ห้องปฏิบัติการฟิสกสิ ......ppl-fluorescence spectrometer 500...

รหัส ชื�อภาษาไทย ชื�อภาษาองักฤษ ราคา (บาท)

หน่วยนับ (T)

500658PPL-RHEO-คา่บรกิารวเิคราะหโ์ดย Capillary rheometer (PP,PE)

PPL-RHEO-Capillary rheometer (PP, PE) 1,000 ตวัอยา่ง

500659 PPL-RHEO-คา่บรกิารวเิคราะหโ์ดย Rotational rheometer (PP, PE)

PPL-RHEO-Rotational rheometer (PP, PE) 1,000 ตวัอยา่ง

500661 PPL-RHEO-คา่เตรยีมตัวอยา่ง (ตัด) PPL-RHEO-Sample preparation (cut) 150 ชิ�นงาน

500663PPL-RHEO-คา่บรกิารวเิคราะหโ์ดย Capillary rheometer (Engineering plastics)

PPL-RHEO-Capillary rheometer (Engineering plastics) 1,500 ตวัอยา่ง

500664PPL-RHEO-คา่บรกิารวเิคราะหโ์ดย Rotational rheometer (Engineering plastics)

PPL-RHEO-Rotational rheometer (Engineering plastics) 1,500 ตวัอยา่ง

500665 PPL-RHEO-คา่วเิคราะหด์ว้ย Viscosity model PPL-RHEO- Viscosity model 1,500 โมเดล

500666 PPL-RHEO-คา่วเิคราะหห์า MW & MWD PPL-RHEO-MW & MWD analysis 2,500 ตวัอยา่ง

500667 PPL-RHEO-คา่วเิคราะหห์า Relaxation spectrum

PPL-RHEO-Relaxation spectrum calculation 2,500 ตวัอยา่ง

500668 PPL-RHEO-การทดสอบที�ตํ�ากวา่อณุหภมูหิอ้ง (ไนโตรเจนเหลว)

PPL-RHEO-Test at sub ambient temperature (Liquid Nitrogen) 1,000 การทดสอบ

500669 PPL-RHEO-การทดสอบในบรรยากาศไนโตรเจน (ไนโตรเจนเหลว)

PPL-RHEO-Test under nitrogen atmosphere (Liquid Nitrogen) 1,000 การทดสอบ

500670 PPL-RHEO-หัววดัสาํหรับตวัอยา่งที�มีฤทธิ�กดักร่อน

PPL-RHEO-fixture for abrasive/corosive sample 1,000 คู่

500671 PPL-RHEO-หัววดัสาํหรับตวัอยา่งจําพวกเทอรโมเซ็ต PPL-RHEO-fixture for thermosets 1,000 คู่

500675 PPL-RHEO-คา่เตรยีมแผน่ตวัอยา่ง (Compression molding)

PPL-RHEO-sample preparation (Compression molding) 300 แผน่

500676 PPL-RHEO-คา่บรกิารวเิคราะหโ์ดย ARES

PPL-RHEO-Analysis using ARES software 1,500 ตวัอยา่ง

500680 PPL-คา่บรกิารวเิคราะหป์รมิาณธาต ุCHN (เร่งดว่น) PPL-CHN Analysis (Fast rate) 20,000 ตวัอยา่ง

500681 PPL-คา่บรกิารวเิคราะหป์รมิาณธาต ุCHNS (เร่งดว่น) PPL-CHNS Analysis (Fast rate) 34,000 ตวัอยา่ง

501841 PPL-คา่บรกิารวเิคราะหป์รมิาณธาต ุCHN (เร่งดว่น) 10 ตวัอยา่งขึ�นไป

PPL-CHN Analysis (Fast rate, more than 10 samples) 1,500 ตวัอยา่ง

501843 PPL-คา่บรกิารวเิคราะหป์รมิาณธาต ุCHS (เร่งดว่น) 10 ตวัอยา่งขึ�นไป

PPL-CHNS Analysis (Fast rate, more than 10 samples) 2,400 ตวัอยา่ง

503332 PPL-RHEO-คา่บรกิารวเิคราะห ์Extensional Viscosity PPL-RHEO- Extensional Viscosity 1,500 ตวัอยา่ง

503396 PPL-RHEO-คา่บรกิารวเิคราะห ์melt strength โดย Capillary rheometer

PPL-RHEO-Capillary rheometer-melt strength 1,500 ตวัอยา่ง

หอ้งปฏบิตักิารฟิสกิสโ์พลเิมอร ์( PPL )

504094 PPL-คา่บรกิารวเิคราะหด์ว้ยเครื�อง Fluorescence Spectrometer PPL-Fluorescence Spectrometer 500 ตวัอยา่ง

504180PPL-RHEO-การวเิคราะหด์ว้ยเทคนคิ compression indentation/shear (ตวัอยา่งละไมเ่กนิ 5 ซํ�า)

PPL-RHEO-compression indentation/shear test (5 specimens/sample)

500 ตวัอยา่ง

504181PPL-RHEO-การวเิคราะหด์ว้ยเทคนคิ texture profile analysis (TPA) (ตวัอยา่งละไมเ่กนิ 5 ซํ�า)

PPL-RHEO-texture profile analysis (TPA) (5 specimens/sample) 750 ตวัอยา่ง

504409PPL-RHEO-คา่บรกิารวเิคราะหโ์ดย Capillary rheometer สาํหรับตวัอยา่งอาหาร

PPL-RHEO-Capillary rheometer for food 1,500 ตวัอยา่ง

504410PPL-RHEO-คา่บรกิารวเิคราะหโ์ดย Rotational rheometer สาํหรับตวัอยา่งอาหาร

PPL-RHEO-Rotational rheometer for food 1,500 ตวัอยา่ง

504451PPL-RHEO-คา่ทดสอบ Dynamic stress sweep

PPL-RHEO-Dynamic stress sweep 1,000 ตวัอยา่ง

504462 PPL-RHEO-คา่ทดสอบ Dynamic frequency sweep PPL-RHEO-Dynamic frequency sweep 1,000 ตวัอยา่ง

504463 PPL-RHEO-คา่ทดสอบ rotational shear rate sweep

PPL-RHEO-rotational shear rate sweep 1,000 ตวัอยา่ง

504464 PPL-RHEO-คา่เตรยีมตวัอยา่ง สาํหรับเทคนคิ TPA PPL-RHEO-sample preparation-TPA 100 ตวัอยา่ง



500649 PTL-FLAM-การทดสอบการลามไฟตามมาตรฐาน UL 94

PTL-FLAM-Flammability Test (Standard UL 94) 3,000 ชดุ

500650 PTL-FLAM การทดสอบการลามไฟ (ตามมาตราฐาน FMVSS 302)

PTL-FLAM-Flammability Test (FMVSS 302) 4,000 ชดุ

500651 PTL-FLAM-การทดสอบการลามไฟ PTL-FLAM-Flammability Test 2,300 ชดุ

500652 PTL-FLAM-การทดสอบการลามไฟ (กรณีเร่งดว่นภายใน 3 วนัทําการ)

PTL-FLAM-Flammability Test (Fast Rate) 4,000 ชดุ

500653 PTL-FLAM-คา่เตรยีมชิ�นงานสาํหรับทดสอบ PTL-FLAM-Specimen Preparations 150 ชิ�นงาน

500654 PTL-FLAM-คา่จัดทํารายงานเพิ�ม PTL-FLAM-Additional Report 500 ฉบบั

500655 PTL-FLAM-การขึ�นรูปดว้ยเทคนคิ Compression

PTL-FLAM-Compression Molding Technique 500 ชั�วโมง

500656 PTL-FLAM-คา่อบตวัอยา่ง PTL-FLAM-Dry and Condition in Hot Air Oven 100 ชั�วโมง

500657 PTL-FLAM-คา่เตรยีมตวัอยา่งโดยเทคนคิการผสม PTL-FLAM-Compounding Techniques 800 ชั�วโมง

504677 PTL-FLAM-Injection Molding PTL-FLAM-Injection Molding 750 ชั�วโมง

500638 PTL-PEG-Internal mixer PTL-PEG-Internal mixer 800 ชั�วโมง

หอ้งปฏบิตักิารเทคโนโลยพีลาสตกิ (PTL)

500639 PTL-PEG-Single screw extruder PTL-PEG-Single screw extruder 800 ชั�วโมง

500640 PTL-PEG-Hot press PTL-PEG-Hot press 300 ชั�วโมง

500641 PTL-PEG-คา่อบแหง้วตัถดุบิ PTL-PEG-คา่อบแหง้วตัถดุบิ 300 ครั�ง

500642 PTL-PEG-คา่เตรยีมตวัอยา่งแบบ Compression Molding

PTL-PEG-คา่เตรยีมตวัอยา่งแบบ Compression Molding 150 ชิ�น

500643 PTL-PEG-คา่เตรยีมชิ�นงานแบบ Engineering plastics

PTL-PEG-Preparation Engineering plastics 1,000 ชิ�น

500846 PTL-PEG-คา่จัดทํารายงาน PTL-PEG-Report 500 ฉบบั

503157 PTL-PEG-คา่เตรยีมตวัอยา่ง PTL-PEG-Sample preparation 150 ชิ�น

503327 PTL-PEG-Injection molding(ASTMD792,D638,D790)

PTL-PEG-Injection molding (ASTMD792,D638,D790) 750 ชั�วโมง

500974 PTL-ทดสอบ CO2 TR และใหค้ําปรกึษา PTL-CO2 TR Analysis 1,500 ตวัอยา่ง

500976 PTL-ทดสอบคา่ WVTR และให ้คําปรกึษา PTL-WVTR Analysis 1,500 ตวัอยา่ง

500982 PTL-ทดสอบคา่OTR และใหค้ําปรกึษา PTL-OTR analysis 1,500 ตวัอยา่ง

005183 PTL-เครื�องมอื Twin-screw extruder, JSW (ขั �นตํ�า 8 ชั�วโมง)

PTL-Twin-screw extruder, JSW (minimum 8 hour) 1,800 ชั�วโมง

005184 PTL-เครื�องมอื Internal mixer/Single-screw extruder, Haake

PTL-Internal mixer/Single-screw extruder, Haake 800 ชั�วโมง

005185 PTL-เครื�องมอื Co-Extruder, Collin (ขั �นตํ�า 8 ชั�วโมง)

PTL-Co-Extruder, Collin (minimum 8 hour) 1,800 ชั�วโมง

005186 PTL-เครื�องมอื Biaxial Film Stretching Machine, KARO (ขั �นตํ�า 8 ชั�วโมง)

PTL-Biaxial Film Stretching Machine, KARO (minimum 8 hour) 4,000 ชั�วโมง



500193 LWE-คา่สแกน LWE-Scan 1,200 ชั�วโมง

500194 LWE-คา่ทํา Solid Model LWE-Solid Model 600 ชั�วโมง

500195 LWE-คา่ทํา Drawing LWE-Drawing 600 ชั�วโมง

500196 LWE-คา่ทํา Surface LWE-Surface 600 ชั�วโมง

500197 LWE-คา่ทํา CAD Model LWE-CAD Model 600 ชั�วโมง



505076CJT-ทดสอบการยดึเกาะของผวิเคลอืบฟิลม์บาง (เซรามกิส)์ ดว้ย Scratch test (ทดสอบคา่ 1 คา่)

