARQUIER - BEA Métrologie (France)M. LELONG - PSA Group (France)M. MASOERO - Université de Turin (Italie)M. MATAMOROS, M. MENDEZ - CENAM (Mexique)M. MILOSEVIC - VINCA (Serbie)Mme PARKES - LGC (Royaume-Uni)M. PENIN - Norma System (France)M. PERNOT - CNRS (France)M. PETERSEN - DFM (Danemark)M. PRIEL - ip (France)M. RIETVELD - VSL (Pays-Bas)Mme SALVETAT - Ifremer (France)M. SMID - CMI (République Tchèque)M. VILLAMANAN - Université de Valladolid (Espagne)
Daniel JULLIEN - Hexagon Manufacturing Intelligence (France)Sébastien LABORDE - COFRAC (France)Bernard LARQUIER - BEA Métrologie (France)Pete LOFTUS - Rolls Royce (Royaume-Uni)Audrey MALACAIN - EA (France)Claunel MASSIES - Wika (France)Antonio MAZZEI - Metro-Logix (France)Francis RICHARD - Trescal (France)Anne TRUMPFHELLER - EURAMET (Allemagne)Martine VAN NUFFELEN - IMPLEX (France)Laurent VINSON - COFRAC (France)
Collège Français de Métrologie✆ 33 (0)4 67 06 20 [email protected] - www.cim2017.com
Le Village Métrologie du CIM 2017 est mis en place au sein d’ENOVA Paris. Véritable cœur du Congrès, le Village rassemble les exposants qui souhaitent se rapprocher de la thématique Métrologie et complète l’offre Electronique, IoT, Prototypage, Mesure, Vision et Optique d’ENOVA Paris.
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COMITÉ D’ORGANISATION
COMITÉ SCIENTIFIQUE ET TECHNIQUE
CONTACT
PRÉSIDENTPierre CLAUDEL - CETIAT (France) / Miruna DOBRE - SPF Economie (Belgique)
PRÉSIDENTMme DEL CAMPO - CEM (Espagne) / M. FILTZ - LNE (France)
MEMBRESMartine BLUM - EA (France)Maguelonne CHAMBON - LNE (France)Cosimi CORLETO - STIL (France)François DAUBENFELD - PSA Group (France)Gérard ECOTIERE - A3P (France)Jean-Rémy FILTZ - LNE (France)Pierre GOURNAY - BIPMFrançois HENNEBELLE - Université de Bourgogne (France)Carol HOCKERT - NIST (USA)Jenny HULLY - NPL (Royaume-Uni)
MEMBRESM. ALLARD, Mme CHAMBON, M. ERARD,M. PIQUEMAL - LNE (France)Mme BATISTA, Mme GODINHO - IPQ (Portugal)Mme BELL, M. BROWN, Mme HULLY,M. MACHIN - NPL (Royaume-Uni)M. BENHAMOU - CT2M (France)M. BRANDI - INMETRO (Brésil)Mme CARE - CETIAT (France)M. COOREVITS - Arts & Métiers Paris Tech (France)Mme MEDINA - CEM (Espagne)Mme DOBRE - SPF ECONOMIE (Belgique)M. FERNICOLA, Mme SEGA - INRIM (Italie)M. GOURNAY, M. RATEL - BIPMM. GUERDAT - Montres Rolex (Suisse)M. GUETTLER - PTB (Allemagne)M. HENNEBELLE - Université de Bourgogne (France)M. HIMBERT - LNE-LCM-CNAM (France)
Mme HOCKERT -Mme LANGLOIS-BERTRAND M. LARQUIER -M. LELONG - M. MASOERO -M. MATAMOROS, M. MENDEZ -M. MILOSEVIC -Mme PARKES - M. PENIN - Norma System (France)M. PERNOT - M. PETERSEN -M. PRIEL - ip (France)M. RIETVELD -Mme SALVETAT -M. SMID - CMI (République Tchèque)M. VILLAMANAN -
Daniel JULLIEN - Sébastien LABORDE -Bernard LARQUIER - Pete LOFTUS - Audrey MALACAIN - Claunel MASSIES - Antonio MAZZEI - Francis RICHARD - Anne TRUMPFHELLER - Martine VAN NUFFELEN - Laurent VINSON -
Collège Français de Métrologie✆ 33 (0)4 67 06 20 36
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18e CONGRÈS INTERNATIONAL DE MÉTROLOGIE
CIM2017
P A R I SF R A N C E
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PT18e CONGRÈS INTERNATIONAL DE MÉTROLOGIE
CIM20179h008h00 13h00 13h45 15h30 17h3011h00 11h30
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RDI 1
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ACC
UEI
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S1 Métrologie : des enjeux sur-mesure S3 SI et mesures thermiques
innovantesPOSTER• Mesures thermiques • Débitmétrie• Électricité• Concepts métrologiques• Formation
S6 Mesures thermiques appliquées
COCKTAIL
S7 SI et nouvelles références en électricité S2 Débitmétrie S4 Métrologie électrique
pour l’industrie La métrologiepour l’industrie pharmaceutique Déclaration de conformité :
nouvelle ISO 17025 S5 Métrologie dans les laboratoires médicaux
Visite Observatoire de Paris - Laboratoires de fréquences micro-onde et optique
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S8 Energie New AgePOSTER• Santé• IA et Data métrologie• Énergie• Dimensionnel• Chimie• Environnement
S10 Métrologie, santé et confort de vie
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S11 Métrologie pour un environnementplus propre
S9 Métrologie 4.0
Mesure dynamique et usine du futur : l’atout métrologie Quelle mesure
pour la qualité de l’eau ? Visite DOSEO - Plateforme imagerie médicale et radiothérapie
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S12 Incertitudes et concepts métrologiques
POSTER• Nanométrologie• Grandeurs mécaniques• Dimensionnel• Mesures optiques• Modèles mathématiques
S14 Les dynamiques de la pression
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S13 Nano : small is beautiful S15 Flexibilité des mesures optiques
Drone et surveillance :quelle place pour la mesure ?
Quel progrès en mesureà l’échelle nano ?
