curso omicron eletronorte

CURSO CAIXA DETESTE

OMICRON

Eng. Geraldo Magela AounEng. Geraldo Magela AounEng. Geraldo Magela AounEng. Geraldo Magela Aoun

28 HARDWARE

HHaarrddwwaarree

Specifications1

Generator/amplifier section

Voltage generators/amplifiers (see diagram)

Setting range4-phase ac (L-N) 4 x 0 ... 300 V (VL4(t) automatically

calculated: VL4=(VL1+VL2+VL3) * C or free programmable)

1-phase ac (L-L) 1 x 0 ... 600 Vdc (L-N) 4 x 0 ... ±300 V

Power3-phase ac (L-N) 3 x 85 VA at 85 ... 300 VVL4 ac (L-N) 1 x 85 VA at 85 ... 300 V4-phase ac (L-N) 4 x 50 VA at 75 ... 300 V1-phase ac (L-N) 1 x 150 VA at 75 ... 300 V

(typ. 200 VA at 100 ... 300V)1-phase ac (L-L) 1 x 150 VA at 150 ... 600 Vdc (L-N) 1 x 360 W at ±300 V

Accuracy error < 0.025% typ. (<0.1% guar.) at 30 ... 300 V

Distortion (THD+N)2 <0.015% typ. (<0.05% guar.)Output voltage range 150 V, 300 VResolution 5 mV in 150 V range

10 mV in 300 V range

CMC 256-6 current generators/amplifiers

Current amplifiers group A and/or BRange 12.5 ASetting range

3-phase ac (L-N) 6 x 0 ... 12.5 A1-phase ac (3L-N) 2 x 0 ... 37.5 Adc (3L-N) 2 x 0 ... ±17.5 A

Power3-phase ac (L-N) 6 x 70 VA at 7.5 A1-phase ac (3L-N) 2 x 210 VA at 22.5 A1-phase ac (L-L) 2 x 140 VA at 7.5 Adc (3L-N) 2 x 235 W at ±17.5 A

Resolution 500 µA

Range 1.25 ASetting range

3-phase ac (L-N) 6 x 0 ... 1.25 APower

3-phase ac (L-N) 6 x 12.5 VA at 1.25 AResolution 50 µA

Group A and B in series External connection (IL2A - IL2B)Power

1-phase ac (IL1A-IL1B) 280 VA at 7.5 A (40 Vrms)

CMC 256-3 Current generators/amplifiers

(or CMC 256-6 group A and B in parallel) (see diagram)Range 25 ASetting range

3-phase ac (L-N) 3 x 0 ... 25 A1-phase ac (3L-N) 1 x 0 ... 75 Adc (L-N) 1 x 0 ... ±35 A

Power3-phase ac (L-N) 3 x 140 VA at 15 A1-phase ac (L-L) 1 x 280 VA at 15 A1-phase ac (L-N) 1 x 420 VA at 45 Adc (3L-N) 1 x 470 W at ±35 A

Range 2.5 ASetting range

3-phase ac (L-N) 3 x 0 ... 2.5 APower

3-phase ac (L-N) 3 x 25 VAResolution 100 µA / 1 mA in 2.5 A / 25 A range

Current generators/amplifiers general:

Accuracy error < 0.03% typ. (<0.1% guar.)Distortion (THD+N)2 < 0.025% typ. (<0.07% guar.)Max. compliance voltage A, B 10 Vrms , 15 Vpk

Low Level outputs “LL out 1-6”

Setting range 6 x 0 ... 10 Vpk (LL out 1-6)Max. output current 1 mAAccuracy error < 0.025% typ. (<0.07% guar.)

at 1 ... 10 VpkResolution 250 µVDistortion (THD+N)2 <0.015% typ. (<0.05% guar.)unconventional CT/VT simulation linear, RogowskiOverload indication YesIsolation SELVUsability Complete independent usable from the

internal amplifier outputs

Generators, general

Frequency range

Sine signals 10 ... 1000 Hz

Transient signals dc ... 3.1 kHzFrequency accuracy/drift ±0.5 ppm / ±1 ppmFrequency resolution < 5 µHzPhase angle range -360° ... +360°Phase resolution 0.001°Phase error <0.02° typ. (<0.1° guar.) at 50/60HzBandwidth (-3dB) 3.1kHzConnections

Amplifier outputs All signals on 4mm banana sockets on frontpanel; Output VL1..VL3 and N andOutput IL1-IL3 and N of Group A on 8 pinamplifier combination socket

Low Level outputs “LL out 1-6” 16 pin combination socket (rear side)

CMC 256

CMC 256

3 Phase / 6 Phase Test Set

CMC 256-6 EP

6 Phase Test Set (Extended

Precision)

The CMC 256 is availablein two versions: the sixphase CMC 256-6 with 6 x12.5A current outputs,and the three phase CMC 256-3 with 3 x25Acurrent outputs.

Compared to the CMC 156,the CMC 256 offers the following additionalfeatures:

Voltage outputs 0 ... 300 VFor testing protective relays with highervoltage requirements (up to 600 V singlephase) in industry, measuring transducersand meters.

Fourth, independenty controllablevoltage output 0 ... 300 Ve.g. for convenient testing of synchronizingdevices or generation of residual voltage.

Current outputs 6 x 12.5 A or 3 x 25 AHigher power for testing electromechanicalrelays without an additional amplifier.Six current outputs (CMC 256-6) allowstesting of two-winding transformer differential protection without an additionalexternal current amplifier.

Independent DC supply(0 ... 264 V, 50 W)e.g. for relay power supply.

Analog measurement inputs(with EnerLyzer option)Supplements all ten binary inputs withanalog measurement functions for voltagesof up to 600 V and currents (with currentclamps). Amplitude, frequency, phase,power measurement, recording and analysisof transient signals, event trigger etc.