CJT-Scratch test (1 data reported)800 จดุ

505077

CJT-ทดสอบการยดึเกาะของผวิเคลอืบฟิลม์บาง (เซรามกิส)์ ดว้ย Scratch test (3 ชั�วโมง ทดสอบ 3 คา่ และผลการทดสอบคา่เฉลี�ย)

CJT-Scratch twst (3 dats reported)

2,000 ชิ�น

505078CJT-รายงานภาษาไทยพื�นฐาน (ชิ�นงานไมเ่กนิ 5 ชิ�น)

CJT-Report (for <5 test pieces)5,000 ฉบบั

505084CJT-รายงานภาษาองักฤษราคาพื�นฐาน (ชิ�นงานเกนิ 5 ชิ�น)

CJT-Report in English (for >5 test pieces) 7,000 ฉบบั

505085CJT-รายงาน (ชิ�นงานมากกวา่ 5 ชิ�น) ราคาเพิ�มขึ�นจากราคาพื�นฐาน

CJT-Report in Thai or English (for >5 test pieces) Base rates for <5 pieces, plus each additional piece

500 ชิ�น



500449FACT-คา่ตดัชิ�นงานดว้ยลวดไฟฟ้า (Wire Cutting)

FACT-Wire Cutting40 ตร.มม.

500450FACT-คา่ตรวจสอบการไหลตวั (Flowline)

FACT-Macro flowline assesment of forged specimen 2,500 ตวัอยา่ง

500451FACT-1 คา่ตรวจสอบดว้ยเทคนคิการลอกลาย (Replica Testing)

FACT-Material evaluation with replica technique 2,500 จดุ

500452FACT-2 คา่ตรวจสอบดว้ยเทคนคิการลอกลาย (Replica Testing)

FACT-Material evaluation with replica technique 3,000 จดุ

500453FACT-1 คา่รายงานผลการวเิคราะหก์ารลอกลายพรอ้มรายงาน

FACT-Full report of replica testing5,000 ฉบบั

500454FACT-2 คา่รายงานผลการวเิคราะหก์ารลอกลายพรอ้มรายงาน

FACT-Full report of replica testing10,000 ฉบบั

500457FACT-OM คา่วเิคราะหล์กัษณะทางกายภาพดว้ย OM

FACT-Visual inspection with OM1,000 ชั�วโมง

หอ้งปฏบิตักิารเทคโนโลยกีารเคลอืบผวิและการประสาน ( CJT )

หอ้งปฏบิตักิารวศิวกรรมนํ �าหนกัเบา ( LWE )

หอ้งปฏบิตักิารวเิคราะหค์วามเสยีหายและเทคโนโลยกีารกดักรอ่น ( FACT )

500458FACT-SEM คา่วเิคราะหล์กัษณะทางกายภาพดว้ย SEM

FACT-Visual inspection with SEM2,000 ชั�วโมง

500459FACT-M คา่วเิคราะหผ์วิหนา้แตกหัก/ผวิหนา้ กดักร่อนแบบมหภาค

FACT-Macrofractography1,000 ชั�วโมง

500460FACT-S คา่วเิคราะหผ์วิหนา้แตกหัก/ผวิหนา้ ดว้ย SEM

FACT-Microfractography2,000 ชั�วโมง

500462FACT-E คา่วเิคราะหผ์ลติภัณฑก์ารกดักร่อน/ธาตผุสมดว้ย EDS

FACT-Corrosion product analysis (Quantitative) with an EDS 1,000 จดุ

500463FACT-คา่วเิคราะหด์ว้ย EDS ดว้ยเทคนคิ Maping/Line scan

FACT-EDS (Maping/Line scan)2,500 ตําแหน่ง

500464FACT-1 คา่วเิคราะหท์ดสอบพฤตกิรรมการกดักร่อน

FACT-Corrosion behavior measurement (Potentiostat/Galvanostat)

3,000 การทดสอบ

500465FACT-2 คา่วเิคราะห/์ทดสอบพฤตกิรรมการกดักร่อนแบบหมอกเกลอื (>200 ชั�วโมง)

FACT-Salt spray testing according to (>200 hour) 75 ชั�วโมง

005627FACT-2 คา่วเิคราะห/์ทดสอบพฤตกิรรมการกดักร่อนแบบหมอกเกลอื (50-200 ชั�วโมง)

FACT-Salt spray testing according to (50-200 hour) 100 ชั�วโมง

005628FACT-2 คา่วเิคราะห/์ทดสอบพฤตกิรรมการกดักร่อนแบบหมอกเกลอื (นอ้ยกวา่ 50 ชั�วโมง)

FACT-Salt spray testing according to (<50 hour) 150 ชั�วโมง

500466FACT-3 คา่วเิคราะห/์ทดสอบพฤตกิรรมการกดักร่อนแบบจมุแช่

FACT-Immersion Testing5,000 ตวัอยา่ง

500471FACT-คา่ตรวจสอบจดุบกพร่องภายในของวสัดดุว้ยการฉายรังสเีอ็กซ์

FACT-Determination of material defect2,500 ชั�วโมง

005629FACT-คา่ตรวจสอบจดุบกพร่องภายในของวสัดดุว้ยการฉายรังสเีอ็กซ ์(>50 ชั�วโมง)

FACT-Determination of material defect (>50 hour) 2,000 ชั�วโมง

500472FACT-คา่ทดสอบความแข็งแบบเคลื�อนที� 3-5 จดุ

FACT-Portable hardness testing 3-5 point 1,000 ตวัอยา่ง

500473FACT-คา่ทดสอบความแข็งแบบจลุภาค 10 จดุ

FACT-Micro-hardness testing 10 point2,000 ตวัอยา่ง

500474FACT-คา่ทดสอบความลกึผวิแข็ง (Case Depth)

FACT-Case depth measurement2,500 ตวัอยา่ง

500475FACT-วเิคราะหส์ว่นผสมทางเคมขีองชิ�นสว่นที�เสยีหายเทยีบกบัมาตรฐาน

FACT-Chemical composition analysis of 2,500 ตวัอยา่ง

500476 FACT-คา่ตรวจสอบชนดิสารประกอบของผลติภัณฑก์ารกดักร่อนดว้ย XRD

FACT-Corrosion product anaysis with XRD 2,500 ตวัอยา่ง

500477FACT-คา่ตรวจสอบธาตอุงคป์ระกอบและปรมิาณของผลติภัณฑก์ารกดักร่อนดว้ย XRD

FACT-Corrosion product anaysis with XRF 2,500 ตวัอยา่ง

500478 FACT-คา่อธบิายผลการทดสอบ FACT-Explaination of tested data 3,000 ฉบบั

500479 FACT-ตรวจสอบหนา้งาน (Onsite investigation) FACT-Onsite investigation 20,000 วนั

500482 FACT-TH1 ผลการวเิคราะหพ์รอ้มรายงานฉบบัสมบรูณ ์LV1 TH

FACT-Data analysis and report of failure 2,000 ฉบบั









500487 FACT-EN1 ผลการวเิคราะหพ์รอ้มรายงานฉบบัสมบรูณ ์LV1 EN










500492 FACT-EN6 ผลการวเิคราะหพ์รอ้มรายงานฉบบัสมบรูณ ์LV6 E

FACT-Data analysis and report of failure analysis job LV6 EN 20,000 ฉบบั

501356 FACT-คา่ตรวจสอบการนําไฟฟ้าของสารละลาย (Solution Conductivity)

FACT- Solution Conductivity measurement of solution 1,000 ตวัอยา่ง

501359 FACT-คา่เตรยีมชิ�นงานเพื�อการวเิคราะห์ L1 FACT-Preparation for testing L1 1,000 ชิ�น



005633 FACT-คา่เตรยีมชิ�นงานเพื�อการวเิคราะห์ L4 FACT-Preparation for testing L4 10,000 ชั�วโมง

502013 FACT-คา่ทดสอบแรงดงึ FACT-Tensile Test 1,500 ตวัอยา่ง

502198 FACT-คา่ทดสอบแรงกระแทก FACT-Impact Test 1,800 ตวัอยา่ง

502208 FACT-คา่ปฏบิตังิานนอกสถานที� ตอ่คนตอ่วนั FACT-On site investigation 2,000 วนั

502209 FACT-คา่พาหนะ FACT-Travelling expense 3,000 วนั

502570 FACT-คา่ทดสอบชั �นเคลอืบสงักะสตีามมาตรฐาน ASTM A90/A90M

FACT-Standard Test Method for Weight of Coating on Iron and Steel Articles with Zinc

2,200 ตวัอยา่ง

502589 FACT-คา่เตรยีมตวัอยา่งเพื�อการทดสอบความความหนาชั �นเคลอืบสงักะสี

FACT-Specimen Preparation (For Zn Coating) 200 ชิ�น

503210FACT-การกดักร่อนของรอยประสานบนแผน่เหล็กไรส้นมิ ตามมาตรฐาน มอก 2440-2552

FACT-Corrosion Rate of Solder on Stainle ss Steel Plate 3,000 ตวัอยา่ง

505155 FACT-คา่บรกิารทดสอบเทคนคิ Conforcal Microscopy FACT-Confocal microscopy 2,000 ชั�วโมง

505156 FACT-คา่บรกิารทดสอบเทคนคิ Measuring Microscopy FACT-Measuring Microscopy 1,500 ชั�วโมง

505157 FACT-คา่บรกิารทดสอบเทคนคิ Stereo Microscopy FACT-Stereo Microscopy 1,300 ชั�วโมง



500521 MCD-คา่วเิคราะหห์าสว่นผสมทางเคมี MCD-Chemical Composition Analysis 1,000 ตวัอยา่ง

500522 MCD-คา่หลอมชิ�นงาน (Remelt) MCD-Arc-Remelting Furnace 1,200 ตวัอยา่ง

500524 MCD-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง Reflected Light Microscope MCD-Reflected Light Microscope 450 ชั�วโมง