Démonstration Drone
www.cim2017.com
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MESURERPOUR INVENTER
LE FUTUR
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MARDI 19 SEPTEMBRE MARDI 19 SEPTEMBRE
S2
S1 MÉTROLOGIE : DES ENJEUX SUR-MESUREPrésidente : Jenny HULLY - NPL (Royaume-Uni)
Industrie 4.0 et les centres de métrologieM. PRIETO - LOMG / Espagne
Métrologie et pédagogieMme BEAULIEU, Mme ENGELS - LNE / France
Examinologie, un développement de la métrologieM. PELLEGRINO, Mme DIAS - IPQ / Portugal
Bonnes pratiques et démarche d’évaluation des incertitudes sur MMT à bras polyarticulésMme EL ASMAI - Université de Bourgogne / France & all
Gestion des étalons de référence dans le cadre de la smart metrology :cas des cales étalonsM. POU, M. DUBOIS - Delta Mu, M. LEBLOND - PSA / France
Quand le 1/10ème de mm pèse 400 TM. CARREZ, M. EMAIN - AREVA NP / France
DÉBIMÉTRIEPrésidentes : Isabelle CARE - CETIAT (France) et Elsa BATISTA - IPQ (Portugal)Innovation dans le domaine de l’étalonnage traçable des micro- et milli-débitsavec des liquides autres que l’eauM. BISSIG, M. TSCHANNEN, M. HUU - METAS / Suisse
Améliorations récentes de la référence nationale française en micro-débitmétrie liquideM. OGHEARD, Mme MARGOT, M. SAVARY - CETIAT / France
Évaluation de l’incertitude de mesure de débit au niveau de bouchesde souffl age et d’insuffl ationMme CARE - CETIAT, Mme MELOIS - CEREMA / France
Mesure de débit cryogénique par la vélocimétrie laser dopplerM. FOULON, M. LEHOT, M. OUERDANI - CESAME Exadebit / France
Exactitude des facteurs de conversion des gaz et importance dans l’étalonnagedu débit de gazM. RICKABY - TRESCAL / Royaume-Uni
Ouverture du CIM et Pause café11h00
Ouverture du CIM et Pause café11h00 11h30
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Le logo indique que les travaux présentés dans la conférence en question sont liées au projet EMRP ou EMPIR.
DÉCLARATION DE CONFORMITÉ :NOUVELLE ISO 17 025
Attendue pour la mi-2017, la nouvelle version de la norme ISO/IEC 17025 tente de répondre à de nombreuses insuffi sances par rapport à la version actuelle. L’une des majeures modifi cations concerne les incertitudes de mesure et leur utilisation pour prononcer la conformité.
Débats autour des questions clés :• Quels sont les grands changements en métrologie ?• Quels sont les nouvelles règles de décision
pour déclarer la conformité ?• Comment mettre en place l’approche risque ?
Animation : M. LABORDE - COFRAC, Mme MALACAIN - EA / FranceIntervenants : M. CLAUDEL - CETIAT / France, M. DAUBENFELD - PSA Groupe / France,M. LAUNEY - LNE / France, M. VINSON - COFRAC / France,M. THOMPSON - UKAS / Royaume-Uni
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MARDI 19 SEPTEMBRE MARDI 19 SEPTEMBRE
SI ET MESURES THERMIQUES INNOVANTESPrésidente : Dolores DEL CAMPO - CEM (Espagne)
Le kelvin redéfiniM. MACHIN - NPL / Royaume-Uni
Un soutien métrologique dédié aux méthodes de mesure de températurepar diffusion Raman appliquées à la surveillance thermique de grands ouvrages d’artM. FAILLEAU - LNE / France & all
Mesure de la température et de la concentration de gaz dans une flammeavec un imageur FTIRM. MANTILLA - CEM / Espagne & all
Quantification de l’eau libre et liée dans des matériaux sélectionnés en utilisant les méthodes de mesure diélectrique et thermo-coulométrique.M. BEN AYOUB, M. GEORGIN - CETIAT, M. ROCHAS - WAVES CONCEPT, M. SABOUROUX - Institut Fresnel / France
MÉTROLOGIE ÉLECTRIQUE POUR L’INDUSTRIEPrésident : Luc ERARD - LNE (France)
Etalonnage de la linéarité d’amplificateurs lock-inM. CORMINBOEUF - METAS / Suisse
EMPIR Projet 15 RPT04 TracePQM : schémas de traçabilité pour la mesure des puissances électriques de qualitéMme NOVAKOVA ZACHOVALOVA - CMI / République Tchèque & all
Métrologie électrique basse fréquence et radiofréquence appliquéeaux circuits 3D empilésM. ALLAL - LNE / France
Enceinte de contrôle de température innovante pour les étalons de résistanceM. PAYAGALA, M. JARRETT - NIST / USA
MÉTROLOGIE DANS LES LABORATOIRES MÉDICAUXPrésidente : Michela SEGA - INRIM (Italie)
Comparaison inter-laboratoires sur l’étalonnage des instruments volumétriques à pistonM. GEYNET - CT2M / France
Surveillance des enceintes thermostatiques à l’EFS : métrologie et analyse des risquesM. REIFENBERG - EFS / France
Incertitude de mesure des étalonnages et dans les rapports de conformitédes thermocycleursMme SPAN - Cyclertestn BV / Pays-Bas
Comparaison des méthodes d’étalonnage de pompe à perfusionMme BATISTA, Mme GODINHO, Mme FERREIRA, Mme FURTADO - IPQ / Portugal
S3 S4
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MARDI 19 SEPTEMBRE MARDI 19 SEPTEMBRE Visite Observatoire de Paris
MESURES THERMIQUES APPLIQUÉESPrésidents : Miruna DOBRE - SPF Economie (Belgique) et Vito FERNICOLA - INRIM (Italie)
Quelques jalons historiques de la métrologie des propriétés thermiquesM. HAY, M. HAMEURY, M. FILTZ - LNE / France
Métrologie de la vapeur d’eau à la PTB : des générateurs aux capteurs aéroportésM. WERHAHN, M. NWABOH, M. BUCHHOLZ, Mme DESCHERMEIER, M. EBERT - PTB / Allemagne
Bonnes pratiques pour les mesures d’hygrométrie dans une application spécifi quede l’industrie nucléaireM. VASTY, M. CHEVALIER - A+ Métrologie / France
Les dernières avancées en matière de mesure d’humidité à haute températureet en régime transitoireM. HEINONEN - MIKES / Finlande & all
Projet européen pour l’amélioration des capacités de mesure et d’étalonnageen pyrométrie optique M. SADLI - LNE-LCM-CNAM / France & all
Un projet européen pour améliorer l’effi cacité des processusgrâce à une meilleure mesure de la température.Progrès et résultats après deux ansM. PEARCE - NPL / Royaume-Uni & all
SI ET NOUVELLES RÉFÉRENCES EN ÉLECTRICITÉPrésidents : Pierre GOURNAY - BIPM (France) et Maguelonne CHAMBON - LNE (France)
Modifi cation des unités électriques dans le nouvel SIM. STOCK - BIPM / France
Transfert technologique pour un étalon quantique de tension en AC,le projet EMPIR ACQ-PROM. CABALLERO, M. DE AGUILAR, Mme ALVAREZ - CEM / Espagne
Mise en place et application d’étalons de tension Josephson programmablesau TUBITAK UMEM. ARIFOVIC, M. ORHAN, M. KANATOGLU - TUBITAK UME / Turquie
Comparaison sur site d’étalons de résistance à effet Hall quantique,comparaison en cours BIPM.EM.K12M. ROLLAND, M. FLETCHER, M. GOURNAY - BIPM / France
La performance améliorée du comparateur de courant DCCavec la technologie AccuBridgeM. BROWN - Measurements International / Canada
Mise en place de la traçabilité des mesures de paramètres S sur guide d’ondes au LNEM. ALLAL, M. LITWIN - LNE / France
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LA MÉTROLOGIE POUR L’INDUSTRIEPHARMACEUTIQUE15h30
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La qualité des médicaments repose en partie sur la qualité des mesures effectuées toutau long de leur processus de fabrication. Il s’agit de garantir la maîtrise des procédés et le respect des paramètres critiques défi nis lors de la validation, de la matière première au conditionnement du produit fi ni.
