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SCIEX X500 QTOF 시스템 시스템 사용자 안내서 20178RUO-IDV-05-2334-KO-E

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SCIEX X500 QTOF 시스템

시스템사용자안내서

2017년 8월RUO-IDV-05-2334-KO-E

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본문서는 SCIEX 장비를구매한고객들이 SCIEX 장비를작동하는데이용할수있도록제공됩니다. 본문서는저작권보호를받으며본문서또는본문서의어느일부에대한복제도엄격히금지됩니다. 단, SCIEX가서면으로허가한경우는제외됩니다.

이문서에서설명될수있는소프트웨어는사용권하에제공됩니다. 사용권에서특별히허용된경우를제외하고어떠한수단으로든소프트웨어를복사, 수정또는배포하는것은법률위반입니다. 또한, 사용권은소프트웨어를어떠한목적으로든디스어셈블하거나리버스엔지니어링하거나디컴파일하는것을금할수있습니다. 제품보증은그안에명시되어있습니다.

이문서의일부는다른제조업체및/또는제조업체의제품의참조자료가될수있으며, 여기에는각소유자의상표에따라상표및/또는기능으로등록된부품의이름이포함될수있습니다. 이러한이용의목적은 SCIEX가장비에포함시키기위해공급하는해당제조업체제품을지명하는것에만국한되며, 이는타인이이러한제조업체및/또는제조업체의제품이름을상표로이용할수있는권한및/또는허가를의미하거나타인이이러한이름을상표로이용하도록허용하지않습니다.

SCIEX 보증은제품판매또는허가시점에제공되는명시적보증에만국한되며 SCIEX의독자적및독점적진술, 보증및의무입니다. SCIEX는법령이나그외의법률또는거래과정이나거래의관습으로인한발생여부와관계없이상품성보증또는특정목적에대한적합성보증을포함하나이에국한되지않는명시적혹은암묵적보증등기타어떤종류의보증도제공하지않습니다. 이와같은모든보증은명확히부인되며직간접적손해를포함해구매자가여기에설명된장비를사용할수있는모든용도또는이로인해발생한모든불리한상황에대해어떠한책임또는불확정책임도지지않습니다.

연구전용.진단절차에사용하지마십시오.

AB Sciex는 SCIEX로사업을운영하고있습니다.

여기에서언급된상표는 AB Sciex Pte. Ltd. 또는각소유주의재산입니다.

AB SCIEX™는사용허가를받아사용되고있습니다.

© 2017 AB Sciex

AB Sciex Pte. Ltd.Blk 33, #04-06Marsiling Ind Estate Road 3Woodlands Central Indus. Estate.SINGAPORE 739256

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E2 / 225

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1 작동 주의 사항 및 제한 사항................................................................................................................8일반안전정보.........................................................................................................................................................8규정 준수..................................................................................................................................................................8호주 및 뉴질랜드..............................................................................................................................................8캐나다.................................................................................................................................................................9유럽.....................................................................................................................................................................9미국.....................................................................................................................................................................9국제.....................................................................................................................................................................9

전기주의사항.......................................................................................................................................................10AC 주전원공급장치......................................................................................................................................10보호 접지선......................................................................................................................................................10

화학주의사항.......................................................................................................................................................11시스템에 안전한 액체....................................................................................................................................12

환기주의사항.......................................................................................................................................................12환경주의사항.......................................................................................................................................................13전자기 환경......................................................................................................................................................14철거및폐기.....................................................................................................................................................14

장비 사용 및 개조.................................................................................................................................................15적격 관계자............................................................................................................................................................15문의.........................................................................................................................................................................16기술지원부서.......................................................................................................................................................16설명서기호및표기규칙....................................................................................................................................16

2 작동원리............................................................................................................................................18시스템 개요............................................................................................................................................................18하드웨어개요........................................................................................................................................................19패널 기호..........................................................................................................................................................23

작동 원리................................................................................................................................................................23데이터 처리......................................................................................................................................................24

작동 원리—SCIEX OS.............................................................................................................................................24소프트웨어 개요.............................................................................................................................................24스캔 기술..........................................................................................................................................................24정량적 분석......................................................................................................................................................27통합...................................................................................................................................................................27Results Tables.....................................................................................................................................................27교정 곡선..........................................................................................................................................................27회귀 수식..........................................................................................................................................................28가중치 인자......................................................................................................................................................29회귀 유형..........................................................................................................................................................29정성적 분석......................................................................................................................................................32

3 작동지침—하드웨어..........................................................................................................................35

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서3 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

목차

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시스템 시동............................................................................................................................................................35시스템의종료및환기.........................................................................................................................................36디버터 밸브............................................................................................................................................................37인젝터모드에서디버터밸브배관연결....................................................................................................37디버터모드에서디버터밸브배관연결....................................................................................................39

교정물질 전달 시스템..........................................................................................................................................40CDS 병교체.......................................................................................................................................................40CDS 시작............................................................................................................................................................41CDS 중지............................................................................................................................................................41CDS 세척............................................................................................................................................................41

4 Configure Devices............................................................................................................................44장치 추가................................................................................................................................................................44장치설정편집.......................................................................................................................................................44장치 삭제................................................................................................................................................................45장치비활성화........................................................................................................................................................45

5 소프트웨어대한액세스구성.............................................................................................................46사용자 개요............................................................................................................................................................46역할및승인.....................................................................................................................................................46Analytics 기능 액세스......................................................................................................................................48사용자 추가......................................................................................................................................................50사용자 비활성화.............................................................................................................................................51사용자 제거......................................................................................................................................................51

전체화면모드활성화.........................................................................................................................................51Laboratory Information Management System (LIMS) Settings..................................................................................51Queue Options 선택.................................................................................................................................................52영역설정선택.......................................................................................................................................................52화합물라이브러리관리......................................................................................................................................53

LibraryView 패키지가져오기..........................................................................................................................53화합물 데이터베이스 가져오기...................................................................................................................53Cliquid 패키지 가져오기.................................................................................................................................54Excel 파일가져오기.........................................................................................................................................55라이브러리데이터베이스스냅샷가져오기 .............................................................................................56제삼자라이브러리패키지가져오기 .........................................................................................................57라이센스가부여된 LibraryView 패키지설치...............................................................................................58화합물충돌 .....................................................................................................................................................59화합물 추가......................................................................................................................................................61화합물에질량스펙트럼추가.......................................................................................................................61

6 작동 지침—소프트웨어......................................................................................................................63홈페이지정보.......................................................................................................................................................63리본및시작관리자정보....................................................................................................................................64상태패널정보.......................................................................................................................................................65프로젝트추가..................................................................................................................................................67프로젝트선택..................................................................................................................................................68장치상태제어.................................................................................................................................................68상태패널표시.................................................................................................................................................68상태 패널 숨기기............................................................................................................................................68

데이터 획득 패널..................................................................................................................................................68사용자 작업 흐름..................................................................................................................................................69

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E4 / 225

목차

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Analyst................................................................................................................................................................69방법 개발자......................................................................................................................................................70관리자...............................................................................................................................................................70검토자...............................................................................................................................................................70

Batch 및 Queue 작업영역......................................................................................................................................70Batch 관리.........................................................................................................................................................71Batch 가져오기.................................................................................................................................................72LIMS에서 batch 가져오기................................................................................................................................73수동 batch 생성................................................................................................................................................74Plate Layout 기능을사용한 Batch 생성..........................................................................................................76이온 참조 표 생성...........................................................................................................................................78CDS를사용한시스템교정.............................................................................................................................79LC Method을사용한시스템교정..................................................................................................................79시스템평형화..................................................................................................................................................80Queue 관리........................................................................................................................................................80단일샘플을 queue로제출..............................................................................................................................82여러샘플을 queue로제출..............................................................................................................................82열 표시 또는 숨기기.......................................................................................................................................83요소 집중 열 추가...........................................................................................................................................83요소 집중 열 삭제...........................................................................................................................................83Queue 아이콘....................................................................................................................................................84

MS Method 작업 영역............................................................................................................................................84MS Method을 생성합니다...............................................................................................................................84MS Method 실험................................................................................................................................................85MS Methods 정보..............................................................................................................................................86MS Method매개 변수.......................................................................................................................................88MS Methods에대한동적충돌에너지를계산합니다................................................................................98

LC Method 작업영역..............................................................................................................................................99LC Method 생성.................................................................................................................................................99

Explorer 작업영역..................................................................................................................................................99분석물질의존재확인...................................................................................................................................99이온 추출........................................................................................................................................................100총이온크로마토그램열기.........................................................................................................................103기본피크크로마토그램열기.....................................................................................................................105데이터및피크표표시................................................................................................................................107샘플정보표시...............................................................................................................................................109그래프선택영역정보표시........................................................................................................................110그래프에서 설정 편집..................................................................................................................................115그래프의 데이터 작업..................................................................................................................................1162개내부창작업도구사용.........................................................................................................................122창또는내부창이동....................................................................................................................................124가우스 평활화 수행......................................................................................................................................126임계 데이터....................................................................................................................................................127데이터하위집합설정(그래프선택영역에적용)..................................................................................129기준선제거크로마토그램..........................................................................................................................130크로마토그램 오프셋...................................................................................................................................132스펙트럼 중심 생성......................................................................................................................................133텍스트로데이터내보내기..........................................................................................................................134피크 목록을 텍스트로 내보내기................................................................................................................136인쇄 날짜........................................................................................................................................................136

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서5 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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Reset Options....................................................................................................................................................137옵션 설정........................................................................................................................................................137

Analytics 작업영역................................................................................................................................................140프로젝트보안내보내기설정.....................................................................................................................140Enable Project Modified Peak Warning.............................................................................................................141Project Default Settings 정의...........................................................................................................................141처리방법생성...............................................................................................................................................141Results Tables 정보..........................................................................................................................................143피크 검토........................................................................................................................................................162통계창정보...................................................................................................................................................169교정곡선: 옵션..............................................................................................................................................171메트릭플롯을사용해데이터분석...........................................................................................................173Audit Trail.........................................................................................................................................................175

통합알고리즘매개변수...................................................................................................................................178MQ4 통합알고리즘매개변수....................................................................................................................178AutoPeak 통합알고리즘매개변수.............................................................................................................180

보고서 템플릿 편집............................................................................................................................................181보고자템플릿................................................................................................................................................183

MS 조정.................................................................................................................................................................184빠른 상태 점검 수행.....................................................................................................................................184검출기최적화................................................................................................................................................185Q1 조정............................................................................................................................................................186TOF MS 조정....................................................................................................................................................186Q1 높음 조정..................................................................................................................................................187고급 문제 해결 수행.....................................................................................................................................188기기 데이터 복원..........................................................................................................................................188

Event Log 작업 영역.............................................................................................................................................189로그 보기........................................................................................................................................................189로그 인쇄........................................................................................................................................................189Archive logs......................................................................................................................................................189

7 서비스 및 유지보수 정보..................................................................................................................191권장 유지보수 일정............................................................................................................................................191표면 청소..............................................................................................................................................................193프론트엔드 청소.................................................................................................................................................193오염 징후........................................................................................................................................................194필요 항목........................................................................................................................................................194청소실무지침...............................................................................................................................................195질량 분석계 준비..........................................................................................................................................196커튼 플레이트 청소......................................................................................................................................197오리피스플레이트전면청소.....................................................................................................................198질량분석계를서비스상태로복원...........................................................................................................199

소스배출용기비우기.......................................................................................................................................199체크밸브및흐름모듈교체.............................................................................................................................201러핑펌프오일량검사.......................................................................................................................................202보관및취급을위한환경요건.........................................................................................................................203질량 분석계 이동................................................................................................................................................204지원 패키지 생성................................................................................................................................................209

8 질량분석계문제해결......................................................................................................................210

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E6 / 225

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A 권장교정이온.................................................................................................................................214APCI 교정 이온.....................................................................................................................................................214ESI 교정 이온........................................................................................................................................................216

B 정밀 질량 및 화학식.........................................................................................................................219

C 기호 용어집......................................................................................................................................220

D 경고 용어집.....................................................................................................................................224

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서7 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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참고: 시스템작동전본안내서의모든섹션을주의깊게읽어보십시오.

이섹션은일반적인안전관련정보와규정준수정보를제공합니다. 또한시스템에대한잠재적인위험과관련경고는물론, 위험을최소화하기위해수행해야할예방책도설명합니다.

이섹션외에도, 기호용어집페이지의 220에서실험실환경, 시스템및이설명서에서사용되는기호와표기규칙에대한정보를참조하십시오. AC 주공급장치, 소스배기, 환기, 압축공기, 질소및러핑펌프요건등현장요건은현장계획안내서를참조하십시오.

일반안전정보개인부상또는시스템손상을방지하기위해이문서에있는모든안전주의사항, 경고와제조업체화학물질안전보건자료(SDS), 제품레이블정보를읽고, 이해하며준수하십시오. 이러한레이블에는국제인증기호가표시되어있습니다. 이러한경고를따르지않으면심한부상을입을수있습니다.

이안전정보는연방, 주, 지방및현지환경보건안전(Environmental Health and Safety, EHS) 규정을보완하기위한것입니다. 제공된정보는시스템의작동에해당되는시스템관련안전정보에대해다룹니다.실천해야할모든안전절차가다포함되어있지는않습니다. 따라서, 사용자와조직은연방, 주, 지방및현지 EHS 규정을준수하고안전한실험실환경을유지해야할책임이있습니다.

적합한실험실참조자료및표준작동절차를참조하십시오.

규정준수본시스템은이섹션에열거된규정및표준을준수합니다. 기존참조자료의시스템및개별시스템구성품에포함된적합성선언을참조하십시오. 해당라벨이시스템에부착되었습니다.

호주및뉴질랜드• 전자기적합성(EMC):아래표준에구현된 1992년무선통신법:

• 전자기간섭 —AS/NZS CISPR 11/ EN 55011/ CISPR 11 (Class A) . 전자기간섭페이지의 14내용을참조하십시오.

• 안전: AS/NZ 61010-1 및 IEC 61010-2-061

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E8 / 225

1작동주의사항및제한사항

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캐나다• 전자파방해(EMI): CAN/CSAA CISPR11. 본 ISM 장치는캐나다 ICES-001을준수합니다. 전자기간섭페이지의 14내용을참조하십시오.

• 안전:

• CAN/CSA C22.2 No. 61010-1

• CAN/CSA C22.2 No 61010-2-061

유럽• 전자파적합성(EMC):아래표준에구현된전자파적합성지침 2014/30/EU:

• EN 61326-1

• EN 55011 (Class A)전자기적합성페이지의 14내용을참조하십시오.

• 안전:아래표준에구현된저전압지침 2014/35/EU:

• EN 61010-1

• EN 61010-2-061

• 폐전기/전자장비(WEEE):폐전기/전자장비 2012/96/EEC, EN 40519에구현. 폐전기/전자장비페이지의 15내용을참조하십시오.

• 포장및포장폐기물(PPW):포장및포장폐기물처리지침 94/62/EC

미국• 전파방출혼선규정: 47 CFR 15, FCC Part 15 (Class A)에구현

• 안전:작업안전보건규정, 29 CFR 1910, 아래표준에서구현:

• UL 61010-1

• IEC 61010-2-061

국제• 전자파적합성(EMC):

• IEC 61326-1

• IEC CISPR 11 (Class A)

• IEC 61000-3-2

• IEC 61000-3-3전자기적합성페이지의 14내용을참조하십시오.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서9 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동주의사항및제한사항

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• 안전:

• IEC 61010-1

• IEC 61010-2-061

전기주의사항

경고! 감전위험. 커버를분리하지마십시오. 커버를분리하면부상또는시스템오작동이발생할수있습니다. 커버는정기유지보수, 검사또는조정시분리할필요가없습니다. 커버를제거해야하는수리작업은 SCIEX현장서비스직원(FSE)에게문의하십시오.

• 필수전기안전실무지침을따르십시오.

• 케이블관리실무절차를사용하여전기케이블을제어합니다. 이렇게하면트리핑위험이발생할가능성이줄어듭니다.

시스템전기사양에대한정보는현장계획안내서를참조하십시오.

AC 주전원공급장치본안내서에나타난대로시스템을호환 AC 주공급장치로연결하십시오.

경고! 감전위험. 모든전기공급장치와고정장치는반드시적격기술자가설치해야하며모든설치는현지규정및안전표준을준수해야합니다.

경고! 감전위험. 긴급상황시주전원공급콘센트에서시스템을분리할수있도록하십시오. 주전원공급콘센트를막지마십시오.

경고! 감전위험. 시스템과함께공급된전원케이블만사용하십시오. 본시스템의작동에맞게적절히등급이매겨진전원케이블을사용하십시오.

질량분석계또는러핑펌프에는외부라인변압기가필요하지않습니다.

보호접지선주전원공급장치에는올바르게설치된보호접지도체가있어야합니다. 보호접지도체는시스템을연결하기전적격기술자에의해설치또는점검되어야합니다.

경고! 감전위험. 보호접지도체를의도적으로차단하지마십시오. 보호접지도체를차단하면감전위험이발생합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E10 / 225

작동주의사항및제한사항

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경고! 감전위험. 보호접지도체(접지케이블)는샘플루프와질량분석계이온소스의해당접지지점사이가연결되어있는지확인하십시오. 이부가접지는 SCIEX에서지정한안전구성을보강합니다.

화학주의사항

경고! 방사선위험, 생물학적위험, 또는독성화학물질위험. 청소나유지보수를수행하기전에오염물질을제거해야하는지판단하십시오. 사용자는방사성물질, 생물학적작용제또는독성화학물질을시스템과함께사용한경우청소또는유지보수전오염물질을제거해야합니다.

경고! 환경위험. 시스템구성품을도시폐기물로폐기하지마십시오. 구성품을폐기할때는현지규정을따르십시오.

경고! 생물학적위험, 독성화학물질위험. 배출배관을질량분석계와소스배출용기에올바로연결해유출을막으십시오.

• 서비스및정기유지보수전에시스템에서사용된화학물질을확인하십시오. 화학물질에대해준수해야할보건안전주의사항은안전보건자료를참조하십시오.

• 통풍이잘되는영역이나흄후드에서작업하십시오.

• 항상무분말네오프렌또는니트릴장갑, 보안경및실험실코트등할당된개인보호장비를착용하십시오.

• 이소프로판올, 메탄올및기타인화성솔벤트등인화성물질과관련된작업을수행할때는점화원을피하십시오.

• 화학물질을사용하거나폐기할때는항상주의하십시오. 올바른화학물취급및폐기절차를따르지않을경우부상을입을수도있습니다.

• 청소중에화학물질과의피부접촉을피하고사용후에는손을씻으십시오.

• 모든배출호스가올바르게연결되어있고모든연결부가설계대로기능하고있는지확인하십시오.

• 사용된모든액체를수집하여위험물질폐기물로처리합니다.

• 생물학적으로위험하거나독성이있는물질또는방사성물질의보관, 취급및폐기에대한모든현지규정을준수하십시오.

• (권장) 러핑펌프, 용매병, 폐기물수집병밑에보조오염물트레이를사용하여잠재적인화학적유출물을담으십시오.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서11 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동주의사항및제한사항

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시스템에안전한액체다음액체는시스템과함께안전하게사용할수있습니다.안전한세척액에대한정보는필요항목페이지의 194의내용을참조하십시오.

주의: 잠재적인시스템손상. SCIEX로부터위험이없다는확인을받을때까지다른액체를사용하지마십시오. 이목록은와전한목록이아닙니다.

• Organic 용매

• MS 등급의아세토니트릴; 100% 이하

• MS 등급의메탄올; 100% 이하

• 이소프로판올; 100% 이하

• HPLC 등급이상의물; 100% 이하

• 테트라히드로푸란; 100% 이하

• 톨루엔및기타방향족솔벤트; 100% 이하

• 헥산; 100% 이하

• 완충액

• 아세트산암모늄, 1% 미만

• 포름산암모늄, 1% 미만

• 인산염; 1% 미만

• 산염기

• 포름산, 1% 미만

• 아세트산, 1% 미만

• 트리플루오로아세트산(TFA), 1% 미만

• 헵타플루오로뷰티르산(HFBA), 1% 미만

• 암모니아/수산화암모늄, 1% 미만

• 인산, 1% 미만

• 트리메틸아민; 1% 미만

• 트리에틸아민; 1% 미만

환기주의사항가스환기및폐기물처리는연방, 주, 지방및현지보건및안전규정을모두준수해야합니다.고객은현지보건및안전규정에따라공기질을유지할책임이있습니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E12 / 225

작동주의사항및제한사항

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소스배기시스템및러핑펌프는전용실험실흄후드또는외부배기시스템으로환기시켜야합니다.

경고! 화재위험. 이온소스에인화성증기가쌓이지않도록하기위해소스배기시스템이연결되어있고작동하고있는지확인하십시오.

경고! 방사선위험, 생물학적위험, 또는독성화학물질위험. 배기가스를전용실험실흄후드또는배기시스템으로환기할때는각별히주의해야하며환기배관을클램프로고정해야합니다. 작업이이루어지는동안실험실이적절하게환기되어야합니다.

경고! 방사선위험, 생물학적위험, 또는독성화학물질위험. 소스배기배출구및러핑펌프배기호스가실험실환기시스템에잘못연결되어있는경우질량분석계를작동하지마십시오. 배기배관을정기적으로점검하여누출이발생하지않는지확인하십시오. 외부공기로의환기가적절히이루어지지않는상태에서질량분석계를사용하면건강에해로우며심각한부상을초래할수있습니다.

경고! 방사선위험, 생물학적위험, 또는독성화학물질위험. 이온소스와함께사용되는독성물질또는유해물질의올바른사용, 억제및배출에대한지식이있으며이에대한교육을받은경우에만이온소스를사용하십시오.

경고! 자상위험, 방사선위험, 생물학적위험또는독성화학물질위험. 창에균열또는손상이발생한경우에는이온소스의사용을중단하고 SCIEX현장서비스직원(FSE)에게문의하십시오. 장비로유입되는독성또는유해물질은소스배기출력장치에들어가게됩니다. 규정된실험실안전절차에따라날카로운조각을폐기하십시오.

환경주의사항주전원, 가열, 환기및배관소모품및고정장치의설치는적격관계자에게요청하십시오. 모든설치는지역내규및생물학적위험규정을준수해야합니다. 시스템관련필요환경조건에대한정보는현장계획안내서를참조하십시오.

시스템을설정할때는장비주위에접근할수있는공간을만드십시오.

위험! 폭발위험. 폭발성가스를포함하고있는환경에서는시스템을작동하지마십시오. 이시스템은폭발성환경에서작동하도록설계되지않았습니다.

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작동주의사항및제한사항

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경고! 생물학적위험. 생물학적위험물질을사용하려는경우항상위험평가, 제어및취급과관련된현지규정을준수하십시오. 시스템전체또는일부는생물학적격납고로작동하도록고안되지않았습니다.

주의: 잠재적인질량변동. 안정된주변온도를유지하십시오. 온도가시간당 2°C 이상변경되면분해능과질량교정이영향을받을수있습니다.

전자기환경

전자기적합성

기본전자파환경:공공주네트워크에서저전압으로직접공급되는특정위치의환경.

성능기준 A(기준 A):장비는검사중성능저하및기능손실없이고안된대로작동되어야합니다.

성능기준 B(기준 B):장비는검사중기능손실(한개이상)을겪을수있으며검사후자체복구가능한성능및기능이저하된채고안된대로작동되어야합니다.

성능기준 C(성능 C):장비는검사중기능손실(한개이상)을겪을수있으며검사후작업자가복구가능한성능및기능이저하된채고안된대로작동되어야합니다.

장비는기본전자파환경에서사용하도록고안되었습니다.

전자기내성조건하의예상성능손실은총이온개수(TIC)에서 20% 변경보다작습니다.

장비에대한호환전자기환경을유지하여장치가의도한대로작동되도록하십시오. 높은수준의전기적잡음이전원공급장치라인에영향을주는경우서지방지기를설치합니다.

전자기간섭

Class A 장비:국내및국내용건축물을공급하는저전압전원공급망에직접연결되는곳이외의모든기관에서사용하는데적합한장비. [CISPR 11:2009, 5.3 파생] Class A 장비는 Class A 제한을충족합니다.

이장비는검사를거쳐, FCC(Federal Communications Commission) 준수규칙의제15항에준하는클래스 A 디지털장치에대한제한에부합되는것으로확인되었습니다.

이러한제한은장비가상업환경에서작동될때유해한간섭에대한적절한보호수단을제공하기위한것입니다. 본장비는무선주파수에너지를생성, 사용하며, 방사할수있으며, 작업자설명서에따라설치및사용되지않을경우무선통신에유해간섭을일으킬수있습니다.

주거지역에서이장비를작동하면자비로간섭을바로잡아야하는유해간섭을일으킬수도있습니다. 제조업체에서명시적으로승인하지않은변경또는개조로인해장비작동권한이무효화될수있습니다.

철거및폐기철거전에현지규정에따라전체시스템의오염물질을제거하십시오.

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작동주의사항및제한사항

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시스템을더이상사용하지않을경우국가및현지환경규정에따라여러자재를분리및재활용하십시오.보관및취급을위한환경요건페이지의 203내용을참조하십시오.

참고: SCIEX는오염제거양식을작성하지않으면어떠한시스템반환도수락하지않습니다. 양식사본을구하려면 FSE에게문의하십시오.

컴퓨터부품을비롯하여시스템구성품이나하위어셈블리를분류되지않은지역폐기물로폐기하지마십시오.

폐전기/전자장비

폐기물, 전기/전자장비(WEEE)의환경영향을줄이기위해현지지역폐기물법령의올바른폐기규정을따르십시오. 이장비를안전하게폐기하려면현지고객서비스부서에무료장비수거및재활용에대해문의하십시오.

장비사용및개조

경고! 개인부상위험. 제품설치, 조정또는재배치가필요할경우 SCIEX담당자에게문의하십시오.

경고! 감전위험. 커버를분리하지마십시오. 커버를분리하면부상또는시스템오작동이발생할수있습니다. 커버는정기유지보수, 검사또는조정시분리할필요가없습니다. 커버를제거해야하는수리작업은 SCIEX현장서비스직원(FSE)에게문의하십시오.

경고! 개인부상위험. SCIEX권장부품만사용하십시오. SCIEX에서권장하지않는부품을사용하거나용도에알맞지않은부품을사용하면사용자를위험에처하게하거나시스템성능에부정적인영향을끼칠수있습니다.

현장계획가이드에권장된환경조건을준수하는실험실의실내에서시스템을사용하십시오.

시스템을제조업체에서규정하지않은방식이나환경에서사용하는경우장비에서제공하는보호상태가손상될수있습니다.

무단시스템개조또는작동으로부상및장비손상을초래할수있으며보증이무효화될수있습니다. 권장환경조건에미치지못하거나조건을초과하는상태에서시스템을작동하거나무단으로개조하여작동하는경우잘못된데이터가생성될수있습니다. 시스템서비스에대한정보는 FSE에게문의하십시오.

적격관계자장비의설치, 검사및정비는적격 SCIEX담당자만수행해야합니다. 시스템을설치한후현장서비스직원(FSE)은고객숙지점검목록을사용하여고객에게시스템작동, 청소및기본유지보수를안내합니다.

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작동주의사항및제한사항

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제조업체에서적격자로판단한관계자만장비를관리해야합니다. 실험실지정자는설치중에적격유지보수기술자(QMP) 절차를익힐수있습니다. QMP는실험실장비서비스와관련된전기및화학위험에대해잘알고있는담당자입니다.

문의SCIEX지원부서

• sciex.com/contact-us

• sciex.com/request-support

고객교육

• 북아메리카: [email protected]

• 유럽: [email protected]

• 유럽및북미이외지역의연락처정보는 sciex.com/education을참조하십시오.

온라인학습센터

• SCIEXUniversity

SCIEX제품의사이버보안에관한최신지침은 sciex.com/productsecurity를참조하십시오.

기술지원부서SCIEX및전세계대리점은충분히교육을받은서비스및기술전문가를보유하고있습니다. 이전문가들이발생할수있는시스템문제또는모든기술적인문제에답변해드립니다. 자세한정보는 SCIEX 웹사이트 sciex.com을방문하십시오.

설명서기호및표기규칙이안내서전체에서다음기호와표기규칙이사용됩니다.

위험! 위험은심한부상이나사망을초래하는행동을나타냅니다.

경고! 경고는주의사항을따르지않을경우부상을초래할수있는행동을나타냅니다.

주의: 주의는주의사항을따르지않을경우시스템손상또는데이터손상이나손실을초래할수있는작업을나타냅니다.

참고: 참고는절차나설명에서중요한정보를강조합니다.

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작동주의사항및제한사항

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팁! 팁은특정요건에대한설명에서기술과절차를적용하는데도움이되는유용한정보와손쉬운방법을제공하지만, 절차의완료하는데꼭필요하지않을수도있습니다.

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작동주의사항및제한사항

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SCIEX X500 QTOF시스템은화학종의정성및정량분석용으로고안되었습니다.

이섹션은질량분석계및 SCIEX OS. 이온소스에대한개요는이온소스작업자안내서를참조하십시오.

시스템개요SCIEX X500 QTOF시스템은다음요소를포함합니다:

• SCIEX X500 QTOF질량분석계(한개의러핑펌프포함)

• Turbo VTM이온소스(트윈 ESI 프로브또는트윈기압화학이온화(APCI) 프로브를사용). TurboVTM이온소스작업자안내서를참조하십시오.

• SCIEX에서제공하는컴퓨터와모니터. 기기최적화, 획득방법개발, SCIEX OS및데이터획득을위한SCIEX OS가포함됩니다. 컴퓨터사양및요건은 SCIEX OS릴리스노트를참고하십시오.

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2작동원리

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하드웨어개요

그림 2-1 전면도와우측면도: X500R

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작동원리

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그림 2-2 전면도와우측면도: X500B

설명항목

표준위치의디버터밸브입니다. 디버터밸브페이지의 37내용을참조하십시오.

1

디버터밸브의대체(왼쪽) 위치. 자세한정보는 FSE에게문의하십시오.2

이온소스이온소스작업자안내서를참조하십시오.3

교정액병 CDS 병교체페이지의 40내용을참조하십시오.4

패널기호. 패널기호페이지의 23내용을참조하십시오.5

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작동원리

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그림 2-3 후면도와좌측면도: X500R

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작동원리

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그림 2-4 후면도와좌측면도: X500B

설명항목

좌측벌크헤드. 가스및통신연결을포함합니다.1

환기버튼. 시스템의종료및환기페이지의 36내용을참조하십시오.2

소스연결. 일부이온소스가이포트에연결됩니다.3

AUX IO 연결. 사용되지않습니다.4

이더넷연결. 획득컴퓨터와의통신에사용됩니다.5

0등급공기가스공급6

배출폐기물. 소스배출용기비우기페이지의 199내용을참조하십시오.7

질소가스공급8

배출가스공급. 이온소스를위한공기공급입니다.9

러핑펌프를위한진공호스연결10

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작동원리

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설명항목

질량분석계간편스위치. 시스템시동페이지의 35또는시스템의종료및환기페이지의 36내용을참조하십시오.

11

획득컴퓨터의 TDC 카드용 Infiniband 케이블연결위치12

패널기호표 2-1은질량분석계상태 LED에대해설명합니다.

표 2-1 패널기호

설명이름색상LED

시스템에전원이공급되면켜집니다.전원녹색

적절한진공수준에도달합니다. 진공이적절한수준이아니면수준(펌프작동이멈추고환기중일때)

진공녹색

시스템이준비상태가되면켜집니다. 시스템을작동하려면시스템이준비상태에있어야합니다.

준비녹색

시스템에서데이터를획득중일때깜박입니다.

스캐닝파란색

시스템오류가발생하면켜집니다.오류빨간색

시스템전원을켜면전원 LED가켜지며오류가발생한 LED는수초간깜박입니다. 그런다음진공LED가깜박이기시작합니다. 적절한진동수준에도달하면이 LED는켜진상태로유지됩니다.

작동원리질량분광분석법은이온의질량대전하비율을측정하여화합물을식별하고정량화합니다.

SCIEX X500 QTOF시스템에는이온의질량대전하비율(m/z)에따라이온을전송하는사극자필터시리즈가있습니다. 이시리즈의일차사극자는 QJet

®이온가이드로, 오리피스플레이트와 Q0

영역사이에있습니다. QJet®이온가이드는이온을필터링하지않지만, 이온이 Q0 영역으로들어

가기전에이온을집중시킵니다. QJet®이온가이드는더넓은오리피스에의해생성된더큰이

온플럭스를사전집중시킴으로써기기감도를높이고신호대잡음비를향상시킵니다. Q0 영역에서는 Q1 사극자로전달되기전에이온이다시집중됩니다.

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작동원리

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Q1 사극자는 Q2 충돌셀로들어가기전에이온을정렬합니다. Q1 사극자는두작동모드에서작동합니다:

• 지정된m/z범위내의모든이온을 Q2 충돌셀로전송합니다. 이는 TOF MS 스캔입니다. 모든이온은 TOF 시스템에의해분석됩니다.

• 지정된m/z비율을가진이온한개를 Q2 충돌셀로전송합니다. 이는 TOF MS/MS 스캔입니다.선택한이온만분석됩니다.

Q2 충돌셀에서는이온의내부에너지가가스분자와의충돌을통해분자결합이깨지는지점까지증가되어생성이온이생성됩니다. 이러한기술을통해사용자는생성이온의m/z비율을측정하는실험을설계하여부모이온의조성을결정하고분자의구조및화학적성질에관한정보를얻을수있습니다.

Q2 충돌셀을통과한후에는이온이추가질량분석을위해 TOF 영역으로들어갑니다. 이들이온은m/z비율에따라각기다른시간에검출기에도달합니다. 검출기에서이온은전압펄스로변환되는전류를생성합니다. 이러한전압펄스는횟수가측정되며펄스횟수는검출기로들어가는이온의양과정비례합니다. 질량분석계는전압펄스를신호로변환한다음이신호를각이온이검출기에도달하는시간과상호연관시킵니다. 이신호는이온강도를나타내고검출기에도달하는시간은특정m/z값을나타냅니다. 질량분석계는이러한데이터를질량스펙트럼으로표시합니다.

데이터처리SCIEX OS는 Windows 7(64비트) 운영체제로작동하는컴퓨터가필요합니다. 컴퓨터및관련시스템소프트웨어는시스템및데이터획득을제어하기위해시스템컨트롤러및관련펌웨어와함께작동합니다. 시스템작동중획득한데이터는 SCIEX OS로전송되어전체질량스펙트럼, 시간경과에따른단일또는여러이온의강도또는시간경과에따른총이온전류로표시될수있습니다.

작동원리—SCIEX OS

소프트웨어개요SCIEX OS에는기구제어, 데이터획득, 데이터처리및보고기능이모두한패키지에포함되어있습니다.

스캔기술이시스템은액상샘플스트림에대한액체크로마토그래피질량분광분석법분석을수행하여화합물을식별, 정량화및검사하는안정된다용도시스템입니다.

이시스템은다음과같은질량분광분석법기술을이용하여샘플을분석합니다.

• 단일질량분광분석법(Mass Spectrometry, MS)의두가지모드:

• 사극자기반단일질량분광분석법(Q1 교정에만해당)

• 비행시간법기반단일질량분광분석법

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E24 / 225

작동원리

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• 한가지모드의직렬식질량분광분석법(MS/MS):

• 생성이온질량분광분석법

서로다른데이터보기

다음그림에서는다음과같은두가지유형의데이터보기의예를보여줍니다: 총이온크로마토그램(TIC) 및추출이온크로마토그램(XIC).

TIC: 총이온전류를시간함수로그린플롯입니다.

그림 2-5 TIC의예

XIC: 단일개별질량값이나일련의질량스펙트럼스캔의질량범위에서강도값을구함으로써생성되는이온크로마토그램입니다. XIC는지정된질량이나질량범위의동작을시간의함수로나타냅니다.

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작동원리

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그림 2-6 XIC의예

크로마토그램

크로마토그램은주어진질량스펙트럼세트를몇차례반복하도록기기가프로그램된경우와같이반복실험에서시간에대한몇몇양적인변화를표시합니다. 크로마토그래픽데이터는데이터강도가 0인경우에도인접합니다. 크로마토그램은기기에의해바로생성되지않으며질량스펙트럼에서생성됩니다.

크로마토그램그래프에서강도는초당계수(cps) 단위로 x축의시간에대하여 y축에표시됩니다.피크는라벨이자동으로지정됩니다.

LC-MS의경우, 크로마토그램은흔히특정스캔이얻어진시간의함수로표시되며이는스캔번호에서차용될수있습니다.

LC 컬럼을사용할때크로마토그램은일반적으로시간종속형인데이터의일반보기를제공하지만, 피크의구성요소에대한정보도제공합니다. 예를들면크로마토그램이하나의피크만표시하더라도, 해당피크가두개이상의화합물을나타낼수있습니다. 즉, 서로다른질량을나타냅니다.

주어진샘플의크로마토그래픽조건이변경되는경우크로마토그래픽데이터의시간과강도가모두변경될수있습니다.

스펙트럼

스펙트럼은기기에서직접얻은데이터로, 일반적으로특정질량-대전하(m/z) 값을사용하여검출된이온수를나타냅니다. 이는 x축의 m/z 값과 y축강도(cps)로이루어진그래프로표시됩니다.

MS/MS 데이터의경우, 강도는모든질량, 전구체및단편이온과연결됩니다.

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작동원리

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데이터를스펙트럼으로표시하면화합물에대한질량별정보를얻을수있습니다. 스펙트럼은특정피크를보여주며해당화합물의m/z값을제공하는데, 이를통해보다더구체적인정보를찾을수있습니다. 예를들어, 스펙트럼에는각질량의강도를비롯하여피크를구성하는모든질량이표시됩니다.

스펙트럼강도는변할수있지만, 화합물의질량은변하지않으므로질량이고정됩니다.

스펙트럼데이터를생성하는방법에는두가지가있습니다.

• 단일스캔만획득하는경우스펙트럼으로데이터표시

• 크로마토그램에서생성

일반적으로스펙트럼은분자중량과함께표시되며, x축에m/z(질량대전하비율) 레이블이지정됩니다. y축에강도가표시됩니다.

정량적분석샘플에서특정물질의농도를찾기위해정량적분석이사용됩니다. 이소프트웨어는알수없는샘플을분석한후알려진농도의동일물질(표준)을포함하는다른샘플과비교함으로써, 알수없는샘플의농도를계산할수있습니다. 이프로세스에서는표준을사용하여교정곡선을생성하고나서알수없는샘플에농도를계산합니다. 이후각샘플의계산된농도를 Results Table에서사용할수있습니다.

통합LC-MS/MS 데이터에서통합은특정화합물과관련된피크의곡선아래영역을확보하는것을지칭합니다. 질량전이, 예상머무름시간, 내부표준, 통합및회귀매개변수를지정하는처리방법의개발을통해소프트웨어는주어진샘플세트의피크를자동으로통합할수있습니다.

주어진샘플세트에대한정량적또는정보가취합된것을 Results Table이라고부릅니다. ResultsTables 페이지의 27내용을참조하십시오.