CMC 256-6

29HARDWARE

All voltage and current generators are continuously and independently adjustable inamplitude, phase and frequency. All current and voltage outputs are fully overload andshort-circuit proof and protected against external high-voltage transient signals andovertemperature (indication in the software via error message). The generator/ amplifiercircuits and mains circuits are galvanically separated. Current, voltage, dc auxiliary andbinary/analog input circuits are galvanically separated from each other.

Aux. dc supplyOutput voltage ranges 0 ... 264 Vdc, 0.2 A

0 ... 132 Vdc, 0.4 A0 ... 66 Vdc, 0.8 A

Power max. 50 WAccuracy error < 2% typ. (< 5% guar.)Connection 4mm banana sockets on front panel

Short circuit protected, isolated from all other galvanic groups, overload signalindication.

Timer/measuring section

Binary inputsNumber 10 inputsTrigger criteria Toggling of potential-free contacts or dc-

voltage compared to threshold voltageInput characteristic 0 ... ±600 Vdc threshold, or potential freeResolution of threshold ±2 mV, ±20 mV, ±200 mV, ±2 V, ±20 V

in range 100 mV, 1 V, 10 V, 100 V, 600 V (rms)Sample rate 10 kHzResolution 100 µsMax. measuring time InfiniteCounting function <3 kHz, at pulse width >150 µsGalvanic isolation 5 groups (2+2+2+2+2)Max. input voltage 600Vrms (850Vpk)Connection 4 mm banana sockets on front panel

(combined with analog inputs)

Counter inputs 100 kHzNumber 2Max. counting frequency 100 kHzPulse width >3 µsThreshold voltage 6 VVoltage hysteresis 2 VMax. input voltage ±30 VIsolation SELVConnection 16 pin combination socket (rear side)

Binary outputsRelaysNumber 4Type Potential-free relay contacts,

controlled via softwareBreak capacity ac Vmax: 300 Vac, Imax: 8 A, Pmax: 2000 VABreak capacity dc Vmax: 300 Vdc, Imax: 8 A, Pmax: 50 WConnection 4 mm banana sockets on front panel

TransistorNumber 4Type Open collector transistor outputsUpdate rate 10 kHzImax 5 mAConnection 16 pin combination socket (rear side)

dc voltage / dc current measuring inputsvoltage measuring input range 0 ... ±10 Vcurrent measuring input ranges 0 ... ±1 mA, 0 ... ±20 mAAccuracy error < 0.003% typ. (<0.02% guar.)Connection 4 mm banana sockets on front panel

Continued on next page

Output voltage [V]

600

Outp

ut

pow

er

[VA

]

75

85

150 300

150

3-phase ac (L-N)

1-phase ac (L-N) 1-phase ac (L-L)

Voltage amplifiers

Guaranteed values valid over one year within 73°F±10°F (23°C±5°C), in the

frequency range of 10 ... 100 Hz at nominal value, analog measurement inputs at

full-scale value. Specifications for three-phase systems under symmetrical

conditions (0°, 120°, 240°).

1 The specifications are both valid for the CMC 256-6 and the CMC 256-3, except

where otherwise noted.

2 THD+N: Values at 50/60Hz with 20kHz bandwidth.

300

450

7525

Output current [A]

Group A and B in series

(CMC 256-6 only)

1-phase ac (L-N)

Outp

ut

pow

er [

VA

]

Current amplifiers

5012.5

150

1-phase ac (L-L)

3-phase ac (L-N)

30 HARDWARE

HHaarrddwwaarree

CMC 256-6 EP (Extended Precision)

The CMC 256-6 is also available with the EP (Extended

Precision) hardware option. The extreme high accuracy of the

voltage and current amplifiers make the CMC 256-6 EP the

ideal instrument for test and calibration of the newest energy

meters (up to class 0.2S according to IEC687, 0 ... 300 V three-

phase); for special applications like development, type testing,

acceptance testing, device calibration, or product

demonstration, the additional features of CMC 256-6 EP

provide a complete solution.

The EP option can be ordered together with a new CMC 256-6

unit, or an existing CMC 256-6 can be upgraded to include it.

The specifications differ from a standard CMC 256-6 in the

following values4:

Current generators/amplifiers

Accuracy error <0.02 % typ. (<0.05% guar.)

Voltage generators/amplifiers

Accuracy error <0.02 % typ. (<0.05% guar.)

Generators general

Phase error <0.005° typ. (<0.02° guar.) at 50/60 HzTemperature drift 0.0025% / °C

Output power

Accuracy5 error <0.05% typ. (<0.1% guar.)related to set values (relative error) at0.1 … 12.5 A (current amplifier group A or B,50/60 Hz) and 50 … 300 V

temperature drift <0.001%/°C typ. (<0.005%/°C guar.)

Guaranteed values valid over one year within 23°C ±5°C (73°F ±10°F) in the

frequency range of 10 … 100 Hz. Specifications for three-phase systems under

symmetrical conditions (0°, 120°, 240°).

1 Up to three inputs can be used for measuring rms values without the

EnerLyzer option.

2 For line input voltages below 150V, a derating of the simultaneously available

sum output power of the voltage/current amplifiers and the AuxDC will occur. All

other technical specifications (e.g. the maximum output power of a single

amplifier) are not affected.

3 For an operational temperature above +30°C a duty cycle of up to 50% may

apply.

4 All other specifications are completely equivalent to the data given for the

CMC 256-6 standard unit.

5 Permissible load current outputs:

Range 1.25 A: 0 … 1 Ω and max. 1 VA, cos ϕ = 0.5 … 1

Range 12.5 A: 0 … 0.5 Ω and max. 6 VA, cos ϕ = 0.5 … 1.

Permissible load voltage outputs:

max. 10 VA at 50 … 300 V, cos ϕ = 0.5 … 1.