Débats autour des questions clés :• Quelles sont les réglementations et exigences
en métrologie ?• Comment défi nir la criticité
des instruments de mesure ?• Comment maîtriser ses processus
de mesure ?
Animation : M. TASSERY - INTERTEK / FranceIntervenants : M. BERENBACH et M. HIERNARD -LILLY / France, M. D’OLIVIERA - Groupe CARSO / France,M. SEGUIN - TEOXANE / SwitzerlandM. DESAPHY - ENDRESS & HAUSER / France
COCKTAIL17h35
MARDI 19 SEPTEMBRE MARDI 19 SEPTEMBRE
POSTERS ET RENCONTRES EXPOSANTS - 13h45 à 15h15 POSTERS ET RENCONTRES EXPOSANTS - 13h45 à 15h15
MESURES THERMIQUES Nouvelles capacités scientifiques et techniques en métrologie thermique
pour l’industrie européenne M. FILTZ - LNE / France & all
Développement d’un caloduc à alcool au CETIAT M. FAVREAU, M. GEORGIN - CETIAT / France, M. MERLONE - INRIM / Italie
Développement d’une ATG/ADT gros volume M. BALME - CEA / France
Une méthode précise pour la mesure de l’enthalpie de fusion de la température ambiante à 1000 °C M. RAZOUK, M. HAY, M. BEAUMONT - LNE-LCM-CNAM / France
Étude de l’hétérogénéité thermoélectrique des thermocouples Au/Pt construits au TUBITAK UME Mme ARIFOVIC, Mme HODZIC - TUBITAK UME / Turquie
Mesure de la conductivité thermique des liquides : comparaison entre une méthode stationnaire et une méthode transitoire M. MONCHAU, M. LALANNE - THEMACS Ingénierie, M. BOIS - Université Paris Créteil / France
Comparaison inter-laboratoires nationale de température de -80°C à 1100 °C M. IACOMINI - INRIM / Italie
Compensation passive de la sonde de température de surface pour des tests tribologiques M. TABANDEH, Mme ROSSO, M. FERNICOLA - INRIM / Italie
Bonnes pratiques pour la caractérisation de fours d’étalonnage en thermométrie M. FAVREAU, M. GEORGIN - CETIAT / France
Matériaux isolants de thermocouple à haute température Mme SINDELAROVA, M. STRNAD - CMI / République Tchèque
Développement d’un logiciel maison pour l’optimisation de l’évaluation de l’incertitude des cellules points fixes d’Argent utilisées pour la réalisation pratique de l’ITS-90 Mme ARIFOVIC - TUBITAK UME / Turquie & all
Expansion des capacités de recherche européennes pour les mesures d’humidité M. HODZIC - Institut de Métrologie de Bosnie Herzégovine / Bosnie Herzégovine & all
Augmentation de la précision des mesures de la température à partir de rayonnement infrarouge en conditions réelles Mme HOTS - Université nationale Politechnique de Lviv / Ukraine
DÉBITMÉTRIE Évaluation de deux débitmètres massiques thermiques à insertion
Mme CARE - CETIAT, M. VEAU - EDF R&D / France
Variation du coefficient de débit en présence de conditionneurs à 4 plaques perforées M. LARIBI - Université de Khemis-Miliana, M. ABDELLAH HADJ - Université de Medea / Algérie
Simulation numérique de la mesure de débit par comptage de tourbillons en régime laminaire M. ZAARAOUI - Université de Khemis-Miliana / Algérie
Boucle d’essais en débitmétrie d’EDF R&D : principaux résultats d’évaluation métrologique et perspectives innovantes d’évolution M. THIBERT, M. VEAU - EDF R&D / France
Études numériques et expérimentales sur la forme et la rugosité de surface de tuyères soniques cylindriques M. LAMBERT, M. MAURY, M. VALIERE, M. FOUCAULT, M. LEHNASCH - CESAME Exadebit / France
Débitmètre électromagnétique pour les réacteurs à neutrons rapides refroidis au sodium Mme. MIKHAYLOVA - Joint-Stock Company / Russie
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MARDI 19 SEPTEMBRE MARDI 19 SEPTEMBRE
POSTERS ET RENCONTRES EXPOSANTS - 13h45 à 15h15 POSTERS ET RENCONTRES EXPOSANTS - 13h45 à 15h15
ELECTRICITÉ Comparaison du facteur d’étalonnage entre le TUBITAK UME et le SASO NMCC
M. DANACI - TUBITAK UME / Turquie & all
Comparaison inter-laboratoires entre l’INRIM et l’ESA sur les grandeurs électriques M. CAPRA - INRIM / Italie & all
Mise en place d’un étalon de haute exactitude 10 V, 1 Ω, 10 kΩ pour l’étalonnage des instruments électriques multifonctions et pour des comparaisons inter-laboratoires M. GALLIANA, M. CAPRA, M. CERRI, M. LANZILLOTTI - INRIM / Italie
Caractérisation de références d’étalonnage de type BNC M. CELEP, M. DANACI, Mme SAKARYA - TUBITAK UME / Turquie
Comparaison bilatérale sur les mesures du coefficient de transmission réalisée entre le TUBITAK UME et le SASO NMCC M. SAKARYA, M. CELEP - TUBITAK UME / Turquie, M. ALJAWAN, M. ALBORAIH, M. ALDAWOOD - SASO / Arabie Saoudite
Diviseur de tension binaire pour vérification de la linéarité de la tension continue sur des calibrateurs et des multimètres numériques M. SOMPPI - Measurements International / Canada
Conception d’étalons coplanaires couplés pour la mesure sous pointes des paramètres S en mode mixte M. PHAM, M. ALLAL, M. ZIADE, M. BERGEAULT - LNE / France
Propriétés électromagnétiques des matériaux par la mesure des paramètres S sur lignes de transmission M. CHARLES - LNE / France
Méthode capacitive pour la détermination de la non linéarité et de l’erreur des mesureurs de capacité M. POURDANESH, M. ORTOLANO, M. CALLEGARO - INRIM / Italie
CONCEPTS MÉTROLOGIQUES Les défis des laboratoires d’étalonnage : la qualité de service
M. SHAIKH - Laboratoires Co. Motabaqah / Arabie Saoudite
Digitalisez votre métrologie M. MARTINS - Eurothem by Schneider Electric / France
Évaluation économique de la mise en place et du maintien de normes primaires d’unités physiques M. NEYEZHMAKOV, M. PROKOPOV - Centre National Scientifique - Institut de Métrologie / Ukraine