500525 MCD-คา่จัดทํารายงาน MCD-Report 600 ฉบบั

500526 MCD-คา่วเิคราะหโ์ดย Image Analysis MCD-Image Analysis 800 ชั�วโมง

500527 MCD-คา่ขึ�นเรอืนชิ�นงาน MCD-Mouthing Sample 300 ชิ�นงาน

500528 MCD-คา่วเิคราะหด์โูครงสรา้ง MCD-Micro Structure 1,200 ตวัอยา่ง

500529 MCD-คา่เตรยีมชิ�นงาน MCD-Specimen Preparation 500 ชิ�นงาน

504847 MCD-คา่ทดสอบความแข็ง (5 ตําแหน่ง) MCD-Hardness (5 position) 750 ตําแหน่ง

504848 MCD-คา่ทดสอบ SEM MCD-Test SEM 1,300 ชั�วโมง

504849 MCD-คา่วเิคราะหอ์งคป์ระกอบทางโลหะดว้ยเทคนคิ EDS

MCD-Composition Analysis by Technique EDS 500 ตําแหน่ง

504855 MCD-คา่เตรยีมตวัอยา่งทดสอบ MCD-Sample Preparation 2,000 ชิ�น

007552 MCD-วเิคราะหป์รมิาณธาตคุารบ์อนและซลัเฟอร์ MCD-Carbon/Sulfer Composition 1,500 ตวัอยา่ง

007553 MCD-วเิคราะหป์รมิาณธาตคุารบ์อนและซลัเฟอร ์(ตวัอยา่งที� 2 ขึ�นไป)

MCD-Carbon/Sulfer Composition (the second samples mor) 1,000 ตวัอยา่ง

หอ้งปฏบิตักิารงานพฒันาเครื�องจกัรกล (MCD)



500597 EPM-คา่ทดสอบ Complex Permittivity EPM-Complex Permittivity 1,500 ตวัอยา่ง

500598 EPM-คา่ทดสอบ Dielectric constant EPM-Dielectric constant 900 ชิ�น

500599 EPM-คา่ทดสอบ Dissipation factor EPM-Dissipation factor 900 ชิ�น

500600 EPM-คา่ทดสอบ Surface resistivity EPM-Surface resistivity 900 ชิ�น

500601 EPM-คา่ทดสอบ Volume resistivity EPM-Volume resistivity 900 ชิ�น

500602 EPM-คา่เตรยีมตวัอยา่ง EPM-Sample Preparation 350 ชิ�น

500603 EPM-คา่ทําอเิล็กโทรค (Silver plate) EPM-(Silver plate) 200 จดุ

500604 EPM-คา่ mf สอบ Resistance EPM-Resistance 700 ชิ�น

500605 EPM-คา่ทดสอบ Capacitance ขณะไม่มนํี�า EPM-Capacitance (Submergd) 600 ชิ�น

500606 EPM-คา่ทดสอบ Capacitance ขณะมนํี�า EPM-Capacitance ◌(์◌N์ot Submerged) 600 ชิ�น

500607 EPM-คา่ทดสอบ Dielectric Strength EPM-Dielectric Strength 1,000 ชิ�น

501943 EPM-คา่ไนไตรเจนเหลว EPM-Liquid Nitrogen 5,500 ถัง

503323 EPM-คา่ทดสอบ Conductivity EPM-Conductivity 700 ชิ�น

503771 EPM-Measurement Resonant and equivalent circuit

EPM-Measurement Resonant and equivalent circuit 1,500 ตวัอยา่ง

504000EPM-Permittivity measurement at different temperatures (sample at first temperature)

EPM-Permittivity measurement at different temperatures (sample at first temperature)


504001 EPM-Permittivity measurement at different sample temperature

EPM-Permittivity measurement at different sample temperature 1,500 ตวัอยา่ง

504012 EPM-I-V Curve Measurement sample at room temperature

EPM-I-V Curve Measurement sample at room temperature 1,000 ตวัอยา่ง

504013EPM-I-V Curve Measurement (sample higher than room temperature

EPM-I-V Curve Measurement (sample higher than room temperature 1,200 ตวัอยา่ง

005564 EPM-คา่ทดสอบ Complex Permittivity (3 ชิ�นงาน) EPM-Complex Permittivity (3 pieces) 2,000 ตวัอยา่ง

005571 EPM-คา่ทดสอบ Conductivity (3 ชิ�นงาน) EPM-Conductivity (3 pieces) 1,500 ตวัอยา่ง

005565 EPM-คา่ทดสอบ Dielectric constant (3 ชิ�นงาน) EPM-Dielectric constant (3 pieces) 1,400 ตวัอยา่ง

005566 EPM-คา่ทดสอบ Dissipation factor (3 ชิ�นงาน) EPM-Dissipation factor (3 pieces) 1,400 ตวัอยา่ง

005567 EPM-คา่ทดสอบ Surface resistivity (3 ชิ�นงาน) EPM-Surface resistivity (3 pieces) 1,500 ตวัอยา่ง

005568 EPM-คา่ทดสอบ Volume resistivity (3 ชิ�นงาน) EPM-Volume resistivity (3 pieces) 1,500 ตวัอยา่ง

005569 EPM-คา่ทดสอบ Resistance (3 ชิ�นงาน) EPM-Resistance (3 pieces) 1,500 ตวัอยา่ง

005570 EPM-คา่ทดสอบ Dielectric Strength (3 ชิ�นงาน) EPM-Dielectric Strength (3 pieces) 2,500 ตวัอยา่ง

งานทดสอบสมบตัทิางฟิสกิส ์(PHM)



504484 BDT-คา่ทดสอบ heavy metal ตามมาตรฐาน EN13432

BDT-heavy metal standard EN13432 11,000 งาน



500134 TEM-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ TEM TEM-TEM Instrument hour 3,000 ชั�วโมง

500135 TEM-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ EDS TEM-EDS Instrument hour 1,000 ชั�วโมง

500136 TEM-คา่ไฟลภ์าพดจิติอล TEM-Digital image 100 รูป

500137 TEM-Cu Grid TEM- Cu Grid 50 ชิ�น

500138 TEM-C-coated Cu-Grid (EMS) TEM-C-coated Cu-Grid (EMS) 200 ชิ�น

500142 TEM-คา่เตรยีมชิ�นงาน Particles TEM-Sample preparation (Particles) 500 ชิ�น

500143 TEM-คา่เตรยีมชิ�นงาน Bulk Ceramics TEM-Sample preparation (Bulk Ceramics) 3,000 ชิ�น

500144 TEM-คา่เตรยีมชิ�นงาน Cross-sections TEM-Sample preparation (Cross-secions) 4,500 ชิ�น

500145 TEM-คา่เตรยีมชิ�นงาน Precision Analysis TEM-Sample preparation 6,000 ชิ�น

500146 TEM-คา่เตรยีมชิ�นงาน Metals TEM-Sample preparation (Metal) 2,500 ชิ�น

500147 TEM-คา่เตรยีมชิ�นงาน Bulk Polymers TEM-Sample preparation (Bulk Polymers) 4,000 ชิ�น

500153 TEM-คา่ใหค้ําปรกึษาปัญหา TEM TEM-Specialish consultion fee 2,000 ชั�วโมง

500154 TEM-คา่รายงานผลการวเิคราะห์ TEM-TEM analysis report 1,000 ชดุ

500155 TEM-Wire Saw TEM-Wire Saw 400 ชิ�น

500156 TEM-Ultrasonic Disc Cutter TEM-Ultrasonic Disc Cutter 600 ชิ�น

500157 TEM-Electro Polisher TEM-Electro Polisher 500 ชิ�น

500158 TEM-Disc Puncher TEM-Disc Puncher 40 ชิ�น

500159 TEM-Disc Grinder TEM-Disc Grinder 350 ชั�วโมง

500160 TEM-Dimpler TEM-Dimpler 350 ชั�วโมง

500161 TEM-Precision Ion Polishing System (PIPS)

TEM-Precision Ion Polishing System (PIPS) 1,000 ชั�วโมง

500162 TEM-เครื�องเคลอืบคารบ์อน TEM-Carbon Coater 1,000 ชิ�น

007581 TEM-คา่เตรยีมชิ�นงาน Bulk polymers, Cryogenic)

TEM-Sample preparation Bulk polymers, Cryogenic)

4,500 ชิ�น

งานทดสอบการยอ่ยสลายไดท้างชวีภาพของวสัด ุ(BDT)

งานจลุทรรศนแ์ละจลุวเิคราะห ์( MMS )



