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半導體產業簡報
Speaker: Connie Hsu
2010/06/27Meeting ReportPart-2
大綱
半導體製程簡介 IC 製造過程封裝測試流程IC 測試產業現況
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半導體製程簡介 半導體製程
• 上游:材料加工製造 & IC 設計 / 光罩
• 中游:晶圓之積體電路製造 (wafer fabrication)
• 下游:晶圓切割、構裝、測試 (wafer package)
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半導體製程簡介 半導體製程
• 上游:材料加工製造 晶石原料提煉 多晶體矽 矽 (polycrystalline silicon) 直到晶圓 (wafer) 產出。
• 上游: IC 設計 / 光罩 在 IC 設計階段則依客戶所需要之電氣特性 , 將電路模擬後畫圖成晶圓廠可以
製作之圖形然後將設計出的圖形製版。• 廠商:威盛、 統、凌揚矽
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半導體製程簡介 半導體製程
• 上游:材料加工製造 & IC 設計 / 光罩
• 中游:晶圓之積體電路製造(wafer fabrication)
各種規格的晶圓,經由電路設計、光罩設計、蝕刻、擴散等製程,生產各種用途之晶圓。
• 廠商:台積電、聯華電子
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半導體製程簡介 半導體製程
• 上游:材料加工製造 & IC 設計 / 光罩
• 中游:晶圓之積體電路製造(wafer fabrication)
• 下游:晶圓切割、構裝(wafer package)
將製造完成的晶圓,切割成片狀的晶粒 (dice) ,再經封裝及測試後即為半導體成品
• 廠商:日月光、 品、南茂、南岩矽
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IC 製造過程
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封裝測試流程 晶圓切割 (Die Saw) 黏晶 (Die Bond) 線焊 (Wire Bond) 封模 (Molding) 蓋印 (Marking) 電鍍 (Plating) 切 成形腳 (Trim/Form) 測試 (Testing) 捲帶包裝 (Tape/Reel)
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IC 測試 程式: VB 目的:控制測試系統硬體,以一定的方式保證 Device 達
到或超越它的那些被具體定義在 Device 規格書裏的設計指標
DC 測試─驗證電壓及電流參數 功能測試─驗證晶片內部一系列邏輯功能操作的正確性 AC 測試─用以保證晶片能在特定的時間約束內完成邏輯
操作 測試機: Credence(TMT) 、 Spandix-1600 、 Spandix-
1300 、 CAT
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產業現況
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台灣半導體工業關聯圖
產業現況
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IC 產品分類
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