La mise en place des exigences de la norme ISO/CEI 17025 sera-t-elle difficile ? M. REPOSEUR - ACAC / France
Smart metrology M. POU - Delta Mu, M. LEBLOND - PSA / France
FORMATION La métrologie à l’Institut National de Technologie Agricole
M. GOMEZ, M. KREMER, Mme SLEPETIS - Institut Nationale de Technologie Agricole / Argentine
Formation en métrologie à l’Institut National de Technologie Agricole M. GOMEZ, M. KREMER, Mme SLEPETIS - Institut Nationale de Technologie Agricole / Argentine
L’impact de la métrologie dans les universités technologiques du Mexique M. MARTINEZ-SANCHEZ, Mme LAGUNA-AGUILAR - Université Technologique de Tula-Tepeji, M. TORRES-GUZMAN - CENAM / Mexique
Activités didactiques métrologiques dans l’enseignement de l’ingénierie M. DIAZ - Université Polytechnique de Santa Rosa Jauregui / Mexique
La qualification des opérateurs en mesure 3D M. VINCENT - CETIM / France
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MERCREDI 20 SEPTEMBRE MERCREDI 20 SEPTEMBRE
ENERGIE NEW AGEPrésidents : Gert RIETVELD - VSL (Pays-Bas) et Jean-Remy FILTZ - LNE (France)
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Pause café & rencontres exposants11h00 11h30
Pause café & rencontres exposants11h00 11h30
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QUELLE MESUREPOUR LA QUALITÉ DE L’EAU9h00
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Entre terre et ciel, la même eau est en circulation permanente depuis des milliardsd’années. Du captage à l’acheminement au domicile, en passant par l’assainissement et le suivi des milieux naturels, la qualité de l’eau est l’objet de la plus grande surveillance au monde. Cette surveillance de la qualité de l’eau, sur le terrain, en usine, ou en laboratoire repose sur des mesures constantes de paramètres bactériologiques, chimiques… et des indicateurs de radioactivité.
Débats autour des questions clés :• Quelles sont les nouvelles méthodes de mesure ?• Quel atout de la métrologie pour la surveillance
de l’eau ?
Animation : M. BOUDIER - LDAR Aisne / FranceIntervenants : M. GUARINI - AGLAE / France, Mme GUIGUES - LNE / France,Mme SALVETAT - IFREMER / France - M. GUETTLER - PTB/AllemagneM. CHABROL - VEOLIA / France
MÉTROLOGIE 4.0Présidents : Bernard LARQUIER - BEA METROLOGIE (France) et Alain GUERDAT - ROLEX (Suisse)
Métrologie pour le transport de GNL et les applicationsde transport de carburantM. NIEUWENKAMP - VSL / Pays-BasTeneur en particules du biogazM. HOGSTROM, M. VESALA, M. HEINONEN - MIKES / FinlandeLa métrologie pour des applications de l’hydrogène énergétique : un projetpour répondre aux exigences normativesMme HALOUA - LNE, M. DELOBELLE - MAHYTEC / France, M. BACQUART - NPL / Royaume-Uni, Mme ARRHENIUS - SP Metrology / Suède, M. ENT - VSL / Pays-BasMétrologie pour des utilisations durables de l’hydrogène. Spécifi cationde la qualité de l’hydrogène pour les véhicules à pile à combustibleM. ROJO, Mme DEL CAMPO, Mme FERNANDEZ - CEM / EspagneInfrastructure métrologique pour la déclaration de conformité des biogazet biométhanesM. VAN DER VEEN - VSL / Pays-Bas
Le nuage de la métrologie européenneM. THIEL - PTB / AllemagneBig Data pragmatique et smart manufacturingM. VERLEYEN - DATASWATI / FranceLa métrologie 4.0 chez PSA GroupeM. SELSKI, Mme GRIES - PSA Group / FranceEst-ce que mes appareils de mesure parlent le même langage ?M. RADECK - Q-DAS / AllemagneErreurs géométriques en fabrication additive : une application aux pièces de géométrie régulièreM. PIRATELLI-FILHO - Université de Brasilia / Brésil, M. MEHDI-SOUZANI, M. ANWER - LURPA, M. MAAZOUZI - Université de Paris / FranceÉvaluation d’une MMT optique pour la mesure de pièces en mouvementM. HENNEBELLE - Université de Bourgogne, M. COOREVITS - ARTS ET METIERS PARIS TECH, M. LARUE - INNOREM, M. SLISLI,M. GAUTHIER - CETIM / France
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MERCREDI 20 SEPTEMBRE MERCREDI 20 SEPTEMBRE Visite DOSEO
MESURERPOUR INVENTER
LE FUTURPrésident : Thomas GRENON - LNE (France)
11h35 12h50
Révision du SI : mesurer pour inventer le futurM. ULLRICH - PTB (Allemagne)
La recherche commune européenne en métrologieau service de l’industrie et de la société au sens large
M. JECKELMANN - EURAMET (Suisse)Métrologie et Espace
M. SALOMON - CNRS-Laboratoire Kastler Brossel (France)
MÉTROLOGIE, SANTÉ ET CONFORT DE VIEPrésident : Marc PRIEL - ip (France)
La métrologie au service de la protection des particuliers et des travailleursdans le domaine des rayonnementsM. SUDER, Mme VERHAEGHE - COFRAC / France
Assurance de la qualité des soins centrés sur la personneM. PENDRILL - SP Metrology / Suède
Étalonnage en dose absorbée dans l’eau pour des sources basses énergiede rayons X pour la radiothérapieM. ABUDRAA - CEA / France & all
Métrologie pour le biopharmaceutique : analyse de la protéine structuraled’ordre supérieurMme QUAGLIA - LGC / Royaume-Uni & all
La standardisation des mesures protéiques : du diagnostic de la maladied’Alzheimer à la prévention de la résistance antimicrobienneM. MARTOS - LNE / France & all
Quantifi cation du cytomégalovirus humain dans le cadre du projet EMRP«Infect-Met»Mme MILAVEC - Institut National de Biologie / Slovénie
MÉTROLOGIE POUR UN ENVIRONNEMENTPLUS PROPREPrésident : Bernd GUETTLER - PTB (Allemagne)
Mesures du facteur d’augmentation en conditions atmosphériquesM. GEORGIN - CETIAT / France
