27p-p3-20 基板表面エネルギー変調による有機半導体薄膜の …surface-27p-p3-20...

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選択成長機構の考察 まとめ 基板表面エネルギーの比較 PMMA成膜基板上の水滴 SiO x 基板上の水滴 PMMA成膜基板とSiO x 基板の表面エネルギーの違い PMMA成膜基板とSiO x 基板の「濡れ性」の違い 「濡れ性」悪い 「濡れ性」良い CuPc蒸着 C 60 蒸着 PMMA成膜基板上 SiO x 基板上 いずれも(2µm × 2µm) 0 13nm 0 9nm 0 20nm 0 27nm 基板温度:170 蒸着時間:2時間 基板温度:100 蒸着時間:1時間 基板表面によるドメイン形状の違い 27p-P3-20 基板表面エネルギー変調による有機半導体薄膜の縞状位置選択成長 埼玉大院理工 ,東大院新領域 川端ちひろ ,斉木幸一朗 上野啓司 E-mail:[email protected] 位置選択成長による有機面内ヘテロ接合の形成 有機半導体デバイス 不純物ドープ,リソグラフィー法の適用が困難 「接合」形成は,薄膜積層方向に限られている 有機EL構造 陰極 電子輸送層 陽極 正孔輸送層 発光層 有機太陽電池構造 ITO Al pni負荷 有機半導体素子における面内ヘテロ接合の必要性 ソース ドレイン 有機半導体 絶縁体 ゲート 有機FET構造 薄膜成長方向ではなく,面内で接合形成できれば・・・ 電荷移動が有利な有機垂直配向薄膜の面内でヘテロ接合 新奇素子作製へ応用 同一基板上への異種有機半導体分子蒸着 基板温度:170 蒸着時間:2時間 CuPc蒸着 C 60 蒸着 基板温度:100 蒸着時間:0.5時間 CuPcの帯状ドメイン の隙間を埋めるように C 60 ドメインが形成! 3µm 5.4nm 400nm 0 24nm 0 30nm PMMA洗浄後ステップバンチSi基板 C 60 蒸着 基板温度:100 蒸着時間:2.5時間 CuPcのドメイン間隙を埋めるようにC 60 ドメインが成長 長時間C 60 を蒸着することにより,面内ヘテロ接合の形成!? 3µm 0 30nm 0 42nm 同一基板上への異種有機半導体分子蒸着 ステップバンチSi基板を用いた表面エネルギーの縞状変調 ステップバンチ基板上への縞状変調構造形成 ステップバンチSi基板を作製 PMMA膜を成膜 紫外線照射 PMMAがステップバンチ基板の 凹部にのみ残存 ステップバンチ基板 PMMAスピンコート処理 PMMA SiO x 現像処理 PMMA膜の表面を露光 UV露光PMMAステップバンチSi基板上へのC 60 蒸着 基板温度:140 ℃→210 蒸着時間:0.5時間→1時間 基板温度:140 ℃→210 蒸着時間:0.5時間→2時間 C 60 ドメインがステップバンチの凹部に選択的に成長 3µm 3µm 0 28nm 0 48nm 1µm 1µm UV露光PMMAステップバンチSi基板へのCuPc蒸着 基板温度:140 蒸着時間:1時間 基板温度:170 蒸着時間:1時間 基板温度:170 蒸着時間:2時間 CuPcドメインがステップバンチの 凸部(SiO x 部分)に選択成長 0 16nm 1µm 0 16nm 0 20nm Si 基板 PMMA薄膜 <断面図> <表面図> 残存したPMMA 有機薄膜の縞状選択成長と面内ヘテロ接合形成 ステップバンチSi基板の作製 PMMA 膜を成膜 C 60 紫外線露光によりPMMA 位置選択的に除去 CuPc C 60 ドメイン CuPcドメイン SiO x 面内へテロ構造の形成! 研究目的 1.[112]方向に微傾斜したSi(111)基板を5 mm×10 mmの大きさに切り出し洗浄 2.真空装置内において650 ℃程度で通電加熱 3.超高真空下(3×10 -8 Pa)で基板を1250 ℃まで瞬間的に加熱(フラッシュ) 4.930 ℃で基板をアニール後,一定のレートで基板温度を降下 Si表面は1×1テラスと等間隔なステップ Si表面の再構成 平坦な7×7テラスとバンチしたステップからなる周期構造(ステップバンチ 構造)の形成 ステップバンチSi基板の作製方法 微傾斜角度 ステップバンチ (7 × 7)テラス [112] [110] 基板温度降下 ステップバンチ構造 8.0nm 400nm 400nm 1.6nm 3 ℃/分 30 /150 ℃/秒 基板温度の降下速度が速い:ステップバンチは起こりにくい 5.2nm 400nm Si(111)4°off 基板をフラッシュ後,異なる速さで基板温度を降下 基板温度の降下速度による形状の違い 1µm PMMAが縞状に被覆した ステップバンチ Si表面 で, CuPcドメインとC 60 ドメインを位置選択的に縞状成長さ せることに 成功した。 単一面内での有機薄膜ヘテロ接合形成 PMMA上とSiO x 上の表面エネルギーの違い 配向有機薄膜で超格子構造を作製 垂直配向膜 面内 pn接合を形成 れば,電荷がより円滑 に移動できる! より効率 の高い 有機太陽電池デバイス <M.Hiramoto et al, Appl.Phys.Lett. 2006,88,213105> p-i-n:高効率だが,i層内で電 荷移動が阻害 超格子型:光照射により生成した 正孔・電子がp層,n層内を円滑 に移動 面内有機へテロ接合の応用例 Metal electrode Metal electrode h h e - e - i従来の有機太陽電池構造 超格子構造の有機太陽電池構造 ITO Al pn負荷 基板の微傾斜角度による形状の違い Si(111) 1.5°off Si(111) 7°off Si(111) 4°off 400nm 4.5nm 8.0nm 9.4nm 微傾斜角度の大きい基板ほど幅の狭いテラスが形成 微傾斜角度の異なるSi(111)基板を用いてステップバンチ基板を作製 400nm 400nm 1µm 紫外線照射によるPMMAの選択的除去 8.0 400nm 1µm 0 2nm PMMA成膜基板 ステップバンチSi基板 Si(111) 4°off使用) スピンコート 重量% 濃度: 1 % 回転数[rpm]8000 回転時間[s]30 nm 現像処理 紫外線照射 紫外線2分間照射 露光時間により表面構造が変化 1µm 7.7nm 400nm 7.8 400nm 紫外線5分間照射 紫外線1分間照射 1 µm nm 5µm 10.1 nm 1µm 紫外線照射によるPMMAの選択的除去 垂直配向膜 垂直配向膜による 面内ヘテロ接合