500684 SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM (JEOL JSM 5410)

SEM-Instrument hour (JEOL JSM 5410) 1,500 ชั�วโมง

500685 SEM-คา่ภาพ SEM (Printing) SEM-SEM micrograph (Printing) 100 รูป

500686 SEM-คา่เคลอืบทอง SEM-Gold coating 500 ครั�ง

500687 SEM-คา่เคลอืบคารบ์อน SEM-Carbon coating 500 ครั�ง

500688 SEM-คา่วเิคราะหธ์าตเุชงิคณุภาพดว้ยเทคนคิ EDS

SEM-EDS qualitative elemental analysis 500 ตําแหน่ง

500689 SEM-คา่วเิคราะหธ์าตเุชงิปรมิาณดว้ยเทคนคิ EDS (ไมใ่ชส้ารมาตรฐาน)

SEM-EDS quantitative elemental analysis (Standardless) 500 ตําแหน่ง

500690 SEM-คา่จัดทํารายงาน (SEM/EDS) SEM analysis report 1,000 ฉบบั

500691 SEM-คา่บนัทกึภาพบนแผน่ CD SEM-micrograph on CD 100 แผน่

500692 SEM-คา่ภาพ SEM (Digital file) SEM-micrograph (Digital file) 30 รูป

500693 SEM-คา่จัดทํารายงานพรอ้มแปลผล SEM/EDS SEM-analysis report with interpretation 2,000 ฉบบั

500694 SEM-คา่วเิคราะหว์ดัความหนาของผวิเคลอืบ

SEM-Determination of coating thickness 3,000 ตวัอยา่ง

500695 SEM-คา่เตรยีมชิ�นงาน SEM โดยการตดัขดั SEM-Sample preparation (cut-polish) 1,500 ตวัอยา่ง

500696 SEMคา่จา้งตรวจ X-ray Mapping/Linescan/อื�นๆ

SEM-EDS elemental analysis (X-ray Mapping/Linescan/etc.) 500 ตําแหน่ง

500697 SEM-คา่บรกิารกลอ้งจลุทรรศนแ์บบแสง SEM-Light Microscope 450 ชั�วโมง

500698 SEM-คา่บรกิารโปรแกรมวเิคราะหภ์าพ SEM-Image Analysis 800 ชั�วโมง

500699 SEM-คา่เตรยีมชิ�นงาน SEM โดยการตดัขดั (Fast rate)

SEM-Sample preparation (cut-polish) (Fast rate) 3,000 ตวัอยา่ง

500700 SEM-คา่เคลอืบคารบ์อน (เร่งดว่น) SEM-Carbon coating (Fast rate) 1,000 ครั�ง

500701 SEM-คา่เคลอืบทอง (เร่งดว่น) SEM-Gold coating (Fast rate) 1,000 ครั�ง

500702 SEM-คา่จัดทํารายงาน (SEM/EDS) (เร่งดว่น)

SEM-SEM/EDS analysis report (Fast rate) 2,000 ฉบบั

500703 SEM-คา่จัดทํารายงานพรอ้มแปลผล SEM/EDS (เร่งดว่น)

SEM-analysis report with interpretation (Fast) 4,000 ฉบบั

500704 SEM-คา่บรกิารกลอ้งจลุทรรศนแ์บบแสง (เร่งดว่น) SEM-Light Microscope (Fast rate) 900 ชั�วโมง

500705 SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM (JEOL JSM 5410) (เร่งดว่น)

SEM-SEM Instrument hour (JEOL JSM 5410) (Fast rate) 3,000 ชั�วโมง

500707 SEM-คา่บรกิารโปรแกรมวเิคราะหภ์าพ (เร่งดว่น) SEM-Image analysis (Fast rate) 1,600 ชั�วโมง

500708 SEM-คา่บนัทกึภาพบนแผน่ CD (เร่งดว่น)

SEM-SEM micrograph on CD (Fast rate) 200 แผน่

500709 SEM-คา่ภาพ SEM (Digital file) (เร่งดว่น)

SEM-SEM micrograph (Digital file)(Fast rate) 60 รูป

500710 SEM-คา่ภาพ SEM (Printing) (เร่งดว่น) SEM-SEM micrograph (Printing) (Fast rate) 200 รูป

500711 SEM-คา่วเิคราะหธ์าตเุชงิคณุภาพดว้ยเทคนคิ EDS (เร่งดว่น)

SEM-EDS qualitative elemental analysis (Fast rate) 1,000 ตําแหน่ง

500712SEM-คา่วเิคราะหธ์าตเุชงิปรมิาณดว้ยเทคนคิ EDS (ไมใ่ชส้ารมาตรฐาน) (เร่งดว่น)

SEM-EDS quantitative elemental analysis (Standardless) (Fast rate) 1,000 ตําแหน่ง

500713SEM-คา่วเิคราะหธ์าตดุว้ยเทคนคิ EDS แบบ X-ray Mapping/Linescan/อื�นๆ (เร่งดว่น)

SEM-EDS elemental analysis (X-ray Mapping/Linescan/etc.)(Fast rate) 1,000 ตําแหน่ง

500714 SEM-คา่วเิคราะหว์ดัความหนาของผวิเคลอืบ (เร่งดว่น)

SEM-Determination of coating thickness (Fast rate) 6,000 ตวัอยา่ง

502333 SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM (HITACHI S-3400N)

SEM-Instrument hour (HITACHI S-3400N) 2,000 ชั�วโมง

502334 SEM-คา่ตรวจสอบภาพโดย EBSD SEM-EBSD 1,000 จดุ

502335 SEM-คา่เตรยีมชิ�นงานวสัดพุอลเิมอรด์ว้ยเครื�อง Cryogenic Ultramicrotome SEM-Cryogenic Ultramicrotome 1,000 ตวัอยา่ง

502336 SEM-คา่ยอ้มตวัอยา่งดว้ยไอของ Osmium Tetraoxide SEM-Osmium Tetraoxide 400 ตวัอยา่ง

502357 SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM (HITACHI S-3400N) (เร่งดว่น)

SEM-Instrument hour (HITACHI S-3400N)(FAST RATE) 4,000 ชั�วโมง

502467 SEM-คา่วเิคราะหธ์าตเุชงิปรมิาณดว้ยเทคนคิ EDS (ใชส้ารมาตรฐาน)

SEM-EDS Quantitative elemental analysis (Standardize) 500 ธาตุ

502468 SEM-คา่วเิคราะหธ์าตเุชงิปรมิาณดว้ยเทคนคิ EDS (ใชส้ารมาตรฐาน) (เร่งดว่น)

SEM-EDS Quantitative elemental analysis (Standardize) (Fast rate) 1,000 ธาตุ

505203 SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM (JEOL JSM7800F)

SEM-Instrument hour (JEOL JSM7800F) 3,000 ชั�วโมง

505204 SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM (JEOL JSM7800F) (เร่งดว่น)

SEM-Instrument hour (JEOL JSM7800F) (Fast rate) 6,000 ชั�วโมง

505205 SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM พรอ้มผล SEM (JEOL JSM5410)

SEM-Instrument hour with SEM micrograph (JEOL JSM5410) 2,500 ตวัอยา่ง

505206SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM พรอ้มผล SEM (JEOL JSM6301F/Hitachi S3400N)

SEM-Instrument hour with SEM micrograph (JEOL JSM6301F/Hitachi S3400N)


505207 SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM พรอ้มผล SEM (JEOL JSM7800F)

SEM-Instrument hour with SEM micrograph (JEOL JSM7800F) 4,000 ตวัอยา่ง

505208 SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM พรอ้มผล SEM/EDS (JEOL JSM5410)

SEM-Instrument hour with SEM/EDS results (JEOL JSM5410) 3,500 ตวัอยา่ง

505209SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM พรอ้มผล SEM/EDS (JEOL JSM6301F/Hitachi S3400N)

SEM-Instrument hour with SEM/EDS results (JEOL JSM6301F/Hitachi S3400N)


505210 SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM พรอ้มผล SEM/EDS (JEOL JSM7800F)

SEM-Instrument hour with SEM/EDS results (JEOL JSM7800F) 5,000 ตวัอยา่ง

505211 SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM พรอ้มผล SEM (JEOL JSM5410) (เร่งดว่น)

SEM-Instrument hour with SEM micrograph (JEOL JSM5410)(Fast rate)


505222SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM พรอ้มผล SEM (JEOL JSM6301F/Hitachi S3400N) (เร่งดว่น)

SEM-Instrument hour with SEM micrograph (JEOL JSM6301F/Hitachi S3400N)(Fast rate)


505223 SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM พรอ้มผล SEM (JEOL JSM7800F) (เร่งดว่น)

SEM-Instrument hour with SEM micrograph (JEOL JSM7800F)(Fast rate)


505224SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM พรอ้มผล SEM/EDS (JEOL JSM5410) (เร่งดว่น)

SEM-Instrument hour with SEM/EDS results (JEOL JSM5410)(Fast rate) 7,000 ตวัอยา่ง

505225SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM พรอ้มผล SEM/EDS (JEOL JSM6301F/Hitachi S3400N) (เร่งดว่น)

SEM-Instrument hour with SEM/EDS results (JEOL JSM6301F/Hitachi S3400N)(Fast rate)


505226SEM-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง SEM พรอ้มผล SEM/EDS (JEOL JSM7800F) (เร่งดว่น)

SEM-Instrument hour with SEM/EDS results (JEOL JSM7800F)(Fast rate) 10,000 ตวัอยา่ง