Results TablesResults Table는샘플세트와관련된정량적및정성적정보를취합한것입니다. Results Table는무엇보다도교정(표준) 곡선을삽입하는결과로측정된농도및정확도에대한계산을포함합니다.Results Table에는라이브러리검색결과, 공식탐색결과및기타정성적분석결과도또한제공됩니다. 영역, 높이및기타수치적특성이표시될수있습니다. 간편하게볼수있도록 Results Table에서칼럼의개수및유형을편집할수있습니다.

교정곡선표준농도곡선으로도알려진교정곡선은알려지지않은샘플과알려진농도의표준샘플세트를비교함으로써알려지지않은샘플물질의농도를측정하는방법입니다. 교정곡선은기기가분석물질의농도(측정하는물질) 변화에어떻게반응(분석신호)하는지보여주는플롯입니다.작업자는알려지지않은샘플에서분석물질의예상농도에가까운다양한농도에걸쳐표준물질시리즈를준비합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서27 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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교정곡선을제작하기위해교정표준물질이사용됩니다. 일부교정샘플에서의올바르지않은판독또는판독누락으로인해분석실행에문제가발생할수있습니다. 교정곡선을생성하려면참고문헌및규제기관지침에서확인할수있는허용가능한방법을따르십시오. 교정곡선준비시우수사례는다음과같습니다.

• 분석물질이측정되는블랭크매트릭스에교정표준물질을준비합니다.

• 각분석물질이측정되도록교정곡선을생성합니다.

• 일반적인표본과비정형표본을포함해분석물질의예상농도범위를확인하십시오.

• 여섯에서여덟개의표준물질을사용해곡선을생성합니다.

이것은종합적인목록이아니며실험실용교정곡선개발에있어모범사례를결정하는데기타지침이사용되어야합니다

참고: 일부분석실행에서단일지점교정표준물질이사용됩니다. 매트릭스블랭크샘플및단일표준물질농도를통해단일지점교정이수행됩니다. 기기반응과분석물질농도간의관계는이러한두지점에의해생성된선을통해결정됩니다. 획득및처리방법은각각의용도로승인되기전에검증되어야합니다.

회귀수식이섹션은회귀곡선을계산하는데사용되는수식을설명합니다. 다음수식에서 x는 Standard샘플의분석물질농도를나타내며 y는해당피크면적또는높이를나타냅니다. 회귀에사용되는정확한변수는표 2-2에제시된바와같이내부표준물질이사용되는지의여부와피크면적또는피크높이가사용되는지의여부에좌우됩니다.

표 2-2 회귀변수

yx면적이사용되는가?

내부표준이사용되는가?

Aa / AisCa / Cis / DF예예

Ha / HisCa / Cis / DF아니오예

AaCa/ DF예아니오

HaCa/ DF아니오아니오

이때

• Ca = 실제분석물질농도

• Cis = 내부표준물질농도

• DF = 희석인자

• Aa = 분석물질피크면적

• Ais = 내부표준물질피크면적

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E28 / 225

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• Ha = 분석물질피크높이

• Ais = 내부표준물질피크높이

가중치인자표 2-3은가중치계수(방정식의 w)가어떻게일곱개의가중치유형각각에대해계산되었는지보여줍니다.

표 2-3 가중치인자

중량(w)가중치유형

항상 1.0입니다.없음

|x| < 10-5인경우 w = 105입니다. 그렇지않은경우 w = 1 / |x|입니다.1 / x

|x| < 10-5인경우 w = 1010입니다. 그렇지않은경우 w = 1 / x2입니다.1 / x2

|y| < 10-8인경우 w = 108입니다. 그렇지않은경우 w = 1 / |y|입니다.1 / y

|y| < 10-8인경우 w = 1016입니다. 그렇지않은경우 w = 1 / y2입니다.1 / y2

x < 0인경우오류가발생합니다. x < 10-5일경우, w = ln 105입니다. 그렇지않은경우 w = |ln x|입니다.

ln x

y < 0인경우오류가발생합니다. y < 10-8일경우, w = ln 108입니다. 그렇지않은경우 w =|ln y|입니다.

ln y

회귀유형교정곡선표준에서분석물질피크영역은알려진농도를대상으로구상됩니다. 이후선은지점에맞춰집니다. 이회귀선은미확인샘플의농도를계산하는데사용됩니다.

Analytics 작업영역에서교정곡선에이용가능한다음회귀유형이있습니다.

• 선형(y = mx + b)

• 0 교차선형(y = mx)

• 평균응답인자

• 이차(y = a2 + bx + c)

• 제곱

• Wagner

• Hill

또한, 다음을포함한회귀의여러가중치유형을추가할수있습니다.

• 없음

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서29 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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• 1/x

• 1/x2

• 1/y

• 1/y2

• ln(x)

• ln(y)

선형

선형교정방정식은다음과같습니다.

y = mx + b

기울기와절편은다음과같이계산됩니다.

이때

영점을이용한선형

영점교정을이용한선형방정식은다음과같습니다.

y = mx

기울기는다음과같이계산됩니다.

평균응답인자

평균감응인자교정은다음과같습니다.

y = mx

이것은영점을이용한선형방정식의수식과같습니다. 그러나기울기는다르게계산됩니다.

또한감응인자의표준편차는다음과같습니다.

이때

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E30 / 225

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참고: x 값이 0인포인트는총합에서제외됩니다.

좌표로이루어진선에일부선형성및일부곡률이있는경우선형또는 2차회귀분석대신에파워회귀분석을사용해이러한핏사이에선을생성합니다.

이차

이차교정방정식은다음과같습니다.

y = a2x2 + a1x + a0

다항식계수는다음과같이계산됩니다.

a2 = (b2/b0 - b5/b3) / (b1/b0 - b4/b3)

a1 = b5/b3 - a2b4/b3

이때

제곱

멱함수교정수식은다음과같습니다.

y = axp

선형교정수식은위에설명된바와같이기울기(m)와절편(b)을계산하는데사용되지만이수식의 x가 In x로대체되고 y가 ln y로대체됩니다. 이수식이완료되면 a와 p가다음과같이계산됩니다:

a = eb

p = m

x 또는 y 값중음성이거나 0인경우에는오류가보고됩니다.

Wagner

Wagner 교정수식은다음과같습니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서31 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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ln y = a2 (ln x)2 + a1 (ln x) + a0

이차교정수식은위에설명된바와같이 a0, a1및 a2를계산하는데사용되지만이수식의 x가 Inx로대체되고 y가 ln y로대체됩니다.

x 또는 y 값중음성이거나 0인경우에는오류가보고됩니다.

Hill

Hill 교정수식은다음과같습니다.

y = (a + bxn) / (c + xn)

a, b, c, n에해법분석기능을제공하는것은불가능합니다. 그러나반복 Levenberg-Marquardt 방법을통해계수가결정됩니다.

정성적분석정성적분석은대상또는미확인화합물을식별하는작업입니다. 질량분광분석법에서어떤화합물이존재하는지에대한결정은질량정확도, 머무름시간, 동위원소패턴, 라이브러리검색및공식탐색을사용하여이루어집니다. 이러한도구를다함께사용하여미확인샘플에포함된대상및비대상화합물의식별에신뢰도를높일수있습니다.

Mass Accuracy

샘플내알려진대상화합물을식별할때, 해당화합물의질량정확도를확인하여이화합물과잠재적으로 '대응'하는화합물의질량정확도가특정허용범위내에있는지알아내는것이유용합니다. 예를들어, 이마잘릴의화학식은 C14H14CIl2N2O이며질량은소수점 4자리까지 296.0483입니다. 양자화부가생성물은보통정확한질량비행시간측정기기를사용하여검출되는양전하이온입니다. 이마잘릴의양자화부가생성물의질량은 297.0556입니다. 샘플내에이마잘릴이존재하는것으로의심되면, 발견된화합물의질량과양자화이마잘릴의질량을비교하여두질량이얼마나서로비슷한지확인합니다. 이들화합물의질량(ppm 또는 Da)이더비슷해질수록대상화합물이일치할가능성이높아집니다.

Retention Time

가장정확한질량분석시스템은특정유형의크로마토그래피를사용합니다. SCIEX X500 QTOF 시스템은액체크로마토그래피(LC)를사용합니다. LC 시스템에서화합물에대해알려진표준물질을사용하는설정된머무름시간은샘플에서알려진대상화합물을식별하는데사용됩니다. 의심되는화합물이미확인샘플에있는경우머무름시간이표준물질에서설정된머무름시간에더가까워질수록미확인화합물이식별될가능성이더높아집니다. 머무름시간은변경될수있으므로업데이트가필요합니다.

동위원소패턴

정확한질량시스템의화합물에서얻은전체스캔질량스펙트럼은분자식에기반한고유한동위원소패턴을가지고있습니다. 그림 2-7에서는이마잘릴에대한동위원소패턴을보여줍니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E32 / 225

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그림 2-7 동위원소패턴

라이브러리검색

미확인샘플에서획득한 MS/MS 스펙트럼과참조스펙트럼을가진화합물데이터베이스와의상호비교는정성분석에서가장강력한도구입니다. 라이브러리검색알고리즘은샘플의미확인스펙트럼을비교하여데이터베이스에있는이미알려진화합물및스펙트럼과일치되는부분을찾습니다. 더가깝게일치하고보고된점수가더높을수록이미알려진화합물과같을확률이높아집니다.

순도, 적합도및반전적합도는다음과같이계산됩니다.

• (감소된) 라이브러리스펙트럼과 (감소된) 미확인스펙트럼모두에서주어진질량위치에피크가나타나며강도비율이사용자가지정한한계내에있는경우, 라이브러리스펙트럼의피크강도는비확인스펙트럼에서의강도와동일하게설정됩니다.

• 순도는다음과같이계산됩니다.100.0 (UL합계)2 / (U합계•L합계) 여기서,

U합계 = ∑ Um•Um

L합계 = ∑ Lm•Lm

UL합계 = ∑ Um•Lm

합계에는모든질량이포함되며여기서 Um및 Lm의강도는감소된미확인라이브러리항목인질량가중치의제곱근입니다. 순도는반드시 0 ~ 100 사이의범위에속하게되며라이브러리스펙트럼과미확인스펙트럼간유사성을측정하는항목입니다.

• 라이브러리스펙트럼에나타나는질량만합계에포함된다는점을제외하면적합도는순도와동일한방법으로계산합니다. 이는합계에서제거되는항이없으므로 L합계또는 UL합계에는영향이없습니다. 적합도는라이브러리스펙트럼이미확인스펙트럼에포함되는정도를측정하는항목입니다. 고적합도및저순도인경우는미확인스펙트럼이순도는낮지만라이브러리화합물을포함하고있을가능성을나타냅니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서33 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동원리

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• 미확인스펙트럼에나타나는질량만합계에포함된다는점을제외하면반전적합도도순도와동일한방법으로계산합니다. 반전적합도는미확인스펙트럼이라이브러리스펙트럼에포함되는정도를측정하는항목입니다.

공식탐색

정확한질량수치를사용하는공식탐색알고리즘은정확한질량, 질량분석계에서생성된 MS및 MS/MS 스펙트럼에기반하여해당화합물에대한가능한화학식을예측합니다. 공식탐색점수가높아도아주낮은 ppm의질량오차내에서일치하는공식이있는경우가종종있으므로, 샘플의화합물이공식탐색기가식별한것과반드시일치하지는않습니다. 공식탐색을사용하여화합물을식별하기전에주의가필요하며확인용검사가별도로수행되어야합니다.

가능한공식의목록은전구체질량정확도, 동위원소패턴및 MS/MS 단편화를사용하여결정됩니다. 제안된공식은전구체질량정확도및일치하는단편의평균 MS/MS 정확도에따라점수가부여됩니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E34 / 225

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경고! 개인부상위험. 시스템을사용할때에는설명서에있는지침을따르십시오.SCIEX에서지정하지않은방식으로장비를사용하면장비의보호기능이손상될수있습니다.

시스템시동

경고! 감전위험. 긴급상황시주전원공급콘센트에서시스템을분리할수있도록하십시오. 주전원공급콘센트를막지마십시오.

참고: 기기를작동시키기전에작동주의사항및제한사항페이지의 8에나와있는안전정보를읽으십시오.

선행조건

• 현장계획안내서에명시된현장요건을만족합니다. 현장계획안내서에는주전원공급장치및연결부, 압축공기, 질소, 러핑펌프, 환기, 배출부및설치위치간극요건에대한정보가수록되어있습니다. 필요한경우당사에문의하여현장계획안내서의사본을구하십시오. 연락처정보는 sciex.com/contact-us

• 질량분석계에소스배출가스, 압축공기및질소가스가연결되어있습니다.

• 4L 소스배출용기가질량분석계후면에있는배출폐기액연결부와실험실환기시스템에연결되어있습니다.

• 질량분석계, 배출용기및환기연결부에는소스배출호스가클램프로단단히고정되어있습니다.

• 질량분석계간편스위치가꺼져있고주전원공급케이블이질량분석계에연결되어있습니다.

• 질량분석계및러핑펌프주전원공급케이블이 200VAC ~ 240VAC 주전원공급장치에연결되어있습니다.

1. 러핑펌프를켭니다.

On/Off 스위치는러핑펌프의주전원공급장치입력연결부옆에있습니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서35 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

3작동지침—하드웨어

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그림 3-1 러핑펌프 — 켜기/끄기스위치

2. 질량분석계의간편스위치를켭니다. 그림 2-3또는그림 2-4내용을참조하십시오.

3. 컴퓨터를켭니다.

4. SCIEX OS소프트웨어를엽니다.

시스템의종료및환기일부절차를위해서는시스템을종료해야합니다. 다른절차에서는시스템의환기도필요합니다. 종료를위한단계를따르고, 필요한경우시스템을환기하십시오.

참고: 주입가스공급장치를분리해야할경우, 분리전에가스라인의압력을낮추십시오.

팁! 질량분석계가오랫동안사용되지않는경우이온소스를배치하고 Standby 모드상태로둡니다. 질량분석계를종료해야하는경우에는다음지침을따르십시오. 터보펌프의회전속도가감소될때까지러핑펌프를끄지마십시오.

1. 진행중인스캔을모두완료하거나중지합니다.

주의: 잠재적인시스템손상. 시스템을종료하기전에샘플유량을끕니다.

2. 시스템으로전달되는샘플유량을끕니다.

3. SCIEX OS소프트웨어에서기기를비활성화합니다(활성화된경우).

4. 소프트웨어를닫습니다.

5. (필요한경우) 이단계에따라시스템을환기합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E36 / 225

작동지침—하드웨어

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참고: 진공인터페이스를전체적으로청소하기전, Q0 영역을청소하기전, 그리고러핑펌프오일을교체하기전시스템을환기하십시오. 더자세한정보는적격유지보수기술자(QMP) 또는 FSE에게문의하십시오.

a. 3초간 Vent버튼을길게누릅니다.

진공 LED가빠르게깜박이기시작합니다(펌프작동이멈춘때보다빠르게). 터보펌프의속도가점점감소합니다.

b. 러핑펌프를끕니다. 시스템을 20분간환기시킵니다.

6. 질량분석계의간편스위치를끕니다.그림 2-3 페이지의 21또는그림 2-4 페이지의 22내용을참조하십시오.

7. 질량분석계주전원공급케이블을주전원공급콘센트에서분리합니다.

8. (시스템을환기한경우) 러핑펌프주전원공급케이블을주전원공급콘센트에서분리합니다.

9. 질량분석계를환기시키고 8시간이상사용을하지않을경우, 질소가스공급장치를끕니다.

질소가스공급장치를끄지않는경우기기전원을끄고환기를시킬때질소가스가 4L/min의속도로커튼플레이트를통해계속흘러나올것입니다.

질량분석계를환기한후• 빠른상태점검수행페이지의 184.

• 시작후 16에서 24시간내에분해드리프트가발생하면빠른상태점검을수행하십시오.

디버터밸브디버터밸브는 2위치, 6포트밸브입니다. 이밸브를인젝터모드또는디버터모드로배관에연결할수있습니다.인젝터모드에서는이밸브를샘플주입을위한샘플루프와함께구성할수있습니다. 디버터모드에서는각각의 LC 실행시작시폐기액병으로샘플의경로가전환되도록구성할수있습니다.

주의: 잠재적인잘못된결과. 실행중디버터밸브버튼을누르지마십시오. 부정확한데이터가생성될수있습니다.

인젝터모드에서디버터밸브배관연결밸브가 Position A에있으면샘플이외부루프를통과하여흐릅니다. 밸브가 Position B로전환되면샘플이주입됩니다.

• 밸브를인젝터모드로배관에연결합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서37 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—하드웨어

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그림 3-2 디버터밸브 — 인젝터모드위치 A

그림 3-3 디버터밸브 — 인젝터모드위치 B

설명항목

샘플유입1

폐기물배출2

샘플루프(포트 3과 6)3

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E38 / 225

작동지침—하드웨어

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설명항목

이동상유입4

컬럼방향(또는컬럼이설치되지않은경우는질량분석계방향)5

디버터모드에서디버터밸브배관연결밸브가 A 위치에있을때, 폐기위치로흐릅니다. 밸브가 B 위치로전환되면, 샘플이질량분석계로흐릅니다.

• 밸브를디버터모드로배관에연결합니다.

그림 3-4 디버터밸브 — 디버터모드위치 A

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서39 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—하드웨어

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그림 3-5 디버터밸브 — 디버터모드위치 B

설명항목

질량분석계로1

컬럼에서2

폐기물배출3

교정물질전달시스템교정물질전달시스템(CDS)은전체 batch 획득과정에서시스템의질량정확도가유지되도록질량분석계의자동질량교정을위한교정액을주입합니다.

교정에소요되는시간은약 1분 30초정도이기때문에교정을자주실시하는것이권장됩니다.

CDS 병교체

경고! 독성화학물질위험. 화학물질을취급, 보관및폐기할때는화학제품안전보건자료를참조하고모든권장안전절차를따르십시오. 보건안전예방책은화학주의사항페이지의 11내용을참조하십시오.

CDS는교정액병을두개까지지원합니다. 첫번째병은양성교정액에사용합니다. 두번째병은음성교정액에사용합니다. 교차감염을방지하려면병을올바른위치에설치해야합니다.

1. 병을 CDS에서제거하려면반시계방향으로돌립니다.

2. 새병을설치하려면시계방향으로돌립니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E40 / 225

작동지침—하드웨어

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CDS 시작직접제어기능을사용하여 CDS 세척시또는조정과정에서용액주입시수동으로 CDS를시작할수있습니다.

1. 상태패널에서 Direct CDS Control아이콘( )을클릭합니다.

Device Control대화상자가열립니다.

그림 3-6 Device Control (CDS)

2. Start를클릭합니다.

CDS 중지

1. 상태패널에서 Direct CDS Control ( ) 아이콘을클릭합니다.

2. Stop을클릭합니다.

CDS 세척

경고! 독성화학물질위험. 화학물질을취급, 보관및폐기할때는화학제품안전보건자료를참조하고모든권장안전절차를따르십시오. 보건안전예방책은화학주의사항페이지의 11내용을참조하십시오.

다른교정액을설치하기전에잔류교정물질제거를위해 CDS 튜브를세척해야합니다. 이절차는양쪽 CDS 병에적용됩니다.

필요항목

• 세척액병(1:1 물:아세토니트릴)

• 폐기액용기

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서41 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—하드웨어

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1. 교정액병을제거하십시오.

2. 두교정물질튜브의끝을폐기액용기에연결합니다. 이때튜브가용액에잠기지않도록주의합니다.

용기에는기기에서배출될최소한 20mL의추가용액이들어갈수있어야합니다.

3. SCIEX OS에서아래의단계를따라 CDS를 Wash 모드로전환합니다.

a. 상태패널에서 Direct CDS Control아이콘을클릭합니다.

Device Control대화상자가열립니다.

그림 3-7 Device Control (CDS)

b. Wash Mode를선택합니다.

세척모드에서병위치뒤에배치된병센서를통해펌프를제어할수있습니다.

4. 병센서스위치를눌러펌프를작동시키고 1분간계속누른상태를유지합니다.

CDS에서공기를빨아들이면서액체를배출시킵니다. 펌프를중지하려면스위치를누른손을뗍니다.

5. 폐기액을버립니다.

6. 입구(왼쪽) 튜브를세척액병에연결합니다.

7. 복귀(오른쪽) 튜브를폐기액병에연결합니다.

8. 소프트웨어가계속 Wash 모드에있는지확인합니다.

9. 병센서스위치를 1분간또는 20 mL의용액이폐기액용기에채워질때까지누릅니다.

10.폐기액을버립니다.

11. 2단계에서 5단계까지반복하면서세척액으로정화합니다.

12. (옵션) 입구튜브를새교정액병에연결한다음 6단계에서 9단계까지반복하여 CDS를새교정액으로정화합니다. 샘플을보존하려면 10초간또는 2 mL ~ 3 mL의용액이폐기액용기에채워질때까지만정화합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E42 / 225

작동지침—하드웨어

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팁! 새교정액이교정액병으로다시순환되도록하기전에먼저튜브를새교정액으로정화시키는것이좋습니다.

13. SCIEX OS에서Wash Mode를삭제합니다.

14.복귀튜브를교정액병에연결한다음병을설치합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서43 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—하드웨어

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구성작업영역을사용해다음을지원합니다:

• 장치활성화및비활성화

• 장치추가및삭제

• 장치설정편집

• 장치시험

장치추가

1. Configuration작업영역을엽니다.

2. 왼쪽패널에서 Devices를클릭합니다.

3. Deactivate를클릭합니다.

4. Add를클릭합니다.

Device대화상자가열립니다.

5. Type목록에서필요유형을선택합니다.

6. Model목록에서필요한모델을선택합니다.

7. Settings를클릭해설정을편집하거나기본값을복원합니다.

8. Test Device를클릭해장치가올바르게구성되고이용가능한지확인하십시오.

9. Save를클릭합니다.

10.필요시 4단계 ~ 9단계를반복합니다.

11. Activate Devices를클릭합니다.

Devices 목록에서선택된모든장치가활성화됩니다.

장치설정편집

1. Configuration작업영역을엽니다.

2. 왼쪽패널에서 Devices를클릭합니다.

3. Deactivate를클릭합니다.

4. 통합시스템또는질량분석계를선택하십시오.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E44 / 225

4Configure Devices

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포함된체크박스가선택됩니다.

5. Edit를클릭합니다.

Device대화상자가열립니다.

6. 필요할경우장치를편집하십시오.

• Settings을클릭해장치구성요소에대한정보를보고, 장치기본값을복원하며, 장치를시험하십시오.

• Test Device를클릭해장치가올바르게구성되고이용가능한지확인하십시오.

7. Test Device를클릭하십시오.

시험이성공적이라면녹색알림메시지가나타납니다. 그렇지않을경우알림메시지가구성이유효하지않고업데이트해야함을나타냅니다.

8. Save를클릭합니다.

9. Activate Devices를클릭합니다.

Devices목록에서선택된모든장치가활성화됩니다.

장치삭제

참고: 삭제되는장치가통합시스템의일부일경우, 통합시스템의모든장치가삭제됩니다.사용자는통합시스템에서한장치만삭제할수없습니다.

1. Configuration작업영역을엽니다.

2. 왼쪽패널에서 Devices를클릭합니다.

3. Deactivate를클릭합니다.

4. 장치를선택합니다.

5. Delete를클릭합니다.

6. Activate Devices를클릭합니다.

Devices목록에서선택된모든장치가활성화됩니다.

장치비활성화

1. Configuration작업영역을엽니다.

2. 왼쪽패널에서 Devices를클릭합니다.

3. Deactivate를클릭합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서45 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

Configure Devices

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관리자또는방법개발자역할이지정된사용자만이작업을수행할수있습니다.

사용자개요사용자가이기능에액세스할수있으면, 해당파일은사용자로레이블이표시됩니다. 사용자가액세스할수없는경우해당파일은숨겨진상태가됩니다.

역할및승인사용자가한개이상의역할에배정될수있습니다.

표 5-1 역할및승인

검토자분석자방법개발자관리자승인

아니요예예예Queue 작업영역액세스

아니요예*예예Batch 작업영역액세스

아니요아니요아니요예다음정량화설정에액세스합니다.

• 프로젝트보안내보내기설정

• 프로젝트수정피크경고활성화

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E46 / 225

5소프트웨어대한액세스구성

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표 5-1 역할및승인 (계속)

검토자분석자방법개발자관리자승인

아니요아니요예예다음고급정량화설정및기능에액세스:

• 프로젝트통합기본값

• 프로젝트단위및교정기본값

• 처리방법생성

• Result Table의정량화방법을*.qmethod로내보내기

• 잠금해제된 Results Tables 내보내기및저장

• 보고서생성및잠금해제된Results Tables 저장

• 열설정수정

• 사용자지정열추가

• Result Table 잠금해제

예아니요예예LIS로전송

아니요예예예다음정량화설정및기능에액세스:

• Results Tables 생성

예예예예결과검토

아니요아니요예예LC methods

아니요아니요예예MS methods

예예예예데이터탐색

예예예예로그보기

아니요아니요아니요예로그보관

아니요아니요예예LIS 구성

아니요예예예장치구성

아니요아니요예예장치고급옵션구성

아니요아니요아니요예Users작업영역에액세스해사용자추가및역할배정

아니요아니요예예질량분석계최적화

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서47 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

소프트웨어대한액세스구성

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표 5-1 역할및승인 (계속)

검토자분석자방법개발자관리자승인

아니요아니요예예프로젝트추가

*Analyst는잠긴 MS 및 LC methods을활용해데이터를획득만할수있습니다.

Analytics기능액세스

참고: Analytics작업영역에서데이터를출력하는제어방식은 Results Tables를내보내고데이터를 LIMS에전송하여보고하는것입니다.Results Tables에서복사하여붙여넣기같은그밖의데이터출력방법은비제어방법입니다. 규제목적상비제어출력방법을사용하지마십시오.

표 5-2 Analytics기능액세스

검토자분석자방법개발자관리자승인

아니요예예예세션파일생성

아니요아니요예예처리방법생성

아니요아니요예예처리방법수정

아니요아니요예예잠금해제된Results Table 보고서내보내기및생성

예아니요예예저장시기존Results Table 교체

아니요아니요예예기본처리방법설정변경

아니요아니요예예기본처리방법통합알고리즘변경

아니요아니요예예기본처리방법통합매개변수수정

아니요아니요아니요예프로젝트수정피크경고허용

아니요아니요아니요예프로젝트보안내보내기설정허용

아니요예예예샘플을 ResultsTable에추가

아니요예예예샘플을 ResultsTable에서제거

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E48 / 225

소프트웨어대한액세스구성

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표 5-2 Analytics기능액세스 (계속)

검토자분석자방법개발자관리자승인

아니요아니요예예Sample Name 수정

아니요예예예Sample Type 수정

아니요아니요예예Sample ID 수정

아니요예예예실제농도수정

아니요예예예희석인자수정

아니요아니요예예의견필드수정

아니요예예예수동통합허용

아니요예예예피크를찾을수없음으로설정허용

아니요예예예Results Table에서피크포함또는제외

아니요아니요예예맞춤과질량에대한농도단위와회귀설정값수정

아니요예예예단일크로마토그램에대한 ResultsTable 통합매개변수수정

아니요예예예Results Table 구성요소에대한처리방법수정

예예예예Results Table에서Metric Plot을생성,사용또는내보내기

아니요아니요예예Custom Columns 추가, 이름변경또는수정

아니요아니요예예Custom Columns 제거

아니요아니요예예Results Table 열설정수정

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서49 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

소프트웨어대한액세스구성

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표 5-2 Analytics기능액세스 (계속)

검토자분석자방법개발자관리자승인

아니요아니요예예Column Settings를Project Default으로저장

예예예예Results Table 잠그기및저장

아니요아니요예예Results Table 잠금해제및저장

예아니요예예Results Table 검토및저장

아니요아니요예예바코드수정

아니요아니요예예External Calibration내보내기, 가져오기또는제거

아니요아니요예예비교샘플배정변경

아니요아니요예예MSMS Spectra을라이브러리에추가

사용자추가

1. Users작업영역을엽니다.

2. Add를클릭합니다.

Select Users or Groups 대화상자가열립니다.

3. 필요에따라사용자를추가하고 OK를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

새사용자는작업영역의왼쪽패널에있는사용자목록에포함됩니다.

5. 왼쪽패널에서새사용자를클릭합니다.

6. 작업영역의오른쪽패널에서사용자의역할을선택합니다.

팁! 사용자가한개이상의역할에배정될수있습니다.

7. Save를클릭합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E50 / 225

소프트웨어대한액세스구성

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사용자비활성화

1. Users작업영역을엽니다.

2. 왼쪽패널에서사용자나그룹을클릭합니다.

3. Active확인란을지웁니다.

4. Save를클릭합니다.

사용자제거이절차를사용해소프트웨어에서사용자를제거합니다. 사용자가 Microsoft Windows에서제거된경우, SCIEX OS에서도제거되어야합니다.

1. Users작업영역을엽니다.

2. Users목록에서사용자나그룹을클릭합니다.

3. Remove User를클릭합니다.

전체화면모드활성화이기능을선택해 SCIEX OS소프트웨어를기본애플리케이션으로사용합니다. 사용자는소프트웨어를닫거나다른소프트웨어프로그램에액세스할수없습니다.

1. Configuration작업영역을엽니다.

2. 왼쪽패널에서 General을클릭하십시오.

3. General에서 Enable을선택해 Full Screen Mode를사용합니다.

4. Save를클릭합니다.

Laboratory Information Management System(LIMS) Settings이기능을사용해 LIS 서버에연결합니다. 사용자는 LIS에서 batch 정보를가져오는것은물론 LIS로결과를내보낼수있습니다.

1. Configuration작업영역을엽니다.

2. 왼쪽패널에서 LIMS Communication을클릭합니다.

3. 서버주소를 LIMS Server필드에입력합니다.

4. Enabled확인란을선택합니다.

5. Save를클릭합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서51 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

소프트웨어대한액세스구성

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Queue Options 선택Queue Options는선택한획득방법으로각샘플을실행하면서보류중인샘플또는수동으로제출된샘플에대한제출목록을통해한항목씩진행됩니다. 모든샘플을획득한후에는 queue가중지되고시스템은 Ready 상태로전환됩니다. Instrument Idle Time 필드에설정된시간이모두경과한후에는시스템이 Standby 상태로전환됩니다. Standby 상태에서는 LC 펌프및컬럼오븐이꺼지고일부질량분석계전압도꺼집니다. 샘플성질저하를방지하기위해오토샘플러온도제어는켜진상태로유지됩니다.

관리자또는방법개발자역할로지정된사용자만마지막획득완료후기기가대기상태로전환되기전에 queue가실행되는시간길이를수정할수있습니다.

1. Configuration작업영역을엽니다.

2. 왼쪽패널에서 Queue를클릭합니다.

3. Instrument idle time필드에시스템이 Standby 상태로전환되기전에 Ready 상태로유지되는시간을분단위로입력합니다.

4. Maximum number of acquired samples allowed필드에개수를입력합니다.

5. If a sample is missing, proceed to the next sample확인란을선택합니다. 샘플이없는경우 queue이다음샘플로진행됩니다.

6. If calibration fails, proceed to the next sample확인란을선택합니다. 교정이실패하는경우 queue이다음샘플로진행됩니다.

7. Save calibration data (in the current project)확인란을선택합니다.

8. Save를클릭합니다.

영역설정선택이기능은 Control Panel에서선택된지역및언어설정을적용합니다. 마침표 "." 또는쉼표 ","만소수점구분기호로사용될수있습니다. 자릿수구분단위는지원되지않습니다.

1. Configuration작업영역을엽니다.

2. 왼쪽패널에서 General을클릭합니다.

3. General패널의 Regional Settings에서 Apply를클릭합니다.

Windows 운영체제에설정되었던지역설정은컴퓨터재시작후소프트웨어에적용됩니다.

4. Save를클릭합니다.

5. 컴퓨터를재시작합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E52 / 225

소프트웨어대한액세스구성

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화합물라이브러리관리

LibraryView 패키지가져오기

1. Manage창에서 Compounds목록을확장시킵니다.

2. All Compounds를클릭합니다.

3.

4. Library Importer대화상자에서 LibraryView Package (*.lbp)를클릭합니다.

5. Open대화상자에서해당파일을탐색합니다.

6. 파일을선택하고 Open을클릭합니다.

7. 다음중한가지를수행합니다.

• 모든화합물을가져오려면 Library Importer대화상자에서 Compound열위에있는 All을클릭합니다.

• 개별화합물을가져오려면 Library Importer대화상자에있는적절한행의안쪽을클릭합니다.

팁! 화합물을찾으려면 Search필드를이용하십시오. 검색기준입력과정에서표시된열이검색되어새로고침되면서입력한기준과일치하는정보만나타납니다.

8. 화합물을라이브러리에추가하려면다음중하나를수행합니다.

• Add to Compound Library목록에서적절한라이브러리를선택합니다.

• Add to Compound Library목록필드에라이브러리의이름을입력합니다.

9. Next를클릭합니다.

참고: 화합물이모두데이터베이스에복사되기전에사용자가가져오기를취소하더라도이미가져오기가완료된화합물은데이터베이스에남아있습니다. 소프트웨어는데이터베이스를가져오기전상태로되돌리지않습니다.

10.필요시모든충돌사항을해결하십시오.

11. Finish를클릭합니다.

화합물데이터베이스가져오기

1. Manage창에서 Compounds목록을확장시킵니다.

2. All Compounds를클릭합니다.

3.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서53 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

소프트웨어대한액세스구성

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4. 다음중한가지를수행합니다.

• Library Importer대화상자에서 DiscoveryQuant Compound Database (*.mdb)를클릭합니다.

• Library Importer대화상자에서 Analyst Compound Database (*.mdb)를클릭합니다.

5. Open대화상자에서해당파일을탐색합니다.

6. 파일을선택하고 Open을클릭합니다.

7. 다음중한가지를수행합니다.

• 모든화합물을가져오려면 Library Importer대화상자에서 Compound열위에있는 All을클릭합니다.

• 개별화합물을가져오려면 Library Importer대화상자에있는적절한행의안쪽을클릭합니다.

팁! 화합물을찾으려면 Search필드를이용하십시오. 검색기준입력과정에서표시된열이검색되어새로고침되면서입력한기준과일치하는정보만나타납니다.

8. 화합물을라이브러리에추가하려면다음중하나를수행합니다.

• Add to Compound Library목록에서적절한라이브러리를선택합니다.

• Add to Compound Library목록필드에라이브러리의이름을입력합니다.

9. Next를클릭합니다.

참고: 화합물이모두데이터베이스에복사되기전에사용자가가져오기를취소하더라도이미가져오기가완료된화합물은데이터베이스에남아있습니다. 소프트웨어는데이터베이스를가져오기전상태로되돌리지않습니다.

10.필요시모든충돌사항을해결하십시오.

11. Finish를클릭합니다.

Cliquid 패키지가져오기

1. Manage창에서 Compounds목록을확장시킵니다.

2. All Compounds를클릭합니다.

3.

4. Library Importer대화상자에서 Cliquid Package (*.clq)를클릭합니다.

5. Open대화상자에서해당파일을탐색합니다.

6. 파일을선택하고 Open을클릭합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E54 / 225

소프트웨어대한액세스구성

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7. 다음중한가지를수행합니다.

• 모든화합물을가져오려면 Library Importer대화상자에서 Compound열위에있는 All을클릭합니다.

• 개별화합물을가져오려면 Library Importer대화상자에있는적절한행의안쪽을클릭합니다.

팁! 화합물을찾으려면 Search필드를이용하십시오. 검색기준입력과정에서표시된열이검색되어새로고침되면서입력한기준과일치하는정보만나타납니다.

8. 화합물을라이브러리에추가하려면다음중하나를수행합니다.

• Add to Compound Library목록에서적절한라이브러리를선택합니다.

• Add to Compound Library목록필드에라이브러리의이름을입력합니다.

9. Next를클릭합니다.

10.필요한경우 Instrument Name대화상자의 Instrument Name필드에질량분석계의이름을입력합니다.

11. OK를클릭합니다.

참고: 화합물이모두데이터베이스에복사되기전에사용자가가져오기를취소하더라도이미가져오기가완료된화합물은데이터베이스에남아있습니다. 소프트웨어는데이터베이스를가져오기전상태로되돌리지않습니다.

12.필요시모든충돌사항을해결하십시오.

13. Finish를클릭합니다.

Excel 파일가져오기

1. Manage창에서 Compounds목록을확장시킵니다.

2. All Compounds를클릭합니다.

3.

4. Library Importer 대화상자에서 Excel file (*.xls)을클릭합니다.

5. Open대화상자에서해당파일을탐색합니다.

6. 파일을선택하고 Open을클릭합니다.

7. Library Importer 대화상자에서가져올적절한 Excel 워크시트를선택합니다.

8. 워크시트에열머리글이포함된경우, Selected Excel Worksheet has headers옆의확인란을선택합니다.

9. 필요한경우 Instrument Name대화상자의 Instrument Name필드에질량분석계의이름을입력합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서55 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

소프트웨어대한액세스구성

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10.각정보열에대한적절한머리글을선택합니다.

팁! Compound:CompoundId및 Compound:Name은필수선택항목입니다. 필요하지않은정보인경우 ---[not used]---를선택합니다.

11. Next를클릭합니다.

12.다음중한가지를수행합니다.

• 모든화합물을가져오려면 Library Importer대화상자에서 Compound열위에있는 All을클릭합니다.

• 개별화합물을가져오려면 Library Importer대화상자에있는적절한행의안쪽을클릭합니다.

팁! 화합물을찾으려면 Search필드를이용하십시오. 검색기준입력과정에서표시된열이검색되어새로고침되면서입력한기준과일치하는정보만나타납니다.

13.화합물을라이브러리에추가하려면다음중하나를수행합니다.

• Add to Compound Library목록에서적절한라이브러리를선택합니다.

• Add to Compound Library목록필드에라이브러리의이름을입력합니다.

14. Next를클릭합니다.

참고: 화합물이모두데이터베이스에복사되기전에사용자가가져오기를취소하더라도이미가져오기가완료된화합물은데이터베이스에남아있습니다. 소프트웨어는데이터베이스를가져오기전상태로되돌리지않습니다.

15.필요시모든충돌사항을해결하십시오.

16. Finish를클릭합니다.

라이브러리데이터베이스스냅샷가져오기

주의: 잠재적인데이터손실. 이패키지의정보는 LibraryViewTM소프트웨어데이터베이스의기존데이터를모두덮어씁니다. 가져오기가시작되면취소옵션을사용할수없습니다. 이절차를수행하기전에현재데이터베이스에대한백업생성이권장됩니다.

1. Manage창에서 Compounds목록을확장시킵니다.

2. All Compounds를클릭합니다.

3.

4. Library Importer대화상자에서 Overwrite Database with Library Snapshot (*.lbp)를클릭합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E56 / 225

소프트웨어대한액세스구성

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5. Warning대화상자에서 Yes를클릭합니다.

6. Open대화상자에서해당파일을탐색합니다.

7. 파일을선택하고 Open을클릭합니다.