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Page 1: 27p-P3-20 基板表面エネルギー変調による有機半導体薄膜の …surface-27p-P3-20 基板表面エネルギー変調による有機半導体薄膜の縞状位置選択成長

選択成長機構の考察 まとめ

基板表面エネルギーの比較

PMMA成膜基板上の水滴 SiOx基板上の水滴

→PMMA成膜基板とSiOx基板の表面エネルギーの違い

PMMA成膜基板とSiOx基板の「濡れ性」の違い

「濡れ性」悪い 「濡れ性」良い

CuPc蒸着

C60蒸着

PMMA成膜基板上 SiOx基板上

いずれも(2µm × 2µm)

0 13nm 0 9nm

0 20nm 0 27nm

基板温度:170 ℃蒸着時間:2時間

基板温度:100 ℃蒸着時間:1時間

基板表面によるドメイン形状の違い

27p-P3-20 基板表面エネルギー変調による有機半導体薄膜の縞状位置選択成長 埼玉大院理工1,東大院新領域2 川端ちひろ1,斉木幸一朗2,○上野啓司1

E-mail:[email protected]

位置選択成長による有機面内ヘテロ接合の形成

有機半導体デバイス

不純物ドープ,リソグラフィー法の適用が困難

→「接合」形成は,薄膜積層方向に限られている

有機EL構造

陰極

電子輸送層

陽極

正孔輸送層

発光層

有機太陽電池構造

ITO

Al

p層

n層

i層負荷

有機半導体素子における面内ヘテロ接合の必要性

ソース ドレイン

有機半導体

絶縁体

ゲート

有機FET構造

薄膜成長方向ではなく,面内で接合形成できれば・・・

電荷移動が有利な有機垂直配向薄膜の面内でヘテロ接合

新奇素子作製へ応用

同一基板上への異種有機半導体分子蒸着

基板温度:170 ℃蒸着時間:2時間

CuPc蒸着

C60蒸着

基板温度:100 ℃蒸着時間:0.5時間

CuPcの帯状ドメインの隙間を埋めるようにC60ドメインが形成!

3µm

5.4nm

400nm

0 24nm

0 30nm

PMMA洗浄後ステップバンチSi基板

C60蒸着

基板温度:100 ℃蒸着時間:2.5時間

CuPcのドメイン間隙を埋めるようにC60ドメインが成長

長時間C60を蒸着することにより,面内ヘテロ接合の形成!?