Premier laboratoire ISO 17025 accrédité pour mesurer à distance les émissions de trafi cMme DE LA FUENTE EGIDO - Remote Sensing Lab / Espagne
Caractérisation du générateur à très bas point de givre de l’INRIMopérant à pression sub-atmosphériqueM. CUCCARO, Mme ROSSO, M. SMORGON, M. BELTRAMINO, M. FERNICOLA - INRIM / Italie
Effet du sable en suspension sur les mesures de conductivité de l’eau de merM. LE MENN - SHOM / France
Nouvelles perspectives dans la mesure de la DBO et le pilotage des bioprocédésM. MULLER - AMS Envolure / France
Production et confi rmation d’étalons primaires de référence de dioxyde de carbone à l’INRIMMme ROLLE, Mme PENNECCHI, Mme PESSANA, Mme SEGA - INRIM / Italie
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MERCREDI 20 SEPTEMBREMERCREDI 20 SEPTEMBRE
MESURE DYNAMIQUE ET USINE DU FUTUR :L’ATOUT MÉTROLOGIE
Dans l’usine du futur, fl exible, automatisée et interconnectée, le produit est tracé et exploité tout au long de sa fabrication en fonction de ses caractéristiques. La mesure devient alors dynamique, c’est-à-dire que l’on mesure en fl ux de production, la pièce pouvant aussi être contrôlée en mouvement. Cela permet de produire « bien du premier coup » et de réagir au plus tôt dans la chaine de production.
Débats autour des questions clés :• Quelle place pour la mesure dans l’usine du futur ?• Comment la métrologie est un outil essentiel
pour une production effi ciente ?• Comment exploiter au maximum tous les résultats
de mesure ?
Animation : M. HENNEBELLE - Université de Bourgogne / FranceIntervenants : M. CORLETO - STIL / France, M. DAUBENFELD - PSA Groupe / France, M. GALIBERT - LNE / France, M. LARUE - INNOREM / France, M. VINCENT - CETIM / France
15h30
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POSTERS ET RENCONTRES EXPOSANTS - 13h45 à 15h15SANTÉ
Thermocycleurs : vers une nouvelle approche adaptée au besoinM. BOZONNET - Tumorothèque Caen Basse Normandie, M. CHERPIN - APODIS TECHNOLOGIES / France
Estimation de l’incertitude de mesure des pompes à perfusion en utilisant des méthodesd’analyse gravimétriquesM. RAMIREZ, M. DELGADO - Institut Technologique Métropolitain / Colombie
Validation de la méthode photométrique utilisée pour l’étalonnage des micropipettesMme BATISTA, Mme GODINHO - IPQ / Portugal, M. RODRIGUES, Mme RUMERY - Artel / USA
Métrologie de l’activité synthétique de la vitamine D des lampes UVMme TERENETSKAYA, Mme ORLOVA - Institut de physique NAS / Ukraine
Métrologie médico-légale : son importance et son évolutionM. FERRERO, Mme SCOTTI - Université Polytechnique de Milan / Italie
Développement d’une méthode alternative pour l’étalonnage des simulateurs d’ECGM. BENITEZ, Mme URESTI, Mme SOLORZANO - ETALONS / Mexique
La convergence des technologies génère la convergence des réglementationsM. VALDES MESA - Centre des Biomatériaux / Cuba
Une approche métrologique des mesures des émotions attendues en réponseà des impacts acoustiquesMme SAPOZHNIKOVA, M. TAYMANOV - Institut de Métrologie Mendeleyev / Russie & all
Analyse des données d’étalonnage sur un parc d’anémomètresM. LECHENE, M. FONTAINE - INRS, M. BLANQUART - MEZYR / France
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MERCREDI 20 SEPTEMBRE MERCREDI 20 SEPTEMBRE
POSTERS ET RENCONTRES EXPOSANTS - 13h45 à 15h15 POSTERS ET RENCONTRES EXPOSANTS - 13h45 à 15h15DIMENSIONNEL
Une inspection 3D sur ligne à grande vitesse et grande exactitude M. ROSENBAUM - Mesure-Systems3D / France
Effet de la carburation sur les dimensions des gauges à limites Mme KHENNAFI-BENGHALEM - Université de Ferhat Abbas Sétif / Algérie
Mesure des défauts de formes libres par interférométrie M. MEGUELLATI - Université de Ferhat Abbas Sétif / Algérie
Évaluation de la performance d’un laser scanner à faible coût avec un étalon carré en granit M. PIRATELLI-FILHO, M. DOS REIS - Université de Brasilia, Mme VALDES - Université de Uberlandia / Brésil, M. ANWER, M. MEHDI-SOUZANI - LURPA / France
Contrôle géométrique par un laser tracker d’un socle de berceau fissuré d’une remorque TGV M. NIOCHE - A+ Métrologie / France
IA ET DATA MÉTROLOGIE Éviter l’Armageddon de l’intelligence artificielle avec la psychométrie orientée métrologiquement
M. BARNEY, M. FISHER - Université de Berkeley / USA
Métrologie, psychométrie et nouveaux horizons pour l’innovation M. FISHER - Université de Berkeley / USA
Les problèmes actuels de la métrologie à l’ère des systèmes cyber-physiques et de l’internet des objets M. TAYMANOV, Mme. SAPOZHNIKOVA, M. IONOV - Institut de Métrologie Mendeleyev / Russie
Métrologie pour la cryptographie quantique Mme MEDA - INRIM / Italie
ENERGIE Simulateur thermo-hydraulique à grande échelle pour la caractérisation des méthodes
de répartition des coûts de chauffage des bâtiments M. MASOERO - Université Polytechnique de Turin, M. FERNICOLA, M. SABA - INRIM / Italie
Étalonnage du convertisseur de mesure primaire à l’aide de la modélisation et de l’évaluation expérimentale des données initiales M. SKLIAROV, M. MUNTEAN, M. TIMOFEEV - Centre National Scientifique - Institut de Métrologie / Ukraine
Modélisation et évaluation de l’économie d’énergie des améliorations des calibrateurs de température à l’aide de la méthode des éléments finis M. SKLIAROV, M. ZALOHIN, Mme FIL - Centre National Scientifique - Institut de Métrologie / Ukraine