8. Finish를클릭합니다.

제삼자라이브러리패키지가져오기

1. Manage창에서 Compounds목록을확장시킵니다.

2. All Compounds를클릭합니다.

3.

4. Library Importer대화상자에서 Third Party Library Package (*.tplp)를클릭합니다.

5. Open대화상자에서해당파일을탐색합니다.

6. 파일을선택하고 Open을클릭합니다.

7. 다음중한가지를수행합니다.

• 모든화합물을가져오려면 Library Importer대화상자에서 Compound열위에있는 All을클릭합니다.

• 개별화합물을가져오려면 Library Importer대화상자에있는적절한행의안쪽을클릭합니다.

팁! 화합물을찾으려면 Search필드를이용하십시오. 검색기준입력과정에서표시된열이검색되어새로고침되면서입력한기준과일치하는정보만나타납니다.

8. 화합물을라이브러리에추가하려면다음중하나를수행합니다.

• Add to Compound Library목록에서적절한라이브러리를선택합니다.

• Add to Compound Library목록필드에라이브러리의이름을입력합니다.

9. Next를클릭합니다.

참고: 화합물이모두데이터베이스에복사되기전에사용자가가져오기를취소하더라도이미가져오기가완료된화합물은데이터베이스에남아있습니다. 소프트웨어는데이터베이스를가져오기전상태로되돌리지않습니다.

10.필요시모든충돌사항을해결하십시오.

11. Finish를클릭합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서57 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

소프트웨어대한액세스구성

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라이센스가부여된 LibraryView 패키지설치

참고: LibraryViewTM소프트웨어는반드시설치되어야합니다.

라이센스가부여된라이브러리는 DVD 또는 SCIEX웹사이트에서다운로드가능한 .zip 어플리케이션파일로설치할수있습니다. 어플리케이션파일에는화합물이름, 화합물전환정보, 화합물라이브러리스펙트럼이포함될수있습니다.

1. 관리자권한을갖는 Microsoft Windows 사용자로컴퓨터에로그온하십시오.

2. 다음중한가지를수행합니다.

• DVD를통해라이브러리가설치되고있는경우에는 DVD 드라이브에 DVD를로드하고 5단계를진행하십시오.

• 다운로드된파일을통해라이브러리가설치되는경우에는 3단계를진행하십시오.

3. 필요한 .zip 파일은 SCIEX웹사이트에서다운로드하십시오.

팁! 잠재적인설치문제를예방하려면파일을컴퓨터데스크톱외위치에저장하십시오.

4. 다운로드가완료되면다운로드한파일을마우스오른쪽으로클릭한뒤 Extract All을클릭하십시오.

5. 추출된파일또는 DVD를찾아 Library.exe를더블클릭하십시오.

팁! User Account Control대화상자가열리면 Yes를클릭하십시오.

팁! LibraryView Setup (Not Responding) 메시지대화상자가열리면메시지대화상자를닫고Library.exe파일을마우스오른쪽으로클릭한뒤 Run as administrator옵션을선택하여설치를다시시작하십시오.

6. LibraryViewPackages Feature Unavailable대화상자에서 Software Activation을클릭하십시오.

LibraryViewPackages Activation대화상자가열립니다.

7. 제공된라이센스키를해당필드에정확하게입력하십시오.

라이센스키를사용할수없는경우에는 sciex.com/request-support에문의하십시오.

8. Generate Computer ID를클릭하십시오.

이경우워크스테이션의고유한식별자가생성됩니다.

9. Copy ID to Clipboard를클릭하십시오.

10.지침에따라라이센스를획득합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E58 / 225

소프트웨어대한액세스구성

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참고: 라이센스를획득하려면인터넷액세스가필요합니다.컴퓨터에인터넷액세스가가능하지않는경우에는생성된컴퓨터 ID의사본을만드십시오. 인터넷액세스가가능한컴퓨터에서는 SCIEX웹사이트의라이센스페이지로이동한뒤지침에따라라이센스를획득하십시오.

필수정보를제출하면제공한모든이메일주소로라이센스파일이전송됩니다.

11.브라우저창을닫습니다.

12.라이센스파일을포함한이메일을수신하면라이센스파일을워크스테이션데스크톱으로복사하십시오.

13. LibraryViewPackages Activation대화상자에서 Install License File을클릭하십시오.

14. Select the new license file to be installed대화상자에서라이센스파일을탐색하여선택합니다.

15. Open을클릭합니다.

Select the new license file to be installed 및 LibraryViewPackage Activation대화상자가모두닫힙니다.

16.다음중한가지를수행합니다.

• 모든화합물을가져오려면 Library Importer대화상자에서 Compound열위에있는Library Importer대화상자에서.

• 개별화합물을가져오려면 Library Importer대화상자에서에있는적절한행의안쪽을클릭합니다.

팁! 화합물을찾으려면 Search필드를이용하십시오. 검색기준입력과정에서표시된열이검색되어새로고침되면서입력한기준과일치하는정보만나타납니다.

17. Next를클릭합니다.

참고: 화합물이모두데이터베이스에복사되기전에사용자가가져오기를취소하더라도이미가져오기가완료된화합물은데이터베이스에남아있습니다. 소프트웨어는데이터베이스를가져오기전상태로되돌리지않습니다.

18.필요시모든충돌사항을해결하십시오.

19. Finish를클릭합니다.

화합물충돌화합물그룹을포함한라이브러리를설치하거나개별화합물을설치할때, 소프트웨어에서는패키지의화합물과동일한이름또는수식을가진화합물을데이터베이스에서검색합니다. 소프트웨어는화합물이발견되는경우에패키지내해당화합물에플래그를지정한뒤계속진행을위해사용자가입력할때까지대기합니다.

사용자는다음을선택할수있습니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서59 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

소프트웨어대한액세스구성

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• 화합물정보를병합합니다. 패키지화합물의새스펙트럼, 전환, 머무름시간이데이터베이스에저장된화합물정보에추가됩니다.

• 화합물정보를덮어씁니다. 패키지의화합물정보가데이터베이스에저장된화합물정보를대체합니다.

• 화합물정보를보관합니다. 데이터베이스의화합물정보를보관하고패키지의화합물정보를버립니다.

사용자가올바른선택을할수있도록충돌정보가제공됩니다.

화합물충돌보기

1. 충돌의세부내용을보려면화합물옆의 Library Importer 대화상자에서 Resolve Library Importer대화상자에서를클릭합니다.

2. 다음중한가지를수행합니다.

• Keep Original을클릭하여기존화합물정보를보관하고새정보를버립니다.

• Use New를클릭하여기존화합물정보를새정보로교체합니다.

3. 각화합물에대해 1 ~ 2단계를반복합니다.

4. 모든충돌을해결하면 Finish를클릭하십시오.

화합물병합

1. 다음중한가지를수행합니다.

• Library Importer대화상자에서Merge을클릭하여가져오기패키지내개별화합물의새스펙트럼, 전환, Retention time을데이터베이스에저장된해당화합물과병합합니다.

• Library Importer대화상자에서Merge All을클릭하여가져오기패키지내모든화합물의새스펙트럼, 전환, Retention time을데이터베이스에저장된해당화합물과병합합니다.

2. 모든충돌을해결하면 Finish를클릭하십시오.

화합물정보덮어쓰기

1. 다음중한가지를수행합니다.

• Library Importer 대화상자에서Overwrite All Library Importer대화상자에서를클릭하여데이터베이스에저장된모든화합물정보를가져오기패키지의해당화합물정보로덮어씁니다.

• Library Importer 대화상자에서 Library Importer대화상자에서대화상자에서Resolve를클릭한다음 Use New를클릭하여데이터베이스에저장된모든화합물정보를가져오기패키지의해당화합물정보로덮어씁니다.

2. 모든충돌을해결하면 Finish를클릭하십시오.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E60 / 225

소프트웨어대한액세스구성

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원래화합물보관

1. 다음중한가지를수행합니다.

• Library Importer 대화상자에서 Keep All OriginalLibrary Importer대화상자에서데이터베이스에저장된모든화합물정보를보관하고가져오기패키지의화합물정보를버립니다.

• Library Importer대화상자에서대화상자에서적절한화합물옆의 Keep Original을클릭하여데이터베이스에저장된개별화합물정보를보관하고가져오기패키지의화합물정보는버립니다.

2. 모든충돌을해결하면 Finish를클릭하십시오.

화합물추가

참고: Edit Library옵션을사용하여라이브러리에화합물을추가할수도있습니다.

1. Manage창에서 Compounds목록을확장시킵니다.

2. All Compounds를클릭합니다.

3. Add아이콘을클릭합니다.

참고: 화합물이름은필수사항입니다. 이밖의모든정보는옵션사항입니다.

4. Details탭에있는필드에적절한정보를입력하십시오.

5. Save를클릭합니다.

화합물에질량스펙트럼추가

1. Manage창에서 Compounds목록을확장시킵니다.

2. All Compounds를클릭합니다.

3. 적절한화합물을더블클릭합니다.

4. 적절한화합물을더블클릭합니다.

팁! 화합물을찾으려면 Search필드를이용하십시오. 검색기준입력과정에서표시된열이검색되어새로고침되면서입력한기준과일치하는정보만나타납니다.

5. 적절한화합물을더블클릭합니다.

6. 적절한화합물을더블클릭합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서61 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

소프트웨어대한액세스구성

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팁! 화합물을찾으려면 Search필드를이용하십시오. 검색기준입력과정에서표시된열이검색되어새로고침되면서입력한기준과일치하는정보만나타납니다.

7. MS Spectra탭을클릭합니다.

8. Edit Mode아이콘을클릭합니다.

9. Add Spectra아이콘을클릭합니다.

10. Add Mass Spectrum from *.wiff file to Compound대화상자에서 Open *.wiff file을클릭합니다.

11. Open대화상자에서탐색하여적절한 .wiff또는 .wiff2파일을선택합니다.

12. Open을클릭합니다.

13.화합물을라이브러리에추가하려면다음중하나를수행합니다.

• IDA 데이터의경우, 샘플을확장한다음왼쪽에있는탐색창에서적절한화합물을선택합니다.

• EPS, MRM 및루프데이터의경우, 적절한샘플을선택합니다.

14.스펙트럼을화합물에추가하려면다음중하나를수행합니다.

• IDA 데이터의경우, Acquired Spectrum창에서 Add Spectrum을클릭합니다.

• EPS, MRM 및루프데이터의경우, TIC를더블클릭한다음Acquired Spectrum창에서AddSpectrum을클릭합니다.

15.추가할각각의스펙트럼에대해 7 ~ 11단계를반복합니다.

16. Save를클릭합니다.

17. MS Spectra탭에서 Save를클릭합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E62 / 225

소프트웨어대한액세스구성

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홈페이지정보홈페이지는작업영역타일로이루어져있으며, 기능, 상태패널, 리본및시작관리자로나누어집니다. 작업영역에대한액세스는사용자에게배정된역할은물론소프트웨어라이센스로결정됩니다. 각작업영역에서사용자는수동으로획득이나보기를시작하고획득되는데이터를탐색할수있습니다.

그림 6-1 홈페이지

설명항목

짙은파란색타일의왼쪽에있는옅은파란색수직선은작업영역이열려있고, 작업이진행중이며, 사용자가기능에액세스할수있음을나타냅니다.열린작업영역의상태가타일에나타납니다.

1

짙은파란색타일은작업영역이닫혀있음을나타냅니다.2

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서63 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

6작동지침—소프트웨어

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설명항목

회색타일은작업영역을사용할수없음을나타냅니다.3

닫기아이콘(X)는작업영역이열리면오른쪽상단모서리에나타납니다.4

시작관리자에액세스합니다. 시작관리자는모든작업영역목록을포함합

니다. 아이콘오른쪽의 를클릭해시작관리자를엽니다.

5

리본리본및시작관리자정보페이지의 64내용을참조하십시오. 다른작업영역을탐색하려면목록에서작업영역을클릭합니다. 현재열린작업영역은계속활성화되고작업영역아이콘이리본에표시됩니다. 활성화된작

업영역을닫으려면 를클릭합니다. 홈페이지로돌아가려면 을클릭합니다.

6

기능: 획득, 처리및관리. 액세스는사용자에게배정된역할이나라이센스부여에따라달라집니다.

7

시스템의상태: 제목표시줄을클릭해상태패널을나타내거나숨기십시오.8

상태패널: 상태패널정보페이지의 65내용을참조하십시오.9

리본및시작관리자정보

그림 6-2 리본

설명항목

다른작업영역을탐색하려면목록에서작업영역을선택합니다. 현재열린작업영역은계속활성화되고작업영역아이콘이리본에표시됩니다. 그림6-3내용을참조하십시오.

1

활성화작업영역의이름을표시합니다.2

홈페이지로돌아가려면 을클릭합니다.3

활성화작업영역으로이동하려면작업영역아이콘을클릭합니다.4

현재로그인사용자를표시합니다.5

시스템상태를표시합니다. 상태패널정보페이지의 65내용을참조하십시오.

6

Help을열려면 ?를클릭합니다.7

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E64 / 225

작동지침—소프트웨어

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그림 6-3 시작관리자

설명항목

작업영역목록을보려면 를클릭합니다.1

활성화작업영역의이름을표시합니다.2

작업영역상태를표시합니다. 짙은파란색배경은작업영역이닫혔음을나타냅니다. 왼쪽의옅은파란색바는작업영역이활성화되었음을나타냅니다. 옅은파란색배경은작업영역이열려있음을나타냅니다.

3

활성화된작업영역을닫으려면 를클릭합니다.4

열린작업영역을닫으려면 를클릭합니다.5

상태패널정보시스템상태를표시하기위해아이콘및상태표시줄의색상이변합니다. 상태패널을사용해다음을실행합니다.

• 프로젝트를추가하거나선택합니다.

• Queue에남아있는샘플과획득할 batch 획득에남은예상시간을봅니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서65 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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• 시스템상태또는 Configuration 작업영역내 Devices 목록에서활성화되었던개별장치의상태를살펴봅니다.

• Direct Device Control를액세스합니다.

• Device Details를봅니다.

• 질량분석계또는 LC를 Standby 상태로둡니다.

• TOF MS 및 TOF MS/MS 모드를확인및교정합니다.

• 시스템을평형화합니다.

그림 6-4 SCIEX OS 상태패널

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E66 / 225

작동지침—소프트웨어

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설명항목

시스템상태를표시합니다. 제목표시줄을클릭해상태패널을나타내거나숨기십시오.

• 준비상태는녹색으로표시됩니다.

• 오프라인은회색으로나타납니다.

• 평형유지, 실행및로딩은파란색으로표시됩니다.

• 중단됨및중단중은노란색으로표시됩니다.

• 고장은빨간색으로표시됩니다.

1

현재프로젝트를표시합니다. 화살표를클릭해기존프로젝트를선택하십시오. 플러스기호를클릭해프로젝트를추가하십시오. 프로젝트추가페이지의 67내용을참조하십시오.

2

Queue에서샘플의상태를표시합니다.3

장치상태를표시합니다. Device Details대화상자를열어세부정보를보려면장치의제목을클릭합니다.

4

장치제어에액세스하려면 Direct Device Control아이콘을클릭합니다.Device Control대화상자에서옵션주사기를시작또는중단할수있습니다.

5

장치상태를표시합니다. 아이콘은장치상태에대한보기전용표시기입니다.

6

TOF MS 및 TOF MS/MS 모드를확인및교정하려면클릭후 MS 조정절차에액세스합니다.

7

시스템의평형을유지하거나대기모드로이동하려면적절한버튼을클릭합니다.

8

프로젝트추가프로젝트는획득방법, 데이터, batches, 처리방법, 처리결과등을보관합니다. 각프로젝트마다개별프로젝트폴더를사용할것을권장합니다.

SCIEX OS소프트웨어이외의도구에서프로젝트생성또는파일복사또는붙여넣기를실행하지마십시오.

1. 상태패널에있는 Projects목록옆의플러스기호를클릭합니다.

2. 이름을입력합니다.

3. OK를클릭합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서67 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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프로젝트선택

• 상태패널의 Projects목록에서프로젝트를선택합니다.

장치상태제어이절차를사용해장치상태에대한자세한피드백을받습니다. 예를들어, 온도, 압력및전압이있습니다. 장치상태를모니터링하려면장치제목맨오른쪽에있는아이콘을클릭합니다.

1. 상태패널에서장치타일오른쪽에있는 Direct Device Control아이콘을클릭합니다.

Device Control대화상자가열립니다.

2. 필요할경우장치를시작, 중지또는업데이트합니다.

3. OK를클릭합니다.

상태패널표시

• 최소화된상태패널상단에서색상이표시된바를클릭합니다.

상태패널숨기기

• 색상이표시된표시줄을상태패널상단에서클릭합니다.

상태패널은작업영역의오른쪽으로최소화합니다.

데이터획득패널Data Acquisition패널을사용해실시간데이터획득을시작하고모니터링합니다.사용자는또한실시간데이터획득과정에서획득방법매개변수를편집하고데이터를저장하거나 Explorer 작업영역에서데이터를열수있습니다.

팁! Data Acquisition패널의상단을클릭하고위나아래로움직여서내용의크기를변경합니다.

그림 6-5 데이터획득패널

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E68 / 225

작동지침—소프트웨어

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설명레이블항목

TIC 및스펙트럼을표시합니다.MS tab1

TWC 및스펙트럼을표시합니다.DAD tab (Available only ifa DAD device is activated)

2

Calibration: ON : 선택한참조표의질량을사용하여시스템이질량분석계를교정하고있음을나타냅니다.

Ramping: ON: 매개변수가램핑되고있음을나타냅니다.매개변수램핑은자동실험순환으로구성되며동시에매주기의매개변수값을증가시키거나감소시킵니다.

Calibration: ON orRamping: ON

3

클릭해수동획득을시작합니다.Start4

Start > Start with LC 를클릭하고Start with LC 대화상자를엽니다.

LC로시작4

클릭해수동획득을중지합니다.Stop5

클릭해데이터를저장합니다.Save6

클릭해서데이터를실시간으로탐색합니다.—7

사용자작업흐름

Analyst

표 6-1 Analyst 작업흐름

소프트웨어액세스작업

홈페이지정보페이지의 63및상태패널정보페이지의 65내용을참조하십시오.

메인화면및상태패널을보고시스템상태를확인하십시오.

Batch 및 Queue 작업영역페이지의 70내용을참조하십시오.

Excel 스프레드시트, LIMS를통해또는수동으로batch를생성및제출합니다. Batch가생성되어분석가에게제출되기전에방법개발자는 LC및 MS methods에제어장치를해둬야합니다.

Batch 및 Queue 작업영역페이지의 70내용을참조하십시오.

열에서샘플을보고관리합니다.

Analytics 작업영역페이지의 140내용을참조하십시오.

Results Tables에서데이터를처리및검토합니다.

Explorer 작업영역페이지의 99내용을참조하십시오.

데이터를탐색합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서69 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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방법개발자

소프트웨어액세스작업

참조:• 작동지침—하드웨어페이지의 35및 Configure Devices페이지의 44.

• Project Default Settings 정의페이지의 141.

• Results Table 의 Select Columns 페이지의 147.

시스템을구성합니다.

MS 조정페이지의 184내용을참조하십시오.질량분석계를조정합니다.

작동지침—하드웨어페이지의 35내용을참조하십시오.LC 장치를구성합니다.

LC Method 작업영역페이지의 99내용을참조하십시오.LC methods을생성합니다.

MS Method 작업영역페이지의 84내용을참조하십시오.MS methods을생성합니다.

처리방법생성페이지의 141내용을참조하십시오.처리방법을개발합니다.

관리자

소프트웨어액세스작업

Laboratory Information Management System (LIMS) Settings 페이지의 51내용을참조하십시오.

LIMS 구성

소프트웨어대한액세스구성페이지의 46내용을참조하십시오.

소프트웨어에사용자추가및역할지정

Archive logs 페이지의 189내용을참조하십시오.Archive logs

검토자

소프트웨어액세스작업

Analytics 작업영역페이지의 140내용을참조하십시오.처리된결과를검토합니다.

Explorer 작업영역페이지의 99내용을참조하십시오.데이터를탐색합니다.

로그보기페이지의 189내용을참조하십시오.로그를검토합니다.

Batch 및 Queue 작업영역Batch 작업영역은분석할샘플에대한정보모음을표시합니다.Batch는샘플을분석할순서를소프트웨어에알려줍니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E70 / 225

작동지침—소프트웨어

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Queue 작업영역은 queue, batch 및샘플상태를표시하여사용자가 queue의샘플및 batch를관리할수있습니다. 사용자는또한 Data Explorer 작업영역에서 queue에있는특정샘플을더블클릭하여샘플을열고해당샘플에있는데이터에액세스할수있습니다.

기본적으로샘플들은 queue에나타나지않습니다. 샘플정보는 batch 이름하에축소되어있습니다. batch 상태, batch 이름, batch 내샘플개수및현재 batch 획득을위해남아있는시간등이표시됩니다. Batch에포함된교정샘플은 Sample Name 열의 queue에서 Cal로표시됩니다.

Batch 관리Batch 작업영역에서필요에따라다음기능을사용하십시오.

표 6-2 Batch 작업영역기능

수행방법수행할작업

Manage > Cut을클릭합니다.열자르기

Manage > Copy를클릭합니다.열복사

Manage > Paste를클릭합니다.열붙여넣기

Manage > Insert Row를클릭합니다.행삽입

Manage > Delete Row를클릭합니다.행삭제

Manage > Select Columns를클릭합니다.열표시또는숨기기페이지의 83내용을참조하십시오.

열선택

Manage > Add component concentration column을클릭하십시오. 요소집중열추가페이지의 83내용을참조하십시오.

참고: 이요소열은모든샘플에서편집할수있습니다.

요소집중을추가합니다.

Manage > Delete component concentration column을클릭하십시오. 요소집중열삭제페이지의 83내용을참조하십시오.

요소집중을삭제합니다.

열을클릭하고나서Manage > Apply current concentrationsacross all columns를클릭하십시오.

열의모든행에요소집중을적용합니다.

작업영역메뉴에서 Print를클릭하십시오.Batch 인쇄

Batch를현재프로젝트에저장하려면작업영역메뉴에서 Save> Save또는 Save > Save As를클릭하십시오.

Batch 저장

Batch를 .txt 또는 .csv 파일로내보내기하려면작업영역메뉴에서 Save > Export를클릭합니다.

Batch 내보내기

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서71 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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Batch 가져오기샘플제출전 batch 내용을검토합니다. 마침표 "."만가져온 .csv 또는 .xsl 파일에서소수점구분기호로지원됩니다.

사용자는필요에따라불러온 batches를편집할수있습니다.

팁! 잘라내기, 복사, 붙여넣기, 행추가/제거기능에액세스하려면Manage를클릭합니다.

1. Batch작업영역을엽니다.

2. (옵션) Batch작업영역에표시될열을선택합니다.

3. Open > Import from file를클릭합니다.

4. Browse를클릭합니다.

5. 필요한파일을탐색합니다.

6. Open을클릭합니다.

7. (옵션) 필요시 Append to current batch확인란을선택또는선택해제합니다.

참고: 사용자가 Append to current batch 옵션을선택하지않으면그리드에있는기존모든데이터가덮어쓰기됩니다.

8. Import를클릭합니다.

9. (옵션) Save를클릭합니다.

10. Save As를클릭합니다.

Save As Batch대화상자가열립니다.

11.파일명을 File Name필드에입력한뒤 Save를클릭합니다.

12.샘플위치를선택하거나확인하기위한기준으로 Plate Layout을사용하려면, Plate Layout을클릭합니다.

Plate Layout은미지정샘플의웰및바이알위치를자동으로제공합니다.

13. (옵션) Batch에교정샘플을포함하려면다음을수행합니다.

a. Batch-Automatic Calibration Editor대화상자를열려면 Auto-Calibrate를클릭합니다.

b. 이온참조및지정된주기에서자동으로적용할교정전달설정을선택합니다.

c. OK를클릭합니다.

d. Auto-Calibrate버튼의왼쪽에있는확인란을선택합니다.

14. Batch 제출전컬럼오븐온도에도달해야합니다.

15.시스템이동일한 MS 및 LC method으로평형화되었음을확인합니다.

16. Submit을클릭합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E72 / 225

작동지침—소프트웨어

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화면의상단에오류가표시되면이를해결한다음 Submit을다시클릭합니다. Batch에서발생한오류는 batch 제출전해결해야합니다.

샘플분석을시작하기전 queue이시작되었는지확인합니다. Queue이시작되지않은경우,Queue작업영역을탐색한다음메뉴표시줄에서 Start를클릭합니다.

획득은 Batch작업영역에서샘플이제출된이후시작됩니다.

LIMS에서 batch 가져오기샘플제출전 batch 내용을검토합니다.

Laboratory Information Management System (LIMS) Settings 페이지의 51내용을참조하십시오.

팁! 잘라내기, 복사, 붙여넣기, 행추가/제거기능에액세스하려면Manage를클릭합니다.

1. Batch작업영역을엽니다.

2. (옵션) Batch작업영역에표시될열을선택합니다.

3. LIMS에서 Open > Import from LIMS를클릭합니다.

Import a Batch File대화상자가열립니다.

4. 다음을행하십시오.

a. 파일위치또는파일명을입력합니다.

b. Append to the current batch체크박스를클릭합니다(옵션).

c. Import를클릭합니다.

5. 샘플위치를선택하거나확인하기위한기준으로 Plate Layout을사용하려면, Plate Layout을클릭합니다.

Plate Layout은미지정샘플의웰및바이알위치를자동으로제공합니다.

6. (옵션) Batch에교정샘플을포함하려면다음을수행합니다.

a. Batch-Automatic Calibration Editor대화상자를열려면 Auto-Calibrate를클릭합니다.

b. 이온참조및지정된주기에서자동으로적용할교정전달설정을선택합니다.

c. OK를클릭합니다.

d. Auto-Calibrate버튼의왼쪽에있는확인란을선택합니다.

7. Batch 제출전컬럼오븐온도에도달해야합니다.

8. Submit을클릭합니다.

화면의상단에오류가표시되면이를해결한다음 Submit을다시클릭합니다. Batch에서발생한오류는 batch 제출전해결해야합니다.

샘플분석을시작하기전 queue이시작되었는지확인합니다. Queue이시작되지않은경우,Queue작업영역을탐색한다음메뉴표시줄에서 Start를클릭합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서73 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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획득은 Batch작업영역에서샘플이제출된이후시작됩니다.

수동 batch 생성샘플제출전 batch 내용을검토합니다.

팁! 잘라내기, 복사, 붙여넣기, 행추가/제거기능에액세스하려면Manage를클릭합니다.

1. Batch작업영역을엽니다.

2. (옵션) Batch작업영역에표시될열을선택합니다.

팁! 기존 batch를사용하려면 Open > Open을클릭합니다.

3. New를클릭합니다.

4. MS Method목록에서 MS Method을선택합니다.

5. (옵션) LC Method목록에서 LC Method를선택합니다.

6. 샘플위치를선택하거나확인하기위한기준으로 Plate Layout을사용하려면, Plate Layout을클릭합니다.

Plate Layout은미지정샘플의웰및바이알위치를자동으로제공합니다.

7. 그리드에 batch 정보를입력합니다.

8. (옵션) Save를클릭합니다.

9. Batch 제출전컬럼오븐온도에도달해야합니다.

10.시스템이동일한 MS 및 LC method으로평형화되었음을확인합니다.

11. Submit을클릭합니다.

화면의상단에오류가표시되면이를해결한다음 Submit을다시클릭합니다. Batch에서발생한오류는 batch 제출전해결해야합니다.

샘플분석을시작하기전 queue이시작되었는지확인합니다. Queue이시작되지않은경우,Queue작업영역을탐색한다음메뉴표시줄에서 Start를클릭합니다.

획득은 Batch작업영역에서샘플이제출된이후시작됩니다.

Batch가져오기설정

선택된오토샘플러에서랙코드, 랙위치, 플레이트코드, 플레이트위치및바이알위치는모두상호간에서로의존적이며특정값만유효합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E74 / 225

작동지침—소프트웨어

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표 6-3 Batch가져오기설정

필드값요건정의열이름

50자미만이어야합니다. SampleName은다음과같은유효하지않은문자를포함해선안됩니다. \ / : * ?" < > |=

샘플의이름입니다.Sample Name

50자미만이어야합니다. Sample ID는다음과같은유효하지않은문자를포함해선안됩니다. \ / : * ? " < >|=

샘플에대한사용자지정번호또는기타식별자입니다.

Sample ID

50자미만이어야합니다.샘플의고유 ID입니다.Barcode ID

현재프로젝트에 MS method이반드시있어야합니다. 이필드는대/소문자가구분되지않습니다.

방법의이름입니다.MS Method

현재프로젝트에 LC method가반드시있어야합니다. 이필드는대/소문자가구분되지않습니다.

방법의이름입니다.LC Method

현재프로젝트에처리방법이반드시있어야합니다. 이필드는대/소문자가구분되지않습니다.

방법의이름입니다.Processing Method

LC method에서지정된오토샘플러에대한유효한선택중하나여야합니다.

오토샘플러용랙유형을설명합니다.

Rack Code

숫자값입니다.트레이에서랙의위치입니다.

Rack Position

LC method에서지정된오토샘플러에대한유효한선택중하나여야합니다.

오토샘플러의웰플레이트위치를설명합니다.

참고: 랙코드에서바이알이설명된경우이열은제공되지않습니다.

Plate Code

사전정의된오토샘플러플레이트위치중하나와일치시킵니다.

랙에서플레이트의위치입니다.

Plate Position

숫자값입니다. 가장큰값이랙에있는바이알개수보다더커서는안됩니다.

랙또는플레이트에서바이알의위치입니다.

Vial Position

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서75 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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표 6-3 Batch가져오기설정 (계속)

필드값요건정의열이름

샘플유형이사전정의된샘플유형중하나와일치하는지확인하십시오. 일치하지않는유형은자동으로Unknown으로교체됩니다.

샘플의유형입니다.Sample Type

SCIEX에서개발한방법인경우이값은 1.00이어야합니다.

0보다크고여섯자리의소수점을가진값입니다. 기본값은 1.000000입니다. 이필드를공란으로두지마십시오.

개별샘플에대한희석인자입니다.

Dilution factor

252자미만이어야합니다. 총글자수에는데이터하위폴더경로의글자수도포함됩니다. 데이터파일은다음과같은유효하지않은문자를포함해선안됩니다. \ / : * ? " < > |=

획득한데이터가저장되는파일이름입니다.

Data File

50자미만이어야합니다. 이필드는다음과같은유효하지않은문자를포함해선안됩니다. \ / : * ? " < > |=

TextComments

이름은이전에 MRM 스캔을위한 MSmethod 또는다른스캔을위한처리방법으로정의한이름이되어야합니다. 이이름은방법생성시검증됩니다.

MRM HR 스캔: MRM 방법에서정의된화합물의이름입니다.

다른스캔: 처리방법에서정의된요소의이름입니다.

Batch는최대 500개의화합물또는요소이름열을포함할수있습니다. 이름은사용자가생성하는 batch가져오기파일에서열이름으로사용됩니다.

MRM HR용화합물이름 (MRMHR 스캔)

Component Name (other scans)

Plate Layout 기능을사용한 Batch 생성Plate Layout 기능은 Batch 작업영역에서그리드를채우는데사용할수있는랙과플레이트의그래픽형상을제공합니다.

1. Batch 작업영역을엽니다.

2. LC method를선택합니다.

Plate Layout 기능을사용하려면 LC system이활성화되어야합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E76 / 225

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3. Plate Layout을클릭합니다.

Plate Layout창이열리고기본값으로랙코드의그래픽형상이표시됩니다. 그런다음마지막으로사용되었거나현재강조표시된샘플에대해지정된랙코드가창에표시됩니다.

4. 랙코드를변경하려면 Rack Code필드에있는화살표를클릭한다음목록에서적절한랙코드를선택합니다.

창이업데이트되면서선택한랙코드의그래픽형상이표시됩니다.

5. 그래픽형상에서샘플위치를클릭합니다.

선택한샘플위치는그래픽형상에서전체가강조표시됩니다. 샘플위치가완전히정의되지않은첫번째행, 즉랙코드, 플레이트코드(웰을사용하는경우) 및바이알위치값이포함되지않은행을시작으로 Batch 작업영역이업데이트됩니다. 이에따라그리드에샘플위치가표시됩니다.

6. 그래픽형상에서필요한만큼샘플위치를계속해서선택하여 Batch 작업영역의그리드를채웁니다.

샘플위치를 Batch 작업영역의그리드에직접입력하면이에따라그래픽형상이업데이트됩니다.

7. 선택한샘플위치에복제물주입을지정하려면 Ctrl키를누른상태에서그래픽형상의샘플위치를클릭합니다.

그래픽형상에는복제물샘플위치가컬러윤곽선으로표시되며 Batch 작업영역의그리드에는해당데이터가표시됩니다. 그림 6-6내용을참조하십시오.

그림 6-6 Plate Layout - 복제물주입

8. 그래픽형상에서샘플색인을보려면샘플위치위로마우스커서를이동합니다.

그러면샘플색인이툴팁에표시됩니다.

9. 위치를제거하려면그래픽형상에서선택한샘플위치를클릭합니다.

그러면그래픽형상에서샘플위치가더이상강조표시되지않으며 Batch 작업영역의그리드에서도데이터가제거됩니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서77 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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10.지정된랙코드와연결된모든데이터를제거하려면 Clear All를클릭합니다.

선택한랙코드가플레이트를식별하면 Clear All아래메뉴에 Clear Front 및 Clear Back이포함됩니다.

지정된랙코드에대해그래픽형상에있는선택된모든샘플위치가삭제되며 Batch 작업영역의그리드에서도모든데이터가제거됩니다.

참고: 그래픽형상에복제물위치가포함된경우확인을요청하는경고메시지가표시됩니다.

11.모든위치가지정되면 Plate Layout창에서 Close를클릭한다음 Batch 작업영역에서 Save를클릭합니다.

이온참조표생성

1. Batch작업영역을엽니다.

2. Auto-Calibrate를클릭합니다.

Batch - Automatic Calibration Editor대화상자가열립니다.

3. Edit를클릭합니다.

Ion Reference Table Editor대화상자가열립니다.

4. New를클릭합니다.

팁! Tab 키를사용하면셀사이를이동할수있으며 Enter를누르면행이추가됩니다.

5. Reference Ions for TOF MS Calibration그리드에서전구체질량을입력합니다.

Compound Name필드는옵션입니다.

6. 필요한만큼행을추가합니다.

7. Use열에서사용할이온을선택합니다.

8. 전구체질량을 MS/MS용으로사용하려면 Use for MS/MS라디오버튼을선택합니다.

9. 7단계에서선택한전구체질량용 CE for MS/MS및 DP for MS/MS필드에값을입력합니다.

10. Reference Ions for MS/MS Calibration그리드에최소 2개의단편질량을추가한다음선택합니다.

Fragment Name필드는옵션입니다.

11. OK를클릭합니다.

12. Save Reference Table대화상자에이름을입력한다음 OK를클릭합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E78 / 225

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참고: 사용자가 LC Method을교정물질전달방법으로선택하는경우머무름시간과머무름시간오차를참조이온표에지정해야합니다.

CDS를사용한시스템교정

1. Batch작업영역을엽니다.

2. Auto-Calibrate를클릭합니다.

Batch - Automatic Calibration Editor가열립니다.

3. 이온참조표를선택합니다.

4. 교정사이에획득할샘플수를입력합니다.

5. CDS를교정물질전달방법으로선택합니다.

기본적으로 CDS 채널 1이선택됩니다. 양성용액에는채널 1, 음성용액에는채널 2를사용합니다.

6. 대화상자를닫으려면 OK를클릭하십시오.

7. Auto-Calibrate버튼의왼쪽에있는확인란이선택되었는지확인합니다.

8. Batch를생성하여제출합니다.

LC Method을사용한시스템교정

1. Batch작업영역을엽니다.

2. Auto-Calibrate를클릭합니다.

Batch - Automatic Calibration Editor가열립니다.

3. 이온참조표를선택합니다.

4. 교정사이에획득할샘플수를입력합니다.

5. LC method를교정물질전달방법으로선택합니다.

MS method 필드뿐만아니라오토샘플러랙, 플레이트및바이알필드가대화상자의오른쪽에표시됩니다.

6. MS method을선택하고적절한랙, 플레이트및바이알정보를선택합니다.

7. 대화상자를닫으려면 OK를클릭하십시오.

8. Auto-Calibrate버튼의왼쪽에있는확인란이선택되었는지확인합니다.

9. Batch를생성하여제출합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서79 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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시스템평형화새방법을실행하거나 batch 제출전하루시작시시스템을평형화합니다. 평형화는다음샘플또는 batch를위한질량분석계를예열하고준비합니다.

1. 상태패널에서 Equilibrate를클릭합니다.

Equilibrate 대화상자가열립니다.

2. MS Method목록에서 MS Method을선택합니다.

3. LC Method목록에서 LC Method을선택합니다.

4. Time(min)필드에분단위로평형화시간을입력합니다.

5. OK를클릭합니다.

상태패널에서평형화를완료하면시스템상태가준비됩니다.

Queue 관리획득은 Batch작업영역에서샘플이제출된이후시작됩니다. Batch 제출전시스템이평형화되었는지확인합니다. 시스템평형화페이지의 80내용을참조하십시오.

참고: 샘플획득중에비정상종료가발생하는경우샘플을다시실행하십시오. 전원장애로인해비정상적으로종료된경우오토샘플러트레이의온도가유지되지않으므로샘플무결성이손상되었을수있습니다.

1. Queue작업영역을엽니다.

참고: 샘플획득중에는수동으로밸브위치를변경하지마십시오.

2. 표 6-4의기능을사용해 queue의샘플및 batch를관리합니다.

참고: 획득하지못한단한 batch나샘플만이동할수있습니다.

표 6-4 Queue 작업영역기능

수행방법수행할작업

을클릭합니다.Batch의모든샘플을봅니다.

을클릭합니다.Batch의모든샘플을축소합니다.

Start를클릭합니다. 샘플을실행하기전시스템을평형화합니다.

획득을시작합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E80 / 225

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표 6-4 Queue 작업영역기능 (계속)

수행방법수행할작업

a. 샘플을클릭합니다.

b. Manage > Reacquire samples를클릭합니다.

선택된샘플을재획득합니다.

a. 샘플을클릭합니다.

b. Manage > Delete samples를클릭합니다.

선택된샘플을삭제합니다.

a. 샘플을클릭합니다.

b. Manage > Delete samples below row selection을클릭합니다.

선택된샘플아래에있는모든샘플을삭제합니다.

Manage > Clear queue를클릭합니다.모든획득 batch나샘플의 queue을지웁니다.

a. 필요에따라샘플또는 batch를선택합니다.

b. Manage > Clear all selections를클릭합니다.

모든획득선택 batch나샘플의queue을지웁니다.

a. Batch header를클릭합니다.

b. Manage > Move row to top을클릭합니다.