Analog ac+dc measuring inputs (optional, in connection with EnerLyzer1)Type ac+dc analog voltage inputsNumber 10Nominal input ranges 100 mV, 1 V, 10 V, 100 V, 600 V (rms)Amplitude accuracy error < 0.06% typ. (<0.15% guar.)Bandwidth dc ... 10 kHzSampling frequency 28.44kHz, 9.48 kHz, 3.16 kHzInput impedance 500 kΩ // 50 pFTransient input buffer 3.5 s for all ten input channels at

28 kHz sampling frequency or 316 swith one channel and 3 kHz samplingfrequency

Current clamps Inputs usable with current clamps with voltageoutput or external shunt and standard currentclamp

Measurement functions Idc, Vdc, Iac, Vac, phase, frequency, power,energy, harmonics; Transient recordingcapability for all channels

Input overload indication YesInput protection YesMax. input voltage 600 Vrms (850 Vpk)Galvanic isolation 5 groups (2+2+2+2+2)Connection 4mm banana sockets on front panel

(combined with binary inputs)

General

Power supply

Nominal input voltage 110 - 240 Vac, 1-phase

Permissible input voltage 99 ... 264 VacNominal frequency 50/60 Hz

Permissible frequency range 45 - 65 Hz

Power consumption2 1.2 kVA at 115 V

1.6 kVA at 230 V

Rated current 10 A

Connection Standard ac socket (IEC 60320)

Environmental conditions

Operation temperature3 0 ... +50°C (+32 ... +122°F)

Storage temperature -25...+70°C (-13 ... +158°F)

Humidity range Rel. humidity 5..95%, non-condensing

Vibration IEC 68-2-6 (20m/s2 at 10 ... 150Hz)

Shock IEC 68-2-27 (15g/ 11ms half-sine)

EMC CE conform (89/336/EEC), EN 61326-1

Emission EN 50081-2, EN 61000-3-2/3

FCC subpart B of Part 15 Class A

Immunity EN 50082-2,

IEC 61000-4-2/3/4/5/6/11

Safety EN 61010-1, EN 60950,

IEC 61010-1, UL 3111-1

CAN/CSA-C22.2 No 1010.1

Certifications TÜV-GS; UL,CUL

Weight 15.7 kg (34.8 lb.)

Dimensions 450 x 145 x 390 mm (17.7” x 5.7” x 15.4”)

Miscellaneous

PC-Connection Parallel port (IEEE1284-C connector)

CMC 56/156 SW-compatible Windows - SW (Test Universe)

Signal indication (LED) >42V for AUX-dc, and voltage outputs

Ground socket (earth) 4mm banana socket; rear side

Self diagnostics of the hardware upon each start-up. Automatic supervision of

the voltage and current outputs while testing.

CMC 256

3 Phase / 6 Phase Test Set

(continued)

Eng. Geraldo M. Aoun______QuickCMC/State Sequencer/Ramping_________29/09/96______Página 1

CURSO CAIXA DE TESTES OMICRON

RELÉ DE SOBRECORRENTE NÃO DIRECIONAL

1. QuickCMC

1.1 - Dados do Relé

Ajustes do Relé Fase-NeutroValor de Pickup 0,36 x Inom ou 1,8 ACurva Característica Very Inverse (VI)Dial de Tempo 1Pickup Instantâneo (I>>) 5,5 x IpickupTolerância para Pickup/Dropout ± 5% = ± 0,9 A

1.2 - Configuração do Hardware


1.2.1 - Ajuste a tensão para “not used” e a corrente para 3 x 12,5 A, comomostrado na figura acima. Confirme a seleção clicando em OK.

1.2.2 - Clique em “Analog Outputs”

1.2.3 – Defina os nomes para cada sinal de corrente, por exemplo IA, IB, IC, INe Jumpers.

1.2.4 - O terminal de conexão no relé pode ser especificado na terceira coluna.

1.2.5 – Selecione com “X” nas colunas para IA, IB, IC e IN para especificarquais saídas da CMC são conectadas com o terminal do relé.

1.2.6 – Clique em “Binary / Analog Inputs”

1.2.7 – Defina a entrada binária 1 como “Start” , entrada binária 2 como “Trip”,entrada binária 3 como “Trip 3 phase” e entrada binária 4 como “entrada binária4”. Em Display Name preencher como “Start”, “Trip L-L”, “Trip L-N” e “Inst”.

1.2.8 – Selecione com X as respectivas entradas binárias (conforme ligação)

1.2.9 – Defina as entradas binárias de 1 a 4 como “Potential free” através daseleção do check box. Se utilizarmos contatos com tensão, o nivel de triggerpara cada entrada pode ser especificado separadamente.


1.3 – Teste de Valôres de Pickup L-N

1.3.1 – Entre com as correntes 1, 2 e 3 iguais a zero

1.3.2 – No campo “Step” na opção “Triple” , selecione a opção CMC256-6I A

1.3.3 – No campo “Quantity” escolha a opção I1

1.3.4 – No campo “Size” preencha o valor 0,020 A (Step)

1.3.5 – No campo “Time” entre com o valor de 1,00 s

1.3.6 – Marque a opção Auto Step

1.3.7 – Clique no botão “On/Off” para ligar a saida de corrente da CM 256-6 eclique na set acima.

1.3.8 – A fase A de corrente irá aumentar gradativamente até que a entradabinária do sinal de trip “start” opere.

1.3.9 – Isso irá acontecer para o valor de corrente da figura acima (1.8 A). Paraanexar este dado ao relatório de teste, clique em “Add to report”

1.3.10 – No campo “Title” digite Teste PickUp Fase-Neutro, insira oscomentários no campo “Comment” , e em seguida classifique o resultado doteste como “Passed” ou “Failed”.


1.4 – Teste de Valôres de DropOut L-N

1.4.1 – Clique na seta abaixo na tela do QuickCMC

1.4.2 – A fase A de corrente irá diminuir gradativamente até que a entradabinária do sinal de Trip “Start” desopere.