Validation d’un dispositif de plaque chaude surveillée en utilisant le matériau de référence certifié IRMM-440 M. STEPANIC, Mme TERZIC, M. MILOSEVIC - Institut VINCA / Serbie
Détermination de la quantité de carburant dans les échanges commerciaux Mme MESKUOTIENE, M. KASKONAS, M. URBONAVICIUS - Université Technologique de Kaunas / Lituanie
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Le Collège Français de Métrologie et Hexagon Manufacturing Intelligence
vous recevront pour leDîner de Gala du CIM 2017
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MER
CRE
DI
20 SEPT
DINER DEGALA
MERCREDI 20 SEPTEMBRE
POSTERS ET RENCONTRES EXPOSANTS - 13h45 à 15h15
CHIMIE La surface de contact bois/vin déterminée par le traitement d’image
M. I. CHICIUC, M. A. CHICIUS - Université Technique / Moldavie L’estimation de l’incertitude de mesure pour la détermination des alcalis dans des ajouts cimentaires
Mme KRAMAR, Mme ZAVRSNIK - Institut de la Construction et de l’Ingénierie Civile / Slovénie Caractéristiques et problèmes de la traçabilité métrologique des mélanges de gaz
en utilisant absorption UV, FTIR et CRD spectroscopieM. KONOPELKO, M. BELOBORODOV - Institut de métrologie de Mendeleyev, M. CHUBCHENKO, M. RUMIANTSEV - Université de l’information des technologies, mécaniques et optiques / Russie
Les défi s des mesures de conductivité électrolytique traçable dans l’eauM. THIRSTRUP, M. SNEDDEN, Mme DELEEBEECK - DFM / Danemark
L’étalonnage du pH-mètre (unité électronique) selon CEI 60746-2:2003 et BS 3145:1978Mme UKRISDAWITHID, M. PITHAKKIET - Ministère des Sciences et Technologies / Thaïlande
ENVIRONNEMENT ET PRÉVENTION DES RISQUES Vérifi cation de la détermination du Sr-90 avec des essais d’aptitude ALMERA
Mme VISETPOJANAKIT - Offi ce of Atoms for Peace / Thailande ReGas : générateurs mobiles produisant des mélanges de gaz de référence de composés
réactifs à des concentrations atmosphériquesMme PASCALE - METAS / Suisse
Vérifi cation de la détermination du Cs-137 dans de l’eau de mer avec des fi ltresCu-hexacyanoferrateMme VISETPOJANAKIT - Offi ce of Atoms for Peace / Thailande
Nouveau modèle d’incertitude pour la variabilité des dénombrements microbiensdans les eaux lors d’un essai d’aptitudeM. MOLINIER, M. GUARINI - AGLAE / France
Comparaisons inter-laboratoires : mesure de l’activité massique d’échantillons radioactifsMme CORBEL, Mme LOURENCO - CEA / France
Nouveau matériau de référence pour les feuilles à base de matrice à des fi ns agrochimiques élémentairesM. ABUBAKR - Université de King Khalid / Arabie Saoudite
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JEUDI 21 SEPTEMBRE JEUDI 21 SEPTEMBRE
NANO : SMALL IS BEAUTIFULPrésident : François PIQUEMAL - LNE (France)
Validation du microscope à force atomique métrologique français pour des applicationsde nanométrologie dimensionnelleM. BOUKELLAL, M. DUCOURTIEUX, M. CERIA - LNE / France
Nanométrologie numérique des morphologies de la nanostructure :pourquoi et comment ?M. CONSTANTOUDIS - Institut de Nanoscience et Nanotechnologie / Grèce
Traçabilité de mesure par AFM : une approche expérimentale pour une estimationréaliste de l’incertitude de mesureMme PETRY, M. DE BOECK, M. SEBAIHI, Mme COENEGRACHTS, Mme DOBRE - SMD-SPF Économie / Belgique
Caractérisation en ligne rapide de nanostructures par système de lentilles de FourierM. JANSEN - DFM / Danemark & all
Modélisation de l’infl uence de la taille de pixel lors de mesures de la taillede nanoparticules à l’aide d’un AFMM. CAEBERGS, Mme PETRY, M. SEBAIHI, M. DE BOECK, Mme DOBRE - SMD / SPF Economie / Belgique
INCERTITUDES ET CONCEPTS MÉTROLOGIQUESPrésidents : Carol HOCKERT - NIST (USA) et Alexandre ALLARD -LNE (France)
Les comparaisons inter-laboratoires sont incontournablesM. LELONG - PSA Group / FranceLa méthode de la dérive de la FD X 07 014 : bien plus qu’une simple méthoded’optimisationM. DEMARS, M. DUBOIS - Delta Mu / FranceDétermination de l’incertitude de mesure par simulationM. HEISSELMANN, M. FRANKE, M. WENDT - PTB, M. KISTNER - CARL ZEISS, M. SCHWEHN - Hexagon Manufacturing Intelligence / AllemagneMéthode structurée d’évaluation des incertitudes sur MMTM. COOREVITS - ARTS ET METIERS PARIS TECH, M. HENNEBELLE - Université de Bourgogne, Mme GOUTAGNEUX,M. VINCENT - CETIM, M. GRZESIAK - RENISHAW / FranceAnalyse d’une comparaison inter-laboratoires en essais : quand les mesuresne suivent pas une loi normaleM. ALLARD, Mme AMAROUCHE - LNE / FranceVers un alignement des approches technique et psychométrique de l’incertitudedans la mesureM. FISHER - Université de Berkeley, M. STENNER - MetaMetrics / USA
S13
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9h00
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Pause café & rencontres exposants
Pause café & rencontres exposants
11h00
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DRONE ET SURVEILLANCE :QUELLE PLACE POUR LA MESURE ?9h00
11h00
L’utilisation des drones s’est démocratisée dans le monde de l’industriel pour de nombreuses utilisations : inspection d’installations, cartographie, surveillance… De par leur capacité à acquérir des données précises et exhaustives sans perturber l’exploitation industrielle les drones semblent se positionner comme un outil performant. Mais concrètement dans cet écosystème quelle place pour la mesure ?
Débats autour des questions clés :• Le drone peut-il être un nouvel instrument de mesure ?• Quelles mesures avec les drones ?