선택된 batch나샘플을 queue 상단으로이동합니다.

a. 샘플을클릭합니다.

b. Manage > Move row를클릭합니다.

선택된샘플을 queue 위로이동시킵니다.

a. 샘플을클릭합니다.

b. Manage > Move row down을클릭합니다.

선택된샘플을 queue 아래로이동시킵니다.

Manage > Collapse all rows를클릭합니다.모든샘플과 batches를축소합니다.

Manage > Expand all rows를클릭합니다.모든샘플과 batches를표시합니다.

• 획득과정중에있는샘플을더블클릭합니다.

• Explorer 작업영역아이콘을클릭합니다.

획득과정중데이터를봅니다.

획득한샘플을더블클릭합니다.획득한샘플에서데이터를봅니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서81 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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표 6-4 Queue 작업영역기능 (계속)

수행방법수행할작업

a. Manage > Select Columns를클릭합니다.

b. Barcode와Scanned barcode체크박스를 Select Columns대화상자에서선택합니다. 열표시또는숨기기페이지의 83내용을참조하십시오.

c. OK를클릭합니다.

스캔되고있는바코드바이알을봅니다.

a. Manage > Select Columns를클릭합니다.

b. 필요할경우 Select Columns대화상자에서열체크박스를선택하거나지웁니다. 열표시또는숨기기페이지의83내용을참조하십시오.

c. OK를클릭합니다.

열을표시하거나숨깁니다.

a. Stop을클릭합니다.

b. Stop대화상자에서획득을중지하는방법을선택합니다.

c. OK를클릭합니다.

Queue를중지합니다.

작업영역메뉴에서 Print를클릭하십시오.Queue를인쇄합니다.

단일샘플을 queue로제출

1. 샘플의열인덱스개수를선택합니다.

2. batch 제출전시스템이평형상태가되었는지확인합니다.

3. Submit을클릭합니다.

화면의상단에오류가표시되면이를해결한다음 Submit을다시클릭합니다. Batch에서발생한오류는 batch 제출전해결해야합니다.

샘플분석을시작하기전 queue이시작되었는지확인합니다. Queue이시작되지않은경우,Queue작업영역을탐색한다음메뉴표시줄에서 Start를클릭합니다.

획득은 Batch작업영역에서샘플이제출된이후시작됩니다.

여러샘플을 queue로제출

1. 다음중한가지를수행합니다.

• Ctrl + 각샘플의열인덱스숫자를클릭합니다

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E82 / 225

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• 지수목록을위아래로드래그합니다.

참고: 샘플은선택된순서로제출되고 batch에나타난순서대로제출되지않습니다.

2. batch 제출전시스템이평형상태가되었는지확인합니다.

3. Submit을클릭합니다.

화면의상단에오류가표시되면이를해결한다음 Submit을다시클릭합니다. Batch에서발생한오류는 batch 제출전해결해야합니다.

샘플분석을시작하기전 queue이시작되었는지확인합니다. Queue이시작되지않은경우,Queue작업영역을탐색한다음메뉴표시줄에서 Start를클릭합니다.

획득은 Batch작업영역에서샘플이제출된이후시작됩니다.

열표시또는숨기기

1. Batch 작업영역에서Manage > Select Columns를클릭합니다.

2. 필요할경우 Select Columns대화상자에서열체크박스를선택하거나지웁니다.

3. OK를클릭합니다.

요소집중열추가이절차를사용해서 batch에요소집중열을추가합니다.

참고: 이과정을통해추가된요소집중열은모든샘플에서편집할수있습니다. 또한, 포함된요소가샘플을위해정의된처리방법의경우에도요소집중열이 batch에추가됩니다. 이요소집중열은요소를포함하는처리방법의샘플만편집할수있습니다.

1. Batch 작업영역에서Manage > Add component concentration column을클릭합니다.

2. Component이름을입력합니다.

3. OK를클릭합니다.

요소집중열삭제이절차를사용해 batch에서요소집중열을제거합니다.

1. Batch 작업영역에서Manage > Delete component concentration column을클릭합니다.

요소목록이표시됩니다. 여기에는 Add component concentration column커맨드에추가된모든요소가포함되며, MRM 방법이나처리방법이 batch에추가된경우에도마찬가지입니다.

2. 목록에서요소를선택하십시오.

3. OK를클릭합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서83 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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Queue 아이콘

표 6-5 Queue 및획득상태아이콘

설명이름아이콘

샘플또는전체 batch가성공적으로획득되었습니다.통과

샘플이획득되었지만사용자가획득을중지또는연장했습니다.경고

샘플또는 batch 내샘플을성공적으로획득하지못했습니다.실패

교정샘플이수락기준을만족하지못했습니다. 이아이콘을더블클릭하면상태보고서를확인할수있습니다.

실패

샘플또는 batch가획득중입니다.진행중

샘플이나 batch를아직획득하지않았거나획득과정중에있지않습니다.

대기중

바코드판독오류또는바코드스캔과샘플간불일치가나타났습니다.

바코드경고

Batch의샘플을나타냅니다.확장화살표

Batch의샘플을숨깁니다.축소화살표

MS Method 작업영역

MS Method을생성합니다필요에따라다음을참조하십시오.

• MS Method 실험페이지의 85

• MS Methods 정보페이지의 86

• MS Method매개변수페이지의 88

• MS Methods에대한동적충돌에너지를계산합니다. 페이지의 98

• Help system

1. MS Method작업영역을엽니다.

2. New를클릭한다음방법을클릭합니다.

3. (옵션) Advanced를클릭한다음필요에따라다음을선택합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E84 / 225

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• Apply experiment scheduling: 실험이실시될머무름시간범위를적용합니다. 반복실험의경우, 실행시작시간중하나는 0이어야하고실행중지시간중하나는방법지속시간과같아야합니다.

• Show advanced parameters: 합계에사용할시간저장소및채널과같은고급매개변수를표시합니다.

• Apply intact protein mode: 원형단백질모드필드를표시하려면선택합니다.

• Ramp: 매개변수를램핑합니다. 매개변수램핑은자동실험실행으로구성되며매개변수값을증가시키거나감소시킵니다. 한번에한개의매개변수만램핑할수있으며, 단계는동일한방향(시작또는중지값안에서증가또는감소하는방향)이어야합니다. 이대화상자를통해사용자는매개변수램핑기준을설정할수있습니다. 사용자는시작및종료전압과그사이단계의크기를설정할수있습니다. 램핑은이온에대한매개변수최적화에사용할수있습니다. TOF MS methods의경우사용자는 DP 매개변수를램핑할수있습니다.TOF MSMS의경우사용자는 DP 또는 CE 매개변수중하나를램핑할수있습니다. 램핑은화합물매개변수에 Apply ramping을선택하여활성화할수있습니다.

• 교정: 스펙트럼및기기를즉석에서교정합니다. 이대화상자를통해사용자는교정을위한적절한 Ion Reference Table을선택할수있습니다. 이기능은 Calibrant Delivery System과함께사용됩니다. 교정결과를보려면 Queue작업영역으로가서교정실행의획득상태아이콘을두번클릭합니다. 교정에는 1.25분정도가걸립니다.

• Dynamic collision energy: 클릭하면 Dynamic Collision Energy대화상자가열립니다.

4. 필요에따라필드에값을입력합니다.

5. (옵션) Add Experiment를클릭합니다.

팁! Experiment 필드옆에있는목록을사용하여실험을변경또는삭제합니다.

6. 다음중한가지를수행합니다.

• MS Method을저장및잠그려면 Save > Lock Method를클릭합니다.

• Save > Save를클릭합니다.

• Save > Save as를클릭합니다.

MS Method 실험MS Method매개변수페이지의 88내용을참조하십시오.

MS Method 작업영역을사용하여 MS methods를을생성또는편집합니다. MS method는하나이상의실험을포함할수있습니다. 기본값으로새로운 TOF MS methods는은하나의실험을포함합니다.

사용가능한 MS 실험의유형은다음과같습니다.

• 3가지의기본방법실험: TOF MS, TOF MSMS 및 Q1

• 3가지의조합된방법실험: IDA, SWATH 및 MRMHR

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서85 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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이외에도 MRMHR실험의생성을안내하는단계별절차를사용할수있습니다. 절차가완료되면매개변수를사용하여 MRMHR방법을채웁니다.

표 6-6 기본방법실험

정의유형

TOF 영역을사용하는질량분석입니다. 이온의m/z값은 TOF 영역에서이온의비행시간을기초로유지됩니다.

TOF MS

사극자질량필터를사용하여전구체이온이선택됩니다. 그런다음 TOF MS영역에서이온의비행시간을기초로단편이온의 m/z 값이반환됩니다. 이실험은화합물의구조를확인하는데도사용됩니다.

TOF MSMS

사극자질량필터를사용하는데이터획득입니다. 스캔범위에있는질량에대해이온강도가반환됩니다.

Q1

표 6-7 조합된방법실험

정의유형

IDA(정보의존적획득) 실험은데이터를획득하면서동시에데이터를분석하고분석결과에따라실험조건을변경합니다. 결과의분석을통해종속스캔을수행할질량을결정합니다. 사용자는 IDA 실험을활성화하는기준및활성화된 IDA 실험의매개변수를모두제어할수있습니다.

IDA

SWATH®획득은 LC 시간척도상의넓은질량범위에서모든전구체이온에

대한 MS/MS 분석을가능하게합니다. Q1 사극자는기존생성이온획득에사용된것보다더넓은선택범위폭(대개 10 Da ~ 50 Da)에설정됩니다. 여러개의순차적인선택범위를단계적으로거치면서넓은질량범위가신속하게처리됩니다. 결과질량스펙트럼은각각의 Q1 선택범위를통과한모든전구체이온단편의조합입니다. 이기법을통해샘플내모든성분에대한비대상 MS/MS 분석을수행할수있습니다.

SWATH

MRMHR실험은알려진질량과유지시간을사용하여화합물로부터고품질MS/MS 데이터를획득하는데도움을줍니다. 이획득은또한 TOF MSMS 스펙트럼에서좁은폭(0.02Da)을가진단편질량추출에도사용할수있습니다.좁은폭의추출은더나은선택성을제공합니다.

MRM HR

MRMHR방법의생성을안내하는단계별절차. 절차단계가완료되면매개변수를사용하여 MRMHR방법유형을채웁니다.

안내된 MRM HR

MS Methods 정보MS method는다음과같은요소로구성됩니다.

• Source and Gas매개변수를포함하여전체방법에관련된매개변수

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E86 / 225

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• 하나이상의실험

• 각방법에는최소한하나의실험이포함되어야합니다.

• 어떤방법도둘이상의실험을포함할수있습니다. 이경우를반복실험이라고합니다.

• TOF MS 및 TOF MSMS 실험은한방법내에서최대 10개의실험까지반복실행될수있습니다. Q1 실험은반복실행될수없습니다.

• IDA, SWATH, MRMHR실험은한방법내에서최대 2개의실험까지반복실행될수있습니다.

참고: 예를들어, IDA + IDA, SWATH + MRMHR와같이특정실험조합만사용할수있습니다.

• 각실험에는특별한고급설정이있습니다.

• 각실험내개별스캔

표 6-8 MS Methods 작업영역기능

수행방법수행할작업

Add Experiment를클릭한다음실험유형을클릭합니다.둘이상의실험, 즉반복실험을통해방법을생성합니다.

Experiment옆의목록을클릭한다음실험유형을클릭합니다.기존 MS method 내에서실험을전환합니다.

Experiment옆의목록을클릭한다음Add IDA criteria를클릭합니다.

TOF MSMS 실험을 IDA 실험으로변환

Experiment옆의목록을클릭한다음Delete TOF MS (of MRMHR)를클릭합니다.

참고: 반복실험에만적용됩니다.

MRMHR실험에서, TOF MS를방법에서제거

Experiment옆의목록을클릭한다음 Delete experiment를클릭합니다.

한방법내에여러실험이있는경우하나의실험제거

작업영역의왼쪽에있는Method Overview패널을확장또는축소합니다.

다음과같은방법의구조보기• 방법내실험수

• 방법내각실험의일정기간

• 복수의실험에서 TOF MSMS스캔수

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서87 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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MS Method매개변수

표 6-9 MS Method매개변수

실험정의매개변수

TOF MS, TOF MSMS, Q1, SWATH,MRM HR, IDA

사용자정의된 MS method의기간입니다.Method duration

TOF MS, TOF MSMS, Q1, SWATH,MRM HR, IDA

각주기를실행하는데필요한시간입니다.실험시간및추가시간(질량범위간및실험간전환시간)을포함합니다. 총스캔시간을사용하면 LC 피크간포인트수를추정하여더욱개선된정량화결과를얻을수있습니다.

Total scan time

TOF MS, TOF MSMS, IDA, MRM HR,SWATH

실험을추가하려면클릭합니다.Add Experiment

TOF MS, TOF MSMS, Q1, SWATH,MRM HR, IDA

소프트웨어에서 Method 기간필드의값에기반하여몇번의주기가수행되었는지계산합니다.

Estimated cycles

IDA, SWATH소프트웨어에서최적성능을위한m/z값및대전상태에기반하여자동으로충돌에너지를계산합니다.

Dynamic CollisionEnergy

TOF MS, TOF MSMS, IDA, SWATH,MRM HR

Apply intact protein mode 기능을선택하면표시됩니다. 10KDa보다큰원형단백질을분석할때이기능을선택합니다.

Intact proteinmode

TOF MS, TOF MSMS, IDA, SWATH,MRM HR

70KDa보다큰원형단백질을분석할때이기능을선택합니다 (예: 단일클론항체).

Large proteins(>70 kDa)

TOF MS, TOF MSMS, IDA, SWATH,MRM HR

다중대전단백질의신호에큰영향을미치지않고단일전하로대전된배경이온의신호를감소시키려면선택합니다. 이기능은여러전하를사용한분석에대해신호대잡음비를향상시킵니다.

Decrease detectorvoltage

소스매개변수

TOF MS, TOF MSMS, Q1, IDA, SWATH,MRM HR

커튼플레이트와오리피스플레이트사이에가스흐름을지정합니다. Curtain GasTM인터페이스흐름은이온광학장치의오염을방지합니다.

Curtain gas

TOF MS, TOF MSMS, Q1, IDA, SWATH,MRM HR

이온소스가스 1 흐름을지정합니다. 이매개변수는 TurboIonSpray

®프로브용분무기

가스및 APCI 프로브용보조가스를제어합니다.

Ion source gas 1

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E88 / 225

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표 6-9 MS Method매개변수 (계속)

실험정의매개변수

TOF MS, TOF MSMS, Q1, IDA, SWATH,MRM HR

이온소스또는프로브의히터가스온도를지정합니다.

Temperature

TOF MS, TOF MSMS, Q1, IDA, SWATH,MRM HR

이온소스가스 2 흐름을지정합니다. 이매개변수는 TurboIonSpray

®프로브용보조또

는터보가스를제어합니다. 이는분무액적을증발시키기위해사용합니다. 이온소스가스 2는온도매개변수와함께작동합니다.

Ion source gas 2

TOFMS, TOFMSMS, Q1, SWATH, MRMHR, IDA

CAD 매개변수는충돌셀의가스압력을제어합니다. 충돌가스는충돌셀을통과할때이온을집중시키는데도움을줍니다. CAD매개변수의사전설정은고정모드에있습니다. MS/MS 스캔유형의경우 CAD 가스는전구체이온을단편화하는데도움이됩니다. 전구체이온이충돌가스와충돌할때이들이온이분리되어생성이온을형성합니다.

사전설정된값을사용하고화합물에대해최적화하십시오.

CAD gas

실험

TOF MS, TOF MSMS, Q1, IDA, SWATH,MRM HR

관심이온의대전상태에해당하는극성을선택합니다.

Polarity

TOF MS, TOF MSMS, Q1, SWATH,MRM HR, IDA

분무기전류매개변수는 APCI 프로브의코로나방전바늘에적용된전류를제어합니다. 방전으로용매분자가이온화되며, 용매분자는샘플분자를이온화합니다.

Nebulizer current

TOF MS, TOF MSMS, Q1, IDA, SWATH,MRM HR, IDA

샘플을분사하는바늘에적용되는전압입니다. 분사전압매개변수는분사안정성,즉신호감도에영향을줍니다.

Spray voltage

TOF MS, TOF MSMS, Q1, IDA, SWATH,MRM HR

이온전송계수(ITC) 매개변수는포화를방지하고 MCP 플레이트의조기마모를피하기위해이온빔을약화시킵니다. TOFMS 모드에서이온약화는소프트웨어에의해동적으로조정되며해당교정계수가데이터출력에적용됩니다. MS/MS에서는일반적으로빔약화가없으므로계산이필요하지않습니다.

ITC

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서89 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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표 6-9 MS Method매개변수 (계속)

실험정의매개변수

TOF MSMS, IDA, SWATH, MRM HRTOF MSMS 실험을위한선택된후보이온입니다.

Precursor ion

TOF MS, TOF MSMS, Q1, SWATH,MRM HR

디클러스터링전위매개변수는오리피스의전압을제어합니다. 진공실로들어간이후에샘플이온에남아있어있을수있는용매클러스터를최소화하고필요할경우이온을단편화하는데사용됩니다. 전압이높을수록이온에전달되는에너지도커집니다. DP 매개변수가너무높으면원치않는단편화가발생할수있습니다.

Declusteringpotential

TOF MS, TOF MSMS, IDA, SWATH,MRM HR

DP 확산매개변수(DPS)는디클러스터링전위(DP)와함께이온에적용되는디클러스터링전위를결정합니다. 디클러스터링전위는낮은전위에서높은전위로램핑됩니다.예를들면, 양성모드에서디클러스터링전위는 DP – DPS에서 DP + DPS로증가합니다.DPS 값을입력하면디클러스터링전위확산이자동으로활성화됩니다.

DP spread

TOF MS, TOF MSMS, SWATH, MRMHR, IDA

충돌에너지는입구전위(Q0)와충돌셀사극자(Q2) 전압사이의차입니다. MS/MS 스캔에서충돌에너지는충돌활성화분리법(CAD)에사용되는에너지를제공합니다. 충돌에너지는화합물의존적으로서최적값이화합물에따라달라집니다.

Collision energy

TOF MSMS, IDA, TOF MS, SWATH,MRM HR

CES 매개변수는충돌에너지(CE)와함께제품이온스캔에서전구체이온에적용되는충돌에너지를결정합니다. 충돌에너지는낮은에너지에서높은에너지로램핑됩니다. 예를들면, 양성모드에서충돌에너지는 CE – CES에서 CE + CES로램핑됩니다. CES값을입력하면충돌에너지확산이자동으로활성화됩니다.

CE spread

TOF MS, TOF MSMS, IDA, SWATH,MRM HR

스캔범위의시작질량을입력합니다.TOF start mass

TOF MS, TOF MSMS, IDA, SWATH,MRM HR

스캔범위의정지질량을입력합니다.TOF stop mass

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E90 / 225

작동지침—소프트웨어

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표 6-9 MS Method매개변수 (계속)

실험정의매개변수

TOF MS, TOF MSMS, IDA, SWATH,MRM HR

기기에서하나의 TOF 스펙트럼을획득하는데필요한시간입니다. 사용자는축적시간을조정하여총스캔시간을최적화할수있습니다.

Accumulation time

Q1Q1 스캔범위의시작질량을입력합니다.Start mass

Q1Q1 스캔범위의정지질량을입력합니다.Stop mass

Q1Q1 질량범위를스캔하는데필요한시간입니다.

Scan time

SWATH이를클릭하면 Autofill SWATH Windows 대화상자가열립니다. 자세한정보는도움말내용을참조하십시오.

Auto Fill SWATHwindows

MRM HR클릭하면 Import and Auto-fill MSMS ScanInformation 대화상자가열립니다. 자세한정보는도움말시스템을참조하십시오.

Import andauto-fill

TOF MS, TOF MSMS, MRM HR, IDA,SWATH

실험의시작시간을입력합니다.Start run time

TOF MS, TOF MSMS, MRM HR, IDA,SWATH

실험의중지시간을입력합니다.Stop run time

MRM HR이를선택하면 MRMHR이각각의 MRM 전환에적용됩니다. 단편이온은단편질량에 +/-10 Da 범위에서중심이위치한창을표시합니다.

Apply fragmention mass

MRM HR이를선택하면 MRMHR이전구체이온및지정된단편질량범위에적용됩니다. 사용자는단편질량범위에대한시작및중지질량을입력할수있습니다.

Apply TOF start/stop mass

MRM HR이를선택하면 Retention Time 범위가개별MRM 전환에적용되어각각의 MRM 실험을지정된시간에실행할수있습니다. 사용자는복잡한샘플에대한작업시 1250개의예정된 MRMHR전환을입력할수있습니다.

Apply ScanSchedule

MRM HR이를적용하면획득전에 MS Table에서오름차순으로전구체질량이정렬됩니다. 일부의경우오름차순으로 MRM 전환을획득하면 MRM 감도가개선될수도있습니다.

Sort by precursorion

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서91 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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표 6-9 MS Method매개변수 (계속)

실험정의매개변수

TOF MSMS, SWATH, MRM HR, 예정된 MRM HRTOF MSMS, TOF MSMS(SWATH), MRMHR 및예정된 MRM HR

TOF MS 스캔의경우, 계산된요소의선형동적범위가더많이집중될수있도록합니다. 이기능을선택할경우주기시간이다양해질수있습니다.

참고: 이기능을선택하면 MSMS 실험을위한시간축적은 25 ms 미만으로설정할수없습니다.

동적범위강화

고급실험설정

TOF MSMS, Q1, IDA인접배치된구성요소를분리하는데사용하기위해분해능을선택합니다. Q1 분해능은사극자의분해능력입니다. MSMS 실험에서더많은감도가필요한경우, 더많은이온을분석할수있도록분해능설정을줄일수있습니다. Q1 분해능설정은결과신호의강도를증가시키거나동위원소패턴에서 C12 보다많은동위원소를표시할수있도록 Low 또는 Open으로설정할수있습니다. 분해능을 Open으로설정하면더높은강도의신호를제공하고더많은동위원소를표시할수있습니다.

Q1 resolution

Q1스캔간격의크기를달톤(Dalton) 단위로입력합니다.

Step size

TOF MS, TOF MSMS, IDA, MRM HR,SWATH

합산할데이터포인트수를선택합니다. 작은분자또는펩티드에대한범위: 4 ~ 6 원형단백질분석에대한시작값( > 20 k Da):40

Time bins to sum

TOF MS, TOF MSMS, IDA, MRM HR,SWATH

시간대디지털변환기(TDC) 채널을선택합니다. 각채널에서이온의개수를셉니다. 4개채널모두를선택한경우(기본설정), 4개채널모두가합산되어총이온개수가계산됩니다.

Channels 1 to 4

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E92 / 225

작동지침—소프트웨어

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표 6-10 IDA 기준

설명레이블

IDA 기준은조사실험, 즉 TOFMS 실험에적용되는필터입니다. IDA 기준을만족하는이온만 MS/MS 실험용으로트리거됩니다. 각응용분야워크플로우에서적절한 IDA 기준이선택되어 UI에표시됩니다. 또는사용자가모든워크플로우를선택하여원하는기준을선택할수있습니다.

IDA 기준

한주기당수행되는 TOF MSMS 실험의수를지정합니다. 입력한최대후보이온보다더적은후보이온이있으면, MS/MS에사용된시간이후보이온들사이로분배됩니다. 즉, 전체획득과정에서총주기시간이상대적으로일정하게유지됩니다. 복귀한모든 TOF MSMS 스펙트럼은 cps로정규화됩니다. 소프트웨어에서사용자는주기당최대 100개의 TOF MSMS 실험을추가할수있습니다.

최대후보이온

이를선택하여 TOF MS 스펙트럼에서강도가증가하는이온을우선적으로처리하고강도감소가시작되기전에 MS/MS 획득을트리거할수있습니다. 이필터는후보목록에서일정한배경이온을제거하고소수이지만강도가증가하는이온을트리거합니다. 이이온은신호대노이즈비율이높은경우여러번트리거될수있습니다. 동적배경제거필터는 IDA 기준섹션에있는다른표준필터와함께사용할수있습니다.

Dynamicbackgroundsubtraction

TOF MSMS 실험용후보이온의최소강도(초당이온개수)를지정합니다.Intensity thresholdexceeds

이전후보이온제외옵션을선택합니다.• For (sec):후보이온을 TOF MSMS 실험용으로선택한경우이를다음 X초동안은 MS/MS용으로사용하지못하도록합니다. 이값은후보이온이피크정점에서트리거될수있도록 LC 피크폭의절반값에설정하는것이좋습니다.

• After _ occurrences:

For X seconds와함께사용: 후보목록에서제외하기전에다음주기에서 X초동안후보이온을 MS/MS용으로 Y 횟수만큼선택할수있도록합니다.

참고: 동적제외과정에서는 MW(m/z비율이아닌)를사용합니다. 대전상태는다르지만동일한 MW(질량오차내)를가진후보이온은동일한후보로고려됩니다. 반복횟수를만족하지않는경우가장높은강도의대전상태를가진이온이후보목록에남아있을수있습니다. 후보이온이 MSMS용으로한번선택된경우, 그리고이이온이 For (Sec) 필드에서더이상트리거되는것을원치않을경우, 방법지속시간을초단위로입력합니다.

Exclude formercandidate ions

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서93 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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표 6-10 IDA 기준 (계속)

설명레이블

소프트웨어에서는m/z값및이온의대전상태에기초하여자동으로충돌에너지를계산합니다. MS Methods에대한동적충돌에너지를계산합니다. 페이지의 98내용을참조하십시오.

동적 CE는 CE 확산과함께사용할수있습니다. 충돌에너지확산(CES)은계산된충돌에너지주위에적용됩니다.

Dynamic CE forMS/MS

후보이온의대전상태범위를지정합니다. 이를통해단일전하로대전된배경이온또는미확인상태로대전된이온을제거할수있습니다. 이필터는주로펩타이드응용분야에사용합니다. 대전상태기준을선택하면, MS/MS용으로단일동위원소이온만선택됩니다.

Charge State

고급기준

동적축적은강도가약한이온에는더긴축적시간을지정하고강도가강한이온에는더짧은축적시간을지정함으로써고품질의 MS/MS 데이터획득에도움을줍니다. 전구체강도에따라 MSMS 축적시간을조정하는이러한기능은 MS/MS 스펙트럼의품질을개선하는데사용할수있습니다. 이기능을선택하면가장짧은축적시간이더높은강도의후보이온에지정되고, 더긴축적시간은더낮은강도의후보이온에지정되도록축적시간이조정됩니다.총주기시간은전체획득과정에서상대적으로일정하게유지됩니다.

Dynamicaccumulation

후보이온에대한m/z범위를지정합니다. 후보질량범위는항상 TOF MS 질량범위의하위집합입니다.

Candidate massrange

동위원소제외범위를지정합니다. 이범위는 MS/MS용으로선택한후보이온주변으로대칭적인범위입니다. 범위폭의절반을입력합니다. 여기서 4를입력할경우 MS/MS에서 M-4 ~ M+4 범위내에있는어떠한피크도 M과동일한주기에서선택되지않음을나타냅니다. 이기능이활성화되면피크탐색기는모든미확인피크를단일동위원소및 +1 대전상태로간주합니다. 이는저분자응용분야에서최적화됩니다.

Exclude isotopeswithin +/- Da

이를선택하면 CE 크기가 9V만큼자동으로증가합니다. 이필드를선택하면Dynamic CE for MS/MS 확인란이자동으로선택되며이확인란을사용하지못하게됩니다.

Adjust CE whenusing iTRAQ

®

reagent

질량오차범위를지정합니다. 이범위는 MS/MS용으로선택한후보이온주변으로대칭적인범위입니다. 범위폭의절반을입력합니다. 예를들어, 50 mDa값을입력하면 M-50 mDa ~ M+50 mDa 범위내에있는모든피크는 M과동일한피크로간주되며, 여기서 M은이온의m/z값입니다. 사용자는 ppm 또는 mDa중에서선택할수있습니다. Mass Tolerance는동적제외또는이온의m/z값과함께분자량에적용할수있습니다.

Mass tolerance +/-mDa

ppm

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E94 / 225

작동지침—소프트웨어

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표 6-10 IDA 기준 (계속)

설명레이블

IDA: Inclusion List 기준을사용하려면확인란을선택합니다. 링크를클릭하면IDA: Inclusion List 대화상자가열리고기준을편집할수있습니다.

포함목록에있고포함목록기준을만족하는후보이온이 MS/MS용으로우선적으로선택됩니다.

• Compound name: 후보이온의이름입니다. 이이름에는어떠한문자도포함될수있으며고유한이름일필요도없습니다. 화합물이름은파일정보에기록됩니다. 이필드는공란으로남겨도됩니다.

• m/z (Da): MS/MS가우선적으로수행되는이온에대한m/z값을입력합니다.

• Retention time (min): 관심이온에대한 LC 머무름시간을입력합니다. 지정된머무름시간에서이온이검출되면이이온은 MS/MS용으로우선적으로선택됩니다. 0을입력하면해당이온이전체획득범위에서우선적으로고려됨을의미합니다.

• Retention time tolerance (+/-sec): 이값은지정된머무름시간근처의 +/- 시간범위입니다. 오차는 LC 머무름시간에서드리프트를고려하도록해줍니다. 포함목록에있는이온이지정된머무름시간근처범위에서검출되면이이온은 MS/MS용으로우선적으로선택됩니다.

• Intensity (cps): 포함목록에있는이온에대한강도임계값을지정합니다. 후보이온이임계값(cps 단위)를초과하면이이온은 MS/MS용으로우선적으로선택됩니다.

Inclusion List

IDA: Exclusion List 기준을사용하려면확인란을선택합니다. 링크를클릭하면IDA: Exclusion List 대화상자가열리고기준을편집할수있습니다.

제외목록에있는후보이온은지정된머무름시간에서 MS/MS용으로선택되지않습니다.

• Compound name: 후보이온의이름입니다. 이이름에는어떠한문자도포함될수있으며고유한이름일필요도없습니다. 화합물이름은파일정보에기록됩니다. 이필드는공란으로남겨도됩니다.

• m/z (Da): MS/MS가수행되지않는이온에대한m/z값을입력합니다.

• Retention time (min): 관심이온에대한 LC 머무름시간을입력합니다. 지정된머무름시간에서이온이검출되면이이온은 MS/MS용으로선택되지않습니다. 0을입력하면해당이온이전체획득범위에서고려되지않음을의미합니다.

• Retention time tolerance (+/-sec): 이값은지정된머무름시간근처의 +/- 시간범위입니다. 오차는 LC 머무름시간에서드리프트를고려하도록해줍니다. 제외목록에있는이온이지정된머무름시간근처범위에서검출되면이이온은 MS/MS용에서우선적으로제외됩니다.

Exclusion List

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서95 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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표 6-10 IDA 기준 (계속)

설명레이블

확인란을선택하면 Mass Defect Filter 기준을사용할수있습니다. 링크를클릭하면 IDA: Mass Defect Filter 대화상자가열리고기준을편집할수있습니다.

MS/MS는지정된질량결손기준을만족하는이온에대해트리거됩니다. IDA알고리즘은이온을분자량으로변환한다음이분자량을질량결손기준과비교합니다. 질량결손필터는예상분자량범위를벗어나는이온및예상분자량범위내에있지만예상질량결손범위를초과하는이온을모두필터링하는데적용할수있습니다.

질량결손(mDa) = ABS(단일질량 - 공칭질량)

• Chemical formula: 대표적인관심화합물의분자식을입력합니다. 실시간여러질량결손필터링이가능하도록여러개의식을입력할수있습니다.

• MW(Da): 소프트웨어에서화학식에대한단일분자량을생성합니다.

• MW tolerance (+/- Da ): 식이입력되면소프트웨어에서자동으로연관된분자량(MW)을계산합니다. MW 오차는계산된 MW를중심으로그주변범위를지정합니다. 후보이온에질량결손 ± 질량결손오차를만족하는질량결손이있고 MW 주변범위내에있는경우, 이이온은 MS/MS용으로고려됩니다.

• Mass defect (Da): 분자량및 MW 오차를입력합니다. 소프트웨어에서입력된식에대한질량결손을계산합니다.

• Mass defect tolerance (mDa): 질량결손주위오차를입력합니다.

Use the mass defect filter with no other IDA criteria: 이확인란을선택하면질량결손필터만유일하게사용할수있습니다. MS/MS는주어진기준을만족하는질량결손을가진후보이온에대해서만수행됩니다. 이확인란이선택되지않은경우, 질량결손기준을만족하는후보이온이후보목록에서포함목록을제외한나머지지정된 IDA 기준을만족하는이온보다우선순위가더높습니다. 포함기준을만족하는후보이온은질량결손기준을만족하는후보이온과우선순위가같습니다.

Mass Defect Filter

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E96 / 225

작동지침—소프트웨어

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표 6-10 IDA 기준 (계속)

설명레이블

확인란을선택하면 Isotopic Matching 기준을사용할수있습니다. 링크를클릭하면 Isotopic Matching 대화상자가열리고기준을편집할수있습니다.

동위원소매칭을선택하면사용자는수동으로동위원소패턴을입력하거나또는 Isotopic Calculator를사용하여 MS/MS를트리거하는데사용한동위원소패턴을채울수있습니다. 패턴을수동으로입력할때첫번째입력에서질량차는 0 Da, 존재비는 100%이어야합니다. Abundance 열에서나머지입력은단일동위원소이온이동위원소패턴에서가장많은이온이아닌경우 100%보다더클수있습니다.Isotope to use for TOF MSMS: MS/MS를수행할동위원소패턴의피크를선택합니다 (예: 단일동위원소이온또는가장높은강도의이온).

Isotopic Calculator: 사용자지정화학식또는대전상태, 그리고필요한경우 H+전하매개체에기초하여자동으로동위원소패턴을계산합니다. IsotopicCalculator에화학식을입력한다음 Calculate를클릭합니다. Isotopic Calculator 대화상자를닫으려면 OK를클릭합니다. Mass Difference 및 Abundance 열은자동으로채워집니다.

참고: 소프트웨어에서는존재비가 1% 미만인열을모두제거합니다.

Tolerance (mass): 패턴내지정된피크에대한질량차는패턴과서로매칭되려면 +/- 오차내에있어야합니다.

Tolerance (Abundance): 이항목은 % 단위의존재비오차입니다. 패턴내지정된피크에대한존재비는패턴과서로매칭되려면 ± 존재비오차내에있어야합니다.

Isotopic Matching

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서97 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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표 6-10 IDA 기준 (계속)

설명레이블

확인란을선택하면 Neutral Loss 기준을사용할수있습니다. 링크를클릭하면Neutral Loss 대화상자가열리고기준을편집할수있습니다.

중립손실을선택하면소프트웨어에서는두 TOF MS 실험의질량목록과각기다른 CE 값(Low/High CE 값)을서로비교하며, 오차(질량) 범위내에있는질량차를가진전구체질량이 MS/MS용으로트리거됩니다.

참고: 낮은 CE 조사스캔의전구체이온만 MS/MS에의해트리거됩니다. 중립손실필터를선택하면중립손실이온이 IDA 실험용으로유일하게선택됩니다. Neutral Loss 기능을선택하면 TOF MS method에대한 CE 값은사용할수없습니다.

• Low CE (survey scan): 첫번째 TOF MS 실험에적용되는충돌에너지를설정합니다.

• High CE (second scan): 두번째 TOF MS 실험에적용되는충돌에너지를설정합니다.

참고: High CE는양극성의경우 Low CE보다더큽니다. Low CE는음극성의경우 High CE보다더큽니다.

• Tolerance (mass): 질량차에적용되는오차를지정합니다. 기본값은 0.02Da입니다.

Neutral Loss

MS Methods에대한동적충돌에너지를계산합니다.

1. MS Method작업영역을엽니다.

2. IDA 기준또는 SWATH®응용분야기준을포함하는 MS method을생성하거나엽니다.

3. Advanced > Dyanamic collision energy를클릭합니다.

4. 필요시필드에서정보를수정합니다.

5. 다음중한가지를수행합니다.

• 동적 CE 계산을위해이전에저장된기본값을사용하려면, Load Default Settings를클릭합니다.

• 새로운방법에서동적 CE 계산에사용하기위해현재값을기본값으로저장하려면, Saveas Default Settings를클릭합니다.

• 동적 CE 계산을위해현재값을현재방법에적용하려면, Apply를클릭합니다.

• 대화상자를닫고변경사항을취소하려면, Cancel을클릭합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E98 / 225

작동지침—소프트웨어

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LC Method 작업영역

LC Method 생성LC 장치와제공되는문서를참조하십시오.

1. LC Method작업영역을엽니다.

2. New를클릭합니다.

3. 왼쪽패널에있는장치를클릭한뒤, 필요할경우필드를편집합니다.

4. 파일을저장합니다.

Explorer 작업영역

분석물질의존재확인

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

그림 6-7 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. Show > Extract Ion Chromatogram (XIC)을클릭합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서99 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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그림 6-8 Show Menu—Options

Specify XIC Ranges대화상자가열립니다.

6. Specify XIC Ranges대화상자에 Center, Width및 Compound값을입력합니다. 이온추출페이지의 100내용을참조하십시오.

7. OK를클릭합니다.

8. Show > Data and Peaks Table을클릭합니다.

그림 6-9 표시메뉴 - 옵션

9. 화합물의피크영역, 강도, 질량및대전상태를검토합니다.

이온추출한개이상의중첩된추출이온크로마토그램(XIC) 계산에사용되며이는주어진질량범위에서머무름시간의함수인강도합산에대한플롯으로표시됩니다.

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E100 / 225

작동지침—소프트웨어

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그림 6-10 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. Show > Extract Ion Chromatogram (XIC)을클릭합니다.

그림 6-11 Show Menu—Options

Specify XIC Ranges대화상자가열립니다.

6. Center, Width및 Compound값을입력하거나또는값을가져옵니다.

참고: XIC 제목의기본값에는주어진행의셀에표시된화합물이름이포함됩니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서101 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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팁! Center/Width모드를사용할경우, Center값에는질량보다는화학식을지정할수있습니다. 중성화학조성(예: H20)을사용하면, 양성모드인경우는양성자가자동으로추가되거나음성모드인경우는차감됩니다(예에서는양성모드에대해 H3O+의 m/z 사용). 화학조성의끝에 '+n' 또는 '-n'을표시하여대전상태를명확하게명시하십시오(여기서 n은대전상태. n이누락된경우는 1로간주). 예를들어, H2ONa+로명시된경우 H2ONa+의 m/z는그대로사용됩니다.

7. Specify XIC Ranges대화상자에서오른쪽버튼을클릭한다음아래에표시되는기능을사용합니다.

그림 6-12 Specify XIC Ranges 대화상자의오른쪽버튼클릭메뉴

8. OK를클릭합니다.

활성그래프에서로다른샘플로부터의중첩된시리즈가포함된경우 Process All Overlays? 대화상자가열립니다.

9. Process All Overlays?대화상자가열리면다음중하나를수행합니다.

• All Overlaid를선택하여사용가능한모든샘플에대한중첩된 XIC를생성합니다.

• Active Only를선택하여현재활성화된샘플에서만 XIC를생성합니다.