1.4.3 - Isto irá acontecer para o valor de corrente de 1,720 A, para anexar estedado ao relatório de teste, clique en “Add to report”.

1.5 – Teste da curva de corrente x tempo (fase – neutro)

1.5.1 A figura abaixo mostra o teste para 2 x Ipickup.

1.5.2 Desmarque as entradas binárias 1 e 2 deixando a caixa com o triggersomente para o trip fase neutro.

1.5.3 Clique no botão “On/Off” para ligar as correntes de saída da CMC 256

1.5.4 Clique no botão “Hold Values” para congelar a saída da CMC naconfiguração presente.

1.5.5 Entre agora com o valor de 3,6 A no campo da fase A

1.5.6 Clique novamente no botão “Hold Values” para descongelar a saída daCMC e aplicar a nova configuração.

1.5.7 Observe a resposta da entrada binária 3 para o tempo de trip.

1.5.8 Para capturar os dados do teste para o relatório, clique no botão “Add toReport” .

1.5.9 Reseteie a corrente para 0 A, e repita o teste usando 3 X Ipickup(5,4 A) e 4 X Ipickup (7,2 A).


1.6 - Teste de Pickup instantâneo

1.6.1 Desmarque a entrada binária 3 e marque a entrada binária 4(Instantâneo)

1.6.2 No campo “Step” na opção “Triple” , selecione a opção CMC256-6I A

1.6.3 No campo “Quantity” escolha a opção I1

1.6.4 No campo “Size” preencha o valor 0,05 A (Step)

1.6.5 No campo “Time” entre com o valor de 1 s.

1.6.6 Selecione a caixa “Auto-Step”

1.6.7 Clique no botão “On/Off” para ligar a saída de corrente da CMC 256.

1.6.8 Clique na seta acima. O teste irá iniciar até o trigger parar o teste.

1.6.9 Observe o resultado do teste :

1.6.9.1 O Pickup instantaneo é 9,9 A1.6.9.2 O tempo de operação instantâneo é de 0,08 s.

1.6.10 Para capturar o dado do teste, clique em “Add to Report”

2. State Sequencer

2.1 Teste de Pickup e Droupout


2.1.1 Ajuste a corrente da fase A para 1,6 A.

2.1.2 Escolha a opção “Trigger” em “Detail View”

2.1.3 Em “Binary Trigger Condition” selecione a logica “1” para a condição detrigger “start”

2.1.4 Clique em “New State Icon” ou selecione “Edit | Insert State” . Seracopiado o estado 1 com todos seus ajustes para o estado 2.

2.1.5 Edite o tempo do estado 2 para “0,2 s”

2.1.6 Incremente os valores de corrente de 0,1 A para IA mantendo IB e ICiguais a zero.

2.1.7 Repita os itens 2.1.3 a 2.1.5 e incremente os valores de corrente dafase A até 1,9 A

2.1.8 Clique em “New State” ou selecione “Edit | Insert State” para criar oestado 5

l2.1.9 Decresça o valor de corrente de 0,1 A para a fase A

2.1.10 Mude a logica de trigger “Start” no “Trigger Tab” para lógica “0” .

2.1.11 Repita os ítens 2.1.7 e 2.1.8 até a corrente IA for igual à 2,0 A.

2.1.12 Clique em “New State” ou selecione “Edit | Insert State” para criar oestado 8

2.1.13 Ajuste todas correntes em zero e o tempo para 1 s.

2.1.14 Desmarque a caixa “Binary trigger condition” , deixando somente“maximum state time” ativo.

State Fase A Fase B Fase C Trigger1 1,6 A 0,0 A 0,0 A Start = 12 1,7 A 0,0 A 0,0 A Start = 13 1,8 A 0,0 A 0,0 A Start = 14 1,9 A 0,0 A 0,0 A Start = 15 1,8 A 0,0 A 0,0 A Start = 06 1,7 A 0,0 A 0,0 A Start = 07 1,6 A 0,0 A 0,0 A Start = 08 0 A 0,0 A 0,0 A Nenhum


2.1.15 Selecione a opção “Measurement View”

2.1.16 Na primeira linha do Measurement Vies

2.1.16.1 Entre com o nome para o teste “L-L PUV”2.1.16.2 “Ignore Before” ajuste para “state 2” Isto significa que todos os

estados antes deste serão ignorados.2.1.16.3 “Start” Ajuste para “State 2”. Isto indica o primeiro estado onde a

corrente muda e o relé da trip.2.1.16.4 “Stop” Ajusta para “Start 0>1” . Isto indica que a entrada binária

“Start” passa da lógica “0” para a lógica “1” .2.1.16.5 “Tnom” Ajuste para “0,400 s

Levantamento da curva corrente x tempo

Estado Fase A Fase B Fase C TriggerPre falta 2 x L-N 0,0 A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =X

2 x PUV L-N 3,6 A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =1Pre falta 3x L-N 0,0 A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =X3 x PUV L-N 5,4 A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =1

Pre falta 4 x L-N 0,0 A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =X4 x PUV L-N 7,2 A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =1Dead state 0,0 A 0,0 A 0,0 A Nenhum


Teste de Pickup instantâneo

Estado Fase A Fase B Fase C TriggerInst L-N #1 9,7 0,0 A 0,0 A Inst = 1Inst L-N #2 9,8 0,0 A 0,0 A Inst = 1Inst L-N #3 9,9 0,0 A 0,0 A Inst = 1Inst L-N #4 10 0,0 A 0,0 A Inst = 1

3 – Ramping

3.1 – Teste de Pickup, Dropout e intantâneo


3.1.1 No modulo Ramping Test View, defina quatro rampas consecutivasclicando no ícone correspondente “Four Ramp States” .