3µm

0 30nm 0 42nm

同一基板上への異種有機半導体分子蒸着ステップバンチSi基板を用いた表面エネルギーの縞状変調

ステップバンチ基板上への縞状変調構造形成

ステップバンチSi基板を作製

PMMA膜を成膜

紫外線照射

PMMAがステップバンチ基板の凹部にのみ残存

ステップバンチ基板

PMMA膜

スピンコート処理

PMMA

SiOx

現像処理

PMMA膜の表面を露光

UV露光PMMAステップバンチSi基板上へのC60蒸着

基板温度:140 ℃→210 ℃蒸着時間:0.5時間→1時間

基板温度:140 ℃→210 ℃蒸着時間:0.5時間→2時間

C60ドメインがステップバンチの凹部に選択的に成長

3µm

3µm

0 28nm

0 48nm

1µm1µm

UV露光PMMAステップバンチSi基板へのCuPc蒸着

基板温度:140 ℃蒸着時間:1時間

基板温度:170 ℃蒸着時間:1時間

基板温度:170℃蒸着時間:2時間

CuPcドメインがステップバンチの凸部(SiOx部分)に選択成長

0 16nm

1µm

0 16nm 0 20nm

Si基板 PMMA薄膜<断面図>

<表面図>

残存したPMMA

有機薄膜の縞状選択成長と面内ヘテロ接合形成

ステップバンチSi基板の作製 PMMA膜を成膜

C60紫外線露光によりPMMAを位置選択的に除去

CuPc

C60ドメイン

CuPcドメインSiOx

面内へテロ構造の形成!

研究目的

1.[112]方向に微傾斜したSi(111)基板を5 mm×10 mmの大きさに切り出し洗浄

2.真空装置内において650 ℃程度で通電加熱

3.超高真空下(3×10-8 Pa)で基板を1250 ℃まで瞬間的に加熱(フラッシュ)

4.930 ℃で基板をアニール後,一定のレートで基板温度を降下

→Si表面は1×1テラスと等間隔なステップ

→Si表面の再構成→平坦な7×7テラスとバンチしたステップからなる周期構造(ステップバンチ構造)の形成

ステップバンチSi基板の作製方法

微傾斜角度

ステップバンチ

(7 × 7)テラス[112]

[110]

基板温度降下

ステップバンチ構造

8.0nm

400nm400nm1.6nm

3 ℃/分30 ℃/分150 ℃/秒

基板温度の降下速度が速い:ステップバンチは起こりにくい

5.2nm400nm

Si(111)4°off基板をフラッシュ後,異なる速さで基板温度を降下

基板温度の降下速度による形状の違い

1µm

PMMAが縞状に被覆したステップバンチSi表面で,CuPcドメインとC60ドメインを位置選択的に縞状成長させることに成功した。

単一面内での有機薄膜ヘテロ接合形成

PMMA上とSiOx上の表面エネルギーの違い

配向有機薄膜で超格子構造を作製

垂直配向膜の面内でpn接合を形成すれば,電荷がより円滑に移動できる!

より効率の高い有機太陽電池デバイス

<M.Hiramoto et al, Appl.Phys.Lett.2006,88,213105>

p-i-n型:高効率だが,i層内で電荷移動が阻害

超格子型:光照射により生成した正孔・電子がp層,n層内を円滑に移動

面内有機へテロ接合の応用例

Metal electrode

Metal electrode

h+ h+e- e-

i層

従来の有機太陽電池構造

超格子構造の有機太陽電池構造

ITO

Al

p層

n層負荷

基板の微傾斜角度による形状の違い

Si(111) 1.5°off Si(111) 7°offSi(111) 4°off

400nm4.5nm

8.0nm 9.4nm

微傾斜角度の大きい基板ほど幅の狭いテラスが形成

微傾斜角度の異なるSi(111)基板を用いてステップバンチ基板を作製

400nm 400nm

1µm

紫外線照射によるPMMAの選択的除去

8.0

400nm

1µm

0 2nm

PMMA成膜基板ステップバンチSi基板

(Si(111) 4°off使用)

スピンコート

重量%濃度:1 %回転数[rpm]:8000回転時間[s]:30

nm

現像処理紫外線照射

紫外線2分間照射

露光時間により表面構造が変化

1µm

7.7nm

400nm

7.8

400nm

紫外線5分間照射紫外線1分間照射

1 µm

nm

5µm

10.1nm

1µm紫外線照射によるPMMAの選択的除去

垂直配向膜

垂直配向膜による

面内ヘテロ接合