Animation : Mme BROTHIER - EDF et M. VIGUIER - SNCF / FranceIntervenants : M. CARREAU - SITES / France, M. KADDED - LEICA GEOSYSTEMS / France,M. MORELLI - Fédération Professionnelle des Drones Civils / France,M. MULLER - ONERA / France, M. RIEGL - RIEGL / France
Démonstration Drone
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JEUDI 21 SEPTEMBRE JEUDI 21 SEPTEMBRE
LES DYNAMIQUES DE LA PRESSIONPrésident : Thierry COOREVITS - ARTS ET MÉTIERS PARIS TECH (France)
Méthodes optiques pour la détermination de la pression dans les écoulements fl uidesM. GOMIT, M. DAVID, M. CHATELLIER - Université de Poitiers / FranceDéveloppement d’une norme dynamique pour évaluer la performance métrologiquedes systèmes de mesure de pressionM. DIAZ TEY - Université du Costa Rica / Costa RicaÉtalonnage de la pression dynamique : traçable ?M. MENDE, M. PLATTE - SPEKTRA / AllemagneDétermination de la sensibilité d’un capteur de pression en dynamique par la méthodedu nombre de MachM. SARRAF, M. DAMION - ARTS ET METIERS PARIS TECH / FranceTechniques d’étalonnage pour la mesure de pressions négatives jusqu’à -100 kPM. BENTOUATI - LNE / France & allUn étalon de travail de haute exactitude dans la gamme de pression absolueentre 5 kPa et 130 kPaM. BOINEAU, M. HURET, M. OTAL - LNE, M. PLIMMER - LNE-LCM-CNAM / France
FLEXIBILITÉ DES MESURES OPTIQUESPrésidents : François HENNEBELLE - UNIVERSITÉ DE BOURGOGNE (France) et André SCHAFER - HBM (Allemagne)
Développement de méthodes optiques pour les mesures de surface et de volumeM. GOMIT - Université de Poitiers / France & allOmbrosurf une machine haute performance combinant l’analyse de contouret d’état de surfaceM. CORLETO - STIL / France & allStation d’ébavurage robotisée guidée par vision 3DM. DERRIEN, M. EQUOY - GIPS VISION / FranceÉtalonnage d’une caméra 2D et d’un capteur 3D pour les applications de métrologiesans contact pour l’inspection de pipelinesMme HESABI, M. LAURENDEAU - Université de Laval / CanadaRobot 6 axes collaboratif pour mesures 3D optiques automatiséesMme CALVEZ - ALICONA / FranceContrôle d’alignement radar AEBS sans contactM. BOMMART - Videometric / France
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QUEL PROGRÈS EN MESUREÀ L’ÉCHELLE NANO ?13h45
15h45
Les produits contenant des nanomatériaux font déjà partie du quotidien : vecteurs demédicaments, traitements thérapeutiques… Cependant, le manque de métrologiesemble un frein majeur au développement de ce domaine industriel. Il est nécessaire dedéfi nir les paramètres fondamentaux caractérisant les propriétés de ces matériaux, leursperformances ainsi que les techniques de mesures et les méthodes appropriées.
Débats autour des questions clés : • La métrologie peut-elle structurer une future fi lière
des nanotechnologies et nanomatériaux ?• Comment la mesure est-elle aujourd’hui intégrée
sur toute la chaîne de valeur ?• Quelle nanométrologie au service des différents secteurs
industriels concernés ?
Animation : M. AUBLANT - LNE / FranceIntervenants : M. ARTOUS - CEA / France, M. FOUCHER - POLLEN METROLOGY / France,M. HOGHOJ - XENOCS / France, M. GHANEM - Solvay/Belgique, M. FELTIN - LNE / France
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JEUDI 21 SEPTEMBRE JEUDI 21 SEPTEMBRE
CLÔTURE DU CONGRÈS
15h50 16h30
Intervention de Mme SAUTTERMuseum National d’Histoire Naturelle (France)
Minéralogiste, impliquée dans l’instrumentationdu Rover Curiosity sur MARS
Awards collectif 2014 de la NASAet Médaille d’argent 2016 du CNRS
Perspectives et diaporama des meilleurs momentsdu CIM 2017
Remise des prixMeilleure conférence Orale et Poster.
M. FILTZ - LNE (France)
APÉRITIF DE CLÔTURESUR L’EXPOSITION
POSTERS ET RENCONTRES EXPOSANTS - 11h15 à 12h45
NANOMÉTROLOGIE To²DeNano.be : vers une définition toxicologiquement pertinente des nanomatériaux
M. SEBAIHI - SMD/SPF Economie / Belgique & all
Caractérisation électrique de cellules solaires multi-jonctions par microscopie à sonde locale (SMM et Résiscope) Mme DELVALLEE, M. KHAN, M. ALLAL, M. PIQUEMAL - LNE / France
GRANDEURS MÉCANIQUES Obtention par un laboratoire souterrain pour la mesure de la gravité du Label Fiabilité Mesure
Mme GONNET - CT2M / France
L’influence de l’automatisation sur l’incertitude du résultat d’étalonnage des poids et étalons de masse de classes de haute précision M. DANASIEWICH - Radwag Wagi Elektroniczne / Pologne
Étalonnage de masses spéciales, comment répondre aux besoins des clients ? Mme DOMENECH - CT2M / France
Ultrasons et vis instrumentés pour sécuriser vos assemblages boulonnés M. GODIN - Polymesure / France
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JEUDI 21 SEPTEMBRE JEUDI 21 SEPTEMBRE
POSTERS ET RENCONTRES EXPOSANTS - 11h15 à 12h45 POSTERS ET RENCONTRES EXPOSANTS - 11h15 à 12h45
Une nouvelle méthodologie pour la vérification et l’étalonnage des récepteurs GNSS en utilisant la méthode du positionnement statique relatif Mme LAMBROU, M. KANELLOPOULOS - Université Technique d’Athènes / Grèce
Tracé de rayon pour mesures de déflectométrie asphérique par GPU M. FISCHER, M. PETZ, M. PUSCHKE, M. TUTSCH - Université Technique de Braunschweig / Allemagne
Un nouveau type d’amplificateur compact de précision pour transducteurs à jauges extensométriques M. SCHAFER - HBM / Allemagne
L’étalonnage de force avec de nouvelles méthodes M. KLECKERS - HBM / Allemagne
Une étude de l’effet de l’humidité sur le système de mesure de couple M. GOUDA - NIS / Égypte
Étalonnage traçable des instruments de pesage automatiques en fonctionnement dynamique M. GRUM - Institut de Métrologie / Slovénie
Étalonnage traçable des accéléromètres dans une large gamme de fréquences et de températures M. MENDE, M. IWANCZIK, M. BEGOFF - SPEKTRA / Allemagne
DIMENSIONNEL Systèmes tomographiques pilotés à haute résolution pour une mesure dimensionnelle
non-destructive dans des applications industrielles M. BATZ, M. BEERLINK - YXLON International / Allemagne
Analyse comparative des facteurs d’incertitude de la mesure de la rugosité 3D par différentes méthodes optiques M. CORTES-RODRIGUEZ, M. ARAQUE - Université Nationale de Colombie, M. BAHAMON - Institut National de Métrologie / Colombie