005621 SEM-คา่เตรยีมชิ�นงานแบบละเอยีด SEM- Fine sample preparation 1,000 ชั�วโมง

005622 SEM-คา่บรกิารวเิคราะห ์EBSD SEM-Instrument hour for EBSD 2,000 ชั�วโมง

005623 SEM-คา่บรกิารวเิคราะห ์SXES SEM-Instrument hour for SXES 2,000 ชั�วโมง

005624 SEM-คา่บรกิาร SEM SEM-Instrument hour 2,500 ชั�วโมง

500317 OM-คา่เตรยีมตวัอยา่งงาน (ทั�วไป) OM-Sample Preparation (Normal) 1,300 ชิ�นงาน

500318 OM-คา่เตรยีมตวัอยา่งงาน (ชิ�นงานพเิศษ)

OM-Sample Preparation (Special sample) 1,500 ชิ�นงาน

500319 OM-คา่เตรยีมตวัอยา่งงาน (ชิ�นงานพเิศษ กรณีเร่งดว่น)

OM-Sample Preparation (Special sample, Urgent) 3,000 ชิ�นงาน

500322 OM-คา่ขึ�นเรอืนตวัอยา่งงาน (ทั�วไป) OM-Mounting (Normal) 300 ชิ�นงาน

500323 OM-คา่ขึ�นเรอืนตวัอยา่งงาน (เพิ�มสารตวัเตมิ) OM-Mounting (Filler adding) 600 ชิ�นงาน

500324 OM-คา่บรกิารเครื�องขดั OM-Grinding Machine Service 200 ชั�วโมง

500325 OM-คา่บรกิารผงขดัเพชร (4 ขนาด) OM-Diamond Suspension (4 sizes) 900 ชิ�นงาน


500327 OM-คา่บรกิารผงขดัเพชร (1 ขนาด) OM-Diamond Suspension (1 size) 300 ชิ�นงาน

500328 OM-คา่บรกิารผา้ขดั OM-Polishing Cloth 200 ชั�วโมง

500329 OM-คา่บรกิารจานขดัเพชร OM-Diamond Wheel 600 ชั�วโมง

500330 OM-คา่บรกิาร SiC paper OM-SiC paper 150 แผน่

500333 OM-คา่สารเคมกีดักรด (สารเคม ี1-2 ชนดิ)

OM-Etching Chemical (Using chemical 1- 2 substances) 300 ชิ�นงาน

500334 OM-คา่สารเคมกีดักรด (สารเคมมีากกวา่ 2 ชนดิ)

OM-Etching Chemical (Using chemical more than 2 substances) 500 ชิ�นงาน

500335 OM-คา่บรกิารกลอ้งจลุทรรศนแ์บบแสง OM-Light Optical Microscope 450 ชั�วโมง

500336 OM-คา่บรกิารโปรแกรมวเิคราะหภ์าพ OM-Software of Image Analyzer 800 ชั�วโมง

500340 OM-คา่จัดทํารายงาน OM-Report 1,000 ฉบบั

500341 OM-คา่วเิคราะหผ์ลการทดสอบ 2 เทคนคิ OM- Analysis Testing Result 2 Technique 3,000 งาน

501904 OM-คา่เตรยีมตวัอยา่งงานเพื�อทดสอบสมบตัทิางกล

OM- Sample Preparation for Mechanical Testing 300 ชิ�นงาน

501910 OM-คา่จา้งตรวจหาแร่ใยหนิ (SEM) OM-Asbestos Analysis (SEM) 3,800 ตวัอยา่ง

502560 OM-คา่โปรแกรมวเิคราะหภ์าพ (กรณีเร่งดว่น)

OM-Software of Image Analyzer (Urgent) 1,600 ชั�วโมง

502561 OM-คา่จัดทํารายงาน (กรณีเร่งดว่น) OM-Report (Urgent) 1,600 ฉบบั


503802 OM-คา่บรกิารเครื�องขดัระบบสั�น OM-Vibratory Polishing Machine 300 ชั�วโมง


503932 OM-คา่ตดัตวัอยา่งงาน (ใบตดัเหล็ก) OM-Cutting (Abrasive Blade) 1,000 ชั�วโมง

504383 OM-คา่วเิคราะหธ์าตดุว้ย EDS (โดยคณุภาพ)

OM-Energy Dispersive Spectrometer, EDS (Quality Analysis) 500 ตําแหน่ง

504511 OM-คา่ทดสอบดว้ยเทคนคิ SEM OM-Scanning Electron Microscope 2,000 ชั�วโมง

504925 OM-คา่ทดสอบหาแร่ใยหนิ (SEMและกรณีตวัอยา่งซบัซอ้น)

OM-Asbestos Analysis (SEM and Complex sample) 7,600 ตวัอยา่ง



505229 OM-คา่ตดัตวัอยา่งงาน (ใบตดัเพชร) OM-Cutting (Diamond Wheel) 2,000 ชั�วโมง

505230 OM-คา่บรกิารกลอ้งจลุทรรศนแ์บบคอนโฟคอล OM-Confocal Microscope 2,000 ชั�วโมง

505234 OM-คา่ขึ�นเรอืนตวัอยา่งงาน (วสัดขุึ�นเรอืนนําไฟฟ้า) OM-Mounting (Conductive substance) 1,000 ชิ�นงาน

005619 OM-คา่เคลอืบคารบ์อน OM-Carbon coating 500 ครั�ง

005620 OM-คา่เคลอืบทอง OM-Gold coating 500 ครั�ง

007591 OM-คา่จา้งตรวจหาแร่ใยหนิ (PLM) OM-Asbestos Analysis (PLM) 1,800 ตวัอยา่ง



งานวเิคราะหเ์ชงิฟิสกิส ์(PHA)

500293 PCL-T1: คา่บคุลากร PCL-E1: Personal cost 2,000 วนั

500294 PCL-T2: คา่จัดทํารายงานพรอ้มแปลผล PCL-E2: Translation of report 1,000 ฉบบั

500296 PCL-TM1: คา่จา้งหา PSD (ไมครอน,ใชนํ้�าหรอือากาศ)

PCL-EM1 : PSD (micron) analysis (Water or Air) 1,000 ตวัอยา่ง

500297 PCL-TM2: คา่บรกิารวเิคราะห ์PSD (ไมครอน, ใชต้วักลางอื�น)

PCL-EM2: PSD (micron) analysis (Other dispersant) 2,300 ตวัอยา่ง

500298 PCL-TM3: คา่บรกิารวเิคราะห ์PSD (TM1 , กรณีเร่งดว่น)

PCL-EM3: PSD (micron) analysis (EM1, Express) 3,000 ตวัอยา่ง

500299 PCL-TM4: คา่บรกิารวเิคราะห ์PSD (TM2 , กรณีเร่งดว่น)

PCL-EM4: PSD (micron) analysis (EM2, Express) 6,900 ตวัอยา่ง

500302 PCL-TV1: คา่บรกิารวเิคราะหค์วามหนดื PCL-EV1: Viscosity analysis (Non-CT) 550 ตวัอยา่ง

500303 PCL-TV2: คา่บรกิารวเิคราะหค์วามหนดื (CT) PCL-EV2: Viscosity analysis (CT) 600 ตวัอยา่ง

500304 PCL-TV3: คา่บรกิารวเิคราะหค์วามหนดื (ตอ่ชั�วโมง)

PCL-EV3: Viscosity analysis (Long time) 1,000 ชั�วโมง

500305 PCL-TV4: คา่บรกิารวเิคราะหค์วามหนดื (TV1,กรณีเร่งดว่น)

PCL-EV4: Viscosity analysis (EV1, Express) 1,650 ตวัอยา่ง


PCL-EV5: Viscosity analysis (EV2, Express) 1,800 ตวัอยา่ง


PCL-EV6: Viscosity analysis (EV3, Express) 3,000 ชั�วโมง

500308 PCL-TZ1: คา่จา้งหา PSD (นาโน, ใช ้นํ�าเป็นกลาง)

PCL-EZ1: PSD (nano) analysis (Water dispersant) 1,500 ตวัอยา่ง

500309 PCL-TZ2: คา่บรกิารวเิคราะห ์PSD (นาโน, ใชต้วักลางอื�น)

PCL-EZ2: PSD (nano) analysis (Other dispersant) 3,000 ตวัอยา่ง

500310 PCL-TZ3: คา่จา้งหาคา่ซตีา้ (ใชนํ้�าเป็นกลาง)

PCL-EZ3: Zeta potential analysis (Water dispersant) 1,700 ตวัอยา่ง

500311 PCL-TZ4: คา่บรกิารวเิคราะหค์า่ซตีา้ (ใชต้วักลางอื�น)

PCL-EZ4: Zeta potential analysis (Other dispersant) 3,000 ตวัอยา่ง

500312 PCL-TZ5: คา่บรกิารวเิคราะห ์PSD (TZ1,กรณีเร่งดว่น)

PCL-EZ5: PSD (nano) analysis (EZ1, Express) 4,500 ตวัอยา่ง

500313 PCL-TZ6: คา่บรกิารวเิคราะห ์PSD (TZ2,กรณีเร่งดว่น)

PCL-EZ6: PSD (nano) analysis (EZ2, Express) 9,000 ตวัอยา่ง

500314 PCL-TZ7: คา่บรกิารวเิคราะหค์า่ซตีา้ (TZ3, กรณีเร่งดว่น)

PCL-EZ7: Zeta potential analysis (EZ3, Express) 5,000 ตวัอยา่ง

500315 PCL-TZ8: คา่บรกิารวเิคราะหค์า่ซตีา้ (TZ4, กรณีเร่งดว่น)

PCL-EZ8: Zeta potential analysis (EZ4, Express) 9,000 ตวัอยา่ง

500316 PCL-TZ9: คา่บรกิารโดยการควบคมุ PH ที�จดุตา่งๆ

PCL-EZ9: Control pH point (Add from service cost) 300 ตวัอยา่ง

503970 PCL-TA1: คา่บรกิารวเิคราะห ์SSA และรูพรุนในระดบั mesopore

PCL-EA1: SSA and pore size analysis (mesopore) 11,000 ตวัอยา่ง

503971 PCL-TA2: คา่บรกิารวเิคราะห ์SSA และรูพรุนในระดบั micropore

PCL-EA2: SSA and pore size analysis (micropore) 14,000 ตวัอยา่ง

503972 PCL-TA3: คา่บรกิารวเิคราะห ์SSA อยา่งเดยีว PCL-EA3: SSA analysis only 6,300 ตวัอยา่ง

504926 PCL-TU1: คา่บรกิารวเิคราะหค์วามหนาแน่น ดว้ยเครื�อง Ultropyc 1200e

PCL-EU1: Apparent density analysis with Ultropyc 1200e 1,000 ตวัอยา่ง

505159PCL-TU2: คา่บรกิารวเิคราะหค์วามหนาแน่น ดว้ยเครื�อง Ultropyc 1200e (กรณีเร่งดว่น)

PCL-EU2: Apparent density analysis with Ultropyc 1200e (Express) 3,000 ตวัอยา่ง

500198 TA-คา่ทํารายงานผลเพิ�มเตมิ TA-Cost for report of sample analysis 400 ตวัอยา่ง

500199 TA-คา่ Alumina Crucible เครื�อง STA TA-Cost for alumina crucible (STA) 800 ถว้ย

500200 TA-คา่ Alumina Crucible เครื�อง TGA TA-Cost for alumina crucible (TGA) 800 ถว้ย

500201 TA-คา่เตรยีมตวัอยา่งหาคา่ OIT TA-Cost for sample prepation for OIT tes 50 ตวัอยา่ง

500202 TA-คา่เตรยีมตวัอยา่งดว้ยตูอ้บความรอ้น TA-Cost for sample preparation by oven 100 ชั�วโมง

500203TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ DMA 1 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล

TA-DMA technique 1 hour include report


500204TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ DSC 1 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล

TA-DSC technique 1 hour include report


500205 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ DSC 1.5 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล

TA-DSC technique 1.5 hour include report 1,500 การทดสอบ

500206 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ DSC 2 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล

TA-DSC technique 2 hour include report 2,000 การทดสอบ

500207 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ DSC 2.5 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล

TA-DSC technique 2.5 hour include report 2,500 การทดสอบ

500208 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ DSC 3 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล

TA-DSC technique 3 hour include report 3,000 การทดสอบ

500209 TA-วเิคราะหค์า่ Cp ดว้ยเทคนคิ DSC 0.5 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล

TA-Cp measurment by DSC technique 0.5 hour include report 1,400 การทดสอบ

500210 TA-วเิคราะหค์า่ Cp ดว้ยเทคนคิ DSC 1 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล

TA-Cp measurment by DSC technique 1 hour 2,800 การทดสอบ

500211 TA-วเิคราะหค์า่ OIT ดว้ยเทคนคิ DSC 1 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล

TA-OIT measurement by DSC technique 1 hour include report 1,000 การทดสอบ

500212 TA-วเิคราะหค์า่ OIT ดว้ยเทคนคิ DSC 1.5 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล

TA-OIT measurement by DSC technique 1.5 hours include report 1,500 การทดสอบ








TA-OIT measurement by DSC technique 4 hours include report 4,000 การทดสอบ



500219

TA-วเิคราะหค์า่ OIT ดว้ยเทคนคิ DSC ทดสอบตามมาตรฐาน TISO/TR 10837:1991 (E) พรอ้มรายงานผล (3 ชิ�นงาน)

TA-OIT measurement by DSC technique follow standard test method ISO/TR 10837 (E) include report (3 piece)

4,000 ชดุ

500220TA-วเิคราะหค์า่ Tg ดว้ยเทคนคิ DSC ทดสอบตามมาตรฐาน IPC-TM-650 Number 2.4.25 พรอ้มรายงานผล

TA-Tg measurement by DSC technique follow standard test method IPC-TM650 Number 2.4.25


500221 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ STA 1 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล

TA-STA technique 1 hour include report 1,500 การทดสอบ

500222 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ STA 1.5 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล

TA-STA technique 1.5 hour include report 2,250 การทดสอบ













500229 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ TGA 1 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล

TA-TGA technique 1 hour include report 1,000 การทดสอบ

500230 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ TGA 1.5 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล

TA-TGA technique 1.5 hour include report 1,500 การทดสอบ











500236 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ TMA 1 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล

TA-TMA technique 1 hour include report 1,500 การทดสอบ

500237 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ TCA พรอ้มรายงานผล TA-TCA measurement include report 1,000 การทดสอบ

500238TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ DMA 1 ชั�วโมงพรอ้มรายงานผล (กรณีเรง่ดว่น)

TA-DMA technique 1 hour include report (Urgent)


500239 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ DSC 1 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล (กรณีเร่งดว่น)

TA-DSC technique 1 hour include report (Urgent) 2,000 การทดสอบ

500240 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ DSC 1.5 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล (กรณีเร่งดว่น)

TA-DSC technique 1.5 hour include report (Urgent) 3,000 การทดสอบ

500241 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ DSC 2 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล (กรณีเร่งดว่น)

TA-DSC technique 2 hour include report (Urgent) 4,000 การทดสอบ

500242TA-วเิคราะหค์า่ Cp ดว้ยเทคนคิ DSC 0.5 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล (กรณีเร่งดว่น)

TA-Cp measurment by DSC technique 0.5 hour include report (Urgent)


500243 TA-วเิคราะหค์า่ Cp ดว้ยเทคนคิ DSC 1 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล (กรณีเร่งดว่น)

TA-Cp measurment by DSC technique 1 hour include report (Urgent)


500244 TA-วเิคราะหค์า่ OIT ดว้ยเทคนคิ DSC 1 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล (กรณีเร่งดว่น)

TA-OIT measurement by DSC technique 1 hour include report (Urgent)


500245TA-วเิคราะหค์า่ OIT ดว้ยเทคนคิ DSC 1.5 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล (กรณีเร่งดว่น)

TA-OIT measurement by DSC technique 1.5 houres include report 3,000 การทดสอบ


TA-OIT measurement by DSC technique 2 hours include report (Urgent)













TA-OIT measurement by DSC technique 4.5 hours include report (Urgent)


500252TA-วเิคราะหค์า่ OIT ดว้ยเทคนคิ DSC ทดสอบตามมาตรฐาน TISO/TR 10837:1991 (E) พรอ้มรายงานผล

TA-OIT measurement by DSC technique follow standard test method ISO/TR 10837 indlude

8,000 ชดุ

500253

TA-วเิคราะหค์า่ Tg ดว้ยเทคนคิ DSC ทดสอบตามมาตรฐาน IPC-TM-650 Number 2.4.25 พรอ้มรายงานผล (กรณีเร่งดว่น)

TA-Tg measurement by DSC technique follow standard test method IPC-TM650 Number 2.4.25


500254 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ STA 1 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล (กรณีเร่งดว่น)

TA-STA technique 1 hour include report (Urgent) 3,000 การทดสอบ





500257 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ STA 2.5 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล (กรณีเร่งดว่น)

TA-STA technique 2.5 hour include report (Urgent) 7,500 การทดสอบ









500262 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ TGA 1 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล (กรณีเร่งดว่น)

TA-TGA technique 1 hours include report (Urgent) 2,000 การทดสอบ

500263 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ TGA 1.5 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล (กรณีเร่งดว่น)

TA-TGA technique 1.5 hours include report (Urgent) 3,000 การทดสอบ











500269 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ TMA 1 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล (กรณีเร่งดว่น)

TA-TMA technique 1 hour include report 3,000 การทดสอบ

500270 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ TCA พรอ้มรายงานผล (กรณีเร่งดว่น)

TA-TCA measurement include report (Urgent) 2,000 การทดสอบ

500271TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ DSC 1 ชั�วโมง (Stainless steel crucible) พรอ้มรายงานผล

TA-DSC technique 1 hour (Stainless steel crucible) include report 1,600 การทดสอบ

500272TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ DSC 1.5 ชั�วโมง (Stainless steel crucible) พรอ้มรายงานผล

TA-DSC technique 1.5 hours (Stainless stainless steel crucible) พรอ้มรายงานผล


500273TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ DSC 2 ชั�วโมง (Stainless steel crucible) พรอ้มรายงานผล

TA-DSC technique 2 hours (Stainless steel crucible) include report 3,200 การทดสอบ

503958 TA-คา่วเิคราะห ์MFK ดว้ยเทคนคิ DSC TA-MFK analysis by DSC 4,000 ตวัอยา่ง

504909 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ TMA 1.5 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล TA-TMA technique 1.5 hours include 2,250 การทดสอบ

504910 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ TMA 2 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล

TA-TMA technique 2 hours include report 3,000 การทดสอบ

504911 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ TMA 1.5 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล (กรณีเร่งดว่น) TA-TMA technique 1.5 hours include 4,500 การทดสอบ

504922 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ TMA 2 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล (กรณีเร่งดว่น)

TA-TMA technique 2 hours include report 6,000 การทดสอบ

504927 TA-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ DMA 2 ชั�วโมงTA-DMA technique 2 hours include report


007582 TA-วเิคราะหค์า่ OIT ดว้ยเทคนคิ DSC 1 ชั�วโมง พรอ้มรายงานผล (3 ชิ�นงาน)

TA-OIT measurement by DSC technique 1 hour include report (3 samples)

3,500 ชดุ

500176 XRD-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง XRD 2 KW (PANalytical, X'Pert PRO) XRD-Cost of XRD 2 KW testing 25 นาที

500177 XRD-คา่แปลผลวเิคราะห ์XRD XRD-Cost of XRD analysis 500 ตวัอยา่ง

500181 XRD-คา่จัดทํารายงาน XRD-Report 750 ฉบบั

500183 XRD-Moisture content XRD-Moisture content 400 ตวัอยา่ง

500184 XRD-L.O.I. (Loss on igition) XRD-L.O.I. (Loss on igition) 1,000 ตวัอยา่ง

500190 XRD-คา่บรกิารใชเ้ครื�อง XRD 18 KW (Rigaku, TTRAX III) - thin film

XRD-Cost of XRD 18 KW testing (Rigaku, TTRAX III) - thin film 50 นาที

500191 XRD-คา่เตรยีมตวัอยา่ง XRD XRD-XRD sample preparation 100 ตวัอยา่ง

500192 XRD-คา่เตรยีมตวัอยา่ง XRD รวมวเิคราะหค์า่ d-spacing

XRD-XRD sample preparation/d-spacing analysis 150 ตวัอยา่ง

503888XRD-Low angle (0.5-10deg, 0.01deg, 1deg/min, d-spacing)

XRD-Low angle (0.5-10deg, 0.01deg, 1deg/min, d-spacing)


504037 XRD-คา่วสัดสุ ิ�นเปลอืงสาํหรับเตรยีมตวัอยา่ง

XRD-Consumables for sample preparation 50 อนั

504923 XRD-คา่วเิคราะหท์ดสอบปรมิาณ SiO2 ในตวัอยา่ง โดยใชว้ธิ ีStandard Addition

XRD-Analysis of Crystalline Silica in Bulk Materials by Standard Addition Method


505161 XRD-คา่สารมาตรฐาน XRD-Referrence Material 2,000 ตวัอยา่ง

005625XRD-Low angle (0.5-10deg, 0.01deg, 1deg/min, d-spacing)

XRD-Low angle (0.5-10deg, 0.01deg, 1deg/min, d-spacing)


005626 XRD-การวเิคราะหแ์ร่ใยหนิสาํหรับวสัดทุี�มสีารประกอบชนดิเดยีว (เชงิคณุภาพ)

XRD-Asbestos analysis of composition material (Qualitative) 3,000 ตวัอยา่ง

007251 XRD- Planetary mill XRD- Planetary mill 300 ชั�วโมง

007583 XRD-คา่วเิคราะหท์ดสอบซลิกิา้ (SiO2) ในตวัอยา่ง (เชงิคณุภาพ)

XRD-Analysis of Crystalline Silica in Bulk Materials (Qualitative) 2,000 ตวัอยา่ง

007584

XRD-คาวเคราะหทดสอบชนดสารประกอบสาํหรับตวัอยา่งที�ไมม่ีแมงกานสี-โคบอลต-์เหล็ก-เป็นองคป์ระกอบ

XRD-Phase Identification for non-Mn-Co-Fe riched Materials 2,000 ตวัอยา่ง

007585XRD-คา่วเิคราะหท์ดสอบชนดิสารประกอบสาํหรับตวัอยา่งที�มเีหล็กเป็นองคป์ระกอบหรอืตวัอยา่งกลุม่ดนิ