Only show this dialog again if the Shift key is down확인란이선택된경우, 사용자가옵션변경을위해 Shift키를누르지않았다면항상선택한옵션이사용됩니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E102 / 225

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총이온크로마토그램열기총이온크로마토그램(TIC)은일련의질량스캔에서얻은모든이온강도기여도를합하여계산됩니다. TIC를사용하여단일창에서전체데이터세트를볼수있습니다. TIC는크로마토그래픽창의시간에대해플롯이생성되는스캔의모든이온에대한강도합계로구성됩니다.

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

그림 6-13 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. Show > Total Ion Chromatogram (TIC)을클릭합니다.

활성그래프에서로다른샘플로부터의중첩된시리즈가포함된경우 Process All Overlays? 대화상자가열립니다.

6. Process All Overlays?대화상자가열리면다음중하나를수행합니다.

• All Overlaid를선택하여사용가능한모든샘플에대한중첩된 XIC를생성합니다.

• Active Only를선택하여현재활성화된샘플에서만 XIC를생성합니다.

Only show this dialog again if the Shift key is down확인란이선택된경우, 사용자가옵션변경을위해 Shift키를누르지않았다면항상선택한옵션이사용됩니다.

7. TIC에서마우스오른쪽버튼을클릭한다음그림 6-14에표시된기능을사용합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서103 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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그림 6-14 총이온크로마토그램마우스오른쪽버튼클릭메뉴

설명레이블항목

이기능은두개이상의중첩된트레이스가있는경우사용할수있으며그래프에서현재활성화된트레이스를제거합니다. 현재활성화상태가아닌트레이스를제거하려면해당트레이스를먼저활성화한다음이기능을선택합니다.

Remove Active Trace1

이기능은두개이상의중첩된트레이스가있는경우사용할수있으며현재활성화된트레이스를제외한모든트레이스를제거합니다. 보존할트레이스가현재활성화상태가아닌경우해당트레이스를먼저활성화한다음이기능을선택합니다.

Remove All Traces ExceptActive

2

그래프에텍스트를추가합니다.

필요시 Font를클릭하여폰트속성을조정한다음OK를클릭합니다. 캡션은사용자가메뉴를열기위해마우스오른쪽버튼을클릭한 (x, y) 위치에추가됩니다.

캡션이추가되면이를드래그하여새위치로옮길수있습니다. 사용자가캡션을 x 또는 y축으로드래그하면드래그작업이취소됩니다.

문자순서 '\d' 및 '\u'는특별한방식으로처리됩니다. 전자의경우바로다음에오는문자하나는위첨자로표시되고, 후자의경우에는모두위첨자로표시됩니다.두가지경우모두특수문자는표시되지않습니다. 이기능은특히화학식에유용하게사용됩니다. 예를들어, 'H\d3O\u+'는 H3O+로표시됩니다.

Add Caption3

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설명레이블항목

캡션을마우스오른쪽버튼으로클릭합니다. 사용자는캡션을더블클릭해서도이대화상자를열수있습니다.

Edit Caption4

캡션을마우스오른쪽버튼으로클릭한다음이기능을선택합니다. 또는캡션을그래프밖으로드래그하면캡션이삭제됩니다.

Delete Caption5

그래프에최소한하나의캡션이포함된경우사용할수있습니다. 모든캡션을한꺼번에제거합니다.

Delete All Captions6

그래프에이미지를붙여넣기합니다.Paste Image7

그래프에서선택한이미지를삭제합니다.Delete Image8

기본피크크로마토그램열기시간의함수로서각스펙트럼에있는가장큰피크의강도에대한플롯을생성합니다.

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

그림 6-15 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

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작동지침—소프트웨어

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5. Show > Base Peak Chromatogram (BPC)을클릭합니다.

그림 6-16 Show Menu—Options

BPC Options대화상자가열립니다.

6. 그림 6-17에표시된기능을사용합니다.

그림 6-17 BPC Options 대화상자

참고: 기준피크크로마토그램생성시 1.0분을넘는단일선택영역을가진크로마토그램이활성화된경우, 시간범위는기본적으로선택영역에대한시간범위로설정됩니다. 그렇지않은경우마지막시간범위가사용됩니다. 시간범위제한은사용자가수동으로범위를입력할필요를없애줍니다.

활성그래프에서로다른샘플로부터의중첩된시리즈가포함된경우 Process All Overlays? 대화상자가열립니다.

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그림 6-18 Process All Overlays? 대화상자

레이블항목

'Show BPCs'를모든중첩된데이터세트에대해사용하시겠습니까? 또는활성화된데이터세트에대해서만사용하시겠습니까?• 모든중첩데이터

• 활성데이터만

1

Shift 키를누른상태에서만이대화상자가다시표시됩니다.2

확인3

취소4

7. Process All Overlays?대화상자가열리면다음중하나를수행합니다.

• All Overlaid를선택하여사용가능한모든샘플에대한중첩된 XIC를생성합니다.

• Active Only를선택하여현재활성화된샘플에서만 XIC를생성합니다.

Only show this dialog again if the Shift key is down확인란이선택된경우, 사용자가옵션변경을위해 Shift키를누르지않았다면항상선택한옵션이사용됩니다.

데이터및피크표표시Data and Peaks Table에는각각다른 2개의표가들어있습니다. Data 표에는데이터세트로구성된원시 (x, y) 값이표시되며 Peaks 표에는피크자체에대한정보가표시됩니다. 표는그래프가활성화되어있을때생성됩니다.

참고: 그래프에서 y축상의파란색화살표로설정된현재임계값보다위에있는피크만표시됩니다. 그래프의데이터작업페이지의 116내용을참조하십시오.

이기능은현재활성데이터에대한 2개의표(원시 (x, y)값이표시된표및피크목록이표시된표)가들어있는창을표시할때사용합니다.

1. Explorer작업영역을엽니다.

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2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

그림 6-19 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. Show > Data and Peaks Table을클릭합니다.

그림 6-20 Show Menu—Options

표 6-11의기능을이용하십시오.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E108 / 225

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표 6-11 데이터및피크기능

수행방법수행할작업

열제목을클릭합니다.해당필드기준으로표를정렬합니다.

표를마우스오른쪽버튼으로클릭한다음 Copy를클릭합니다. Data탭이활성화된경우선택한 x 및 y값이복사됩니다.또는 Peaks탭이활성화된경우선택한피크정보가복사됩니다.

현재선택한셀을복사합니다.

먼저 Shift또는 Ctrl키를사용하여행선택기열에서드래그하여복수의행을선택합니다.

선택한행만복사합니다.

Ctrl키를누른상태로열머리글을클릭합니다. 사용자가열머리글만클릭하면열이정렬됩니다.

복수의열을선택합니다.

Edit > Select All을클릭한다음 Edit > Copy를클릭합니다.표전체를복사합니다.

창에서오른쪽버튼을클릭한후 Export Data as Text를클릭합니다.

지정된파일에전체데이터목록을저장합니다. x 및 y값은탭으로분리되며각각의 (x, y) 쌍다음에는캐리지리턴이표시됩니다.

텍스트로데이터를내보냅니다.

창에서오른쪽버튼을클릭한후 Export Peak List as Text를클릭합니다.

지정된파일에전체피크목록을저장합니다. 여기서는연결된그래프의 y축에설정된현재임계값미만인피크는포함되지않습니다. 다양한피크수치는분리되며각피크다음에는복귀문자가표시됩니다.

텍스트로피크목록데이터내보내기

샘플정보표시Sample Information 창은활성데이터획득에사용한실험에대한텍스트설명을표시합니다. 이정보는샘플이름및데이터획득관련정보(실험의개수및유형등)와같은샘플별정보를포함합니다.

서로다른샘플과연결된두개이상의 Sample Information 창이표시된경우, 이창들중하나에대한트리보기에서임의의항목을클릭하면다른모든창들이해당항목과연결되는섹션으로스크롤됩니다. 이기능은동일한이름을가진섹션이모든창에존재함을전제로합니다. 이기능은사용자가서로유사하지만동일하지는않은두개의 Sample Information 창을사용하려할때유용합니다.

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

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그림 6-21 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. Show > Sample Information을클릭합니다.

그래프선택영역정보표시이창은크로마토그램또는스펙트럼에서선택한영역에관한정보를표시하며이들창중에서하나가활성화된경우생성됩니다.

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

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그림 6-22 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. Window > Graph Selection Window를클릭합니다.

Graph Selection Info대화상자가열립니다.

그림 6-23 Graph Selection Info 대화상자

6. 그래프에서한개또는그이상의영역을선택합니다.

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그림 6-24 Graph Selection Info

7. 목록에서다음과같은옵션을선택합니다: Default Info, XY Info, Standard Deviations, 또는 Signal/Noise

8. 필요시표 6-12의기능을사용합니다.

표 6-12 그래프선택영역정보

설명레이블

Default Info

그래프에두개이상의선택영역이있는경우각각에대한정보가분리되어나열됩니다.

선택영역의좌우측 x값입니다.Selected Start andEnd

선택한 x값범위에해당하는데이터포인트인덱스입니다.Selected Points

선택한영역내에위치한데이터포인트의최소및최대 y값Min and Max

선택한영역내에위치한데이터포인트 y값의합계Sum

선택영역에서최대피크의 x값입니다. 그래프와연결된피크탐색기가이영역에서피크를찾지못할경우이필드는표시되지않습니다. 선택한영역에서피크탐색기가피크를찾을수없는경우 X at Max Y라고하는추가필드가표시됩니다. 이필드에는선택영역내최대 y값을가진포인트에해당하는 x값이들어있습니다.

Peak

피크절반높이에서의피크폭입니다. 선택한영역에서피크가발견되지않으면이필드는표시되지않습니다.

Peak Width at 50%

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표 6-12 그래프선택영역정보 (계속)

설명레이블

피크절반높이에서데이터포인트의피크폭입니다. 선택한영역에서피크가발견되지않으면이필드는표시되지않습니다.

Points Across Peakat 50%

기준에서의피크폭입니다. 선택한영역에서피크가발견되지않으면이필드는표시되지않습니다.

Peak Width at Base

기준에서데이터포인트의피크폭입니다. 선택한영역에서피크가발견되지않으면이필드는표시되지않습니다.

Points Across Peakat Base

선택영역에서가장큰피크의면적입니다. 선택한영역에서피크가발견되지않으면이필드는표시되지않습니다.

Peak Area

XY Info

이보기는 Default Info 보기에서제공되는정보의하위집합을표시하며사용자가선택한 x값(또는 y값)을복사하여다른위치에붙여넣기할때더욱편리합니다.

선택영역에피크탐색기가검출한피크가포함된경우, 이값은피크탐색기가발견한 x값입니다(선택영역에서가장큰피크에대해). 그렇지않은경우이값은선택영역내가장큰강도를가진데이터포인트에대한x값입니다.

X-values

각각의선택영역에서최대 y값입니다.Y-values

각각의선택영역에서가장큰피크의면적입니다.Peak Area

Standard Deviations

이옵션을선택한경우선택영역이대략적으로일정한강도를가진영역을포함하는것으로가정합니다. 선택한영역에피크가포함된경우에는이항목을선택하지마십시오.

선택한영역내 y값의평균및표준편차입니다.Average and Std.Deviation

Signal/Noise

그래프에서최소두개영역을선택하는데그중하나는노이즈영역을포함하고나머지하나는관심피크를포함하도록합니다.

그러면관심피크의신호대노이즈(S/N) 비율이표시됩니다. 최대 y값이포함된선택영역은피크를포함하는것으로가정하고나머지선택영역은노이즈영역을포함하는것으로가정합니다. 사용자가 3개이상의영역을선택한경우최소 y값이포함된영역을노이즈영역으로가정하고나머지는관심피크가포함된영역으로가정합니다.

노이즈영역에대한 y값평균및표준편차가표시됩니다.Average and Std.Deviation

(다수의) 피크선택영역에대해이항목은피크높이에서노이즈영역의평균 y값을차감한값입니다(즉, 노이즈윗부분의피크높이).

Subtracted Height

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표 6-12 그래프선택영역정보 (계속)

설명레이블

계산된피크의 S/N 비율로서피크의 Subtracted Height를노이즈영역의표준편차와특정계수를곱한값으로나눈값입니다. 이계수는 Options 섹션에서지정된 Noise Multiplier입니다. 노이즈승수는출력에서괄호안에표시됩니다. 표준편차는노이즈값의평균에대한추정노이즈값의 RMS이기때문에여기서정의된신호대노이즈는때로평균제곱근(RMS) S/N으로도불립니다.

Signal/Noise

피크의 Subtracted Height를노이즈영역의전체범위(Max Y minus Min Y)를나눈값으로계산되는 S/N입니다.

Peak-to-Peak S/N

9. (옵션) Options 아이콘을클릭합니다.

Graph Info Options대화상자가열립니다.

그림 6-25 Graph Info Options 대화상자

설명레이블항목

신호대노이즈비율에서노이즈는지정된배경영역에있는포인트의표준편차와이계수를곱한값으로정의됩니다. 일반적으로이계수는 1 ~ 3 범위에있습니다.

Noise multiplier for S/N1

이기능을통해 Sum Y Above x%및 Peak Width atx%필드가계산되는백분율높이를변경할수있습니다. 일반적으로 50%의기본값이적절하며변경할필요가없습니다.

Spectral heightpercentage

2

이를선택하면바탕에있는데이터를계속볼수있도록반투명으로정보창을생성할수있습니다. 이기능을사용할때사용자가창안쪽을클릭하여창을활성화하면창이실선으로표시됩니다. 그래프에가려정보가보이지않는경우에이기능을사용합니다.

Semi-transparent(비활성화상태인경우)

3

10. (옵션) Fill Peaks 아이콘을클릭합니다.

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그러면활성그래프에서, 피크가어두운색과밝은색이교대로채워진모드와채워지지않은모드가서로전환됩니다. 이기능은사용자가 Peak Width at Base에해당하는피크범위를보고자할때유용합니다.

11. (옵션) Show Point Symbols 아이콘을클릭합니다.

그러면활성그래프에서, 데이터포인트가포인트기호로표시된모드와표시되지않은모드가서로전환됩니다. 이기능은사용자가피크를자세히검토하고기본창에표시된텍스트정보만을사용하는것대신얼마나많은데이터포인트가피크를구성하지확인하고자할때유용합니다.

그래프에서설정편집

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

그림 6-26 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. Edit을클릭한다음의 menu그림 6-27기능을사용합니다.

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그림 6-27 메뉴편집 - 옵션

설명레이블항목

현재데이터를클립보드에복사합니다. 스펙트럼또는크로마토그램이활성화상태일때이러한활성그래프의그림이복사됩니다.

Copy1

스펙트럼또는크로마토그램이활성화상태일때이옵션을사용하면현재그래프가클립보드에그림으로복사됩니다.

Copy Graph2

전체활성창의이미지를클립보드에복사합니다. 창의제목표시줄과창에있는여러내부창의도구모음은이에포함되지않습니다.

Copy Window3

이옵션을사용해클립보드의데이터를현재보기로붙여넣습니다.

Paste4

표가활성화상태일때표에있는모든행을선택합니다. 텍스트창이활성화상태이면모든텍스트를선택합니다.

Select All5

그래프모양, 피크레이블지정및찾기, 자동처리, XIC범위계산등에대한옵션을설정할수있습니다. 옵션설정페이지의 137내용을참조하십시오.

Options6

이옵션을사용하면기본 Explore(탐색) 옵션으로되돌아갑니다. Reset Options 페이지의 137내용을참조하십시오.

Reset Options7

그래프의데이터작업

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

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팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

3. OK를클릭합니다.

4. 피크레이블표시및Data and Peaks표와같은후속기능에대한임계값을설정하려면그래프의 y축에표시된파란색화살표를드래그합니다.

그림 6-28 Y축상의파란색화살표

5. 에표시된 graph menu그림 6-29기능을사용합니다.

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그림 6-29 Graph Menu—Options

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설명레이블항목

후속작업에서처리할그래프의일부를선택합니다. 예를들어, 크로마토그램에서영역을선택하여더블클릭하면평균화된스펙트럼을얻을수있습니다. SetSelection기능을사용하여구체적인 x범위를입력하면커서를사용해서얻을수있는것보다더정확한선택영역을설정할수있습니다.a. Graph > Set Selection을클릭합니다.

b. Set Selection대화상자에서 Center및Width값을입력합니다.

c. OK를클릭합니다.

팁! 그래프에서수동으로선택영역을설정하려면플롯영역으로커서를드래그하여선택합니다. Shift 키를누른상태에서이작업을수행하면현재선택영역이유지됩니다.

Set Selection1

플롯생성을위해계수를지정하면이에따라범위내에서 y값이확장됩니다.a. 데이터파일을엽니다.

b. 그래프의일부를선택합니다.

c. Graph > Expand Selected Y-Values by를클릭합니다.

d. Expand Selection대화상자에서확장계수를입력합니다.

e. OK를클릭합니다.

Expand Selected Y-ValuesBy

2

확장범위를모두제거합니다.• 범위가확장된그래프에서 Graph > Clear

Expansion Ranges를클릭합니다.

Clear Expansion Ranges3

이기능은두개이상의중첩된트레이스가있는경우사용할수있으며그래프에서현재활성화된트레이스를제거합니다.• 두개이상의중첩된트레이스가있는그래프에서

Graph > Remove Active Trace를클릭합니다.

Remove Active Trace4

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설명레이블항목

이기능은두개이상의중첩된트레이스가있는경우사용할수있으며현재활성화된트레이스를제외한모든트레이스를제거합니다.• 두개이상의중첩된트레이스가있는그래프에서

Graph > Remove All Traces Except Active를클릭합니다.

Remove All Traces ExceptActive

5

그래프에서모든데이터포인트가현재설정된임계값미만인중첩된트레이스를제거합니다.

사용자가그래프를확대/축소하여 x범위의일부만현재표시된경우대화상자가하나열립니다. 사용자는전체범위를사용하거나또는현재표시된부분만사용하여임계값미만의트레이스를제거할지를선택할수있습니다.

• 두개이상의중첩된트레이스가있는그래프에서Graph > Remove Traces Below Threshold를클릭합니다.

Remove Traces BelowThreshold

6

활성그래프에두개이상이중첩된트레이스가있는경우현재활성화된트레이스를제외한나머지모든트레이스를정상보다더희미하고약한강도의색깔로표시합니다. 이기능을사용하여활성트레이스에더집중할수있으며비활성트레이스와의혼동을줄일수있습니다. 원래스타일로복원하려면이기능을다시선택합니다.• 두개이상의중첩된트레이스가있는그래프에서

Graph > Fade Inactive Trace를클릭합니다.

Fade Inactive Traces7

활성그래프에두개이상의중첩된트레이스가있는경우이옵션을사용하면두번째트레이스가반전표시됩니다. 이기능으로두개의유사한트레이스를시각적으로더쉽게비교할수있습니다. Invert SecondOverlay를다시선택하면원래보기로돌아갑니다.

Invert Second Overlay8

모든개별트레이스를합산한한개의트레이스로그래프를교체합니다.• 두개이상의중첩된트레이스가있는활성그래프에서 Graph > Sum Graph Traces를클릭합니다.

Sum Graph Traces9

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작동지침—소프트웨어

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설명레이블항목

각각의중첩된트레이스에대해별도의그래프를생성합니다. 예를들어, 사용자가 3개의중첩된트레이스가있는그래프로작업을시작하여이기능을선택할경우, 결과적으로중첩트레이스가포함된원래그래프및각각의개별데이터세트별로그래프가하나씩표시된 4개의창으로분리됩니다.a. 두개이상의중첩된트레이스가있는활성그래프에서Graph > Split Traces into Separate Panes를클릭합니다.

b. Number of Columns대화상자에서출력에표시되는열개수를선택합니다.필요한행개수는행개수와중첩된트레이스개수에따라결정됩니다.

c. 새롭게생성된개별창들을새창으로이동하려면확인란을선택합니다. 확인란을선택하지않은경우새롭게생성된개별창들은동일한창에위치합니다.

Split Traces into SeparatePanes

10

Set Titles대화상자를엽니다. 이옵션을사용하여수동으로트레이스의제목을변경합니다.

Set Graph Title(s)11

Color대화상자를엽니다. 이옵션을사용하여현재활성화된그래프트레이스의색상을설정합니다.

Set Active Trace Color12

Set Trace Colors Using Pattern Matching대화상자를엽니다. 여러개의그래프트레이스가중첩된경우소프트웨어는중첩에대한기본색상을사용합니다. 이옵션을사용하여제목에특정텍스트를포함하고있는트레이스에대해특정색상을설정합니다.

Set Trace Colors UsingTitles

13

현재활성화된그래프의사본을생성하여이를같은그래프에추가합니다. 이기능을사용하면특정데이터처리작업의효과를확인할수있습니다. 예를들어, 사용자가이기능을사용하여데이터를복제한다음두트레이스중하나를평활화하면, 결과적으로처리전후의보기가중첩되어그래프에표시됩니다.• 활성화된그래프에서 Graph > Duplicate Active

Data를클릭합니다.

Duplicate Active Data14

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작동지침—소프트웨어

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설명레이블항목

현재활성화된그래프의사본을생성합니다. 이기능을사용하면특정데이터처리작업의효과를확인할수있습니다. 예를들어, 사용자가이기능을사용하여데이터를복제한다음두트레이스중하나를평활화하면, 분리된두그래프에처리전후의보기가표시됩니다. 한그래프를확대/축소하면다른그래프도자동으로확대/축소되도록 x축을서로연결하십시오.• 활성화된그래프에서Graph > Duplicate Graph를클릭합니다.

Duplicate Graph15

Offset Traces대화상자를엽니다. 이옵션을사용하여일련의중첩된그래프트레이스로부터 3차원중첩그래프를생성합니다.

Offset Traces in X and Y16

이옵션을사용하여 TIC에서생성한오프셋을제거합니다.

Remove XY Offset17

2개내부창작업도구사용

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. 내부창의오른쪽모서리를따라위치한아이콘을사용하면(표 6-13참고) 소스창및대상창의 2개창에서작업을수행할수있습니다. 모든경우에서소스창의아이콘을클릭한다음이를대상창으로드래그합니다.

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작동지침—소프트웨어

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표 6-13 2개내부창도구

설명이름아이콘

각내부창의오른쪽위의구석에표시됩니다. 이아이콘은내부창의상대적위치를변경합니다. 내부창하나의아이콘을클릭하여두번째내부창의상단, 하단, 왼쪽또는오른쪽부분으로끌어갑니다. 커서를놓는위치에따라첫번째내부창의위치가두번째내부창을기준으로변경됩니다. 사용자가내부창을드래그할때두번째내부창의한면이빨간색으로강조표시되어첫번째내부창이표시될위치를나타냅니다.

참고: 사용자는또한한창에서다른창으로내부창을드래그할수있습니다.

창이동

두개의데이터세트를하나씩합산하는데사용합니다. 처음에클릭했던소스창의데이터가대상창(드래그한아이콘을끌어다놓는창)에추가됩니다. 수정된내부창의제목이업데이트되어수정되었다는것을표시합니다.

참고: 동일한유형을가진 2개의데이터세트만추가할수있습니다. 예를들어, 사용자는스펙트럼을크로마토그램에추가할수없습니다.

팁! 대상그래프에하나이상의중첩된트레이스가포함되어있는경우소스데이터는기본적으로활성화된대상데이터에만추가됩니다. Ctrl키를누른경우에는소스를대상내부창의모든데이터세트에추가할수있습니다.

데이터추가

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표 6-13 2개내부창도구 (계속)

설명이름아이콘

대상데이터에서소스데이터가차감되는것만제외하고데이터추가아이콘과동일합니다. 이기능은질량스펙트럼에서배경을제거할때사용합니다.

팁! 대상그래프에하나이상의중첩된트레이스가포함되어있는경우소스데이터는기본적으로활성화된대상데이터에서만차감됩니다.Ctrl키를누른경우에는소스를대상내부창의모든데이터세트에추가할수있습니다.

팁! 일반적으로소스의강도가대상보다큰데이터포인트는보존되지않습니다. 즉, 음의 y값은버려집니다. 음의강도를가진포인트를보존하려면 Shift키를누릅니다.

데이터차감

소스그래프의활성데이터를대상그래프에중첩합니다. 작업을완료하면대상그래프에대상데이터의사본이들어있는새로운시리즈가포함됩니다.

팁! 소스그래프에하나이상의중첩된트레이스가포함된경우자동으로활성데이터사본만대상그래프로이동합니다. Ctrl키를누른경우에는소스그래프의모든데이터세트사본을대상그래프에중첩시킬수있습니다.

데이터중첩

창또는내부창이동

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

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그림 6-30 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. Window를클릭한다음에표시된 menu그림 6-31기능을사용합니다.

그림 6-31 Window Menu—Options

설명레이블항목

활성그래프에서선택한영역에대한정보가표시된창을엽니다 (예: 선택영역의 x범위, 선택포인트의강도범위등). 이창이이미표시된경우메뉴항목을선택하면창이닫힙니다. 그래프선택영역정보표시페이지의 110내용을참조하십시오.

Graph Selection Window1

이옵션을사용하여창에표시된정보의레이아웃을가로형식에서세로형식으로변경합니다.

Vertical Mode PaneLayout

2

창에서현재활성화된내부창을제거하고이를새창에단독으로배치합니다.

Move Pane To NewWindow

3

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설명레이블항목

최소화되지않은상태의열린창들이한행에서좌우로서로나란히정렬됩니다.

Tile Vertically4

최소화되지않은상태의열린창들이한열에서위아래로서로나란히정렬됩니다.

Tile Horizontally5

가우스평활화수행가우스평활화알고리즘을적용합니다. 이는가중치계수가가우스또는 '정상' 함수를따르는지정된폭의필터입니다.

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

그림 6-32 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. Process > Gaussian Smooth를클릭합니다.

Gaussian Smooth대화상자가열립니다.

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그림 6-33 가우스평활화대화상자

6. Smoothing width필드에값을입력합니다.

이값은실제로는최대높이의절반에서가우스함수의폭입니다. 가우스분포의주변부로까지계산이수행되기때문에총폭은더큽니다. 가우스함수폭의절반이 1보다작을경우분수값이허용됩니다.

7. 활성그래프에여러트레이스가있는경우 Process all overlays (otherwise active dataonly)를선택하여해당작업을모든트레이스에적용합니다.

Only show this dialog again if the shift key is down확인란이선택된경우, 사용자가옵션변경을위해 Shift키를누르지않았다면선택한옵션이사용됩니다.

8. OK를클릭합니다.

임계데이터현재임계값설정미만의강도를가진데이터포인트는모두제거합니다. 그래프의 y축에표시된파란색화살표를드래그하여임계값을설정합니다.

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서127 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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그림 6-34 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. Process > Threshold Data를클릭합니다.

활성그래프에서로다른샘플로부터의중첩된시리즈가포함된경우 Process All Overlays? 대화상자가열립니다.

그림 6-35 Process All Overlays? 대화상자

6. Process All Overlays?대화상자가열리면다음중하나를수행합니다.

• All Overlaid를선택하여사용가능한모든샘플에대한중첩된 XIC를생성합니다.

• Active Only를선택하여현재활성화된샘플에서만 XIC를생성합니다.

Only show this dialog again if the Shift key is down확인란이선택된경우, 사용자가옵션변경을위해 Shift키를누르지않았다면항상선택한옵션이사용됩니다.

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데이터하위집합설정(그래프선택영역에적용)이기능은선택한영역이정확하게하나만있는그래프가활성화된경우에만사용할수있습니다. 선택영역밖에위치한데이터포인트는제거합니다. 데이터처리를전체데이터의하위집합에초점을둘때이기능을사용합니다.

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

그림 6-36 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. 그래프에서영역을선택합니다.

6. Process > Subset Data (to graph selection)을클릭합니다.

활성그래프에서로다른샘플로부터의중첩된시리즈가포함된경우 Process All Overlays? 대화상자가열립니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서129 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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그림 6-37 Process All Overlays? 대화상자

7. Process All Overlays?대화상자가열리면다음중하나를수행합니다.

• All Overlaid를선택하여사용가능한모든샘플에대한중첩된 XIC를생성합니다.

• Active Only를선택하여현재활성화된샘플에서만 XIC를생성합니다.

Only show this dialog again if the Shift key is down확인란이선택된경우, 사용자가옵션변경을위해 Shift키를누르지않았다면항상선택한옵션이사용됩니다.

기준선제거크로마토그램크로마토그램에서상대적으로천천히변하는배경을제거합니다.

크로마토그램의각데이터포인트에대해, 범위의중심은대응되는 x값위치에오며창내에서왼쪽및오른쪽으로최소강도를가진포인트를얻을수있습니다. 이들두포인트사이에직선이연결되며범위의중심에서 y값이계산됩니다. 이것이해당포인트의데이터에서제거되는기준선입니다.

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E130 / 225

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그림 6-38 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. Process > Baseline Subtract를클릭합니다.

Baseline Subtract대화상자가열립니다.

그림 6-39 기준선제거대화상자

6. Subtraction half window에분단위의값을입력합니다.

7. 활성그래프에여러트레이스가있는경우 Process all overlays (otherwise active dataonly)를선택하여해당작업을모든트레이스에적용합니다.

Only show this dialog again if the shift key is down확인란이선택된경우, 사용자가옵션변경을위해 Shift키를누르지않았다면선택한옵션이사용됩니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서131 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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크로마토그램오프셋크로마토그램의시간값오프셋에사용합니다.

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

그림 6-40 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. Process > Offset Chromatogram을클릭합니다.

Offset대화상자가열립니다.

그림 6-41 오프셋대화상자

6. Total offset필드에분단위의값을입력합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E132 / 225

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7. 활성그래프에여러트레이스가있는경우 Process all overlays (otherwise active dataonly)를선택하여해당작업을모든트레이스에적용합니다.

Only show this dialog again if the shift key is down확인란이선택된경우, 사용자가옵션변경을위해 Shift키를누르지않았다면선택한옵션이사용됩니다.

8. 시간방향으로중첩을분산시키려면 User incremental offset (중첩분산용)을선택합니다.

스펙트럼중심생성질량스펙트럼의중심을생성합니다. 즉, 검출된피크에대해서만프로필스펙트럼을 (질량, 강도) 포인트로대체합니다.

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

그림 6-42 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. Process > Centroid Spectrum을클릭합니다.

Centroid대화상자가열립니다.

6. 에표시된 Centroid 대화상자그림 6-43의기능을사용합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서133 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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그림 6-43 Centroid 대화상자

표 6-14 Centroid 대화상자 - 설명

설명항목

각피크에서중심 y값은피크를구성하는가장큰데이터포인트의강도입니다.

Intensity

이기능은기준선오프셋이있는경우강도가기준선강도에의해차감된다는점을제외하면 Intensity 기능과유사합니다.

Height

각피크에서중심 y값은피크의총면적입니다. 이는보고된값이강도프로필및피크폭모두에영향을받는다는점에서아주필수적인항목입니다.

Area

각피크에서 y값은피크정점강도의 50%를초과하는피크로구성된부분의강도를합한값입니다. 이값은단일데이터포인트의강도에만의존하지않으며(Intensity 및 Height 기능은단일데이터포인트의강도에만의존)또한노이즈가있거나간섭이있을수있는피크의가장자리에의해영향을받지않기때문에유용하게사용됩니다.

Intensity sum above50%

7. 활성그래프에여러트레이스가있는경우 Process all overlays (otherwise active dataonly)를선택하여해당작업을모든트레이스에적용합니다.

Only show this dialog again if the shift key is down확인란이선택된경우, 사용자가옵션변경을위해 Shift키를누르지않았다면선택한옵션이사용됩니다.

텍스트로데이터내보내기현재활성화된스펙트럼또는크로마토그램이탭구분텍스트파일로저장됩니다.

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

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그림 6-44 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. File > Export > Data as Text를클릭합니다.

스펙트럼데이터를내보내면 Add Zero Intensity Points for Export대화상자가열립니다.

그림 6-45 내보내기에 0의강도포인트추가

6. 파일이름을입력합니다.

7. Save를클릭합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서135 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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피크목록을텍스트로내보내기사용자는현재활성화된스펙트럼또는크로마토그램에대한피크목록을탭구분텍스트파일에저장할수있습니다. 이파일은중심 x값(질량또는시간), 피크면적, 높이등의정보를포함합니다.

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

그림 6-46 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. File > Export > Peak List as Text를클릭합니다.

6. 파일이름을입력합니다.

7. Save를클릭합니다.

인쇄날짜

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. File > Open Multiple Samples를클릭합니다.

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그림 6-47 File Menu—Options

3. Select Samples대화상자에서 Available목록의샘플을선택한다음화살표를클릭하여파일을 Selected목록으로이동합니다.

팁! 한샘플을선택하려면파일을확장하고해당샘플을클릭한다음화살표를클릭합니다.

4. OK를클릭합니다.

5. File > Print를클릭하고나서필요한옵션을선택합니다.

Reset Options사용자는 Explorer 작업영역에서모든옵션을기본값으로재설정할수있습니다. 이는이전섹션에서설명한옵션및처리옵션을모두포함합니다. 옵션재설정은현재로그인한 Windows 사용자에게만적용되며동일한컴퓨터의다른사용자에게는해당되지않습니다.

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. Edit > Reset Options를클릭합니다.

옵션설정필요한경우각탭에서이기능을사용합니다.

1. Explorer작업영역을엽니다.

2. Edit > Options를클릭합니다.

Graph Appearance탭이표시된 Options대화상자가열립니다.

3. Graph Appearance탭의그림 6-48기능을사용합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서137 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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그림 6-48 옵션대화상자 - 그래프모양탭

4. Peak Labeling & Finding탭을클릭합니다.

5. 목록에서Mass Spectra를선택합니다.

6. Peak Labeling & Finding탭의그림 6-49기능을사용합니다.

그림 6-49 옵션대화상자 - 피크레이블링및찾기탭 - 질량스펙트럼

7. 목록에서 Chromatograms을선택합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E138 / 225

작동지침—소프트웨어

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8. Chromatograms탭의그림 6-50기능을사용합니다.

그림 6-50 옵션대화상자- 피크레이블링및찾기탭 - 크로마토그램

9. Auto Processing탭을클릭합니다.

10. Auto Processing탭의그림 6-51기능을사용합니다. 자동처리옵션은동적으로업데이트되는스펙트럼에는적용되지않습니다.

그림 6-51 옵션대화상자 - 자동처리탭

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서139 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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11. XIC탭을클릭합니다.

12.그림 6-52에표시된기능을사용합니다.

그림 6-52 옵션대화상자 - XIC 탭

13. OK를클릭합니다.

Analytics 작업영역이작업영역에서기능에대한액세스는사용자에게배정된역할에의해통제됩니다.Analytics기능액세스페이지의 48내용을참조하십시오.

참고: Analytics작업영역에서데이터를출력하는제어방식은 Results Tables를내보내고데이터를 LIMS에전송하여보고하는것입니다.Results Tables에서복사하여붙여넣기같은그밖의데이터출력방법은비제어방법입니다. 규제목적상비제어출력방법을사용하지마십시오.

숫자의그룹화는 Analytics작업영역에서지원되지않습니다.어떠한텍스트박스(예를들어, 통합매개변수)나그리드(예를들어, Results Tables)의숫자도그룹화하지않습니다.

처리방법에는통합에선택된피크를정량화하는데사용되는기준이포함됩니다.

검토자는자체표준작업절차(SOP)의피크통합및데이터수락기준에따라데이터를검토해야합니다.

프로젝트보안내보내기설정관리자역할이지정된사용자만이작업을수행할수있습니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E140 / 225

작동지침—소프트웨어

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이옵션을선택한경우, 텍스트파일에있는데이터가내보내기중암호화됩니다. 비밀번호가암호화를활성화하도록설정하십시오.

1. Analytics작업영역을엽니다.

2. Projects > Project secure export settings를클릭합니다.

3. 이프로젝트보고시 Encrypt Results Table체크박스를선택합니다.

4. Password필드에입력합니다.

5. 비밀번호를다시 Confirm Password필드에입력합니다.

6. OK를클릭합니다.

Enable Project Modified Peak Warning기본적으로이옵션을선택하지않습니다. 선택하면, 사용자가변경사항을 Results table의크로마토그램에적용하고변경사항을저장할경우, 경고메시지가변경되었음을나타냅니다. 사용자는검색표를계속저장하거나표로돌아가도록선택할수있습니다.

Project Default Settings 정의이옵션은처리방법생성시사용된기본피크찾기매개변수를설정합니다. 구성요소의수가여러개일때는모든구성요소에개별적으로조정할필요없이크로마토그래피에기반하여기본값을설정하십시오. 그러나모든구성요소에적합한하나의매개변수세트는없으므로일부구성요소에대해일부매개변수를개별적으로조정해야할수있습니다.

1. Analytics작업영역을엽니다.

2. Projects > Project default settings를클릭합니다.

Project Default Settings대화상자를엽니다.

3. Quantitative Processing탭의 Integration Algorithm목록에서알고리즘을선택합니다.

알고리즘에대한정보는 Help를참조하십시오.

4. 알고리즘에대한정보는 Help를참조하십시오.

5. Save를클릭합니다.

6. Close를클릭합니다.

처리방법생성처리방법에는데이터처리를위한정량적및정성적설정이있습니다. 비대상워크플로우는미확인구성요소에사용됩니다.

1. Analytics작업영역을엽니다.

2. Process Method > New를클릭합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서141 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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팁! 기존처리방법을편집하려면 Process Method > Edit embedded method를클릭한후다음단계를사용합니다.

3. Workflow페이지를선택한뒤최소한한개의워크플로우와참조샘플을선택합니다.

4. Components페이지를선택한뒤구성요소이름, 질량, 내부표준, 그룹등을정의합니다.

팁! Components 표에서그룹이정의된경우, 전이에대해전구체이온과실험인덱스가서로다르더라도사용자는그룹내이온을합산하도록선택할수있습니다. 합산된이온은표에는표시되지않지만 Integration 페이지및 Results Table에 <group name>_Sum으로표시됩니다.이기능은단백질과펩타이드의정량화에유용합니다.

팁! 이소프트웨어는가장큰피크영역기능의특정개수를확인하고적절한머무름시간을할당한뒤대상피크처리워크플로우를수행합니다. 처리가완료되면 Result Table의내장된방법은일반대상방법과동일하게저장할수있습니다.

5. Integration페이지를선택한뒤각구성요소에대한통합매개변수를선택합니다.

6. LibrarySearch(워크플로우별) 페이지를선택한뒤라이브러리검색매개변수를정의합니다.

7. Acceptance Criteria페이지를선택한뒤피크통합, 표준및정도관리물질의정확도와계산된미확인샘플농도의수락기준을선택합니다

8. Qualitative Rules(Confidence Limit) 페이지를선택한뒤, 질량정확도, 머무름시간차이, 동위원소일치, 라이브러리점수및공식탐색기점수에대한신호등설정을정의합니다.

9. Ion Ratio(Confidence Limit) 페이지를선택하여이온비율수락을위한신호등설정을정의합니다.

이온비율은피크응답비입니다(한정자및수량자영역또는높이).