3.1.2 Selecione IA no menu “drop-down” Signal 1

3.1.3 Selecione Amplitude no menu “drop-down” Function

3.1.4 Use a toolbar de navegação para mudar de estado

3.1.5 Entre com os dados para a avaliação conforme mostrado abaixo.

3.1.6 Escolha a opção “General” no Test View e entre com o numero derepetições que voce deseja. Se optar por “0x” o teste será executadouma única vez.

3.1.7 Selecione “State 1 Signal 1” no campo “Ratio Calculation”. O RatioCalculation automaticamente irá calcular o pickup e o dropout do relé.


3.1.8 Todos os valôres que são estáticos durante a saída da rampa sãodefinidos no “Analog Outputs” no Detail View. Os valôres da rampa sãomostrados com fundo cinza; os valôres estáticos são mostrados emfundo branco ou amarelo. Voce pode editar os valôres estáticosmanualmente.


3.1.9 Para o state 1 entre com IA =1,6 A, como mostrado acima.

3.1.10 Para o state 2 entre com IA = 2 A



3.1.13 É necessário informar os contatos que irão operar para o pickup e para odropout do relé. No exemplo acima, o contato de partida é conectado naentrada binária 1 e chamado de “start.

3.1.14 Selecione a opção “Trigger” no detail view

3.1.15 Habilite as condições de trigger selecionando “Binary trigger condition”.As condições de trigger são definidas individualmente para cada estadoda rampa.

3.1.16 Durante o estado 1, o contato de partida (start) irá fechar (passando doestado 0 para o estado 1). Consequentemente, A condição de triggerdeve ser ajustada para “Start = 1” para o estado 1.

3.1.7 No campo “On Trigger” selecione a opção Stop Ramp State. Destaforma, a rampa será parada após a condição de trigger acontecer,acelerando portanto o teste.

3.1.8 A opção “Step Back” habilita a sub-rampa para ser executada sendopossível uma maior precisão em ensaios de pickup.


3.1.9 Ajuste a condição de trigger “Start =0” para o estado 2

3.1.10 Para o estado 3 não selecione nenhum trigger

3.1.11 Ajuste a condição de trigger “Inst = 0” e “Start = X” para o estado 4.Marque a caixa de verificação “stop ramp State” para os estados 2 e 4,deixando-os sem delay time.

©Eng. Geraldo M. Aoun______________ GE-UR-D60__________________27/05/02_________________Página 1

CURSO CAIXA DE TESTES OMICRON RELÉ GE UR – D60

1. Ligações do Relé


1. Ajustes e Cálculos 1.1 – FASE-FASE


1.2 – FASE-NEUTRO


2. Construção das curvas características utilizando o software CMC


ZONA 1 – MHO PHS DIST Z1

PHS DIST Z1 PHS DIST Z1 PHS DIST Z1 SHAPE REACH RCA

MHO 2 OHMS 85 GRAUS


ZONA 1 – QUADRILATERAL – (FASE-FASE) PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

SHAPE REACH RCA RGT BLD

RGT BLD RCA

LFDT BLD

LFT BLD RCA

QUAD 10 OHMS 85 GRAUS 10 85O 10 85O


ZONA 1 – MHO – (FASE-TERRA) GND DIST Z1

GND DIST Z1 GND DIST Z1 GND DIST Z1 SHAPE REACH RCA

MHO 2 OHMS 85 GRAUS


ZONA 1 – QUADRILATERAL – (FASE-TERRA) GND DIST Z1

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

SHAPE REACH RCA RGT BLD

RGT BLD RCA

LFDT BLD

LFT BLD RCA

QUAD 2 OHMS 85 GRAUS 10 85O 10 85O

©Eng. Geraldo M. Aoun_______________7SA511______________________10/04/01_________________Página 1

3. TESTES

3.1 - Zone Settings

3.1.1 – As tolerâncias para cada teste (fase-terra AN-BN-CN , fase-fase AB-AC-BC etrifásico A-B-C), devem ser ajustadas nesta tela.3.1.2 – Valores típicos para o tempo e tolerância da impedancia para relés numéricossão de 5% para a impedancia relativa e 10% para o tempo relativo. A tolerância para aimpedancia absoluta deve ser ajustada para 50 ohms e a tolerância de tempo deve serajustada para 2.5 ciclos.

3.2 – Default test settings.São incluídos na metodologia de teste. Os “teste settings” normalmente não precisamser redefinidos para cada novo teste. Estes ajustes são independentes dos ajustes dos


relés. Se os ajustes dos relés são importados/exportados, estes ajustes não sãoafetados.

3.3 – System Settings


O sistema de teste precisa conhecer alguns parâmetros gerais do dispositivo deproteção para efetuar o teste com sucesso. Esses parâmetros são válidos para todas aszonas.

3.3.1 – Line angle

Angulo da linha

3.3.2 – PT connection

Conexão do TP no lado da linha

Tensão Pós – Falta V = 0 V

Conexão do TP no lado da barra

Tensão Pós – Falta V = VN

3.3.3 – CT Startpoint

Em geral a corrente que flue em direção ao objeto a ser protegido é definida com direçãopara a frente. Para o relé de distancia esta corrente flue na direção da linha.

TC aterrado no lado da linha TC aterrado no lado da barra


Para a corrente primária fluindo em direção da linha e aterrando os TC’s no lado dalinha, a corrente secundária flue para o relé. Se os TC’s são aterrados no lado da barra,a corrente flue para fora do relé para a mesma corrente primária. Ela esta fluindo nadireção oposta ou tem 180 graus de defasagem. Especificando a direção do aterramentodos TC’s, as correntes de falta são injetadas na direção correta.

3.3.5 – CB simulation

Na seqüência de trip CB, a injeção das quantidades para o teste é estendida após acondição de trip ser recebida. Na seqüência de fechamento CB, o inicio da quantidadede teste é atrasada após o comando de fechamento CB ser emitido. Ambos tempos sãosempre aplicados.Os parâmetros 52a% e 52b% são usados para a simulação de contatos auxiliares deCB para seqüências de trip e close. As figuras mostradas abaixo, mostram adependência do tempo dos contatos 52a and 52b.