XRD-Phase Identification for Mn-Co-Fe riched Materials and Clay 2,500 ตวัอยา่ง

007586XRD-คา่เตรยีมตวัอยา่ง XRD รวมวเิคราะห ์d-spacing, crystallite size พื�นที�พคี

XRD-Sample Preparation/d-spacing-crystallite size/Profile Fitting 250 ตวัอยา่ง



500167 NMR-คา่จา้งเทคนคิ NMR DPX-300 NMR-Testing by NMR DPX-300 600 ชั�วโมง

500168 NMR-คา่เตรยีมตวัอยา่ง NMR NMR-Sample preparation for NMR 250 ตวัอยา่ง

500169 NMR-คา่แปลผลวเิคราะหแ์ละจัดทํารายงาน (มากกวา่ 5 ตวัอยา่ง)

NMR-Interpretation (more than 5 samples)

2,500 ฉบบั

500170 NMR-คา่สารละลาย Chloroform-d, CDCI3

NMR-Chloroform-d, CDCI3 150 ตวัอยา่ง

500171 NMR-คา่สารละลาย Deuterium oxide, D2O

NMR-Deuterium oxide, D2O 300 ตวัอยา่ง

500172 NMR-คา่สารละลาย Dimethyl sulfoxide-d6

NMR-Dimethyl sulfoxide-d6, DMSO 400 ตวัอยา่ง

500173 NMR-คา่สารละลาย Acetone-d6, CD3COCD3

NMR-Acetone-d6, CD3COCD3 500 ตวัอยา่ง

500174 NMR-คา่สารละลาย Benzene-d6, C6D6 NMR-Benzene-d6, C6D6 600 ตวัอยา่ง

งานวเิคราะหเ์ชงิเคมแีละชวีภาพ (CBA)

500175 NMR-คา่สารละลาย Methanol-d4, CD3OD

NMR-Methanol-d4, CD3OD 1,000 ตวัอยา่ง

502738 NMR-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ NMR AV-500 NMR-Testing by NMR AV-500 1,200 ชั�วโมง

007587 NMR-คา่แปลผลวเิคราะหแ์ละจัดทํารายงาน (ไมเ่กนิ 5 ตวัอยา่ง)

NMR-Interpretation (up to 5 samples) 1,500 ฉบบั

007588 NMR-คา่สารละลาย Toluene-d8,C7D8 NMR-Toluene-d8,C7D8 600 ตวัอยา่ง

007589 NMR-คา่สารละลาย Acetonitrile-d3,CD3CN

NMR-Acetonitrile-d3,CD3CN 500 ตวัอยา่ง

007590 NMR-คา่สารละลาย Acetic acid-d4, CD3COOD

NMR-Acetic acid-d4,CD3COOD 500 ตวัอยา่ง

500342 VSP-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ FT-IR VSP-Cost for FT-IR 800 การทดสอบ

500343 VSP-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ FT-IR (เร่งดว่น) VSP-Cost for FT-IR (Urgent) 1,600 การทดสอบ

500344 VSP-คา่จัดทํารายงาน FT-IR (พบสาร 1 ชนดิ)

VSP-Cost for report FT-IR (1 compound)

1,250 ฉบบั


VSP-Cost for report FT-IR (2 compounds)

1,700 ฉบบั


VSP-Cost for report FT-IR (3 compounds)

2,200 ฉบบั

500347 VSP-คา่จา้งเทคนคิ Diffuse VSP-Cost for Diffuse 800 การทดสอบ

500348 VSP-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ Diffuse (เร่งดว่น)

VSP-Cost for Diffuse (Urgent) 1,600 การทดสอบ

500349 VSP-คา่จัดทํารายงาน Diffuse (พบสาร 1 ชนดิ)

VSP-Cost for report Diffuse (1 compound)

1,250 ฉบบั


VSP-Cost for report Diffuse (2 compounds)

1,700 ฉบบั


VSP-Cost for report Diffuse (3 compounds)

2,200 ฉบบั

500352 VSP-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ ATR VSP-Cost for ATR 800 การทดสอบ

500353 VSP-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ ATR (เร่งดว่น) VSP-Cost for ATR (Urgent) 1,600 การทดสอบ

500354 VSP-คา่จัดทํารายงาน ATR (พบสาร 1 ชนดิ)

VSP-Cost for report ATR (1 compound)

1,250 ฉบบั


VSP-Cost for report ATR (2 compounds)

1,700 ฉบบั


VSP-Cost for report ATR (3 compounds)

2,200 ฉบบั

500357 VSP-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ Micro-ATR VSP-Cost for Micro-ATR 800 การทดสอบ

500358 VSP-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ Micro-ATR (เร่งดว่น)

VSP-Cost for Micro-ATR (Urgent) 1,600 การทดสอบ

500359 VSP-1 คา่จัดทํารายงาน Micro-ATR (พบสาร 1 ชนดิ)

VSP-Cost for report Micro-ATR (1 compound)

1,250 ฉบบั


VSP-Cost for report Micro-ATR (2 compounds)

1,700 ฉบบั


VSP-Cost for report Micro-ATR (3 compounds)

2,200 ฉบบั

500362 VSP-PM คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ FT-IR Imaging (Point mode)

VSP-Cost for FT-IR Imaging (Point mode)


500363 VSP-PMf คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ FT-IR Imaging (Point mode) : เร่งดว่น

VSP-Cost for FT-IR Imaging (Point mode (urgent)


500364 VSP-PM1 คา่จัดทํารายงาน FT-IR Imaging (Point mode: 1 ชนดิ)

VSP-Cost for report FT-IR Imaging (Point mode: 1 compound)

1,250 ฉบบั

500365 VSP-PM2 คา่จัดทํารายงาน FT-IR Imaging (Point mode : 2 ชนดิ)

VSP-Cost for report FT-IR Imaging(Point mode : 2 compounds)

2,500 ฉบบั

500366 VSP-PM3 คา่จัดทํารายงาน FT-IR Imaging (Point mode: 3 ชนดิ)

VSP-Cost for report FT-IR Imaging(Point mode: 3 compounds)

3,750 ฉบบั

500367 VSP-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ FT-IR Imaging (Image mode)

VSP-Cost for FT-IR Imaging (Imaging mode)


500368 VSP-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ FT-IR Imaging (Image mode: เร่งดว่น)

VSP-Cost for FT-IR Imaging (Imaging mode: Urgent)


500369 VSP-คา่จัดทํารายงาน FT-IR Imaging (Image mode: 1 ชนดิ)

VSP-Cost for report FT-IR Imaging (Image mode) (1 compound)

1,250 ฉบบั


VSP-Cost for report FT-IR Imaging(Image mode) (2 compounds)

2,500 ฉบบั


VSP-Cost for report FT-IR Imaging(Image mode) (3 compounds)

3,750 ฉบบั

500377 VSP-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ Raman Microscope

VSP-Cost for Raman Microscope 1,250 การทดสอบ

500378 VSP-คา่วเิคราะหเ์ทคนคิ Raman Microscope (เร่งดว่น)

VSP-Cost for Raman Microscope (Urgent)


500379 VSP-คา่จัดทํารายงาน Raman Microscope (พบสาร 1 ชนดิ)

VSP-Cost for report Raman Microscope (1 compound)

1,250 ฉบบั


VSP-Cost for report Raman Microscope (2 compounds)

2,500 ฉบบั


VSP-Cost for report Raman Microscope (3 compounds)

3,750 ฉบบั

504413 VSP-คา่วเิคราะห ์Micro-ATR (For Dincerco) พรอ้มรายงาน

VSP-Micro-ATR (For Dincerco) with Report


504841 VSP-คา่วเิคราะห ์Micro-ATR (For Dincerco) พรอ้มรายงาน (เร่งดว่น)

VSP-Cost for Micro-ATR (For Dincerco) with Report (Urgent)


500386 MCCU-CD300 คา่วเิคราะหท์ดสอบทางชวีภาพ direct contact method (จํานวน 1 ตวัอยา่ง)

MCCU-CD300 Biological in vitro test using direct contact method (1 sample)


500387 MCCU-CD301 คา่วเิคราะหท์ดสอบทางชวีภาพ direct contact method (ตวัอยา่งที� 2 ขึ�นไป กรณีสง่ชิ�นงานพรอ้มกนั)

MCCU-CD301 Biological in vitro test using direct contact method (the second sample or more)


500394 MCCU-CI200 คา่วเิคราะหท์ดสอบทางชวีภาพ test on extracts method ตามวธิมีาตรฐาน ISO10993-5 (จํานวน 1 ตวัอยา่ง)

MCCU-CI200 ISO10993 Biological evaluation of medical devices-part 5 : Test for in vitro cytotoxicity : Test on extracts (1 sample)


500395 MCCU-CI201 คา่วเิคราะหท์ดสอบทางชวีภาพ test on extracts method ตามวธิมีาตรฐาน ISO10993-5 (ตวัอยา่งที� 2 ขึ�นไป กรณีสง่ชิ�นงานพรอ้มกนั)

MCCU-CI201 ISO10993 Biological evaluation of medical devices-part 5 : Test for in vitro cytotoxicity : Test on extracts (the second sample or more)


500400 MCCU-CI500 การทดสอบความเป็นพษิดว้ยวธิ ีAgar Overlay จํานวน 1 ตวัอยา่ง

MCCU-CI500 Agar Overlay Cell Culture Screening for Cytotoxicity (1 sample)


500401 MCCU-CI501 การทดสอบความเป็นพษิดว้ยวธิ ีAgar Overlay (ตวัอยา่งที� 2 ขึ�นไป กรณีสง่ชิ�นงานพรอ้มกนั)

MCCU-CI501 Agar Overlay Cell Culture Screening for Cytotoxicity (the second sample or more)


500402 MCCU-CI600 การทดสอบความเป็นพษิดว้ยวธิ ีMTT assay (จํานวน 1 ตวัอยา่ง)

MCCU-CI600 MTT cytotoxicity assay (1 sample)


500403 MCCU-CI601 การทดสอบความเป็นพษิดว้ยวธิ ีMTT assay (ตวัอยา่งที� 2 ขึ�นไป กรณีสง่ชิ�นงานพรอ้มกนั)

MCCU-CI601 MTT cytotoxicity assay (the second sample or more)


500404 MCCU-MB100 AATCC method 147 - Antibacterial activity assessment of textile materials ดว้ยวธิ ีparallel streak method (แบคทเีรยีทดสอบ 1 สายพันธุ)์

