xis 低エネルギー側QE pc の qe 、 xis-eu のQEの測定
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XIS 低エネルギー側QE PC の QE 、 XIS-EU のQEの測定. 林田 清、勝田哲、鳥居研一、並木雅章、白庄司貴之、他 大阪大学XISチーム. X-rays. X-rays. ガス比例計数管(PC):斜入射較正実験. 異なる入射角における比例計数管のスペクトル. 45°. 0°. 30°. Counts. PH (ch). 白庄司M論 Hayashida et al., 2004 SPIE. 2004 年1月実験の 再解析. 比例計数管の窓のメッシュ 50 m m 厚、 0.5mm ピッチ 開口率 0.763 (X 線で実測) - PowerPoint PPT PresentationTRANSCRIPT
XISXIS 低エネルギー側QE低エネルギー側QEPCPC のの QEQE 、、 XIS-EUXIS-EU のQEののQEの
測定測定
林田 清、勝田哲、鳥居研一、並木林田 清、勝田哲、鳥居研一、並木雅章、白庄司貴之、他 大阪大学X雅章、白庄司貴之、他 大阪大学X
ISチームISチーム
X-raysX-rays
ガス比例計数管(PC):斜入射較正ガス比例計数管(PC):斜入射較正実験実験
Cou
nts
PH (ch)
0° 30° 45°
異なる入射角における比例計数管異なる入射角における比例計数管のスペクトルのスペクトル
白庄司M論Hayashida et al., 2004 SPIE
20042004 年1月実験の年1月実験の再解析再解析比例計数管の窓のメッシュ比例計数管の窓のメッシュ
5050mm厚、厚、 0.5mm0.5mmピッチピッチ開口率開口率 0.763 (X0.763 (X 線で実測)線で実測)断面○ではなく□を仮定断面○ではなく□を仮定
30°/0°30°/0° とと 45°/0°45°/0° を を 同時フィット 同時フィット
X線発生装置の長期変 X線発生装置の長期変 動を補正 動を補正
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
0.2 0.4 0.6 0.8 1
cou
nt
rate
ra
tio
Ex (keV)
30°/0°
45°/0°
比例計数管の検出カウントの比
今回の結果今回の結果 窓透過率測定窓透過率測定20002000年年
ポリプロ膜厚ポリプロ膜厚 0.8960.896±0.016±0.016mm 1.49±0.031.49±0.03mm
水水 0.1960.196±0.012±0.012mm 0.17±0.020.17±0.02mm
P10P10ガス不感層ガス不感層 70.0±1.270.0±1.2mm xx
0.1
1
0.2 0.4 0.6 0.8 1
PC-QE
PC QE (2005/02/14 version)Model PCQE(Shouho)Model PCQE(Shouho extrapolation)
QE
mo
de
l
Ex (keV)
斜入射実験:今回の解析
窓透過率測定 (2000年)
比例計数管QEのモデル
斜入射法により検出効率を求めた比例計数管を斜入射法により検出効率を求めた比例計数管をリファレンス検出器としてリファレンス検出器として XISXISの検出効率を求めた。の検出効率を求めた。
比例計数管XIS2
0.01
0.1
1
0.2 0.4 0.6 0.8 1
XISEU-QE(2004Jul)XISEU-QE(2003Dec)XISEU-QE model(20050225version)
XIS
EU
-QE
Ex(keV)
今回の結果今回の結果
SiO2SiO2厚み厚み 0.3960.396±0.040±0.040mm
SiSi 厚み厚み 0.2290.229±0.026±0.026mm
Si3N4Si3N4厚み厚み 0.000±0.0070.000±0.007mm
定数ファクタ定数ファクタ 0.883±0.0310.883±0.031
0.277keVの点を除いて一定の相対重みでフィット
C-Kのデータ点モデルの 1/3以下
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.80.9
1
2
0.2 0.4 0.6 0.8 1
BI1-QE(20050214 version)BI1-QE (20050225 version)
XIS
-BI1
-QE
Ex(keV)
どうがんばっても一様吸収モデルでC-Kをあわせるのは難しい
検討課題検討課題 XIS-FMXIS-FMのの QEQE絶対値の精度は比例計数管の絶対値の精度は比例計数管の QEQEの精度で決まっている。の精度で決まっている。
ガス不感層の厚みはエネルギーによらないか?ガス不感層の厚みはエネルギーによらないか?厚みはもっともな値か?厚みはもっともな値か? PENELOPEPENELOPEによるシミュレーションをする予定によるシミュレーションをする予定
メッシュの斜入射透過率のよりよいモデルは?メッシュの斜入射透過率のよりよいモデルは?反射は効かないか?反射は効かないか?