A simulação dos contatos auxiliares CB é somente aplicada se a simulação de CB éselecionada no “Test View” e as saídas binárias correspondentes são configuradas naconfiguração do hardware.

3.3.5 - Tolerances

Valores típicos para o tempo e tolerância da impedancia para relés numéricos são de5% para a impedancia relativa e 10% para o tempo relativo. A tolerância para aimpedancia absoluta deve ser ajustada para 50 ohms e a tolerância de tempo deve serajustada para 2.5 ciclos.

O tempo de trip é uma quantidade importante quando compara valores nominais eatuais. Para realizar isto, o máximo valor derivado da tolerância de tempo absoluta ourelativa é usada.Para a tolerância do tempo de trip, o maior entre cada tolerância de tempo, valor positivoou negativo, absoluto ou relativo é usado. A tolerância de tempo relativa atual édeterminada para cada tempo de trip gravado. Se a tolerância relativa não é requerida,especificar o menor valor (p.ex. 0.1 %).

Para a avaliação do tempo de trip, o teste deve ser feito e o tempo de trip nominal écomparado. Se o desvio abaixar dentro da banda de tolerância especificada o teste éclassificado como OK.Para a tolerância da impedancia o maior valor entre a tolerância absoluta ou relativa éusada. A faixa de tolerância relativa atual é determinada para cada zona sobre o anguloda linha.A maior tolerância de impedancia é aplicada uniformemente (p.ex. paralelo a cada ladoem toda direção ao redor da característica nominal) para produzir a faixa de tolerânciamostrada.

3.3.6 – Grounding Factor


O “grounding factor” (ou fator de compensação para falhas à terra) compensa adiferença entre impedancias de falha à terra e impedancia para falhas entre fasesmedida pelo relé. Isto é aplicado somente para falhas monofásicas entre fase e terra.Vários caminhos para entrar com esse fator são disponíveis para uma entrada simplesdo parâmetro diretamente do ajuste do relé.

RE/RL ou XE/XL

KL = ZE/ZL = 1/3 (Z0/Z1 – 1 )

Z0/Z1

Z0 representa a impedancia de seqüência zero enquanto Z1 a impedancia de seqüênciapositiva da linha protegida.ZE é o alcance para falhas à terra (sem compensação) enquanto ZL é o alcance parafalha fase do relé.

3.3.7 – Separate arc resistance

Quando calculamos a impedancia a partir da tensão e corrente medidas, alguns relésconsideram a resistência de arco separadamente da porção da impedância da linha. Orelé assume que qualquer valor de impedancia de falta que desvia do angulo deimpedancia da linha é devido a resistência de arco puramente resistiva. Adicionalmenteestes relés consideram a resistência de arco como uma resistência de loop (por exemploa resistência de arco total no loop de falta), e não como uma resistência de seqüênciapositiva.

Usando o diagrama do circuito equivalente para uma falha fase-terra, Temos :

Ztest = ZL + kL*ZL + RF.

Ztest é a impedancia de loop. Porque o diagrama R/X é um diagrama de seqüência positiva, Ztest poderá ser convertido numa impedancia de seqüência positiva.ZL é a impedancia de seqüência positiva de ZL(1 + kL). A resistência de arco RF precisaser convertida para uma resistência de seqüência positiva usando a função “Resistênciade arco separada” : RF’= RF/(1 + kL). A impedancia de teste de seqüência positiva Ztest’é igual a ZL + RF’, que pode ser plotada no diagrama R/X. Ztest’é então usada paracalcular as quantidades para o teste, a serem injetadas usando a impedancia normal dorelé.

Portanto o Checkbox

Para faltas fase-terra somam o valor RF/(1+kL) ao valor correspondente da impedancia


ZL. ZL é derivado pela projeção da parte reativa de Ztest para o angulo da linha.Finalmente Ztest’é usado em vez de Ztest para calcular as quantidades do teste.

3.3.8 – Impedance in primary values

Em adição as entradas comuns em valores secundários, as impedancias podemtambém ser entradas com valores primários. Isto é feito selecionando a caixa“Impedance in primary values”

Selecione esta opção para entrar com as impedancias em valores primários. Estesvalores são convertidos para valores secundários aplicando a seguinte equação :

Zsec = ( CTratio / PTratio ) * Zprim

3.3.9 – Impedance correction 1 A / I nom

Se a corrente nominal do relé é 5 A , o calculo da impedancia é tratado diferentementepara alguns relés. Se a equação para o calculo da impedancia usa “múltiplos da correntenominal” para determinar a impedancia, esta opção deverá ser selecionada

Z = Vtest / Itest / Inom

Se a equação da impedancia calcula a impedancia independentemente da correntenominal, esta opção não deverá ser selecionada.

Z = Vtest / Itest


3.4 - Device Settings

DeviceEntrada de dados do elemento protegido

SubstationNome e endereço da subestação onde o elemento esta localizado.

BayEntre com o endereço e o nome do bay onde o elemento esta localizado

Nominal ValuesEntre com os valores nominais (tensão, corrente, freqüência, corrente primária e tensãoprimária e numero de fases)Para o teste de relés convencionais, a corrente nominal ( 1 ou 5 A ) tem de ser ajustadaaqui.

Residual Voltage / Current factorsEsses parâmetros somente são relevantes se o relé tem transformadores de potencial /corrente separados para a tensão / corrente residual ( para o aumento da sensibilidade).A relação desses transformadores separados em relação à relação dos transformadoresdas fases é expressa com um fator que será ajustado aqui.


Os ajuste padrão são :

VLN / VN = 1.732 / 1 , como a tensão de fase forma a tensão residual na conexãodelta aberto, e

IN / Inom = 1

Esses fatores são suportados pelos módulos de Distancia e Distancia Avançado.