MCCU-MB100 AATCC method 147 - Antibacterial activity assessment of textile materials: parallel streak method (1 test bacteria)


500406 MCCU-MB110 Modified AATCC 147 - Antibacterial activity assessment of textile materials ดว้ยวธิ ีpour plate method (แบคทเีรยีทดสอบ 1 สายพันธ◌์)ุ

MCCU-MB110 Modified AATCC 147 - Antibacterial activity assessment of textile materials: pour plate method (1 test bacteria)


500408 MCCU-MB200 AATCC method 100 - Antibacterial activity assessment of textile materials (แบคทเีรยีทดสอบ 1 สายพันธุ)์

MCCU-MB200 AATCC method 100 Antibacterial activity assessment of textile materials (1 test bacteria)


500411 MCCU-MB300 JIS L 1902 - Testing method for antibacterial of textiles (Qualitative testing) (แบคทเีรยีทดสอบ 1 สายพันธุ)์

MCCU-MB300 JIS L 1902 - method for antibacterial of textiles (Qualitative testing) (1 tested becterial)


500413 MCCU-MB310 JIS L 1902 - Testing method for antibacterial of textiles (Quantitative testing) (แบคทเีรยีทดสอบ 1 สายพันธุ)์

MCCU-MB310 JIS L 1902 - Testing method antibacterial of textiles (Quantitative testing) (1 test bacteria)


500415 MCCU-MB400 JIS Z 2801 - Antimicrobial products-Test for antimicrobial activity and efficacy (แบคทเีรยีทดสอบ 1 สายพันธุ)์

MCCU-MB400 JIS Z 2801-Antimicrobial products-Test for antibacterial activity and efficacy (1 test bacteria)


500417 MCCU-MF500 Modified AATCC 147 - Antibacterial activity assessment of textile materials ดว้ยวธิ ีpour plate method (เชื�อราทดสอบ 1 สายพันธุ)์

MCCU-MF500 Modified AATCC 147 - Antibacterial activity assessment of textile materials: pour plate method (1 test fungus)


500419 MCCU-MF600 AATCC 30 (Part III) - Antifungal activity, assessment on textile materials : mildew and rot resistance of textile materials (จํานวน 1 ั ่ )

MCCU-MF601 AATCC 30 (Part III) - Antifungal activity, assessment on textile materials: mildew and rot resistance of textile materials (1

l )


500420 MCCU-MF601 AATCC 30 (Part III) - Antifungal activity, assessment on textile materials: mildew and rot resistance of textile materials (ตวัอยา่งที� 2 ขึ�นไป กรณีสง่ชิ�นงานพรอ้มกนั)

MCCU-MF601 AATCC 30 (Part III) - Antifungal activity, assessment on textile materials: mildew and rot resistance of textile materials (the second sample or more)


500421 MCCU-MF610 AATCC method 30 (Part IV) – Antifungal activity, assessment ontextile materials: mildew and rot resistance of textile materials (จํานวน 1 ตวัอยา่ง)

MCCU-MF610 AATCC method 30 (Part IV) – Antifungal activity, assessment on textile materials: mildew and rot resistance of textile materials (1 sample)


500422 MCCU-MF611 AATCC method 30 (Part IV) - Antifungal activity, assessment on textile materials: mildew and rot resistance of textile materials ั ี� ึ� ไป ี �

MCCU-MF611 AATCC method 30 (Part IV) - Antifungal activity, assessment on textile materials: mildew and rot resistance of textile materials (the second sample or more)


500423 MCCU-MF700 ASTM G21 - Determiningresistance of synthetic polymeric materials to fungi (จํานวน 1 ตวัอยา่ง)

MCCU-MF700 ASTM G21 - Determining resistance of synthetic polymeric materials to fungi (1 sample)


500424 MCCU-MF701 ASTM G21 - Determining resistance of synthetic polymeric materials to fungi (ตวัอยา่งที� 2 ขึ�นไป กรณีสง่ชิ�นงานพรอ้มกนั)

MCCU-MF701 ASTM G21 - Determining resistance of synthetic polymeric materials to fungi (the second sample or more)


500425 MCCU-MF800 JIS Z 2911 – Method of test for fungus resistance for general industrial products (จํานวน 1 ตวัอยา่ง)

MCCU-MF800 JIS Z 2911 – Method for fungus resistance for general industrial products (1 sample)


500426 MCCU-MF801 JIS Z 2911 – Method of test for fungus resistance for general industrial products (

MCCU-MF801 JIS Z 2911 – Method for fungus resistance for general industrial products (the second sample or more)


500431 MCCU-MT920 การทดสอบหาจํานวนจลุนิทรยีท์ั �งหมด

MCCU-MT920 Total Aerobic Count 1,600 ตวัอยา่ง

500432 MCCU-PT100 คา่ภาพรายงานผล MCCU-PT100 SEM/LM micrograph 50 รูป

500433 MCCU-RP100 คา่รายงาน สาํหรับวธิ ีMCCU-CD300/MCCU-CI200)

MCCU-RP100 Report for MCCU-CD300 /MCCU CI200)

2,000 ฉบบั

500435 MCCU-RP120 คา่รายงาน สาํหรับวธิ ีMCCU-CI500/MCCU-CI600

MCCU-RP120 Report for MCCU-CI500/MCCU CI600

1,000 ฉบบั

500436 MCCU-RP130 คา่รายงานฉบบัเพิ�มเตมิ MCCU-RP130 Report Additional report 500 ฉบบั

500437 MCCU-SP100 คา่เตรยีมตวัอยา่ง MCCU-SP100 Sample preparation 200 ชั�วโมง

500438 MCCU-SM200 การเตรยีมชิ�นงานทดสอบสาํหรับเครื�อง SEM ดว้ยเครื�อง Critical point dryer (รวมขั �นตอนการตรงึเซลลแ์ละการดงึนํ�าออกจากเซลล)์

MCCU-SM200 SEM sample preparation by using Critical point dryer (including fixation and dehydration process)

1,500 รอบ

500439 MCCU-SM210 การเตรยีมชิ�นงานทดสอบสาํหรับเครื�อง SEM ดว้ยเครื�อง Critical point dryer (ไมร่วมขั �นตอนการตรงึเซลลแ์ละการดงึนํ�าออกจากเซลล)์

MCCU-SM200 SEM sample preparation by using Critical point dryer (excluding fixation and dehydration process)

1,000 รอบ

500442 MCCU-SA500 คา่บรกิารฆา่เชื�อชิ�นงานกอ่นการทดสอบดว้ยเครื�องนึ�งความดนัสงู (Autoclave sterilization)

MCCU-SA500 Autoclave sterilization 350 ตวัอยา่ง

500443 MCCU-SG600 คา่บรกิารฆา่เชื�อชิ�นงานกอ่นการทดสอบดว้ยวธิ ีGamma irradiation

MCCU-SG600 Gamma sterilization 1,500 ตวัอยา่ง

500444 MCCU-SE700 คา่บรกิารฆา่เชื�อชิ�นงานกอ่นการทดสอบดว้ย Ethylene oxide gas

MCCU-SE700 Ethylene oxide sterilization


503737 MCCU-Minimum inhibitory concentration (MIC) (แบคทเีรยีทดสอบ 1 สายพันธุ)์

MCCU-Minimum inhibitory concentration (MIC) (1 test bacterial)


504478 MCCU-Modified ASTM D5590 - Determining the Resistance of Paint Films and Related Coatings to Fungal Defacement by Accelerated Four-Week Agar Plate Assay

MCCU-Modified ASTM D5590 - Determiningthe Resistance of Paint Films and Related Coatings to Fungal Defacement by Accelerated Four-Week Agar Plate Assay


505160 MCCU-MB404 ISO 22196 - Measurement of antibacterial activity on plastics and other non-porous surfaces (แบคทเีรยีทดสอบ 1 สายพันธุ)์

MCCU-MB404 ISO 22196 - Measurement of antibacterial activity on plastics and other non-porous surfaces (1 test bacteria)


005614 MCCU-ASTM E 2149 - Standard test method for Determining the Antimaicrobial activity of Antimicrobial agents under dynamic contact conditions (แบคทเีรยีทดสอบ 1 สายพันธ)์

MCCU-ASTM E 2149 - Standard test method for Determining the Antimaicrobial activity of Antimicrobial agents under dynamic contact conditions (1 test bacterial)


005615 MCCU-ISO 13125: 2013 - Fine ceramics(advanced ceramics, advanced technicalceramics) - Test method for

tif l

MCCU-ISO 13125: 2013 - Fine ceramics(advanced ceramics, advanced technicalceramics) - Test method for antifungal

ti it f i d ti


005616 MCCU-ISO 27447: 2009 - Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Test method for antibacterial activity of semiconducting photocatalytic materials (แบคทเีรยีทดสอบ 1 สายพันธุ)์

MCCU-ISO 27447: 2009 - Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Test method for antibacterial activity of semiconducting photocatalytic materials (1 test bacteria)


005617 MCCU-ISO 17094: 2014 - Fine ceramics(advanced ceramics, advanced technicalceramics) - Test method for antibacterial activity of semiconducting

MCCU-ISO 17094: 2014 - Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Test method for antibacterial activity of semiconducting photocatalytic materials under indoor lighting environment (1 test bacteria)


005618 MCCU-JIS Z 2801 - Antimicrobial products-Test for antimicrobial activity and efficacy (Antifungal activity test) (เชื�อราทดสอบ 1 สายพันธ)์

MCCU-JIS Z 2801 - Antimicrobial products-Test for antimicrobial activity and efficacy (Antifungal activity test) (1 test fungus)


500515 CHRO-THF คา่วเิคราะหห์านํ�าหนักโมเลกลุ (GPC : ระบบ THF)

CHRO-MW analysis (GPC: THF system)


500516 CHRO-WT คา่วเิคราะหห์านํ�าหนักโมเลกลุ (GPC : ระบบนํ�า)

CHRO-MW analysis (GPC: aqueous system)


500519 CHRO-คา่เตรยีมตวัอยา่งสาํหรับ GPC CHRO-Sample preparation for GPC 300 ตวัอยา่ง

500520 CHRO-คา่ฉดีสารมาตรฐาน CHRO-standard 2,200 ครั�ง

ห้องปฏิบัติการฟิสกสิ ......ppl-fluorescence spectrometer 500...

Documents