Amélioration des mesures de rugosité sur les profils des engrenages hélicoïdaux M. KOULIN, M. ZHANG, M. FRAZER, M. SHAW, M. WILSON - Université de Newcastle / Royaume-Uni
Une évaluation des recommandations de l’ISO 1328-1 pour les engrenages de mesure M. FRAZER, M. WILSON, M. SHAW - Université de Newcastle / Royaume-Uni
MESURES OPTIQUES Nouveaux capteurs de puissance optique à base de graphite pyrolytique
M. PINOT, M. SILVESTRI - LNE-LCM-CNAM / France
Détecteur à rendement quantique prédictible basé sur des photodiodes au silicium de type n M. DONSBERG - Université d’Aalto, M. TUOVINEN - VTT / Finlande
Caractérisation et mesures optiques de couches d’oxyde de tantale déposées par la méthode TVA (Thermionic Vaccum Arc) pour des applications industrielles Mme MANDES, Mme VLADOIU, Mme BALAN - Université de Constanta / Roumanie
La photométrie sans chambre noire M. RAYE - Avance Solar Photonic / Inde
Un objectif à focalisation très rapide M. THIERIAULT - TAG OPTICS / USA
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JEUDI 21 SEPTEMBRE
POSTER - 11h45 à 12h45MODÈLES MATHÉMATIQUES
Étalonnage de la réponse spatiale de spectromètres de rayonnements gamma M. SAUREL - CEA / France
Application du modèle autorégressif pour la réalisation de l’échelle de temps nationale de l’Ukraine M. NEYEZHMAKOV, M. KORETSKIY - Centre National Scientifique - Institut de Métrologie / Ukraine
Comparaisons interlaboratoires et corrélations M. PELLEGRINO, Mme DIAS - IPQ / Portugal
La C2I, une méthode de surveillance pour rendre l’étalonnage conditionnel M. COQUET - ACEI / France
Investigation sur les performances des laboratoires effectuant des vérifications en métrologie légale des masses Mme VALCU, M. BAICU - Institut National de Métrologie, M. IACOBESCU - RBLM, Mme TODOR - ROLAB / Roumanie
Reconstruire des signaux à partir de moyennes temporelles hétérogènes M. FORBES - NPL / Royaume-Uni
Vers une nouvelle approche de détermination de l’incertitude dans les systèmes de mesure d’essais M. SURDU - Université Nationale Technique d’Ukraine / Ukraine
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PARIS
Antony
Garedu Nord
Créteil-Préfecture
Balard
Madeleine
PORTE D’ORLÉANS PORTE D’ITALIE
Porte de La Chapelle
Mairie d’Issy
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GareSaint-Lazare
Denfert-Rochereau
Garede Lyon
Châtelet-les-Halles
Opéra
3
3
12
Porte d’Ivry
2
La Défense
2
AÉROPORTD’ORLY
MontparnassePont du Garigliano
Montparnasse
CitéUniversitaire
CitéUniversitaireCitéUniversitaire
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A6
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Pont du Garigliano
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PARIS EXPO PORTE DE VERSAILLES - Pavillon 41 place de la Porte de Versailles - 75015 PARIS - France - www.viparis.com
LIEUX
Les conférences seront exposées en français ou en anglais. Une traduction simultanée sera assurée.
LANGUES PARLÉES
Informations sur www.cim2017.com, rubrique, « Se loger ».
HÔTELS
Les droits d’inscription au Congrès comprennent : • la participation aux conférences, avec traduction simultanée français / anglais,• les actes du congrès,• le libre accès à l’exposition,• le catalogue de l’exposition,• les pauses, cocktails et déjeuners des 19, 20 et 21 septembre 2017,• une visite technique.
DROITS D’INSCRIPTION
• Par virement bancaireCIC Paris Grandes EntreprisesIBAN : FR76 3006 6109 7200 0107 4210 104SWIFT : CMCIFRPPCOR
• Par chèque en Euros à l’ordre de GL EVENTS EXHIBITIONS à :24 rue Saint Victor - 75005 Paris - France
• Par paiement sécurisé sur le site www.cim2017.com
Exceptionnellement un paiement par carte bancaire (CB, Mastercard, Visa, Gold, American Express) ou en espèces sera accepté à l’accueil.
PAIEMENT
Seules seront prises en compte les annulations formulées par écrit et reçues au secrétariat du Congrès avant le 31 Août 2017. Les droits d’inscription seront remboursés après la manifestation. Il sera déduit un montant de 120€ HT pour frais de dossier. Les annulations postérieures au 31 Août 2017 ne pourront donner lieu à aucun remboursement.
ANNULATION
VOS BILLETS D’AVION AU MEILLEUR PRIXBénéfi cier de réductions avec Air France et KLM Global Meetings sur une très large gamme de tarifs publics. Code Identifi ant à communiquer lors de la réservation : 29145AF
• la participation aux conférences, avec traduction simultanée français / anglais,
• les pauses, cocktails et déjeuners des 19, 20 et 21 septembre 2017,
à l’ordre de GL EVENTS EXHIBITIONS à :
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NOM : ..........................................................................................................................
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FONCTION : ................................................................................................................
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À retourner avec le règlement ou bon de commande à : GL EVENTS EXHIBITIONS 24 rue Saint Victor - 75005 Paris - France2 + 33 (0)1 44 31 83 42
INFOS& + 33 (0)4 67 06 20 36 - [email protected]
SESSIONS Cochez les Sessions et les Tables Rondes qui vous intéressent MARDI 19 SEPTEMBRE q 1 q 2 q q 3 q 4 q 5 q 6 q 7 q MERCREDI 20 SEPTEMBRE q 8 q 9 q q 10 q 11 q JEUDI 21 SEPTEMBRE q 12 q 13 q q 14 q 15 q
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q 2 JOURS q 19 sept q 20 sept q 21 sept 756 Euros TTC 792 Euros TTC
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TOTAL
AVANT LE 30/06 APRÈS LE 30/06
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TARIFS (incluant 20% de TVA)
VISITE TECHNIQUE Un choix possible. Places limitées et inscriptions par ordre d’arrivée des formulaires.
q Observatoire de Paris Mardi 19 septembre après-midi
q DOSEO Mercredi 20 septembre après-midi
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ttres
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