LimitsEntre com os máximos valores de tensão e corrente, que o dispositivo de teste é capazde fornecer (máximos valores possíveis são determinados pelo teste de hardware)

Debounce / deglitch filters

Entre com os tempos de Debounce e Deglitch para o Teste Object nestes campos.Esses valores são usados onde os sinais do algoritmo de suavização sãoimplementados.

1.. Sinal antes do filtro2.. Sinal após o filtro


3.5 – Parametrização dos testes

3.5.1 – Selecionar a opção Search

O objetivo deste teste é determinar o exato alcance das zonas individuais aplicando“shots”ao longo da linha de busca. O numero de “shots” é calculado automaticamenteusando o valor parametrizado em “search resolution”.Os valores de impedancia encontrados das zonas são mostrados. Uma comparaçãoautomática dos valores nominais e atuais podem ser feitas se o módulo de teste éinformado dos parâmetros do relé.

3.5.1.2 - Clicar no botão “Sequence”3.5.1.3 – Definir os valores de Start angle, End angle e Angle step3.5.1.4 - Definir ou o numero de steps ou Step angle3.5.1.5 - Definir o valor de Lenght como relativo e preencher o valor de %Zone como140% de ZA3.5.1.6 - No campo Fault types escolher a opção All3.5.1.7 - Pressionar o botão OK3.5.1.8 – Os pontos a serem testados para todos os tipos de faltas com as respectivastolerâncias estão definidos na figura abaixo.


3.5.2 – Selecionar a opção trigger

Irão aparecer nesta opção todos os contatos que foram definidos na configuração dohardware do equipamento de teste (Binary/Analog input).A opção AND faz com que para haver sinal de entrada para a caixa seja necessário quetodas as entradas sejam satisfeitas conforme configurado.A opção OR faz com que para haver sinal de entrada para a caixa seja necessário queapenas uma entrada seja satisfeitas conforme configurado.

Cada contato pode ser configurado da seguinte forma :

1 Contato tipo a0 Contato tipo bX desabilitado

3.5.3 – Selecionar a opção Settings


3.5.3.1 – Ajustar o tipo de teste – “Corrente Constante”3.5.3.2 – Ajustar a corrente de teste – 2A3.5.3.3 – ajustar o tempo de pré falta e pós falta

Pré falta = 0.5 sMáximo tempo de falta = 4 s (garantir que o máximo tempo de falta seja ajustadopor um tempo maior que o retardo do elemento de trip do relé.

Pós falta = 0.1 s (este ajuste deve ser aumentado para relés eletromecanicospara permitir que o relé reseteie corretamente)

3.5.3.4 – Ajuste de fault inception mode :

O angulo de fase da tensão e consequentemente o angulo da corrente de falhaatravés da opção “fault inception” pode ser especificado. Além da simulação dafalta permanente, é possível simular o comportamento do transitório de offset DCque resulta da simulação do modelo especifico RL. Para isso é necessárioselecionar o checkbox DC-Offset.O angulo especificado em fault inception é definido em referencia à tensão decurto circuito. Isto depende do tipo da falha selecionada (monofásica, bifásica,trifásica).

As seguintes opções são disponíveis :

RandomO angulo do inicio da falta é calculado para cada teste aleatoriamente

Fixed angleO angulo de inicio da falta pode ser livremente ajustado. Se a caixa DC-offsetesta ativada, a simulação do DC-offset é feita.

Maximum offsetO angulo de inicio da falta é escolhido tal que o máximo positivo e o máximonegativo DC – offsets são simulados para prevenir a saturação dos TC’s deentrada do relé. O máximo offset positivo presente no angulo do inicio da falta, éigual ao angulo de impedancia menos 90 graus. O máximo offset negativopresente no angulo de inicio da falta é igual a angulo de impedancia mais 90graus.

Zero offsetNeste modo o angulo de inicio da falta é igual ao angulo de impedancia. Nenhumacomponente DC esta presente, fora para faltas trifásicas, onde nenhuma offsetDC esta presente na fase A.

3.5.3.5 – Allow reduction of Itest

Se o modelo de teste com corrente constante é selecionado e a tensão de testecalculada exceda a tensão nominal do relé, uma mensagem “Out of Range” é sinalizada.


Igualmente se o teste com tensão constante é selecionado e a corrente calculadaexceda o máximo valor de corrente especificada para o relé a mesma mensagem ésinalizada.

Se esta alternativa é selecionada, a tensão ou corrente de teste é automaticamenteadaptada de forma a fazer o teste para qualquer Zteste possível. A corrente ou tensãode teste usada é mostrada no relatório.

3.5.3.6 - Time reference

Os seguintes ajustes são possíveis

Fault inceptionStarting

O tempo de trip de um relé de proteção é o tempo medido desde o inicio da falta até ocomando de trip do relé ser enviado. Este tempo é registrado como Time reference =Fault inception.Outro modo de medir o tempo do Delay dos elementos, é medir o tempo desde a partidado contato de pick-up até o comando de trip ser enviado. Este é o tempo de delay atualdo temporizador interno, excluindo-se o tempo de pick-up do relé, este tempo éregistrado como Time reference = Starting.Selecionando a referência de tempo partida requer que um contato de partida do reléseja conectado e configurado no sistema de teste. Os sinais seguintes na configuraçãode hardware são automaticamente identificados : START, START A, START B, STARTC.Para relés de seleção de fase, a partida de fase correspondente é usada para faltasmonofásicas e o contato de partida mais rápido é usado para faltas polifásicas.


3.5.3.7 – Ignore nominal characteristics e search resolution

No modo “Search”, a precisão e o numero de “shots” durante o teste depende doajuste colocado em “search resolution”A busca para o alcance de impedancia atual é parado, se a diferença da impedanciaentre dois consecutivos “shots”, ambos identificados em diferentes zonas, for menor queo ajuste de “search resolution”. O maior de cada um dos valores de “search resolution”,(absoluto ou relativo) é aplicado.