10. Formula Finder페이지를선택한뒤공식탐색기설정을선택합니다.

11. Non-targeted Peaks페이지(비대상워크플로우를선택한경우에만제공)를선택한다음비대상검색매개변수를정의합니다.

12. Save를클릭합니다.

팁! 비대상방법이생성되면현재프로젝트기본매개변수가피크통합에사용되고이들매개변수는방법파일에저장됩니다. 처리방법에대상분석물질이포함된경우, 대상화합물에대한사용자지정통합매개변수는비대상피크통합에영향을주지않습니다. 사용자가나중에프로젝트기본매개변수를변경하더라도변경된매개변수는방법생성시점의매개변수를계속가지고있는기존비대상방법에는영향을주지않습니다. 새로생성된비대상방법만변경된매개변수를사용합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E142 / 225

작동지침—소프트웨어

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Results Tables 정보Results Tables는교정곡선을토대로알려지지않은각샘플에서라이브러리히트, 공식찾기결과등 정성적분석결과뿐만아니라분석물질의계산된농도를요약합니다. Results Tables에는결과에대한통계뿐만아니라교정곡선도포함됩니다. 사용자는 Results Tables를사용자지정할수있고 Results Tables를레이아웃에서볼수있습니다.

Microsoft Excel 등의다른어플리케이션에사용하는경우 Results Tables의데이터를 .txt 파일로내보내기할수있습니다. 사용자는 Results Table에서모든데이터를내보내기할수있고또는볼수있는칼럼에서는데이터만내보내기할수있습니다.

팁! 여러 Results Tables 세션이수직또는수평으로타일링된경우 Views > Reset layout을클릭해 Results Tables를기존레이아웃으로돌려보냅니다.

표 6-15 오른쪽버튼클릭메뉴

설명레이블

이옵션을사용해현재데이터를클립보드로복사합니다.Copy

이옵션을사용해클립보드의데이터를현재보기로붙여넣습니다.Paste

이옵션을사용해전체표를클립보드로복사합니다.Copy Entire Table

이옵션을사용해첫번째선택된행의정보를모든다음선택행으로복제합니다.

Fill Down

이옵션을사용해현재활성화 Result Table에있는모든행을선택합니다. 이명령은사용자가 Copy등과같이선택된행에대해작동되는명령을이후에적용하고자하는경우에유용합니다.

Select All Rows

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서143 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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표 6-15 오른쪽버튼클릭메뉴 (계속)

설명레이블

하나이상의분석물질이있으며이러한샘플에서모든분석물질이동일한농도로존재할경우경우이옵션을사용하여표준샘플에대한모든분석물질의실제농도필드를설정할수있는단축키를제공합니다. 이기능사용방법:1. 표에서지정된유일한분석물질만표시하려면 Components

and Groups List를사용합니다. 구성요소및그룹목록페이지의 161내용을참조하십시오.

2. Standard샘플만보려면 Sample Type필터를사용합니다(옵션). 샘플유형필터페이지의 146내용을참조하십시오.

3. 셀에직접입력하거나칼럼을선택하여텍스트를붙여넣기함으로써분석물질의실제농도를지정합니다.

4. Apply Current Analyte's Actual Concentrations to All을선택합니다.

필요에따라모든구성요소및모든샘플유형을보기로돌아갑니다.

Apply Current Analyte's ActualConcentrations to All

하나이상의내부표준물질이있으며이러한샘플에서모든내부표준물질이동일한농도로존재할경우이옵션을사용하여표준샘플에대한모든내부표준물질의실제농도필드를설정할수있는단축키를제공합니다. 이기능사용방법:1. 표에서지정된유일한내부표준물질만표시하려면

Components and Groups List를사용합니다. 구성요소및그룹목록페이지의 161내용을참조하십시오.

2. Standard샘플만보려면 Sample Type필터를사용합니다(옵션). 샘플유형필터페이지의 146내용을참조하십시오.

3. 셀에직접입력하거나칼럼을선택하여텍스트를붙여넣기함으로써내부표준물질의실제농도를지정합니다.

4. Apply Current IS's Actual Concentrations to All을선택합니다.

필요에따라모든구성요소및모든샘플유형을보기로돌아갑니다.

Apply Current IS's ActualConcentrations to All

데이터처리

1. Analytics작업영역을엽니다.

2. Results > New를클릭합니다.

3. Process New Results페이지에서화살표를사용하여샘플 batch를선택합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E144 / 225

작동지침—소프트웨어

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4. 목록에서처리방법을선택합니다.

5. 필요할경우New를클릭해새처리방법을생성하거나 Edit을클릭해기존처리방법을편집합니다. 처리방법생성페이지의 141내용을참조하십시오.

6. 비대상워크플로우의비교샘플을선택합니다.

7. Process를클릭하십시오.

8. 샘플유형을표시하거나숨기려면 Sample Type을클릭한뒤필수확인란을선택하거나선택해제합니다.

9. 수락필터를설정하려면 Acceptance를클릭한뒤필수확인란을선택하거나선택해제합니다.

10.정성적신뢰필터를선택하려면 Confidence신호등을클릭한뒤필수확인란을선택하거나선택해제합니다.

참고: AutoPeak 알고리즘을사용하여 Results Table을생성한후사용자가 XIC 폭과예상 RT를변경한경우, 사용자가새로운 XIC 폭과예상 RT 값을업데이트하지않으면데이터는이전알고리즘을사용하여재처리됩니다.

참조:

• 샘플유형필터페이지의 146

• Results Tables 정보페이지의 143

• 수락기준페이지의 146

• 신뢰도신호등페이지의 147

샘플추가

이옵션은추가샘플을현재활성화된 Results Table에추가합니다.

1. Results Table을열고 Results > Add samples를클릭합니다.

2. Select Samples대화상자에서필수샘플을선택합니다.

• Available창은선택된폴더의 Data폴더에서사용할수있는하위폴더, .wiff2 파일, 샘플을표시합니다.

• 하위폴더또는 .wiff2 파일을보려면개별폴더를확장하십시오. .wiff2 파일을확장하면파일이열리면서사용가능샘플이표시됩니다.

• 샘플을추가하거나제거하려면화살표를사용하십시오.

• 개별샘플을두번클릭하거나샘플또는데이터파일을선택한뒤 => 버튼을누르거나왼쪽창의샘플또는데이터파일을오른쪽으로드래그하는방법으로샘플을선택하십시오.여러파일또는샘플을이동시키기전에선택하려면 Shift또는 Ctrl을누르십시오.

3. OK를클릭합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서145 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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새샘플이통합되고기존표에추가되는동안에는진행률표시줄이표시됩니다.

샘플유형필터

표 6-16 샘플유형필터설명

설명필터유형

미확인농도의정상샘플인 Unknown 샘플만표시합니다. Standard 샘플을사용하는경우에는이샘플의농도가교정곡선에서역산되며 Results Table에Calculated Concentration으로보고됩니다.

Unknowns

확정농도의샘플만표시합니다. 이샘플은교정곡선을생성할때사용됩니다.

Standards

Quality Control 샘플만표시합니다. 이러한확정농도의샘플들은교정곡선의정확도를확인하는데사용되지만실제생성에는영향을미치지않습니다.

Quality Controls

Blank 샘플만표시합니다. 이샘플들은일반적으로내부표준화합물을포함하는샘플들이지만분석물질이없으며일반샘플준비절차를거친샘플들입니다. 이샘플들은교정곡선의생성에사용되지않습니다. 이샘플들을포함하려면 Standard 샘플유형을선택한다음 Actual Concentration를 0으로설정합니다.

Blanks

Double Blank만표시합니다. 내부표준물질과분석물질을포함하지않습니다.Double Blanks

Solvent 샘플만표시합니다. 이샘플들은일반샘플검사절차를거치지않은이중공시료입니다.

Solvents

수락기준

수락기준을사용해정성화행을정의합니다. 정성화행은다음필터에대한선택된기준에일치합니다.

• Pass: 처리방법에서정의되었던기준과일치하는행을나타냅니다.

• Fail: 처리방법에서정의되었던기준과일치하지않는행을나타냅니다.

• Any: 모든행을표시합니다.

표 6-17 수락기준

설명레이블

Results Table, 비대칭계수열, 총폭열및머무름시간오류열의품질열의값을사용해통합품질의사용자정의기준을나타냅니다(%오류열또는절대델타열).

Integrationacceptance

표준및정도관리물질샘플허용오차의정확도를나타냅니다.Accuracy

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E146 / 225

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표 6-17 수락기준 (계속)

설명레이블

하한또는상한아니면둘다편집하여획득한미확인샘플의계산된농도범위를나타냅니다.

Calculatedconcentration

통합, 정확성및계산된농도필터와일치하는행을나타냅니다(Pass/Fail/Any).Show rows that:Qualify; Do notqualify

신뢰도신호등

신호등은각행의신뢰상태를나타냅니다. 이온비와정량화규칙에대한정보는도움말을참조하십시오.

표 6-18 신뢰도신호등

설명신호등아이콘

어떤구성요소가처리방법에서정의된신뢰도수준을충족하는지나타냅니다.

어떤구성요소가처리방법에서정의된마진백분율차이수준을충족하는지나타냅니다.

어떤구성요소가처리방법에서정의된미수락백분율차이수준을충족하는지나타냅니다.

구성요소에해당하지않는신뢰매개변수가무엇인지나타냅니다.

Results Table 의 Select Columns

Results Table에나타날숫자형식과열을선택합니다. 열설정은프로젝트에있는모든 Result Table에적용될수있습니다.

참고: Sample Name, Sample ID, Barcode 등일부중요열들은사용자가 Results Table 열설정을사용자지정할때숨겨서는안됩니다.

팁! 열이름을다듬을경우, 커서를필드로옮겨도구팁에열이름을표시합니다.

1. Results Table를열고More > Table display settings를클릭합니다.

Results Table Display Settings대화상자가열립니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서147 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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그림 6-53 열설정대화상자

설명레이블항목

Export 버튼을이용하여이전에저장한열설정파일을선택하려면클릭하십시오. 대화상자필드는선택한파일의정보를이용하여업데이트됩니다.

Import1

현재대화상자설정을파일에저장하려면클릭하십시오. Import 버튼을사용해이러한설정값을가져오고사용합니다. 이옵션을통해사용자가여러열레이아웃사이에서서로전환할수있습니다.

Export2

알파벳순서로표시되는열이름입니다.Column Name3

체크표시는열이표시됨을의미합니다.Visible4

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E148 / 225

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설명레이블항목

숫자필드에서는비과학적표기법에 0.00 형식을이용하고과학적표기법에 0.00e0 형식을이용하십시오. 표시되는숫자의정밀도를나타내는소수점을변경하십시오. 마침표 "."만소수점구분기호로사용할수있습니다.

참고: 숫자그룹화가지원되지않습니다.

Number Format5

선택한 LIS Supported 행은 LIS에서사전정의하며열선택사항은변경할수없습니다.

LIS 지원6

클릭하면앞으로의 Results Tables에열설정을사용할수있습니다.

Save as project defaultsettings

7

클릭하면변경사항이적용되고대화상자가닫힙니다.OK8

클릭하면변경사항이취소되고대화상자가닫힙니다.Cancel9

Results Table 열의범주를선택합니다. 사용자는선택한범주에따라 Results Table에표시된열을필터링할수있습니다. 범주선택을통해사용자는 Results Table에서열을쉽게찾을수있습니다.

All Columns10

2. 필요에따라 Visible열의확인란을선택하거나선택해제하십시오.

표 6-19 Results Table 열

LIS 지원설명레이블

Y표준물질및정도관리샘플의정확도를나타냅니다.다른샘플유형에서이값은 N/A로설정됩니다.

농도가알려진표준물질에대해표준물질및정도관리샘플의정확도는 100% × (Calculated Concentration) /(Actual Concentration)로정의됩니다.

Accuracy

N정확도의수락상태를표시합니다.AccuracyAcceptance

Y샘플을획득할때사용하는획득방법의이름을표시합니다.

Acq. Method Name

Y샘플이획득된날짜와시간을표시합니다.Acquisition Date &Time

Y표준물질과정도관리샘플에대한알려진예상농도를표시합니다.

ActualConcentration

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서149 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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표 6-19 Results Table 열 (계속)

LIS 지원설명레이블

Y검출된피크면적을표시합니다. 피크가검출되지않은경우이값은 N/A로설정됩니다.

Area

N검출된피크면적을높이로나눈값을표시합니다. 피크가검출되지않은경우이값은 N/A로설정됩니다.

Area / Height

Y내부표준물질을사용하는분석물질의경우 Area 대IS Area 비율을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

Area Ratio

N샘플/정도관리물질샘플의면적비율입니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

• 컨트롤에서피크가발견되지않는경우이값은 N/A로설정됩니다.

• 샘플에서피크가발견되지않는경우이값은 0으로설정됩니다.

• 샘플에서영역비율한계점이상의피크가없으면이값은 N/A로설정됩니다.

• 비교샘플이사용되지않는경우이값은 “No controlsample”입니다.

• 관리샘플에서발견된영역비율은항상 1.000입니다.

Area Ratio ofControl

Y피크중심선부터뒷면기울기까지의거리를피크중심선부터앞면기울기까지의거리로나눈값을표시하며,모든측정값은최대피크높이의 10%에서측정됩니다.

Asymmetry Factor

Y샘플의고유한 ID를표시합니다. 고유한 ID는데이터획득에사용되는 batch에서원래지정되었던값에서초기화됩니다.

바코드는 0 - 20자범위에있어야하며다음과같은유효하지않은문자를포함해선안됩니다. \ / : * ? " < >|= 또는 ASCII 표의문자 0 ~ 31.

Barcode

N기준선의높이차이(피크시작높이와피크종료높이)절대값대실제피크높이를표시합니다. 이값이약 0.1보다크면기준선이잘못통합되었음을나타내며피크를검토해야합니다.

Baseline Delta/Height

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E150 / 225

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표 6-19 Results Table 열 (계속)

LIS 지원설명레이블

Y농도가알려진표준물질에대해교정곡선으로부터역으로계산된농도의값을표시합니다. 회귀수식은다양한회귀유형및가중에대해회귀가수행되는방식을설명합니다.

CalculatedConcentration

N(옵션) 상대적인비교목적으로사용할수있는단일점수를표시합니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

Combined Score

N비교샘플의구성요소를표시합니다. 사용자는이열을편집할수없습니다.

Comparison

N모든샘플에적용되는분석물질또는내부표준물질에대한임의의의견을표시합니다.

ComponentComment

N분석물질또는내부표준물질과연결된그룹이름(있을경우)을표시합니다.

Component GroupName

Y원본처리방법의분석물질또는내부표준물질인덱스를표시합니다.

Component Index

Y분석물질또는내부표준물질의이름을표시합니다.

이열은 Results Table에항상표시됩니다. Column Settings대화상자에서확인란은사용할수없습니다.

구성요소이름은 0 - 50자범위에있어야합니다.

참고:

• Component Name은 Result Table가아닌처리방법에서만변경될수있습니다.

• 이열은 LIMS전송에서필수적입니다.

Compoenet Name

Y농도단위를표시합니다.Conc. Units

N계산된농도의수락상태를표시합니다.ConcentrationAcceptance

N내부표준물질을사용하는분석물질에대해 ActualConcentration 대 IS Actual Concentration 비율을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

Concentration Ratio

Y샘플희석의기준이되는인자를표시합니다. 이인자는교정곡선의계산에사용됩니다.

Dilution Factor

Y검출된피크의종료머무름시간(분단위)을표시합니다.

End Time

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서151 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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표 6-19 Results Table 열 (계속)

LIS 지원설명레이블

N강도가피크높이의 10%일때피크뒷부분의시간(분단위)을표시합니다.

End Time at 10%

N강도가피크높이의 5%일때피크뒷부분의시간(분단위)을표시합니다.

End Time at 5%

Y미확인, 정도관리샘플및표준물질에대한예상이온비율을표시합니다.

Expected Ion Ratio

Y처리방법의기존예상머무름시간(분단위)을표시합니다.

Expected RT

Y(옵션) 유효한화학식을표시합니다. 화학식이잘못된경우소프트웨어에서는이화학식을보존하지않습니다. 화학식이유효하면 Mass (Da) 및 Isotope 열이자동으로채워집니다.

Formula

N공식탐색기점수에대한신호등을표시합니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

Formula Confidence

N상대적인비교목적으로사용할수있는단일점수를표시합니다.

이값은 Peak Review Formula Finder Results Table의데이터를사용하여업데이트할수있습니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

Formula Finder

N(옵션) 공식탐색기결과에서가장잘일치하는결과를표시합니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

Formula FinderResults

Y(옵션) 상대적인비교목적으로사용할수있는단일점수를표시합니다.

Formula FinderScore

Y(옵션) 일치하는스펙트럼이발견된최적요구 FragmentMass (Da)을표시합니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

Found at Fragment

Y(옵션) 일치하는스펙트럼이발견된최적요구 ExtractionMass (Da)를표시합니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

Found at Mass

Y(옵션) 방법에서설정한대로단편화질량을표시합니다. 단편의전구체는 Extraction Mass (Da) 열의 MS/MS에서추출됩니다. 제공된경우이값은숫자로표시되어야합니다.

Fragment Mass

Y(옵션) ppm에서 Fragment 및 Fragment Mass 차이표시Fragment MassError (ppm)

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E152 / 225

작동지침—소프트웨어

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표 6-19 Results Table 열 (계속)

LIS 지원설명레이블

Y(옵션) mDa에서 Fragment 및 Fragment Mass 차이표시Fragment MassError (mDa)

Y검출된피크높이를표시합니다. 피크가검출되지않은경우이값은 N/A로설정됩니다.

Height

Y내부표준물질을사용하는분석물질의경우 Height 대IS Height 비율을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

Height Ratio

N정렬되지않은원래순서의행인덱스를표시합니다.표가다른열을기준으로분류될경우, 이열에분류함으로써원래순서로돌아갈수있습니다.이열은 Results Table에항상표시됩니다. Column Settings대화상자에서확인란은사용할수없습니다.

Index

Y해당방법에저장되고오토샘플러에서주입한샘플의양을표시합니다.

Injection Volume

N통합이상값을표시합니다.IntegrationAcceptance

Y통합유형을표시합니다.

• Baseline: 일반적인방식으로통합된독립피크입니다.

• Valley: 두개의인접한피크가존재하며신호가두피크간기준선값으로돌아오지않았음을나타냅니다.

• N/A: 피크가검출되지않았음을나타냅니다.

• Manual: 피크가수동으로통합되었음을나타냅니다.

Integration Type

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서153 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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표 6-19 Results Table 열 (계속)

LIS 지원설명레이블

Y이온비율을표시합니다.

• Ion Ratios는단일분석물질에서최소두가지 MRM전환이그룹으로수집될때결정됩니다.

• 하위그룹의첫번째구성요소는 Quantifier 이온으로사용됩니다. 하위그룹의나머지구성요소는Qualifier 이온으로사용됩니다.

• Ion Ratio = (Peak Area or Height of Qualifier) / (Peak Areaor Height of Quantifier)

• Subgroups

• 그룹의모든분석물질은 Analyte 하위그룹을구성합니다.

• 그룹의모든내부표준물질은 IS 하위그룹을구성합니다.

• 구성요소가그룹에포함되지않은경우 Ion Ratio 값은 N/A로설정됩니다.

• 피크가발견되지않으면 Ion Ratio 값은 N/A로설정됩니다.

• Analyte 및 IS 하위그룹내모든구성요소에적용되는경우 Quantifier는 Qualifier 그자체입니다.

• Quantifier 또는 Qualifier 피크의통합이변경되면 IonRatio가다시계산됩니다.

• 피크면적또는피크높이에대해계산될수있습니다. Results Table의첫번째구성요소(Component Indexis 1)에대해 .qmethod의회귀부분에서 Area가사용되는경우전체 Results Table의 Ion Ratio 계산시피크면적이사용됩니다. 첫번재구성요소의회귀에 Height이사용되면피크높이가계산에사용됩니다.

Ion Ratio

NIon Ratio의신뢰수준을표시합니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

Ion RatioConfidence

N내부표준물질에관한행인지여부를표시합니다. 확인란이선택되면행의구성요소가분석물질이아닌내부표준물질임을의미합니다.

IS

N현재분석물질과연결된내부표준물질의실제농도를표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

IS ActualConcentration

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E154 / 225

작동지침—소프트웨어

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표 6-19 Results Table 열 (계속)

LIS 지원설명레이블

N현재분석물질과연결된내부표준물질의면적을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

IS Area

N현재분석물질과연결된내부표준물질의면적대높이비율을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

IS Area / Height

N현재분석물질과연결된내부표준물질에대한임의의견을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

IS Comment

N현재분석물질과연결된내부표준물질의획득이종료되는시간을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

IS End Time

N현재분석물질과연결된내부표준물질의예상머무름시간을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

IS Expected RT

N현재분석물질과연결된내부표준물질의높이를표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

IS Height

N현재분석물질과연결된내부표준물질의통합유형을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

IS Integration Type

N현재분석물질과연결된내부표준물질의질량정보를표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

IS Mass Info

N현재분석물질과연결된내부표준물질의이름을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

IS Name

N현재분석물질과연결된내부표준물질의피크의견을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

IS Peak Comment

N현재분석물질과연결된내부표준물질의머무름시간을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

IS Retention Time

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서155 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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표 6-19 Results Table 열 (계속)

LIS 지원설명레이블

N현재분석물질과연결된내부표준물질의신호대노이즈비율을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

IS Signal / Noise

N현재분석물질과연결된내부표준물질의시작시간을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

IS Start Time

N현재분석물질과연결된내부표준물질의총폭을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

IS Total Width

N현재분석물질과연결된내부표준물질에대해 50%에서의폭을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

IS Width at 50%

N동위원소비율의신뢰수준을표시합니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

Isotope Confidence

N이론적인동위원소패턴(공식에근거)과획득한스펙트럼의동위원소패턴간의차이를식별합니다.정성적워크플로우에만적용됩니다.

Isotope RatioDifference

N일치항목의라이브러리점수를근거로 Library Hit의신뢰수준을표시합니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

Library Confidence

N라이브러리와가장잘일치하는화합물, 즉가장높은순도점수및원하는것과일치하는공식을가진화합물이름을표시합니다.

이값은 Peak Review Library Search Results 그리드의데이터를사용하여업데이트할수있습니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

Library Hit

N발견된질량과추출질량간의차이를표시하며 ppm(partsper million) 단위오차로표현됩니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

Mass Error (ppm)

N질량오차의신뢰수준을표시합니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

Mass ErrorConfidence

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E156 / 225

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표 6-19 Results Table 열 (계속)

LIS 지원설명레이블

Y구성요소에연결된질량정보를표시합니다. MRM 실험에서는 Q1/Q3이며프로필(전체스캔) 실험에서는 Start- Stop(시작 - 중지)입니다.

UV, ADC 또는 DAD 실험에서는파장(DAD) 또는채널정보(UV/ADC)입니다.

단편질량이있는경우이를 XIC 추출에사용할수있습니다.

단편질량이없는경우전구체질량을 XIC 추출에사용해야합니다.

Mass Info

Y피크찾기매개변수가수정되었는지여부를표시합니다. 확인란이선택된경우처리방법에표시된피크찾기매개변수가 Peak Review 창을사용하여수정된것을의미합니다.

Modified

N체크표시는 Enhanced Peak Finder에서피크가발견되었는지여부를나타냅니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

Non-Targeted Peak

Y샘플을획득하는기기작업자의이름을표시합니다.Operator Name

Y파일이름을표시합니다.Original Filename

N행의임의의견을표시합니다.Peak Comment

YBatch Editor에표시된대로데이터획득에사용한오토샘플러의플레이트번호를표시합니다.

Plate Number

N피크시작부터중지까지의스캔수를표시합니다.Points AcrossBaseline

N높이의약 50%에서피크범위내스캔수를표시합니다.

Points Across HalfHeight

N처리방법에서얻은처리용입력매개변수입니다.

이열은 Results Table에항상표시됩니다. Column Settings대화상자에서확인란은사용할수없습니다.

Precursor mass

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서157 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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표 6-19 Results Table 열 (계속)

LIS 지원설명레이블

N라이브러리와가장잘일치하는항목에대한순도점수를표시합니다.

이값은 Peak Review Library Search Results 그리드의데이터를사용하여업데이트할수있습니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

이값은대화형데이터검토를통해업데이트할수있습니다. 이값은 Peak Review Library Search Results 그리드를사용하여업데이트할수있습니다.

Purity score

YBatch Editor에지정된대로데이터획득에사용한오토샘플러의랙번호를표시합니다.

Rack Number

Y내부표준물질을사용하는분석물질의경우, RetentionTime 대 IS Retention Time의비율을표시합니다. 내부표준물질또는내부표준물질이없는분석물질의경우이값은 N/A로설정됩니다.

Relative RT

Y검출된피크의실제머무름시간(분단위)을표시합니다.

Retention Time

NFound at RT" 및 "Expected RT” 사이에서발견되는백분율오차를표시합니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

Retention TimeError (%)

N머무름시간의신뢰도를표시합니다. 정성적워크플로우에만적용됩니다.

RT Confidence

Y샘플에대한사용자지정의견을표시합니다.Sample Comment

Y샘플에대한사용자지정 ID를표시합니다. Sample ID는획득을위해샘플을제출하기전에 Batch Editor에서지정됩니다.

Sample ID는 0 ~ 50자범위에있어야하며다음과같은유효하지않은문자를포함해선안됩니다. \ / : * ? " <> |= 또는 ASCII 표의문자 0 ~ 31.

Sample ID

Y현재샘플의인덱스를표시합니다.Sample Index

Y샘플에대한사용자지정이름을표시합니다. SampleName은획득을위해샘플을제출하기전에 Batch Editor에서지정됩니다.

Sample Name은 1 ~ 50자범위에있어야하며다음과같은유효하지않은문자를포함해선안됩니다. \ / : * ? "< > |= 또는 ASCII 표의문자 0 ~ 31.

Sample Name

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E158 / 225

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표 6-19 Results Table 열 (계속)

LIS 지원설명레이블

Y샘플유형을표시합니다.여러필터유형에대한설명은샘플유형필터페이지의 146내용을참조하십시오.

Sample Type

Y주입전스캔된바코드를표시합니다.Scanned Barcode

N피크모델링에사용되었던샘플과구성요소이름을표시합니다. 모델링에사용된구성요소이름이통합된구성요소와동일하지않을경우, 사용자는모델이적합한지검토해야합니다.

SF Model Source

N알고리즘에서검출한인접(나선형) 피크의개수를표시합니다.

SF Num Peaks

Y검출된피크의피크높이대크로마토그램에존재하는노이즈비율의추정치를표시합니다.

AutoPeak통합알고리즘에서는계산된상대노이즈와피크정점위치에서의기준선을이용하여노이즈가추정됩니다. MQ4 알고리즘은유사한접근방법을사용하지만전체크로마토그램을이용하여기준선을추정합니다.

Signal / Noise

Y검출된피크의시작머무름시간(분단위)을표시합니다.

Start Time

N강도가피크높이의 10%일때피크앞부분의시간(분단위)을표시합니다.

Start Time at 10%

N강도가피크높이의 5%일때피크앞부분의시간(분단위)을표시합니다.

Start Time at 5%

N피크앞면기울기부터뒷면기울기까지의거리를피크중심선부터앞면기울기까지거리의두배값으로나눈값을표시하며, 모든측정값은최대피크높이의 5%에서측정됩니다.

Tailing Factor

Y기준선에서크로마토그래피피크폭(분단위)을표시합니다.

Total Width

Y분석물질이교정곡선생성에사용되었는지여부를표시합니다. 표준샘플의경우확인란이선택되면해당분석물질이교정곡선의생성에사용되었음을의미합니다. 정도관리샘플의경우확인란이선택되면분석물질이정도관리통계계산에사용되었음을의미합니다. 다른샘플유형의경우에는이필드가정보적인용도로만사용됩니다.

Used

YBatch에원래지정된대로데이터획득에사용한오토샘플러의바이알번호를표시합니다.

Vial Number

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서159 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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표 6-19 Results Table 열 (계속)

LIS 지원설명레이블

N피크높이 10%에서측정된피크폭을표시합니다.Width at 10%

N피크높이 5%에서측정된피크폭을표시합니다.Width at 5%

Y정점강도의절반위치에서측정하여검출된피크의크로마토그래피피크폭(분단위)을표시합니다.

Width at 50%

3. (옵션) Number Format열에서형식을정수또는과학적표기법으로변경하십시오.

4. (옵션) Number Format열에서소수점자리수가표시되도록변경하십시오.

5. 열설정을프로젝트의모든 Results Tables에적용하려면 Save as project default settings체크박스를선택합니다.

6. OK를클릭합니다.

그러면 Results Table에새로운설정이적용됩니다. 이설정은새 Results Tables를생성하거나이전에저장한 Results Tables를다시열때도저장및적용됩니다.

참고: Results Table의머리글행을사용하여열의너비및순서를조정합니다. 너비를변경하려면머리글경계를드래그합니다. 열순서를변경하려면 Results Table에서열머리글을다른위치로드래그합니다. 또한열너비및열순서정보는 Export버튼을사용하여가져온모든파일에도저장됩니다.

보고서생성

1. Results Table이열리면 Reporting > Create Report and Save Results Table을클릭합니다.

Create Report대화상자가열립니다.

2. Template name목록에서템플릿을선택합니다.

3. 보고서형식을선택합니다.

4. 기본보고서제목을사용하거나 Browse를클릭해다른제목을선택합니다.

5. 필요할경우 Create an individual report for each sample을클릭합니다.

6. (옵션) Replace Logo를클릭해보고서에대한다른로고를선택합니다.

팁! Replace Logo대화상자의옵션을사용해필요할경우로고를수정합니다.

7. View Pages를클릭해보고서를봅니다.

8. Create를클릭합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E160 / 225

작동지침—소프트웨어

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팁! 사용자가예를들어 Per Sample Quant, Per Sample Qual, Per Sample Visible Rows Using VisibleAnalytes 또는 Positive Hits Qual 템플릿중하나를사용하여선택한결과를보고하려면, ResultsTable에서원하지않는행을필터링하거나숨겨야합니다.

참고: 사용자는 Create Report대화상자에서 Template보기를클릭하여보고서템플릿레이아웃을볼수있습니다. 특정템플릿을보려면사용자는템플릿과같은이름에접미어로[Snapshot_X](여기서 X는시퀀스의스냅샷번호)가추가된 *.jpg 파일을가지고있어야합니다. 파일이름과접미어사이에는빈칸을사용하지마십시오.예를들어, All Peaks Qual.docx 템플릿은다음과같이이름을지정할수있습니다: All PeaksQual[Snapshot_1].jpg All Peaks Qual[Snapshot_2].JPG All Peaks Qual[Snapshot_3].jpg

Result Table 내보내기및저장

1. Results Table이열리면 Reporting > Export results > Export and save Results Table를클릭합니다.

Export대화상자가열립니다.

2. 필요할경우형식, 열및행을선택합니다.

3. OK를클릭합니다.

Result Table 내보내기 – 메트릭

참고: 제조업체는데이터가 Analytics작업영역에서내보내진후직간접적손해를비롯한어떠한손해에대해서도책임또는우발책임을지지않습니다.

Result Table 내보내기는분석물질작업영역의데이터출력제어방법중하나입니다.

이기능을사용해활성 Results Table의정보가포함된탭구분텍스트파일을생성합니다. 정보는모든샘플과모든구성요소또는선택된한메트릭또는필드의가시적구성요소에대해내보내기됩니다.

1. Results Table이열리면 Reporting > Export results > Results Table - Metric을클릭합니다.

Export대화상자가열립니다.

2. 필요할경우형식, 열및행을선택합니다.

3. OK를클릭합니다.

구성요소및그룹목록

Result Table가열렸을때, 현재구성요소및그룹목록이주창의왼쪽에나타납니다. 이목록을사용해결과는물론연결된 Peak Review 또는교정곡선창에서보이는구성요소를변경합니다.모든정보는처리방법에정의된대로나타납니다.

목록에서개별항목을클릭해각항목에대한구성요소만나타냅니다. Shift+클릭또는 Ctrl+클릭을사용해두특정분석물질처럼여러항목을선택합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서161 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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팁! 창의오른쪽가장자리를왼쪽이나오른쪽으로드래그하여목록의폭을변경합니다.

Result Table에서행의순서는필터링에영향을받지않습니다. 표는우선샘플별로그뒤구성요소별로나타나고, 처리방법에나타난순서로나타납니다.

표 6-20 옵션

설명레이블

클릭해현재선택된분석물질및해당내부표준모두에대한 Result Table 내행을표시합니다. 이동작은 Ctrl을누른상태에서(두항목이모두선택됨) 분석물질을클릭하고나서내부표준을클릭할때와같습니다.

IS 표시

클릭해특정텍스트에일치하는목록의항목을찾습니다.찾기

피크검토다음을위해 Peak Review창을사용합니다.

• 기본크로마토그램을육안으로검사해피크찾기프로세스의품질을파악할수있습니다.

• 피크찾기매개변수를조절하거나통합의시작및종료지점을수동으로선택하여적절하게통합하지않았던크로마토그램을수정합니다. 크로마토그램이재통합된후, Results Table은새피크영역및다른매개변수와함께자동업데이트됩니다.

• 통합 XIC에대한 MS 및 MS/MS 스펙트럼을육안으로검사합니다.

• Formula Finding 결과와 Library Search 결과를검토하고필요한경우 Results Table에서수동으로결과를업데이트합니다.

Peak Review 창에서오른쪽클릭기능에대한정보는 Peak Review Options 페이지의 164내용을참조하십시오. Peak Review 창옵션에대한자세한정보는 Peak Review Options 페이지의 164내용을참조하십시오.

1. Analytics작업영역을엽니다.

2. Results > Open을클릭합니다.

Open Results Table session대화상자가열립니다.

3. 파일을선택합니다.

4. Open을클릭합니다.

5. Displays the peak review아이콘을클릭합니다.

6. 왼쪽창의 Components and Group목록에서구성요소를클릭합니다.

7. (옵션) Options > Peak review display settings를클릭해 Peak Review창의모양을변경합니다.

8. 크로마토그램에여러피크가있고잘못된피크가통합된경우, 올바른피크간드래그하여새예상머무름시간을설정합니다. 필요시피크찾기및통합매개변수를조정합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E162 / 225

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9. 새매개변수를다른모든샘플에적용하려면동일한구성요소의경우크로마토그램을오른쪽버튼으로클릭한뒤 Update Quantitation Method for Component를클릭합니다.

팁! Displays the peak review아이콘을클릭한뒤 Starts 'slide show' peak review아이콘을클릭합니다.

팁! Set Peak to 'Not found'을클릭하면통합이삭제됩니다. 사용자는수동으로피크를통합하기전원본데이터를볼수있습니다.

10. Peak Review창에서수동통합모드활성화아이콘을클릭하면수동통합모드를사용할수있습니다.

11.커서를관심피크베이스한쪽에서다른쪽으로드래그합니다.

이피크는이제수동으로통합되며이전에사용된통합매개변수는사용할수없습니다.

팁! 피크가방금수정된경우에는마우스오른쪽으로클릭한뒤 Revert Peak to OriginalMethod를클릭하여피크를원본방법으로되돌릴수있습니다.

보기옵션

Peak Review창에서 View를클릭합니다.

표 6-21 보기옵션

설명레이블

클릭하면크로마토그램만표시됩니다.XIC

클릭하면서로다른샘플로부터의크로마토그램이나란히표시됩니다. 사용자가샘플간피크반응을비교하기위해최대여섯개샘플을선택할수있습니다.

XIC side by side

클릭하면크로마토그램및 MS 스펙트럼, 그리고제공되는경우 FormularFinder Results가함께표시됩니다. 처리방법에서공식이정의된경우에는이론적인 MS 스펙트럼도표시됩니다.

XIC + MS

클릭하면크로마토그램및 MS/MS 스펙트럼(획득된경우), 그리고제공되는경우 Library Search Results가함께표시됩니다. 라이브러리에서검색된결과가있는경우, 라이브러리 MS/MS 스펙트럼도표시됩니다.

XIC + MS/MS

클릭하면크로마토그램, MS 스펙트럼(및 Formula Finder 결과), 그리고 MS/MS 스펙트럼(및 Library Search 결과)이표시됩니다. 제공되는경우이론적인MS 스펙트럼및라이브러리 MS/MS 스펙트럼도표시됩니다.

XIC + MS + MS/MS

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서163 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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팁! Formular Finder 결과는 MS 스펙트럼아래에나열됩니다. Library Search 결과는 MS/MS 스펙트럼아래에나열됩니다. 사용자는창을확대하여더많은 Formula Finder 결과및 Library Search 결과를볼수있습니다.

Peak Review Options

Peak Review 창에서 Options을클릭합니다.

표 6-22 Peak Review Options

설명레이블

Peak Review Options대화상자를엽니다. 탭에있는옵션을사용해 Peak Review창의모양을변경합니다. Help를참조하십시오.

Peak review displaysettings

Y축범위를 %에서절대로전환합니다.%Y-axis (spectraonly)

파란색점으로 XIC와스펙트럼을채웁니다.Fill peak (XIC andspectra)

선택된두개의 MS 스펙트럼이서로를반영하며비교하는것을보여줍니다.Mirror MS spectra

선택된두개의 MS/MS 스펙트럼이서로를반영하며비교하는것을보여줍니다.

Mirror MS/MSspectra

Peak Review 창의왼쪽에통합매개변수를표시하거나숨깁니다.Integrationparameters

탐색버튼을표시합니다. 버튼을클릭해화합물간이동, 샘플간이동하거나슬라이드표시를시작합니다.피크검토페이지의 162내용을참조하십시오.

Show navigationcontrols

Integration매개변수복사

Peak Review 창에서마우스오른쪽으로클릭하여이명령에액세스할수있습니다. 이명령과 PasteIntegration Parameters를사용해피크찾기매개변수를크로마토그램간에복사합니다. 이명령은매개변수의조정사항이여러크로마토그램에동일하게적용되어야하는경우에사용할수있습니다.

1. 활성크로마토그램이열린그래프에서오른쪽버튼을클릭한뒤Copy Integration Parameters를클릭합니다.

2. Update Processing Method for Component명령을사용해변경사항을모든화합물크로마토그램에적용합니다.

Integration(통합) 매개변수붙여넣기

1. 활성크로마토그램이열린그래프에서오른쪽버튼을클릭한뒤Copy Integration Parameters를클릭합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E164 / 225

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2. 다른크로마토그램에서오른쪽버튼을클릭한후 Paste Integration Parameters를클릭합니다.

이전에복사한매개변수가새크로마토그램에적용됩니다.

구성요소처리방법업데이트

특정크로마토그램의피크찾기매개변수를조정한후에이러한구성요소매개변수를이용하기위해 Result Table에저장된처리방법사본을수정하려면이기능을선택하십시오.

• 피크찾기매개변수를조정하고마우스오른쪽버튼을클릭한다음 Update ProcessingMethod for Component를선택합니다.