打ち上げ後打ち上げ後 BI0BI0について斜入射実験ができればについて斜入射実験ができればベスト。ベスト。
FI-CCD,BI-CCDFI-CCD,BI-CCDともにともに 0.3keV0.3keV以下のレスポン以下のレスポンスに関してはスに関しては QEQEモデルの検討必要。モデルの検討必要。
バッドコラム その1バッドコラム その1 (1) 転送不良 Trail Column
PH22 PH7 PH0 PH2 PH11 ACTX ACTY V 25 55 381 271 1 / 668 325V 27 61 1029 4 -1 / 668 336V 30 64 1490 -2 -1 / 668 239V 24 54 1471 1 1 / 668 729V 22 62 1043 164 -2 / 668 239V 22 44 1672 1 1 / 668 221V 32 145 1316 3 0 / 668 570
<PH[7]-PH[2]> で判別可能 (e.g. >8AU)
バッドコラム その2バッドコラム その2(2) 上下漏れ出し Column
PH22 PH7 PH0 PH2 PH11 ACTX ACTY V 189 393 551 486 6 / 238 897V 4 6 1565 7 0 / 238 97V 179 353 549 346 3 / 238 798V 0 5 1548 3 2 / 238 171V 109 293 498 335 4 / 238 610V 204 394 565 459 8 / 238 919
PH[7]>SplitTH(e.g.20) && PH[2]>SplitTH(e.g.20) のイベントの割合( e.g. >0.2) で判別可能
バッドコラムその3バッドコラムその3(3) Flickerging Pixel
PH22 PH7 PH0 PH2 PH11 ACTX ACTY V 26 74 81 42 17 / 51 879V 1 5 58 1 -3 / 51 262V -1 -2 54 2 3 / 51 262V -1 3 75 1 1 / 51 262V 0 671 945 2 0 / 51 272V 1 2 1779 1 2 / 51 717
ピクセル毎のイベントの頻度で判別可能 (e.g.>0.1c/frame)
xisDLxisDL // xisreadxisread
XIStrailCorrectionXIStrailCorrectionXIStrailCheckXIStrailCheckXISareaSelectXISareaSelect
バッドコラムの数バッドコラムの数EU= 21EU= 21FI0=14, FI1=12, FI2=17,FI3=24FI0=14, FI1=12, FI2=17,FI3=24BI0=23, BI1=50BI0=23, BI1=50探す探す module=XIStrailCheckmodule=XIStrailCheck除外する除外する module=XISselectAreamodule=XISselectArea
A/IA/I
電荷もれ補正したデータで解析しなおす電荷もれ補正したデータで解析しなおす(( 京大)京大)
QEQE
やらなければいけない多くのこやらなければいけない多くのことと
打ち上げ前の試験@相模原&鹿児島打ち上げ前の試験@相模原&鹿児島鹿児島運用準備、相模原運用準備鹿児島運用準備、相模原運用準備マイクロコードの準備と管理(試験は?)マイクロコードの準備と管理(試験は?)相模原と鹿児島の相模原と鹿児島の QLQLソフトソフトバッドコラム、ホットピクセル、CTI、ゲイン管バッドコラム、ホットピクセル、CTI、ゲイン管理。そのための体制理。そのための体制
応答関数作成応答関数作成 BIBIの解析法、の解析法、 P-sum P-sum の応答、電荷漏れ補正、の応答、電荷漏れ補正、 CTICTI補正、補正、
PIPIの決定、各応答関数成分のの決定、各応答関数成分の観測者用観測者用 FITSFITSファイルのチェック、ソフトのテスファイルのチェック、ソフトのテストト
運用のもろもろ(運用のもろもろ( SAASAA前後、前後、 CTICTI、ジッター、ジッター DAC)DAC)