ზუსტ და საბუნებისმეტყველო...
DESCRIPTION
ზუსტ და საბუნებისმეტყველო მეცნიერებათა ფაკულტეტის დოქტორანტის ზურაბ ყუშიტაშვილის მოხსენება თემაზე: ,,ინტეგრალური მიკროსქემების ელემენტების შექმნის დაბალტემპერატურული ტექნოლოგიის დამუშავება’’ ხელმძღვანელი: ასოცირებული პროფესორი ამირან ბიბილაშვილი თბილისი 2013. - PowerPoint PPT PresentationTRANSCRIPT
ზუსტ და საბუნებისმეტყველო მეცნიერებათა ფაკულტეტის
დოქტორანტის ზურაბ ყუშიტაშვილის
მოხსენება თემაზე: ,,ინტეგრალური მიკროსქემების
ელემენტების შექმნის დაბალტემპერატურული ტექნოლოგიის
დამუშავება’’ხელმძღვანელი: ასოცირებული
პროფესორი ამირან ბიბილაშვილითბილისი 2013
კვლევის მიზნები
ნანოელექტრონული ხელსაწყოები ერთელექტრონიანი ტრანზისტორი რეზონანსული ტრანზისტორი
o დიდი ინტეგრაციაo მცირე სიმძლავრე
დიელექტრიკი
ივანე ჯავახიშვილის სახელობის თბილისის სახელმწიფო უნივერსიტეტი პირველი საფაკულტეტო სამეცნიერო კონფერენცია ზუსტ და საბუნებისმეტყველო
მეცნიერებებში, 22-26 იანვარი, თბილისი 2013
დიელექტრიკი უნდა იყოს
zeTxeli (5-50 nm); didi dieleqtrikuli SeRwevadobiT,kulonuri blokadis Zabvis dabali mniSvnelobiთuwyveti;udefeqto, minarevebis gareSe gare faqtorebis mimarT stabiluri.
ივანე ჯავახიშვილის სახელობის თბილისის სახელმწიფო უნივერსიტეტი პირველი საფაკულტეტო სამეცნიერო კონფერენცია ზუსტ და საბუნებისმეტყველო
მეცნიერებებში, 22-26 იანვარი, თბილისი 2013
სტანდარტული ტექნოლოგია
მაღალი ტემპერატურა (900÷11000C)არასასურველი მინარევების დიფუზიაფორიანობის გაზრდადიფუზიური პროფილის განრთხმასაფენთან ადგეზიის გაუარესება
ივანე ჯავახიშვილის სახელობის თბილისის სახელმწიფო უნივერსიტეტი პირველი საფაკულტეტო სამეცნიერო კონფერენცია ზუსტ და საბუნებისმეტყველო
მეცნიერებებში, 22-26 იანვარი, თბილისი 2013
პლაზმური ანოდირების უპირატესობები
დაბალტემპერატურული ტექნოლოგია (300÷4000C)მიღებული ფირები არ შეიცავენ მინარევებსოქსიდების ზედაპირი არის დაცული იონების
ბომბარდირებისაგანმიიღება მაღალი ხარისხის ფიზიკური და ქიმიური
თვისებების დიელექტრიკიმშრალი პროცესინიმუშის ზედაპირის პლაზმური გაწმენდის შესაძლებლობათხელი ფირების მიღება (5÷50ნმ)
ივანე ჯავახიშვილის სახელობის თბილისის სახელმწიფო უნივერსიტეტი პირველი საფაკულტეტო სამეცნიერო კონფერენცია ზუსტ და საბუნებისმეტყველო მეცნიერებებში,
22-26 იანვარი, თბილისი 2013
პლაზმური ანოდირების პროცესი
1-xufi;2-anodi;3-kaTodi;4-samiznis kontaqti;5-nimuSi;6-plazmis damWeri;7-Termowyvilis gamomyvanebi;8-ultraiisferi dasxivebis wyaro;9-nimuSis gamaxurebeli.
ივანე ჯავახიშვილის სახელობის თბილისის სახელმწიფო უნივერსიტეტი პირველი საფაკულტეტო სამეცნიერო კონფერენცია ზუსტ და საბუნებისმეტყველო
მეცნიერებებში, 22-26 იანვარი, თბილისი 2013
პლაზმური ანოდირების დანადგარი
ივანე ჯავახიშვილის სახელობის თბილისის სახელმწიფო უნივერსიტეტი პირველი საფაკულტეტო სამეცნიერო კონფერენცია ზუსტ და საბუნებისმეტყველო მეცნიერებებში,
22-26 იანვარი, თბილისი 2013
Si როგორც საბაზისო მასალა
კარგად შესწავლილი ფიზიკური და ქიმიური თვისებები
იაფიმაღალი ხარისხის საკუთარი ჟანგიმესერის პარამეტრების კარგი თანხვედრამიღებული ოქსიდის სისქეები (5÷50ნმ)
ივანე ჯავახიშვილის სახელობის თბილისის სახელმწიფო უნივერსიტეტი პირველი საფაკულტეტო სამეცნიერო კონფერენცია ზუსტ და საბუნებისმეტყველო
მეცნიერებებში, 22-26 იანვარი, თბილისი 2013
ექსპერიმენტი
მეტალების თერმული დაფენა
ივანე ჯავახიშვილის სახელობის თბილისის სახელმწიფო უნივერსიტეტი პირველი საფაკულტეტო სამეცნიერო კონფერენცია ზუსტ და საბუნებისმეტყველო
მეცნიერებებში, 22-26 იანვარი, თბილისი 2013
ექსპერიმენტი
dasaJangi masalis zedapirze iSviaTmiwaTa elementis (Y) Txeli fenის ელექტრონულ-სხივური დაფენა
ივანე ჯავახიშვილის სახელობის თბილისის სახელმწიფო უნივერსიტეტი პირველი საფაკულტეტო სამეცნიერო კონფერენცია ზუსტ და საბუნებისმეტყველო
მეცნიერებებში, 22-26 იანვარი, თბილისი 2013
ექსპერიმენტი
პლაზმური ანოდირება
ივანე ჯავახიშვილის სახელობის თბილისის სახელმწიფო უნივერსიტეტი პირველი საფაკულტეტო სამეცნიერო კონფერენცია ზუსტ და საბუნებისმეტყველო
მეცნიერებებში, 22-26 იანვარი, თბილისი 2013
ექსპერიმენტი
Y-ის ქიმიური მოხსნა
ივანე ჯავახიშვილის სახელობის თბილისის სახელმწიფო უნივერსიტეტი პირველი საფაკულტეტო სამეცნიერო კონფერენცია ზუსტ და საბუნებისმეტყველო
მეცნიერებებში, 22-26 იანვარი, თბილისი 2013
მომავალი გეგმები
უნდა შეირჩეს ორმაგი ზეთხელი ოქსიდური ფირები, მაგალითად
SiO2 და SiOxNy (Ɛ ~ 4 – 7) პატარა Ɛ-ით;
HfO2, TiO2, SiHfO და SiTiO (Ɛ ~25-30) დიდი Ɛ-ით; და მათი თანაფარდობები სისქის მიხედვით
ივანე ჯავახიშვილის სახელობის თბილისის სახელმწიფო უნივერსიტეტი პირველი საფაკულტეტო სამეცნიერო კონფერენცია ზუსტ და საბუნებისმეტყველო
მეცნიერებებში, 22-26 იანვარი, თბილისი 2013
მადლობა ყურადღებისთვის