특정구성요소는모든샘플이자동으로통합되어새매개변수가이용되며 Peak Review 창및Results Table이업데이트됩니다. 피크를수동으로통합한경우에는사용자가재통합을모든피크에적용할것인지또는수동통합된피크에만적용할것인지선택해야합니다.

그룹처리방법업데이트

Update Processing Method for Component명령과유사하지만현재활성상태인크로마토그램의구성요소와동일한그룹에포함되는모든구성요소에통합이적용됩니다. 사용자가여러구성요소를여러그룹에할당함에따라해당그룹에할당된구성요소들이동일한머무름시간을가질것으로예상되는경우에는이기능이유용하게사용되기때문에사용자가그룹내모든구성요소의예상머무름시간등매개변수들을한번에재설정할수있습니다. 이기능은그룹의구성요소들이동일한머무름시간을갖지않는경우에유용하지않습니다.

• 피크찾기매개변수를조정하고마우스오른쪽버튼을클릭한다음 Update ProcessingMethod for Group을선택합니다.

통합매개변수를그룹내샘플에적용하기

이기능을사용하면특정크로마토그램의피크찾기매개변수를조정한후 Results Table로저장된처리방법사본의원본매개변수를크로마토그램에적용할수있습니다.

• 특정크로마토그램에대한피크찾기매개변수를조정한후, 오른쪽버튼을클릭한뒤Applyintegration parameters to sample within a group을클릭합니다.

피크를원본방법으로되돌리기

이기능을사용하면특정크로마토그램의피크찾기매개변수를조정한후 Results Table로저장된처리방법사본의원본매개변수를크로마토그램에적용할수있습니다.

• 활성크로마토그램이열린그래프에서마우스오른쪽버튼을클릭한뒤 Revert Peak toOriginal Method를클릭합니다.

구성요소의모든피크되돌리기

이기능을사용하면일부크로마토그램의피크찾기매개변수를조정한후 Results Table에저장된처리방법사본의원본매개변수를활성크로마토그램과같은구성요소의모든크로마토그

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서165 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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램에적용할수있습니다. 피크를수동으로통합한경우에는사용자가재통합을모든피크에적용할것인지또는수동통합된피크에만적용할것인지선택해야합니다.

• 활성크로마토그램이열린그래프에서마우스오른쪽버튼을클릭한뒤 Revert All Peaks forComponent를클릭합니다.

라이브러리검색또는공식탐색기결과를이용한피크분석

팁! Options > Peak review display settings를클릭하여창에표시된열개수를변경합니다.사용자는또한 Peak Review창의윗부분을위로드래그하여창의크기를늘릴수있습니다.

1. Peak Review창에서 View를클릭한다음 XIC + MS, XIC + MS/MS또는 XIC + MS + MS/MS를클릭합니다.

검색결과가그래프아래에표시됩니다.

그림 6-54 라이브러리검색결과

2. 파란색화살표를클릭하면 Library Search Results가확장되면서더많은가능한라이브러리일치항목이표시됩니다.

선택한라이브러리일치항목의화학적구조도또한표에표시됩니다.

3. 화살표를다시클릭하면표가축소됩니다.

축소된표에표시된결과는 Results Table에도표시됩니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E166 / 225

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4. (옵션) 이표에서행을하나선택하고 아이콘을클릭하면 Result Table의결과가업데이트되어해당라이브러리일치항목을분석에사용할수있습니다.

5. (옵션) 아이콘을클릭하면선택한화합물에대한정보로처리방법이업데이트됩니다.

6. 더많은가능한결과를표시하려면파란색화살표를클릭하여 Formula Finder Results를확장합니다.

그림 6-55 Formula Finder Results

선택한공식탐색기결과의화학적구조도또한해당화합물이 ChemSpider에서업데이트된경우표에표시됩니다.

7. 화살표를다시클릭하면표가축소됩니다.

축소된표에표시된결과는 Results Table에도표시됩니다.

8. 아이콘을클릭하면 Results Table의 Formula Finder Results 열이선택한화합물로업데이트됩니다.

9. 아이콘을클릭하면처리방법이선택한화합물정보로업데이트됩니다.

팁! Options > Get Chemspider hit count를클릭하면그래프아래표에 ChemSpider HitCount가표시됩니다.

10. 아이콘을클릭하면 ChemSpider 어플리케이션이열립니다.

ChemSpider 페이지의 168내용을참조하십시오.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서167 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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ChemSpider

참고: ChemSpider 데이터베이스에액세스하려면워크스테이션에유효한라이센스파일이있어야합니다.

참고: 다음그림에표시된정보는예시목적으로만제공됩니다.

그림 6-56 ChemSpider 세션

설명항목

Results pane: 선택한공식과일치하는권장화합물의목록을표시합니다. 결과는 40개화합물의그룹으로표시됩니다. 오른쪽화살표를사용하면목록의다음그룹으로이동합니다. 왼쪽화살표를사용하면목록의이전그룹으로이동합니다.

1

Spectra pane: 획득된스펙트럼(빨간색) 및일치하는단편(파란색)을표시합니다. 파란색단편이많을수록더잘일치됨을의미합니다.

2

Structure pane: 결과창에서선택한화합물의화학적구조를표시합니다.3

Fragment table pane, 단편탭: 선택한화합물에대해일치하는총단편개수를표시합니다.

4

단편표창, 피크탭: 총피크개수, 일치하는피크의개수및선택한화합물에대한전체강도의 %를표시합니다. Assigned열의확인란은일치하는피크에대해자동으로선택됩니다.

4

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E168 / 225

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표 6-23 ChemSpider 기능

수행결과수행작업

결과창이새로고침되면서입력한기준과일치하는결과만표시됩니다.

Filter XIC List아이콘옆의필드에정보를입력합니다.

나머지창들이새로고침되면서선택항목과연관된정보가표시됩니다.

결과창의항목을하나씩클릭

나머지창들이새로고침됩니다. 스펙트럼창에서는일치하는단편(파란색)의상단과하단에빨간색화살표가표시됩니다. 구조창에서는단편과일치하는화학적구조를가진화합물이강조표시(볼드체)됩니다.

단편표창에있는 Fragments탭의항목을하나씩클릭

나머지창들이새로고침됩니다. 스펙트럼창에서는일치하는단편(파란색)의상단과하단에빨간색화살표가표시됩니다. 구조창에서는단편과일치하는화학적구조를가진화합물이강조표시(볼드체)됩니다.

단편표창에있는 Peaks탭의 Assigned항목을하나씩클릭

탐색기창에서 ChemSpider 웹사이트(www.chemspider.com)가열립니다. 정보액세스에대한정보는 ChemSpider Help를참조하십시오.

ChemSpider results for필드의오른쪽에있는아래방향화살표를클릭하고ChemSpider web site옵션선택

모든변경사항이취소되고세션이원래검색결과로되돌아갑니다.

ChemSpider results for필드의오른쪽에있는아래방향화살표를클릭하고Refresh옵션선택

ChemSpider 세션에서선택한정보가소프트웨어세션의 Formula Finder Results창에복사됩니다.ChemSpider 세션은종료됩니다.

Select클릭

통계창정보이대화상자에액세스하려면 Analytics작업영역에서 Results Table을연다음 Views > Statisticspane을클릭합니다.

분석의재현가능성과관련된정보를보려면 Statistics pane을사용합니다. 표에있는각행은동일한반응을보일것으로예상되는동일한분석물질의관련피크그룹에대한평균및표준편차와같은정보를요약합니다.

설명레이블

행번호입니다.Row

분석물질이름입니다.Component Name

샘플을실제농도별로그룹화하면이열에농도가표시됩니다. 샘플을샘플이름별로그룹화하면이열에샘플이름이표시됩니다.

Sample Name/ActualConcentration

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서169 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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설명레이블

n의 m을표시합니다. 이때 n은실제농도 (또는동일한샘플이름)의총샘플수이며 m은계산에사용되는이러한샘플의수입니다. 샘플은해당피크가통합되지않거나 Used 필드가수동으로지워진경우에사용되지않습니다.

Num. Values

사용된샘플의평균입니다.Mean

사용된샘플의표준편차입니다.Standard Deviation

백분율로표시되는변동계수: 100 * (표준편차)/평균입니다.Percent CV

평균값을실제농도로나눈값으로서백분율로표시: 100 * 평균/(실제농도)입니다. 이필드는실제농도별로그룹화할때만표시되며샘플이름별로그룹화할때표시되지않습니다.

Accuracy

샘플의개별값은추가열에표시됩니다. 해당샘플이통합되지않는경우 N/A로표시됩니다. Used 필드가수동으로삭제된경우, 해당값은취소선이그어진채로표시됩니다.

Values

이목록의항목은해당분석물질의샘플을통계계산에그룹화하는방식을지정합니다. 다음선택사항을사용할수있습니다.

• Group by Concentration for Standards: Standard 샘플을실제농도별로그룹화합니다.

• Group by Concentration for QCs: Quality Control 샘플을실제농도별로그룹화합니다.

• Group by Sample Name for Standards: 반복되는 Standard 샘플을Sample Name 필드별로그룹화합니다.

• Group by Sample Name for QCs: 반복되는 Quality Control 샘플을Quality Control 필드별로그룹화합니다.

• Group by Sample Name for All Samples: 반복되는 All 샘플을 SampleName 필드별로그룹화합니다.

Group by Concentrationfor ...

이목록의항목들은통계계산에사용할실제메트릭을지정합니다. 다음선택사항을사용할수있습니다.

• Calculated Concentration: Results Table의 Calculated Concentration 필드가사용됩니다.

• Area: Results Table의 Area 필드가사용됩니다.

• Height: Results Table의 Height 필드가사용됩니다.

• Calibration Y-Value: 분석물질에대해지정된회귀매개변수가사용됩니다. 이는해당내부표준물질이없는분석물질의 Area 또는Height이거나내부표준물질을사용하는분석물질의 Area Ratio 또는Height Ratio입니다.

CalculatedConcentration

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E170 / 225

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통계를이용한데이터분석

분석의재현가능성과관련된정보를보려면 Statistics pane을사용합니다. 표에있는각행은동일한반응을보일것으로예상되는동일한분석물질의관련피크그룹에대한평균및표준편차와같은정보를요약합니다.

반복적인과정을통해피크통합, 교정곡선및샘플통계를검토합니다. Results Table의 ActualConcentration 필드에대해설정된정밀도는통계표에서도사용됩니다.

참고: %CV 및정확도를비롯한통계의허용값에대한정보는실험실표준작업절차를참조하십시오.

• Results Table을연다음 Views > Statistics pane을클릭합니다.

통계창정보페이지의 169내용을참조하십시오.

교정곡선: 옵션열린교정곡선창에서 Options를클릭해다음기능을사용합니다.

표 6-24 교정곡선옵션

설명레이블

이옵션을선택한경우, 제외표준의데이터포인트(있을경우)가고리를사용해그려집니다. 이옵션이지워지면제외표준이표시되지않습니다.

Show excludedstandards

이옵션을선택한경우, 정도관리물질(QC)의데이터포인트(있을경우)가열린다이아몬드형을사용해그려집니다. 이옵션이지워지면 QC 샘플이표시되지않습니다.

Show qualitycontrols

옵션을선택하면범례가다양한샘플유형에대한포인트기호를나타내는플롯오른쪽에그려집니다(표준샘플의경우닫힌원, 제외표준의경우고리, QC 샘플의경우열린다이아몬드).

참고: 사용자가특정샘플유형을보지않을경우, 예를들어, Show qualitycontrols옵션을선택하지않은경우, 해당샘플유형항목이없습니다. QC샘플이나제외표준샘플이나타나지않을경우, 이옵션을이용할수없으며범례가그려지지않습니다.

Show legend

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서171 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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표 6-24 교정곡선옵션 (계속)

설명레이블

이옵션을선택하면, Y축은개별적으로각분석물질에대해최대 y값을지닌데이터포인트의백분율로표현됩니다. 이옵션을지우면, 플롯에대한 Y축은절대피크영역또는높이단위로표현됩니다(또는내부표준이사용될경우피크영역또는높이비).

백분율축을사용하는것은한개이상의분석물질을중첩되었고절대반응이다를경우유용한데, 이는각추적이전체이용가능수직영역을사용하기위해확장될수있기때문입니다. 그렇지않을경우, 낮은반응의분석물질은 X축가까이에놓이며플롯은자세히보기위해확대되어야합니다.

Use percent Y-axis

이옵션을선택하면, 구상된 Area 대비 Concentration 그리고 Log(Area) 대비LogLog(Area)가토글됩니다.

Log-log plot

이옵션을선택하면, 이전에내보내기한교정이활성화 Results Table에적용됩니다.

Assign externalcalibration

이옵션을선택하면, 이전에적용된외부교정이활성화 Results Table에서제거됩니다.

Remove externalcalibration

이옵션을선택하면, 활성화 Results Table와관련된모든분석물질의교정방정식사본을외부파일(*.mqcal)로저장합니다. 이를통해한표준샘플세트의교정을동일한 Results Table의일부가아닌다른샘플에적용할수있습니다.

Export calibration(and save results)

Export Calibration

Export Calibration을사용해활성화 Results Table와관련된모든분석물질의교정방정식사본을외부파일(*.mqcal)로저장합니다. 이를통해한표준샘플세트의교정을동일한 Results Table의일부가아닌다른샘플에적용할수있습니다.

일반워크플로우는다름과같습니다.

1. 표준만포함된 Results Table을생성합니다.

2. Peak Review창을사용해성공적으로통합되었는지확인합니다.

3. 교정사본을저장하려면 Export Calibration명령을사용합니다.

4. 미확인농도의샘플을포함한 Results Table을새로생성합니다.

5. Import External Calibration을클릭해내보내기한교정방정식을새 Result Table로적용합니다.

참고: 사용자는또한교정파일(*.mqcal)을지정해새 Result Table에적용할수도있습니다.

6. 필요할경우 4 및 5단계를반복합니다.

변경사항이원본 Results Table에적용될경우(표준샘플과함께), Results Table는다시내보내기해업데이트된교정방정식을저장해야합니다. 이전에내보내기한교정값은자동업데이트되지않습니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E172 / 225

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회귀유형

교정곡선표준에서분석물질피크영역은알려진농도를대상으로구상됩니다. 이후선은지점에맞춰집니다. 이회귀선은미확인샘플의농도를계산하는데사용됩니다.

Analytics 작업영역에서교정곡선에이용가능한다음회귀유형이있습니다.

• 선형(y = mx + b)

• 0 교차선형(y = mx)

• 평균응답인자

• 이차(y = a2 + bx + c)

• 제곱

• Wagner

• Hill

또한, 다음을포함한회귀의여러가중치유형을추가할수있습니다.

• 없음

• 1/x

• 1/x2

• 1/y

• 1/y2

• ln(x)

• ln(y)

메트릭플롯을사용해데이터분석메트릭플롯을사용해행번호나다른열을대상으로 Results Table열의값을구상합니다. 이러한플롯은시각적데이터검토를위한귀중한보조도구입니다.

한열이선택되면, 이에따른플롯이표의행번호기능으로써열의값을표시합니다. 두개의열을선택한경우에는두열값의플롯이그려집니다. 선택된두열중첫번째열은 x값을두번째열은 y값을포함합니다.

1. Analytics작업영역을엽니다.

2. Results Table을엽니다.

3. 한개또는두개의열을선택합니다.

4. More > Create Metric Plot with new settings를클릭합니다.

5. 메트릭플롯에서 Link를클릭한다음 Link to results table columns또는 Link to resultstable rows를클릭하여 Results Table의스크롤을메트릭플롯에연결합니다.

6. Options을클릭한다음필요에따라다음기능을사용하십시오.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서173 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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표 6-25 메트릭플롯마우스오른쪽버튼으로클릭메뉴옵션

설명메뉴옵션

대화상자를사용하여회귀모델을선택합니다. 자세한정보는도움말시스템을참조하십시오.

Regression

이옵션이선택되면 y 값 0을이용하여숫자가아닌플롯값이됩니다. 그렇지않은경우에는이포인트가플롯에서누락됩니다. 예를들어통합할수없는피크의 Retention Time은 N/A로보고됩니다. 이기능은이러한피크에포인트를제시하여사용자가이와같은잠재적인문제샘플을보고포인트를클릭하여이것을 Peak Review창에연결할수있습니다.

Display “N/A” as0.0

데이터포인트가 Results Table의 Sample Name필드텍스트를이용하여레이블지정되는지의여부를변경합니다. 겹치는트레이스가두개이상인경우에는현재활성트레이스가레이블지정됩니다.

Show samplenames

다양한샘플유형에이용되는포인트기호에주석을추가하는범례를변경합니다.

Show legend

y축이최대 y 값의절대단위를사용하는지또는백분율을사용하는지의여부를변경합니다. 백분율기능을사용하면겹쳐진각트레이스와무관하게백분율이계산됩니다. 이기능은여러구성요소의겹쳐진트레이스의플롯을그리는데사용할수있으며구성요소의메트릭반응은큰차이를보입니다.

Use percent Y-axis

y 축이 y=0에서시작하는지또는플롯을그려야하는최소 y 값에서시작하는지의여부를변경합니다.

Start Y-Axis at zero

데이터포인트가선으로연결되는지의여부를변경합니다.Connect with lines

현재플롯이설정과연결된경우에는이기능이현재기능을저장합니다.그렇지않은경우에는이기능이 Save Setting As기능과동일하게작동합니다.

Save setting

동일한열의플롯을자주그리는경우에는사용자가플롯그리기옵션을설정으로저장할수있습니다. 이경우필요한열이현재 Results Table에표시될때도사용자가플롯을빠르게생성할수있습니다. 해당열뿐만아니라여러플롯그리기옵션도저장됩니다. 설정이저장되면Metric Plot메뉴에이름이표시됩니다.

Save setting as

현재플롯이설정과연결된경우에는이기능을이용하여설정을삭제하십시오.

Delete setting

메트릭플롯팁

• 사용자가데이터포인트를마우스왼쪽버튼으로클릭하면 Results Table의해당행이자동으로선택되고보기로스크롤됩니다. 또한 Peak Review창이열린경우에는해당크로마토그램을표시하도록업데이트됩니다. 이경우이상값피크검토를수행할때한결편리합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E174 / 225

작동지침—소프트웨어

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• 제목영역은항상활성트레이스이름을표시합니다. 여러구성요소의트레이스가겹쳐진경우에는제목을전환하여모든트레이스의정보를표시하거나제목영역내아무곳을더블클릭하여하나의활성분석물질만표시하십시오. 특정트레이스는해당제목왼쪽의색상지점을클릭하면활성화할수있습니다.

Audit Trail사용자는각 Results Table에서 Audit Trail Records을볼수있습니다.

Audit Trail Viewer에서 Audit Trail Records 보기

1. Analytics작업영역을엽니다.

2. Views > Audit trail viewer를클릭합니다.

3. 세션파일을엽니다.

참고: 다른프로젝트의 Result Table에대한 Audit Trail을보려면 Project목록을클릭한다음다른프로젝트를선택하여프로젝트를변경합니다.

4. 다른 Result Table의기록을보려면 Sessions목록을클릭한다음다른파일을선택합니다.

팁! 사용자는프로젝트의모든 Result Table를동시에보도록선택할수도있습니다.

키워드검색을이용한감사된이벤트필터링

사용자는키워드검색을이용하여 Audit Trail에서감사된이벤트를필터링할수있으며텍스트에서필터링된항목은모두강조표시됩니다.

1. Analytics작업영역을엽니다.

2. Views > Audit trail viewer를클릭합니다.

3. 세션파일을엽니다.

4. Find필드에찾을단어를입력합니다.

5. GO를클릭합니다.

검색결과가발견되면 Find필드가녹색으로변하며, 검색결과수가표시되고단어가노란색으로강조표시됩니다. 검색결과가발견되지않으면 Find필드가분홍색으로바뀝니다.

6. 검색결과간에이동하려면 Next및 Prev버튼을사용합니다.

지정된기준세트를사용해감사이벤트필터링

사용자는지정된기준세트를기준으로 Audit Trail에서감사이벤트를필터링할수있습니다.

1. Analytics작업영역을엽니다.

2. Views > Audit trail viewer를클릭합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서175 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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3. 세션파일을엽니다.

4. Filter를클릭합니다.

Filter Audit Trail Events대화상자가열립니다.

5. 목록을사용해필수필터기준을선택합니다.

그림 6-57 Filter Audit Trail Events 대화상자

설명레이블항목

특정단어또는구에필터를사용합니다.is1

일부단어나구에필터를사용합니다.contains2

Results Table(.session) 파일의이름입니다. 사용자는활성화프로젝트에대해한파일또는모든파일을필터링할수있습니다.

N/A3

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E176 / 225

작동지침—소프트웨어

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설명레이블항목

목록에서선택한뒤필요할경우다음을입력합니다.• 일부또는전체이벤트유형을입력합니다.

• 일부또는전체샘플이름을입력합니다.

• 일부또는전체사용자이름을입력합니다.

• Yes또는 No를선택합니다.

• 이유를입력합니다.

And where• Description

• Sample Name

• Full User Name

• Notification

• Reason

4

특정날짜및시간에발생한이벤트를필터링합니다.날짜및시간5

참고: Results Table필드는편집할수없습니다.

6. Clear를클릭해모든필터기준을 No filter로재설정합니다.

7. 이벤트를필터링하려면 OK를클릭하십시오.

팁! Remove Filter를 Audit Trail Viewer대화상자에서클릭해필터를제거합니다.

Audit Trail Viewer 인쇄

1. Analytics작업영역을엽니다.

2. Views > Audit trail viewer를클릭합니다.

3. 세션파일을엽니다.

4. Print를클릭합니다.

5. 프린터를선택합니다.

참고: Audit Trail Viewer 대화상자에서저장된이벤트부분만인쇄됩니다.

Audit Trail Viewer의열설정변경

1. Analytics작업영역을엽니다.

2. Views > Audit trail viewer를클릭합니다.

3. 세션파일을엽니다.

4. Column Settings를클릭합니다.

5. Column Settings대화상자에서필요한대로열을선택하거나지웁니다.Results Table 의 SelectColumns 페이지의 147내용을참조하십시오.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서177 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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통합알고리즘매개변수

MQ4 통합알고리즘매개변수다음매개변수는관심피크를식별하고보고하는데사용됩니다. 사용가능매개변수에대한전체목록은통합알고리즘매개변수페이지의 178내용을참조하십시오.

노이즈백분율

이매개변수는크로마토그램의노이즈수준을추정하는데사용됩니다. 최소강도의데이터포인트에대해지정된백분율이노이즈로간주됩니다.

일반적인값은 20% ~ 60%입니다. 더큰피크가존재하는상태에서작은피크가발견되지않는경우에는노이즈백분율을낮춰야합니다. 그림 6-58은매우큰피크가존재할때작은피크의예시입니다. 이피크는노이즈백분율이 90%로설정될때찾을수없으나노이즈백분율이 40%로설정될때발견됩니다.

그림 6-58 관심피크

그림 6-59에서왼쪽그래프는 40%로설정된노이즈백분율을보여줍니다. 오른쪽그래프는 90%로설정되었습니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E178 / 225

작동지침—소프트웨어

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그림 6-59 노이즈수준

기준선하위창

크로마토그램은다듬기이후다른처리작업을시작하기전에데이터에서위로볼록한부분(hump)을제거할수있도록감산된기준선입니다. 각데이터포인트의기준선은최소강도의현재포인트왼쪽과오른쪽에있는데이터포인트를모두이용하여계산됩니다.

이매개변수값이예상피크폭보다몇배이상더크게설정되어있다면정확한값은중요하지않습니다.

그림 6-60에서왼쪽그래프는기준선하위를표시합니다. 창이 0.1분으로설정되고오른쪽그래프는기준선하위를표시합니다. 창이 1분으로설정됩니다.

그림 6-60 기준선감산범위

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서179 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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피크분할

이매개변수는잠재적으로노이즈를포함한피크가한개의단일피크로또는두개(또는그이상)의분리된피크로발견되는지의여부를제어합니다. 두잠재적피크간차이가지정된값보다작은경우에는한개의단일피크가발견됩니다. 그렇지않은경우에는두개의피크가발견됩니다.

이매개변수를큰값으로설정하면노이즈를포함한피크가분리되어두개의개별피크로발견되지않습니다. 그러나가까이용리(겹침)되는별개의두피크가존재하는경우에는더작은값을사용해야합니다.

그림 6-61에서왼쪽그래프는두개포인트로설정된 Peak Splitting(피크분리)을보여줍니다. 오른쪽그래프는세개포인트로설정된 Peak Splitting(피크분리)을보여줍니다.

그림 6-61 피크분할

AutoPeak통합알고리즘매개변수다음매개변수는관심피크를식별하고보고하는데사용됩니다.

자세한정보는도움말시스템을참조하십시오.

• Local peak baseline: 소프트웨어에서는전체크로마토그램에대한기준선을계산하는대신, 국부적으로피크주변기준선의변화를평가합니다.

• Linear peak baseline: 소프트웨어에서는피크아래에서비선형을기준선으로가지는가능성대신, 특정피크그룹의시작및끝점에있는포인트사이를연결하는선을선형으로맞춥니다.

Saturation correction: 알고리즘이피크가포화상태인것으로감지하면검출기가포화되지않았을때의예상피크모양을예측하는모델을사용합니다. 이경우검출기가포화되지않았다면확보될수있었던반응에가까운피크의최고치를초과하도록프로필이확장됩니다. 이는교정곡선의선형동적범위를확장할수있습니다. 이옵션은처리방법생성또는개별피크검토도중이아닐때전체알고리즘기본값을설정하는경우에만사용가능합니다. 이설정을일부피크에만사용하는것은유용하지않기때문입니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E180 / 225

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보고서템플릿편집

주의: 잠재적인데이터손실. 사용자가템플릿을수정할수없도록방지하려면 Reporter(보고자) 템플릿이시스템관리자의읽기액세스만허용하는읽기전용의보안폴더에위치해있는지확인하십시오.

사용자지정템플릿을생성하는경우에는사용자가템플릿유효성을검사해야합니다.

1. .docx 템플릿을엽니다.

오른쪽에 Reporter 템플릿편집기가열립니다. 템플릿편집기는태그정보가자동으로입력됩니다.

그림 6-62 Reporter Template Editor

설명항목

현재태그를표시하는보고서템플릿.1

아이콘:

• Add new tag.

• Add picture tag.

• Show content area.

• View document change log.

2

Tags for: 태그정보를제시하는소프트웨어이름을표시합니다.3

Field Type: 소프트웨어에해당되는필드유형을표시합니다.4

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서181 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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설명항목

선택된필드유형에기반하여사용가능한속성목록을표시합니다. 예를들어태그이름및형식의수를표시합니다.

5

Save Tag Parameters: 변경사항을저장할때클릭하십시오. 변경사항이저장되지않으면사용자가변경사항을저장할것인지묻는프롬프트메시지가제시됩니다.

6

2. 표 6-26의절차를이용하십시오.

3. 변경사항을적용한후에는 Save Tag Parameters를클릭하십시오.

팁! 필수정보는필드왼쪽의빨간색점멸경고신호로표시됩니다.

표 6-26 Reporter Functions

...수행방법수행할작업

태그내부를클릭하고새필드유형을선택한뒤속성을선택하십시오.

필드유형을변경합니다.

탭내부를클릭한뒤필요에따라속성을변경합니다.필드유형속성을변경합니다.

Add new tag아이콘을클릭하고 Field Type를선택한다음속성을선택합니다.

태그를추가합니다.

Add picture tag아이콘을클릭하고속성을선택합니다.그림을추가합니다.

Show content area아이콘을클릭합니다.태그시작및종료를표시합니다.

View document change log아이콘을클릭합니다.문서감사로그를표시합니다.

선택한태그를새위치로붙여넣은뒤필드유형속성을업데이트합니다.

속성은복사되지않으며반드시선택해야합니다.

태그를복사합니다.

태그간에이동하려면왼쪽및오른쪽화살표키를사용하십시오.

태그간에탐색합니다.

다음중한가지를수행합니다.

• 커서가태그의왼쪽에있으면 Delete를누르십시오.

• 커서가태그의오른쪽에있으면 Backspace를누르십시오.

태그를삭제합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E182 / 225

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보고자템플릿사용자지정보고서템플릿은사용자가유효성을검사해야합니다.

일부보고서템플릿은쿼리를사용합니다. 사용자는보고서의 Results Table 데이터를평가, 조작및제시할때 Microsoft Excel 기반수식을사용하여쿼리를생성할수있습니다. 보고서템플릿의Metafield 태그는보고서가사용해야하는 query 파일이름을보고서에제시합니다. 쿼리를사용하려면보고서템플릿의 MetaField 태그에쿼리파일이름을지정해야합니다. 쿼리는쿼리로인식되도록 ".query" 확장자를포함해야합니다. 쿼리는보고서템플릿이저장되는 Reporter 폴더에저장되어야합니다.

사용자는 Reporter 템플릿사용시특히템플릿에쿼리가사용될때생성된결과에대한유효성을검사하는것이바람직합니다. 유효성검사후에보고서템플릿을수정하는경우에는보고서템플릿에대해다시유효성을검사해야합니다. 보고서템플릿의변경사항에는보고자태그또는쿼리에적용된모든수정사항이포함됩니다.

표 6-27 보고자템플릿설명

설명템플릿

각샘플에대한 File Information, Sample Information, Analyte Results Table 및모든분석물질과내부표준물질에대한중첩된크로마토그램이포함된섹션을제공하는보고서입니다. Analyte Results 표는 Results Table에표시된대로인쇄됩니다. 모든정성적신뢰도신호등은표의시작부에제시됩니다.

All Peaks Qual

보고서에각분석물질에대한 File Information과각 Blank, Standard, QC 및모든미확인물질샘플의 20%에대한 XIC 표가표시됩니다. 미확인물질샘플은보고서쿼리의사용자정의기준에의해선택됩니다.

Analyte 20%

각분석물질에대한 Samples Summary Table의섹션을제공하는보고서입니다.

Analyte Summary

분석물질의 File Information, Statistics Table(표준) 및 Calibration Curve을분석물질당한페이지로표시하는보고서입니다.

Calibration Curves

각분석물질에대한 File Information 및분석물질피크면적메트릭플롯이포함된섹션을표시하는보안보고서입니다.

Metric Plot

선택한각샘플에대한 File Information, Sample Information 및선택한분석물질에대한 Analyte Results Table가포함된섹션을제공하는보고서입니다.Analyte Results 표는 Results Table에표시된대로인쇄됩니다. 모든정성적신뢰도신호등은표의시작부에제시됩니다.

Per SampleQuant-Qual

선택한각샘플에대한 File Information, Sample Information 및선택한분석물질에대한 Analyte Results Table가포함된섹션을제공하는보고서입니다.Analyte Results 표는 Results Table에표시된대로인쇄됩니다. 모든정성적신뢰도신호등은표의시작부에제시됩니다.

Per SampleQuant-Qual VisibleRows Using VisibleAnalyte

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서183 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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표 6-27 보고자템플릿설명 (계속)

설명템플릿

각분석물질에대한 File Information, Results Table, Calibration Curves, 내부표준및각분석물질을포함한크로마토그램이포함된섹션을표시하는보고서입니다. 이템플릿은그룹이정의된 Results Table에적합합니다.

Per AnalyteQuant-Qual

각샘플에대한각분석물질의 File Information, Sample Information, AnalyteResults Table, Calibration Curves, 내부표전및각분석물질을포함한크로마토그램이포함된섹션을표시하는보고서입니다. 이템플릿은그룹이정의된Results Table에적합합니다.

Per Sample Report

선택한각샘플에대한 File Information, Sample Information, 선택한분석물질에대한 Analyte Results Table, 모든분석물질, 내부표준물질에대한중첩된크로마토그램, XIC, Acquired/Theoretical MS spectra, 선택한각분석물질에대한Acquired/Library MS/MS spectra 등이포함된섹션을제공하는보고서입니다.Analyte Results 표는 Results Table에표시된대로인쇄됩니다. 모든정성적신뢰도신호등은표의시작부에제시됩니다.

Positive Hits Qual

샘플에대한 File Information, Sample Information 및 Analyte Results Table가포함된섹션을제공하는 .csv 형식의보고서입니다.

Qual CSV report

각샘플에대한 Analytes Summary Table의섹션을표시하는보고서입니다. 이보고서템플릿은그룹이있는 Results Table에적합합니다.

Sample Summary

MS 조정.dat 파일은기기데이터가저장될때소프트웨어가생성합니다. 이파일을사용해초기매개변수상태를복원합니다. 파일백업시간이아닌파일생성시간을사용해 .dat 백업파일이명명됩니다.

참고: 기기최적화는 ESI프로브만사용해수행해야합니다.

사용자가 MS 조정절차를로드할때마다모든질량분석계매개변수가백업됩니다.

빠른상태점검수행이절차를사용하여 TOF MS 및 MS/MS 모드에서분해능을신속하게확인하고시스템을교정할수있습니다. 채널얼라인먼트질량정확도가사양을만족하지않을경우사용자는해당단계를반복하고시스템을교정할수있습니다. 분해능이사양을만족하지않을경우사용자는 TOF 조정절차를수행하여시스템을최적화할수있습니다.

팁! 사용자는상태패널에서MS Check을클릭하여이절차를평가할수있습니다.

1. MS Tune작업영역을엽니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E184 / 225

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2. Tuning Procedures목록에서 Positive Quick Status Check또는 Negative Quick StatusCheck을선택합니다.

3. 상태패널에서 CDS power 아이콘( )을더블클릭하면 CDS 흐름이켜집니다.

4. 올바른채널 1 또는 2를선택하고, Start를클릭한다음창을닫습니다.

5. CDS가평형화될때까지최소 1분간기다립니다.

6. Next를클릭합니다.

7. 각각의단계에대해화면상의지침을따릅니다.

8. (옵션) 각단계의결과를확인하기위해보고를검토합니다.

9. (옵션) 보고서를저장합니다.

10.결과가만족스러우면 Save Tuning Settings을클릭합니다. 결과가만족스럽지않으면다음중하나를수행합니다.

• 해당단계를반복합니다.

• TOF MS 조정절차를실행합니다. TOF MS 조정페이지의 186내용을참조하십시오.

• MS Tune작업영역을닫아결과를삭제합니다.

• Restore Instrument Data메뉴에서적절한백업파일을선택하여이전설정을복원합니다.

검출기최적화시스템감도가낮은경우이절차를사용하여검출기전압이최적화되었는지확인합니다. 이절차수행과정에서소프트웨어가검출기전압을조정하여최적의감도를제공합니다. 최적화가완료되면사용자는최적화된값을저장하거나변경사항을취소할수있습니다.

검출기최적화는 6개월주기로또는청소후신호가약해지거나사라지는경우수행하는것이좋습니다.

1. MS Tune작업영역을엽니다.

2. Tuning Procedures목록에서 Detector Optimization을선택합니다.

3. 스프레이가안정적인지확인합니다.

4. Next를클릭합니다.

5. 화면상의지침을따르십시오.

6. Next를클릭합니다.

그러면최적화보고서가표시됩니다.

7. (옵션) 보고서를저장합니다.

8. Next를클릭합니다.

9. Save Settings를클릭합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서185 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

작동지침—소프트웨어

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참고: 검출기가 2650V 또는그이상에서최적화되는경우 sciex.com/request-support에서검출기교체를요청하십시오.

Q1 조정MS/MS 실험에서단편용전구체이온선택을위해 Q1 영역이사용됩니다. Q1 단위조정을통해피크폭을최적화하고 Q1 질량을교정합니다. Q1 단위는단위분해능에서전구체이온선택범위의폭을나타냅니다. Q1 낮음또는개방은낮은분해능(넓은범위) 또는개방분해능(개방범위)에서전구체이온선택범위의폭을나타냅니다. Q1 단위조정후, Q1 단위값에따라 Q1 낮음및개방설정이계산됩니다.

1. MS Tune작업영역을엽니다.

2. Tuning Procedures목록에서 Positive Q1 Tuning또는 Negative Q1 Tuning을선택합니다.

3. 상태패널에서 CDS power 아이콘( )을더블클릭하면 CDS 흐름이켜집니다.

4. 올바른채널 1 또는 2를선택하고, Start를클릭한다음창을닫습니다.

5. CDS가평형화될때까지최소 1분간기다립니다.

6. 스프레이가안정적인지확인합니다.

7. Next를클릭합니다.

8. 각각의단계에대해화면상의지침을따릅니다.

9. (옵션) Edit Method(방법편집)를클릭하여매개변수를조정합니다.

10.교정을수행한경우 Confirm(확인)을클릭하여확인획득을실행합니다.

11. Next를클릭합니다.

12. (옵션) 보고서를저장합니다.

13. Next를클릭합니다.

14. Save Settings(설정저장)를클릭합니다.

TOF MS 조정TOF MS 조정절차는 TOF MS 및 MS/MS 모드에서분해능및감도매개변수를최적화합니다. 최적화는조정을수행하기전시스템성능확인을먼저시작하며그다음최대강도및분해능을얻기위해다양한매개변수를램핑합니다. 채널조정후시스템이교정되고시스템성능이결정됩니다. 성능이주어진조건을만족하면사용자는조정설정을시스템에저장하거나또는설정을버릴수도있습니다.

TOF MS 조정은자동또는수동모드로수행할수있습니다. 수동모드에서사용자는최적화된매개변수값을선택하거나또는조정단계의종료시점에일시중지할수있습니다.

1. MS Tune작업영역을엽니다.

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2. Tuning Procedures목록에서 Positive TOF MS Tuning또는 Negative TOF MS Tuning을선택합니다.

3. 상태패널에서 CDS power 아이콘( )을더블클릭하면 CDS 흐름이켜집니다.

4. 올바른채널 1 또는 2를선택하고, Start를클릭한다음창을닫습니다.

5. CDS가평형화될때까지최소 1분간기다립니다.

6. 스프레이가안정적인지확인합니다.

7. Next를클릭합니다.

8. 각각의단계에대해화면상의지침을따릅니다.

9. Next를클릭합니다.

10. (옵션) 보고서를저장합니다.

11.결과가만족스러우면 Save Settings를클릭합니다. 결과가만족스럽지않으면다음중하나를수행합니다.

• 해당단계를반복합니다.

• MS Tune작업영역을닫아결과를삭제합니다.

• Restore Instrument Data메뉴에서적절한백업파일을선택하여이전설정을복원합니다.

• sciex.com/request-support에문의하십시오.

Q1 높음조정MS/MS 실험에서단편용전구체이온선택을위해 Q1 영역이사용됩니다. Q1 높음조정을통해피크폭을최적화하고 Q1 질량을교정합니다. Q1 높음은높은분해능에서전구체이온선택범위의폭을나타냅니다.

1. MS Tune작업영역을엽니다.

2. Tuning Procedures목록에서 Positive Q1 High Tuning또는 Negative Q1 High Tuning을선택합니다.

참고: 양성 Q1 높음절차가한동안실행되지않은경우 Copy를클릭하여 Positive Q1 Unit 설정을시작점으로사용합니다.

3. 상태패널에서 CDS power 아이콘( )을더블클릭하면 CDS 흐름이켜집니다.

4. 올바른채널 1 또는 2를선택하고, Start를클릭한다음창을닫습니다.

5. CDS가평형화될때까지최소 1분간기다립니다.

6. 스프레이가안정적인지확인합니다.

7. Next를클릭합니다.

8. 각각의단계에대해화면상의지침을따릅니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서187 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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9. (옵션) Edit Method를클릭하여매개변수를조정합니다.

10.교정을수행한경우 Confirm을클릭하여확인획득을실행합니다.

11. Next를클릭합니다.

12. (옵션) 보고서를저장합니다.

13. Next를클릭합니다.

14. Save Settings를클릭합니다.

고급문제해결수행조정절차의결과가만족스럽지않은경우고급문제해결절차를사용하여질량분석계와관련된매개변수를최적화합니다. 사용자는또한획득과정에서 TDC 채널통계및스펙트럼을볼수있습니다.

팁! Live Method 창을사용하면조정을수행한후최적화된매개변수를볼수있습니다.

1. MS Tune작업영역을엽니다.

2. Tuning Procedures목록에서 Advanced Troubleshooting을선택합니다.

3. 스캔유형을선택합니다.

4. Edit Method를클릭한다음 Live Method창에서필요시매개변수를편집합니다.

5. Start/Restart Method를클릭합니다.

6. 데이터를확인한다음필요시매개변수를조정합니다.

7. Stop을클릭한다음필요시검출기매개변수또는 TOF MS 매개변수를저장합니다.

기기데이터복원소프트웨어는기기데이터파일(.dat)을생성하고각조정단계의종료시점에서사용자가저장할때마다현재 .dat 파일을업데이트합니다. 이전에저장된설정은기기데이터복원기능을사용하여복원할수있습니다.

각조정단계가수행될때, 최적화된결과를추적하도록보고서및데이터파일이생성됩니다..wiff2 데이터파일및보고서는 D:\SCIEX OS Data\Optimization에서확인하실수있습니다.

1. MS Tune작업영역을엽니다.

2. 기기데이터복원목록에서데이터파일을선택하십시오.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E188 / 225

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그림 6-63 기기조정및최적화대화상자

3. (옵션) View Report를클릭합니다.

4. Yes를클릭합니다.

Event Log작업영역Event Log작업영역에는오류, 경고및메시지를포함하여시스템이벤트로그가포함되어있습니다. 이정보는시스템진단수행과문제해결에유용할수있습니다.

로그보기

1. Event Log 작업영역을엽니다.

2. 로그를보려면왼쪽패널에있는목록에서항목을클릭합니다.

로그인쇄

1. Event Log작업영역을엽니다.

2. (옵션) 보관된로그를엽니다.

3. Print를클릭합니다.

Archive logs

1. Event Log작업영역을엽니다.

2. Archive > Archive Log를클릭합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서189 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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그림 6-64 Archive > Archive Log

Archive Log 대화상자가열립니다.

그림 6-65 로그대화상자보관

3. Archive event log items older than필드에서날짜아이콘을클릭한후날짜를선택합니다.

4. Archive를클릭합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E190 / 225

작동지침—소프트웨어

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최적의성능을위해시스템을정기적으로청소하고유지보수하십시오.

경고! 감전위험. 커버를분리하지마십시오. 커버를분리하면부상또는시스템오작동이발생할수있습니다. 커버는정기유지보수, 검사또는조정시분리할필요가없습니다. 커버를제거해야하는수리작업은 SCIEX현장서비스직원(FSE)에게문의하십시오.

경고! 방사선위험, 생물학적위험, 또는독성화학물질위험. 청소나유지보수를수행하기전에오염물질을제거해야하는지판단하십시오. 사용자는방사성물질, 생물학적작용제또는독성화학물질을시스템과함께사용한경우청소또는유지보수전오염물질을제거해야합니다.

권장유지보수일정표 7-1에는시스템에대한권장청소및유지보수일정이나와있습니다.

팁! 유지보수작업을정기적으로수행하여질량분석계가최적의상태로작동하는지확인합니다.

이온소스유지보수에대한정보는작업자안내서를참조하십시오.

적격유지보수기술자(QMP)에게연락하여소모품을주문하십시오. 유지보수및지원의경우SCIEX현장서비스직원에게문의하십시오.

표 7-1 유지보수작업

자세한정보...작업주기구성요소

시스템

화학주의사항페이지의 11내용을참조하십시오.

배관및부품이단단히연결되어있고누출이없는지검사하십시오.

매일배관

질량분석계

커튼플레이트청소페이지의197내용을참조하십시오.

청소매일커튼플레이트

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서191 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

7서비스및유지보수정보

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표 7-1 유지보수작업 (계속)

자세한정보...작업주기구성요소

오리피스플레이트전면청소페이지의198내용을참조하십시오.

청소매일오리피스플레이트(전면)

러핑펌프오일량검사페이지의202내용을참조하십시오.

수준검사매주러핑펌프오일

현지 QMP 또는 FSE에문의하십시오.

교체3년마다또는필요시러핑펌프오일

표면청소페이지의193내용을참조하십시오.

청소필요시기기표면

소스배출용기비우기페이지의199내용을참조하십시오.

비우기필요시소스배기배출용기

현지 QMP 또는 FSE에문의하십시오.

청소필요시오리피스플레이트(전면및후면)

현지 QMP 또는 FSE에문의하십시오.

청소필요시QJet®이온가이

드및 IQ0 렌즈

현지 QMP 또는 FSE에문의하십시오.

청소필요시Q0 로드세트및IQ1 렌즈

현지 QMP 또는 FSE에문의하십시오.

재충전필요시러핑펌프오일

현지 QMP 또는 FSE에문의하십시오.

교체필요시인터페이스히터

CDS 병교체페이지의 40내용을참조하십시오.

교체또는재충전필요시CDS 병

체크밸브및흐름모듈교체페이지의 201내용을참조하십시오.

교체필요시CDS 흐름모듈

이온소스

이온소스작업자안내서를참조하십시오.

검사및교체필요시트윈 ESI 또는트윈 APCI 전극

이온소스작업자안내서를참조하십시오.

교체필요시코로나방전바늘

현지 QMP 또는 FSE에문의하십시오.

교체필요시터보히터

이온소스작업자안내서를참조하십시오.

교체필요시샘플배관

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E192 / 225

서비스및유지보수정보

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"필요시" 작업의경우다음지침을따르십시오.

• 유출이발생했거나더러워진경우에는질량분석계표면을청소하십시오.

• 배출용기가가득차기전에용기의내용물을비우십시오.

• 시스템감도가저하되는경우오리피스플레이트, QJet®이온가이드및 Q0 영역을청소하십

시오.

팁! Q0 영역을정기적으로청소하여사극자및렌즈에미치는충전영향(짧은시간동안관련이온의감도가크게손실됨)을최소화하십시오. QMP 또는 FSE에문의하십시오.

• 시스템감도가저하되면 QJet®이온가이드및 Q0 영역을청소하십시오.

팁! Q0 영역을정기적으로청소하여사극자및렌즈에미치는충전영향(짧은시간동안관련이온의감도가크게손실됨)을최소화하십시오. QMP 또는 FSE에문의하십시오.

• 러핑펌프오일이최소오일수준미만인경우재충전하십시오.

표면청소소스가유출되었거나더러워진경우에는질량분석계의외부표면을청소하십시오.

주의: 잠재적인시스템손상. 장비손상을예방하려면권장청소방법및재료만사용하십시오.

1. 미온의비눗물에적신부드러운천으로외부표면을닦으십시오.

2. 물에적신부드러운천으로외부표면을닦아남은비눗물을완전히제거하십시오.

프론트엔드청소다음경고는이섹션의모든절차에적용됩니다.

경고! 고온표면위험. 유지보수절차를시작하기전에이온소스를최소 30분동안냉각시키십시오. 이온소스의표면은작동중뜨거워집니다.

정기적인청소방법을통해질량분석계프론트엔드를청소하면다음과같은이점을얻을수있습니다.

• 갑작스런시스템중단시간최소화

• 최적감도유지

• 서비스방문이필요한집중청소횟수감소

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서비스및유지보수정보

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오염이발생할경우초기정기청소를실시하십시오. 오리피스플레이트의전면까지(포함) 청소하십시오. 일상세척을통해감도문제가해결되지않는경우전체세척이필요할수있습니다.현지 QMP 또는 FSE에문의하십시오.

이섹션은질량분석계를환기시킨후에진공.

참고: 해당되는모든현지규정을따르십시오. 보건안전지침은화학주의사항페이지의 11내용을참조하십시오.

오염징후다음중하나가관찰되는경우시스템이오염되었을수있습니다.

• 심각한감도손실

• 배경노이즈증가

• 샘플의부품이아닌일부피크가전체스캐닝또는설문조사스캐닝방법에표시됨

이런문제가있다는게확인된경우질량분석계의앞끝부분을청소합니다.

필요항목

참고: 미국고객은 877-740-2129로전화하여주문정보를확인하거나문의할수있습니다. 해외고객은 sciex.com/contact-us를방문하십시오.

• 무분말장갑(니트릴또는네오프렌권장)

• 보안경

• 실험복

• 신선한고순도물(18 MΩ 이상의 De-Ionized(탈이온, DI) 수또는초고순도 HPLC 등급물). 오래된물에는질양분석계를추가로오염시킬수있는오염물이포함되어있을수있습니다.

• MS 등급메탄올, 이소프로판올(2-프로판올) 또는아세토니트릴

• 세정액. 다음중하나를사용하십시오.

• 100% 메탄올

• 100% 이소프로판올

• 1:1 아세토니트릴:수용액(새로준비함)

• 1:1 아세토니트릴:0.1% 아세트산이포함된수용액(새로준비함)

• 세정액을준비하기위한깨끗한 1 L 또는 500 mL 유리비커

• 사용한용매를담을 1 L 비커

• 유기성폐기물용기

• 보풀없는천. 제조업체에서구입가능한도구및소모품페이지의 195내용을참조하십시오.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E194 / 225

서비스및유지보수정보

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• (선택사항) 폴리에스테르(폴리) 면봉

제조업체에서구입가능한도구및소모품

부품번호설명

1017396소형폴리면봉(열접합형). 청소키트에포함됩니다.

018027보풀이없는천(11 cm x 21 cm, 4.3 inch x 8.3 inch). 청소키트에포함됩니다.

청소실무지침

경고! 고온표면위험. 유지보수절차를시작하기전에이온소스를최소 30분동안냉각시키십시오. 작동중에는이온소스와진공인터페이스구성품의표면이뜨거워집니다.

경고! 독성화학물질위험. 화학물질을취급, 보관및처분할때는화학물질제품안전보건자료를참조하고모든권장안전절차를따르십시오. 보건안전예방책은시스템사용자안내서를참조하십시오.

경고! 방사선위험, 생물학적위험, 또는독성화학물질위험. 청소나유지보수를수행하기전에오염물질을제거해야하는지판단하십시오. 사용자는방사성물질, 생물학적작용제또는독성화학물질을시스템과함께사용한경우청소또는유지보수전오염물질을제거해야합니다.

경고! 환경위험. 시스템구성품을도시폐기물로폐기하지마십시오. 구성품을폐기할때는현지규정을따르십시오.

• 제거하기전에이온소스를냉각시키십시오.

• 청소절차의경우항상깨끗한무분말장갑(니트릴또는네오프렌권장)을착용하십시오.

• 질량분석계구성품을청소한후다시조립하기전에깨끗한새장갑을착용하십시오.

• 이절차에지정되지않은청소용품을사용하지마십시오.

• 가능한경우청소전에세척액을준비하십시오.

• 모든유기용액및유기포함용액을매우깨끗한유리용기에만준비및보관하십시오. 플라스틱병은절대사용하지마십시오. 오염물이이러한병에서침출되어질량분석계를추가로오염시킬수있습니다.

• 세정액오염을방지하기위해천이나면봉에용액을붓습니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서195 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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• 천의가운데부분만질량분석계표면에닿도록하십시오. 절단가장자리는섬유조각을남길수있습니다.

팁! 열접합형폴리면봉을천으로감쌉니다.

그림 7-1 예: 천접기

• 교차오염을방지하기위해표면에한번닿은천이나면봉은폐기하십시오.

• 커튼플레이트와같은진공인터페이스의대형부품은천여러개를사용하여여러번청소해야할수도있습니다.

• 천이나면봉을물이나세정액에적실때약간만적시십시오. 물은대부분의경우유기용매보다천을잘닳게하여질량분석계에잔류물을남길수있습니다.

• 천으로구경을가로질러문지르지마십시오. 구경주변을닦아서천의섬유가질량분석계로들어가지않게하십시오.

• 커튼플레이트, 또는오리피스플레이트위구경에브러시를넣지마십시오.

질량분석계준비

경고! 고온표면위험. 유지보수절차를시작하기전에이온소스및진공인터페이스를최소 30분동안냉각시키십시오.작동중에는이온소스와진공인터페이스의일부표면이뜨거워집니다.

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주의: 잠재적인시스템손상. 이온소스를분리할때소스배출부안으로어떤것도떨어뜨리지마십시오.

그림 7-2 진공인터페이스의소스배출

1. 장치를비활성화합니다.장치비활성화페이지의 45내용을참조하십시오.

2. 이온소스를분리합니다. 내용을참조하십시오이온소스작업자안내서.

이온소스를사용하지않을때이온소스를보관하여손상을방지하고작동무결성을유지하십시오.

커튼플레이트청소

주의: 잠재적인시스템손상. 구경팁위에커튼플레이트나오리피스플레이트를놓지마십시오. 커튼플레이트의원뿔쪽이위로향하게해야합니다.

주의: 잠재적인시스템손상. 구경손상을방지하기위해커튼플레이트, 오리피스플레이트,인터페이스히터의구경안으로전선이나금속브러시를삽입하지마십시오.

1. 커튼플레이트를진공인터페이스에서빼내어깨끗하고안정된표면위에원뿔쪽이위로향하게놓습니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서197 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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그림 7-3 커튼플레이트분리

커튼플레이트는오리피스플레이트에설치된유지볼캐치 3개에의해고정됩니다.

팁! 커튼플레이트가오리피스플레이트에서즉시분리되지않으면커튼플레이트를약간돌려서(90도이하) 볼스프링래치를푸십시오.

2. 보풀이없는천을깨끗한물에적셔커튼플레이트의양측면을청소하십시오.

참고: 필요할경우여러장의천을사용합니다.

3. 세정액을사용하여 2단계를반복합니다.

4. 젖은천이나작은폴리면봉을사용하여구경을청소합니다.

5. 커튼플레이트가마를때까지기다립니다.

6. 커튼플레이트에용매얼룩이나보풀이있는지검사하면서잔류물이있으면살짝적신보풀이없는깨끗한천으로닦아냅니다.

참고: 지속적으로생성되는얼룩이나막은용매가오염되었음을나타냅니다.

오리피스플레이트전면청소

주의: 잠재적인시스템손상. 오리피스플레이트표면을청소할때인터페이스히터를분리하지마십시오. 인터페이스히터를자주분리하면인터페이스히터가손상될수있습니다. 인터페이스히터표면은정기청소에적합합니다.

주의: 잠재적인시스템손상. 구경손상을방지하기위해커튼플레이트, 오리피스플레이트,인터페이스히터의구경안으로전선이나금속브러시를삽입하지마십시오.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E198 / 225

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1. 보풀이없는천을물에적셔서인터페이스히터를포함하여오리피스플레이트의전면을닦습니다.

2. 세정액을사용하여 1단계를반복합니다.

3. 오리피스플레이트가마를때까지기다립니다.

4. 오리피스플레이트에용매얼룩이나보풀이있는지검사하면서잔류물이있으면살짝적신보풀이없는깨끗한천으로닦아냅니다.

참고: 지속적으로생성되는얼룩이나막은용매가오염되었음을나타냅니다.

질량분석계를서비스상태로복원

1. 질량분석계에커튼플레이트를설치합니다.

2. 질량분석계에이온소스를설치합니다. 내용을참조하십시오이온소스작업자안내서.

소스래치를잠금위치로돌려서이온소스를조입니다.

3. 상태패널에서 Activate Devices를클릭합니다(SCIEX OS가설치전컴퓨터에설치되지않은경우).

소스배출용기비우기

경고! 방사선위험, 생물학적위험, 또는독성화학물질위험. 위험물질을적정레이블이부착된폐기액용기에폐기한뒤현지규정에따라처리하십시오.

경고! 방사선위험, 생물학적위험, 또는독성화학물질위험. 배기가스를전용실험실흄후드또는배기시스템으로환기할때는각별히주의해야하며환기배관을클램프로고정해야합니다. 작업이이루어지는동안실험실이적절하게환기되어야합니다.

소스배출용기를정기적으로검사하여용기가가득차기전에내용물을비웁니다. 또한용기와피팅에누출이있는지검사하고필요한경우연결부를조이거나구성품을교체합니다. 용기를비우려면이절차의단계를따르십시오.

1. 이온소스를분리합니다.이온소스작업자안내서내용을참조하십시오.

2. 호스를소스배출용기의마개에연결하는클램프연결을풉니다.

3. 호스를마개에서분리합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서199 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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4. 해당되는경우홀더에서배출용기를들어냅니다.

5. 배출용기에서마개를제거합니다.

6. 실험실절차와현지폐기물처리규정에따라배출용기를비우고폐기물을폐기합니다.

7. 용기에마개를끼우고용기를홀더에설치합니다.

8. 호스를캡에부착하고클램프로단단히고정합니다.

그림 7-4 소스배출용기

설명품목

환기구에연결1

소스배기가스배출배관: 2.5 cm (1.0 inch) inside diameter (i.d.)2

러핑펌프배출호스: 3.2 cm (1.25 inch) i.d.3

소스배기배출용기. 유출이방지되도록용기가고정되어있는지확인하십시오.

4

질량분석계연결부: 1.6cm(0.625인치) i.d.5

러핑펌프진공주입구호스6

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참고: 배출용기, 질량분석계및실험실환기구의소스배기호스연결부는호스클램프로고정됩니다.

체크밸브및흐름모듈교체

경고! 독성화학물질위험. 화학물질을취급, 보관및폐기할때는화학제품안전보건자료를참조하고모든권장안전절차를따르십시오. 보건안전예방책은화학주의사항페이지의 11내용을참조하십시오.

체크밸브는 CDS가꺼져있을때교정물질이이온소스로흐르는것을방지합니다. 흐름모듈은치수에민감한 10cm 길이의검은색튜브로서이온소스로흘러가는교정물질의유속을제어합니다.

그림 7-5 체크밸브및흐름모듈

설명항목

CDS 방향1

체크밸브2

흐름모듈3

이온소스방향4

필요항목

• 1/4인치렌치

1. 체크밸브를제거하려면체크밸브양쪽에있는수동조임식 PEEK 피팅조임을풉니다.

참고: 체크밸브설치시체크밸브의화살표가이온소스방향을가리키도록하십시오.

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2. 흐름모듈을제거하려면다음단계를따릅니다.

a. 흐름모듈을체크밸브에연결하는수동조임식 PEEK 피팅조임을풉니다.

b. 1/4 렌치를사용하여흐름모듈을프로브에연결하는피팅을제거합니다.

러핑펌프오일량검사

• 러핑펌프의확인창을검사하여오일량이최소수준을넘어서는지확인합니다.

오일량이최소수준보다낮으면적격유지보수기술자(QMP) 또는 SCIEX현장서비스직원(FSE)에게문의하십시오.

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그림 7-6 확인창

보관및취급을위한환경요건

경고! 환경위험. 시스템구성품을도시폐기물로폐기하지마십시오. 구성품을폐기할때는현지규정을따르십시오.

질량분석계를오랫동안보관해야하는경우또는배송을위해준비해야하는경우정보폐기를위해 SCIEX FSE에문의하십시오. 질량분석계에서전원을분리하려면 AC 주전원공급장치에서주전원공급커넥터를제거하십시오.

참고: 이시스템은 -30°C ~ +60°C(-22°F ~ 140°F) 온도범위에서운반및보관해야합니다. 시스템보관위치는해발고도 m(피트)를넘지않도록하십시오.

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질량분석계이동

경고! 들어올릴경우위험. X500R의경우최소아홉명이, X500B의경우열명이질량분석계를들수있어야합니다.규정된안전리프팅절차를따르십시오.시스템구성요소의중량은현장계획안내서를참조하십시오.

경고! 들어올릴경우위험. 최소두사람이러핑펌프를들수있어야합니다. 규정된안전리프팅절차를따르십시오.

경고! 고온표면위험. 화재에유의하십시오. 작동중에는질량분석계의표면이뜨거워집니다.

선행조건

• 시스템을종료합니다. 시스템을환기시킬필요는없습니다. 시스템의종료및환기페이지의 36내용을참조하십시오.

• 모든가스흐름을중지한다음가스배관의압력을해제합니다.

필요항목

• 리프팅키트

1. 질량분석계에서진공호스, 가스튜브, 소스배출튜브, 전원케이블, 이더넷케이블및 TDC 케이블의연결을분리합니다.

2. 왼쪽및오른쪽커버를제거합니다.

3. 질량분석계의오른쪽앞부분에서, 리프팅막대를고정하고있는잠금핀을뽑고막대의구멍과튜브에있는구멍이서로정렬될때까지막대를빼낸다음다시고정핀으로막대를고정합니다.

그림 7-7 리프팅막대가안으로들어가있는상태

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그림 7-8 리프팅막대를밖으로뺀상태

4. 질량분석계의오른쪽뒷부분, 왼쪽앞부분및왼쪽뒷부분에서 3단계를반복합니다.

5. 각각의리프팅막대에짧은블록을설치한다음잠금핀으로고정합니다.

주의: 잠재적인시스템손상. 모든잠금핀이완전히삽입되어있는지확인하여질량분석계를이동할때질량분석계가떨어지는일을방지하십시오.

그림 7-9 짧은블록설치됨

6. 질량분석계의오른쪽면에서짧은블록사이를통과하도록긴봉을삽입합니다.

참고: 블록을통과하여가장길게이어진봉의끝부분은질량분석계의앞쪽으로나와야합니다.

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7. 질량분석계의왼쪽면에대해서도 6단계를반복합니다.

8. 긴봉에잠금핀을설치합니다.

그림 7-10 긴봉에잠금핀설치

9. 긴봉의끝부분에긴블록을설치한다음두개의잠금핀으로고정합니다.

그림 7-11 긴블록설치됨

10.질량분석계의앞쪽에서긴블록사이를통과하는짧은봉을설치합니다.

11.짧은봉을두개의잠금핀으로고정합니다.

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그림 7-12 짧은봉에잠금핀설치

그림 7-13 리프팅키트설치됨 (X500R 시스템)

12. X500R 시스템의경우 8명의인원이,X500B 시스템의경우 9명의인원이협력하여질량분석계를새로운위치로옮깁니다.

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그림 7-14에 X500B 시스템을들어올리는데필요한 10명의위치가나와있습니다. 10번으로지정된사람이시스템의가장앞이며시스템을들어벤치에놓을수있도록옆으로비켜야합니다. X500R 시스템은 1 ~ 9개의위치만있으면됩니다.

그림 7-14 작업자분배(X500B 시스템)

13.다른한명은러핑펌프를새로운위치로옮깁니다.

14.왼쪽및오른쪽커버를설치합니다.

15.진공호스, 가스튜브, 소스배출튜브, 전원케이블, 이더넷케이블및 TDC 케이블을질량분석계에연결합니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E208 / 225

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주의: 잠재적인시스템손상. 진공호스클램프방향이질량분석계측면에서돌출되어나오지않도록하십시오. 방향이잘못되면질량분석계정비를위해드레스패널을열었을때드레스패널이손상될수있습니다.

그림 7-15 올바르게설치된클램프

지원패키지생성

1. Configuration작업영역을엽니다.

2. 왼쪽패널에서 About을클릭합니다.

3. Service and Support아래에서, Generate a Support Package를클릭합니다.

zip 파일형태의보고서가 D:\ServicePackages 폴더에저장됩니다.

4. zip 파일을전송하여지원합니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서209 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

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이섹션에서는기본적인시스템문제를해결하기위한정보를포함합니특정활동은실험실내SCIEX교육을받은적격유지보수기술자(QMP)만수행할수있습니다.고급문제해결의경우SCIEX 현장서비스직원(FSE)에게문의하십시오.

표 8-1 시스템문제

수정동작잠재적인원인징후

Curtain GasTM유속이너무낮습니다.

QJet®이온가이드가너무더럽

거나자주더러워집니다.

1. 러핑펌프오일수준을검사하고현지 QMP 또는 FSE에문의하여오일을추가하십시오.

2. 누출여부를검사하고수리합니다.

3. 올바른오리피스플레이트를설치합니다.

1. 러핑펌프오일량이너무낮습니다.

2. 누출이있습니다.

3. 잘못된오리피스플레이트를설치했습니다.

진공압력이너무높아시스템장애가발생했습니다.

현지 QMP 또는 FSE에문의하십시오.

1. 주변온도가너무높습니다.QPS Exciter 모듈온도가너무높아시스템장애가발생했습니다.

1. 장치세부정보페이지의Status(상태) 패널에서장애를확인하십시오.

2. 프로브를설치하십시오. 이온소스작업자안내서를참조하십시오.

3. 프로브를제거하고교체하십시오. 고정링을단단히조이십시오. 이온소스작업자안내서를참조하십시오.

1. 프로브를설치하지않음.

2. 프로브가단단히연결되지않음.

SCIEX OS소프트웨어가이온소스때문에질량분석계가오류상태인것을보고합니다.

FSE에문의하십시오.F3 퓨즈가나갔습니다.SCIEX OS소프트웨어가 APCI 프로브가사용중이지만TurboIonSpray

®프로브가설치되

었음을나타냅니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E210 / 225

8질량분석계문제해결

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표 8-1 시스템문제 (계속)

수정동작잠재적인원인징후

전극을청소또는교체하십시오. 이온소스작업자안내서를참조하십시오.

전극이막혔습니다.스프레이가균일하지않습니다.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서211 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

질량분석계문제해결

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표 8-1 시스템문제 (계속)

수정동작잠재적인원인징후

1. 이온소스매개변수를최적화합니다. SCIEX OS소프트웨어도움시스템을참조하십시오.

2. 커튼플레이트청소페이지의197내용을참조하십시오.

3. 오리피스플레이트전면청소페이지의198의내용을참조하거나현지 QMP 또는 FSE에문의하십시오.

4. Q0 영역을청소하십시오.QMP 또는 FSE에게문의하십시오.

5. 주사기또는샘플관에누출이있는지검사하고확인된모든누출을수리하십시오.모든부품의종류와크기가올바른지확인하십시오.

6. 샘플농도를확인하십시오.갓추출한샘플을사용하십시오.

7. 전극을보호하는너트를조입니다.

8. 프로브를제거하고설치하십시오.

9. 래치가적절히고정되었는지확인하여이온소스를제거하고설치하십시오. 문제가해결되지않은경우, 다른이온소스를설치한후최적화하십시오.

10. O링이이온소스에있는경우, 이를진공인터페이스에설치하십시오. 누락된경우,FSE에게문의하십시오.

11. LC 시스템문제를해결하십시오.

1. 이온소스매개변수는최적화되지않은상태입니다.

2. 질량분석계가최적화되지않았습니다.

3. 커튼플레이트가더럽습니다.

4. 오리피스플레이트가더럽습니다.

5. QJet®이온가이드또는 IQ0

렌즈가더러워진상태입니다.

6. Q0 영역이더러워진상태입니다.

7. 주사기또는샘플관이새고있습니다.

8. 샘플이분해되었거나농도가낮습니다.

9. 이온소스프로브의전극을보호하는너트는꽉조여져있지않습니다.

10.프로브가적절히설치되지않았습니다.

11.이온소스가적절히설치되지않았거나잘못설치되었습니다.

12.진공인터페이스에서한개이상의 O링이누락되었습니다.

13. LC 시스템또는연결에문제가있습니다.

감도가감소되었습니다.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E212 / 225

질량분석계문제해결

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표 8-1 시스템문제 (계속)

수정동작잠재적인원인징후

1. 프로브를최적화하십시오.이온소스작업자안내서를참조하십시오.

2. 샘플이올바르게준비되었는지확인하십시오.

3. 부품의크기와종류가맞는지확인하고단단하게조여지도록하십시오. 부품을과도하게조이지마십시오. 누출이계속되면부품을교체하십시오.

4. 대체이온소스를설치하고최적화합니다.

5. 문제가계속되는경우 FSE에문의하십시오.

1. 프로브가최적화되지않음.

2. 샘플이올바르게준비되지않았거나샘플이분해되었음.

3. 샘플입구부품이누출되고있습니다.

질량분석계성능이저하되었습니다.

코로나방전바늘을커튼플레이트쪽으로돌리고, 히터가스스트림으로부터멀리하십시오.이온소스작업자안내서를참조하십시오.

코로나방전바늘위치가잘못됨.

아크또는스파크가발생함.

1. CDS 연결을확인하십시오.

2. 교정물질튜브가막혔는지검사하십시오.

1. CDS가연결되지않았습니다.

2. CDS 튜브가막혔습니다.

교정물질신호가약합니다.

판매, 기술지원또는서비스는 FSE에문의하거나문의정보를원하는경우 SCIEX웹사이트 sciex.com에방문하십시오.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서213 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

질량분석계문제해결

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다음표는 SCIEX X500 QTOF시스템교정을위해 SCIEX가추천하는표준물질을나열합니다.

표 A-1 교정솔루션

수량설명부품번호

100 mLSCIEX X500 시스템을위한 APCI 양극교정솔루션5042914

5 × 100 mLSCIEX5042918

100 mLSCIEX X500 시스템을위한 APCI 음극교정솔루션5042915

5 × 100 mLSCIEX X500 시스템을위한 APCI 음극교정솔루션, 5팩5042919

100 mLSCIEX X500R 시스템을위한 ESI 양극교정솔루션5042912

5 × 100 mLSCIEX X500R 시스템을위한 ESI 양극교정솔루션, 5팩5042916

100 mLSCIEX X500B 시스템을위한 ESI 양극교정솔루션5049910

5 × 100 mLSCIEX X500B 시스템을위한 ESI 양극교정솔루션, 5팩5032735

100 mLSCIEX X500 시스템을위한 ESI 음극교정솔루션5042913

5 × 100 mLSCIEX X500 시스템을위한 ESI 음극교정솔루션, 5팩5042917

APCI 교정이온표 A-2 TOF MS 양극교정이온

질량

442.2647354.2122315.1623266.1598146.1176

1521.9715922.0098618.3695609.2807

표 A-3 TOF MS 음극교정이온

질량

792.4598616.3550440.2501403.1122352.1977277.0983264.1453144.1030

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E214 / 225

A권장교정이온

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표 A-4 TOF MS/MS 양극생성이온

609.2807315.1623전구체이온 (m/z)

8080디클러스터링전위(V)

4527충돌에너지(V)

609.2807315.1623단편이온 1

577.2544270.1044단편이온 2

448.1966242.0731단편이온 3

397.2122235.1356단편이온 4

365.1860227.0496단편이온 5

236.1281220.1121단편이온 6

195.065286.0964단편이온 7

174.091358.0651단편이온 8

표 A-5 TOF MS/MS 음극생성이온

403.1122277.0983전구체이온 (m/z)

-80-80디클러스터링전위(V)

–30–30충돌에너지(V)

403.1122277.0983단편이온 1

277.0983249.1033단편이온 2

158.0611217.0771단편이온 3

125.0067200.0591단편이온 4

93.0344158.0611단편이온 5

해당없음130.0662단편이온 6

해당없음116.0506단편이온 7

해당없음77.0397단편이온 8

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서215 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

권장교정이온

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ESI 교정이온표 A-6 TOF MS 양극교정이온

질량

829.5393609.2807442.2647354.2122315.1623266.1598132.9049

2253.83082130.24492121.93321643.86911521.97151053.9074922.0098

표 A-7 TOF MS 음극교정이온

질량

520.9100384.9352248.9604204.9706154.9738112.985668.9958

1472.73371336.75891200.78411064.8092928.8344792.8596656.8848

2233.91152165.92411880.65811633.94981565.96241744.68331608.7085

표 A-8 TOF MS/MS 양극생성이온

829.5393609.2807315.1623전구체이온 (m/z)

808080디클러스터링전위(V)

454525충돌에너지(V)

829.539609.281315.162단편이온 1

811.529577.254270.104단편이온 2

724.497448.197242.073단편이온 3

706.486397.212235.136단편이온 4

607.418365.186227.05단편이온 5

532.334236.128220.112단편이온 6

512.344195.06586.0964단편이온 7

494.334174.09158.0651단편이온 8

411.297

399.26

381.25

298.213

268.166

227.175

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E216 / 225

권장교정이온

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표 A-8 TOF MS/MS 양극생성이온 (계속)

829.5393609.2807315.1623전구체이온 (m/z)

215.139

185.129

157.134

표 A-9 TOF MS/MS 음극생성이온

1200.784792.8520.9384.9248.9전구체이온(m/z)

8080808080디클러스터링전위(V)

3022201615충돌에너지(V)

1200.784792.8596520.9100384.9352248.9604단편이온 1

1064.809656.8848384.9352248.9604204.9706단편이온 2

928.8344520.9100248.9604204.9706154.9738단편이온 3

792.8596384.9352204.9706154.9738112.9856단편이온 4

656.8848248.9604154.9738112.985668.99576단편이온 5

520.9100204.9706112.9856해당없음해당없음단편이온 6

384.9352154.9738해당없음해당없음해당없음단편이온 7

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서217 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

권장교정이온

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표 A-9 TOF MS/MS 음극생성이온 (계속)

1200.784792.8520.9384.9248.9전구체이온(m/z)

248.9604112.9856해당없음해당없음해당없음단편이온 8

204.9706해당없음해당없음해당없음

154.9738해당없음해당없음해당없음

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E218 / 225

권장교정이온

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레서핀

표 B-1 레서핀정밀질량

레서핀(C33H40N2O9)

질량설명

609.28066Molecular Ion C33H41N2O9

448.19659단편 C23H30NO8

397.21218Fragment C23H29N2O4

365.18597Fragment C22H25N2O3

236.12812단편 C13H18NO3

195.06519Fragment C10H11O4

174.09134단편 C11H12NO

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서219 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

B정밀질량및화학식

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참고: 다음표의모든기호가모든기기에적용되는것은아닙니다.

설명기호

교류

암페어(전류)A

유럽공동체의공식대리인

생물학적위험

적합성에대한 CE 마킹

CSA 마크. 미국시장을위한전기안전성인증을나타냅니다.

카탈로그번호

중국 RoHS 주의레이블. 전자정보제품에는특정독성또는위험물질이포함되어있습니다. 가운데숫자는친환경사용기간(EFUP) 날짜이며제품을작동시킬수있는역년의수를나타냅니다. EFUP가만료되면해당제품을즉시재활용해야합니다. 순환하는화살표는제품을재활용할수있다는것을나타냅니다. 레이블또는제품의날짜코드는제조일자를나타냅니다.

중국 RoHS 로고. 해당장치가최대농도값을넘는독성및위험물질또는성분을포함하지않으며재활용과재사용이가능한친환경제품입니다.

사용지침을참조하십시오.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E220 / 225

C기호용어집

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설명기호

바코드판독기로스캔하여고유장치식별자(UDI)를구할수있는데이터매트릭스기호.

이더넷연결

폭발위험

화재위험

파손위험

퓨즈

HertzHz

고전압. 감전위험주커버를분리해야하는경우에는 SCIEX담당자에게문의하여감전을예방하십시오.

고온표면위험

이온화방사선위험

건조한상태를유지하십시오.

비에노출하지마십시오.

상대습도가 99%를초과해서는안됩니다.

수직으로유지하십시오.

레이저방사선위험

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서221 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

기호용어집

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설명기호

리프팅위험

제조업체

개인부상위험

핀치위험

가압가스위험

보호접지(접지)

자상위험

일련번호

독성화학물질위험

USB 2.0 연결

자외방사선위험

볼트암페어(전력)VA

볼트(전압)V

WEEE. 장비를분류되지않은지역폐기물로폐기하지마십시오.

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E222 / 225

기호용어집

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설명기호

와트W

yyyy-mm-dd제조일자

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서223 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

기호용어집

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참고: 구성요소를식별하는데사용되는레이블이떨어진경우, FSE에게문의하십시오.

번역(해당하는경우)레이블

연구에만사용하십시오. 진단절차에사용하지마십시오.

FOR RESEARCH USE ONLY. NOT FOR USE INDIAGNOSTIC PROCEDURES.

충격표시기

민감한제품경고

참고: 표시기가트립된경우이용기가떨어졌거나잘못취급된것입니다. 선하증권에기록한뒤손상되었는지확인하십시오. 충격손상에대한청구를표시해야합니다.

충격표시기

민감한제품경고

중요!배송품을입고하기전화물운송장에트립된IMPACT-O-GRAPH 또는 TIP-N-TELL 표시등육안으로확인할수있는손상부분은모두기록하십시오.

현지 SCIEX 고객지원엔지니어에게즉시알리십시오.

IMPORTANT!

RECORD ANY VISIBLE CRATE DAMAGE, INCLUDINGTRIPPED IMPACT-O-GRAPH OR TIP-N-TELLINDICATORS, ON THE WAYBILL BEFORE ACCEPTINGSHIPMENT.

NOTIFY YOUR LOCAL SCIEX CUSTOMER SUPPORTENGINEER IMMEDIATELY.

경사표시기

참고: 용기가전복되었거나잘못취급되었는지여부를나타냅니다. 손상여부를검사하고선하증권(Bill of Lading)에기록하십시오. 모든전복클레임에는기록이요구됩니다.

TIP & TELL

경사표시기

참고: 용기가전복되었거나잘못취급되었는지여부를나타냅니다. 손상여부를검사하고선하증권(Bill of Lading)에기록하십시오. 모든전복클레임에는기록이요구됩니다.

TiltWatch PLUS

ShockWatch

시스템사용자안내서SCIEX X500 QTOF 시스템RUO-IDV-05-2334-KO-E224 / 225

D경고용어집

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번역(해당하는경우)레이블

경고: 병뚜껑이닫혀있는지확인한후작동하십시오.

참고: 이경고는소스배기폐기물병에부착되어있습니다.

WARNING: DO NOT OPERATE WITHOUT FIRSTENSURING BOTTLE CAP IS SECURED.

X500R 시스템:

경고: 들어올릴경우위험.

이장비를들어올리는데아홉명이필요합니다.

WARNING: Lifting Hazard.

NINE PERSONS REQUIRED TO LIFT THIS EQUIPMENT.

X500B 시스템:

경고: 들어올릴경우위험.

이장비를들어올리는데열명이필요합니다.

WARNING: Lifting Hazard.

TEN PERSONS REQUIRED TO LIFT THIS EQUIPMENT.

경고: 내부에는사용자가수리할수있는부품이없습니다. 수리는적격관계자에게의뢰하십시오.

참고: 사용지침을참조하십시오.

WARNING: NO USER SERVICEABLE PARTS INSIDE.REFER SERVICING TO QUALIFIED PERSONNEL.

SCIEX X500 QTOF 시스템시스템사용자안내서225 / 225RUO-IDV-05-2334-KO-E

경고용어집