Quando estiver efetuando um teste de busca em uma característica nominal conhecida,o “shot” inicial para busca dos alcances de zona são colocados no limite de tolerância doalcance da zona.

Se a característica não for conhecida, que seria o caso de nenhuma zona ser definidapara o relé, então os “shots” iniciais são colocados em distancias fixas, de acordo com ovalor definido no ajuste de “search interval” na linha de busca. Se o alcance da zona éesperada entre dois “shots”, então o teste é feito acima do valor especificado de “searchresolution”.

Ainda que as zonas tenham sido definas para o relé, a opção de ignorar a característicanominal pode ser usada para realizar o mesmo procedimento da característicadesconhecida..

3.5.3.8 – Extended zones active

Inicialmente vamos definir o que são as zonas de proteção :

Zona de Trip - É o tipo mais comum, tem um tempo de trip correspondente a eleassociado.

Trip em t2Trip em t1

Tolerance band

Z1 nominal

Z1 ACT

Max (Abs,rel)


Zona de Partida - É normalmente exterior a todas as zonas de trip, tem umtempo de pickup associado. Se a zona de partida for dividida em elementos nãodirecionais e direcionais (forward), é necessário entrar com duas zonas separadas.

Zona estendida – Similares às zonas de trip, entretanto somente estão ativas sea opção “extended zones active” estiver selecionada.

Zona de não trip – Pode ser usada como zona de informação (power-swingp.ex.), ou para definir seções de zonas de trip onde o trip não é permitido ( área de loadencroachment).

Para testar as zonas de sobrealcance ou estendidas, as zonas relevantes devemprimeiro ser definidas como zonas estendidas na caixa de dialogo da “zonemanagement”.Selecionando “Extended zones active”, as zonas estendidas são mostradas na figura.Os resultados do teste são também comparados com as zonas definidas como zonasestendidas.Note que no relé, as zonas estendidas são normalmente ativas somente por um períodolimitado de tempo (por exemplo durante o religamento automático) ou trabalham emconjunto com um contato de entrada do relé (por exemplo esquemas de teleproteção oucomando de fechamento manual para o CB). Se uma saída binaria for configurada como“Ext. zones active” na configuração de hardware, esta saída pode ser usada parasimular aquele contato do relé. A temporização da saída binária pode ser ajustada napagina de configuração do trigger. A simulação do contato e ajuste do tempo podemsomente ser acessados se as a seleção das “Extended Zones” estiver ativada.

3.5.4 – Selecionar a opção Shot

O objetivo deste teste é checar os alcances das zonas individuais e seus tempos de tripsusando quaisquer pontos de teste.A medição do tempo de trip é mostrada como resultado. Uma comparação automáticados valores nominais e atuais podem ser realizados se o módulo conhece os parâmetrosdo relé.O procedimento completo para teste é baseado nos seguintes itens :

3.5.4.1 – Definição dos pontos de teste

Primeiro, defina o tipo de falta


Entrada de dados numérica

É também possível definir os pontos de teste como valores absolutos de impedanciapela marcação no checkbox “Absolute” ou relativo, pela desmarcação do checkbox.Pontos de teste relativos estão situados na linha especificada pelo angulo Phi e refere-se a intersecção com a borda da zona nominal selecionada no “Zone drop down menu”.

Para adicionar pontos de teste na lista de pontos de teste para o tipo de falhaselecionada, clique em “Add”. Clicando em “Add to...” adicione pontos de teste paradiversos tipos de falta. Para remover pontos de teste da lista, clique em “Remove” (parao tipo de falha selecionado) ou “Remove All” (para todos os tipos de falha).

Selecionando os pontos de teste no plano de impedância

Clique no botão esquerdo do mouse no plano de impedancia e selecione a impedanciado ponto de teste. Pressione “Add” para adicionar o ponto de teste à lista de pontos deteste.

Clique na tecla Ctrl + botão esquerdo do mouse no plano de impedancia para adicionar oponto selecionado diretamente à lista de pontos de teste.

Clicando no botão direito do mouse no plano de impedâncias o menu contextual para ográfico é aberto.


Zoom ativa a função de ampliação do gráfico

3.5.4.2 – Início do teste de “Shot”

A premissa básica para o sucesso do teste é a correta configuração do hardware dodispositivo a ser testado e a definição das corretas condições de Trigger (item 3.5.2).

Teste com um “Shot” individualAs correntes e tensões correspondentes ao tipo de falta selecionada são aplicadas aorelé.Para iniciar o teste click em ou selecione “Test / Single Test”

É também possível iniciar o teste diretamente do plano de impedancias ou diagrama Z/t ,pelo posicionamento do mouse no plano de impedancias e pressionando “Shift + botãoesquerdo do mouse”.

Teste com uma lista de “Shots”

Para todos os tipos de faltas, as correntes e tensões correspondentes para cada shotdefinido no ponto de teste é aplicado ao relé.Para iniciar o teste clique em ou selecione “Test / Start/Continue”.

A execução do teste pode ser pausada clicando on ou selecionando “Test /

Pause”. Clicando em ou selecionando “Teste / Stop” o teste é interrompido. Para

limpar o resultado do teste e permitir um novo teste clique em ou selecione

“Test / Clear”.

Lembre : Antes de um novo teste ser iniciado, os resultados dos testesantigos devem ser limpos

3.5.4.3 – Avaliação do teste de “Shot”

Análise do teste na tela


A janela de resultados para o teste de shot, contém informações sobre o tempo de tripmedido para a corrente do ponto de teste na lista de pontos de teste e sobre o resultadoda avaliação automática.

Passed

1. failed

2. not tested

3. out of range (Zmin > |Z| > Zmax)

Se o modelo de teste com corrente constante é selecionado e a tensão calculadaexcede a tensão nominal do relé, a mensagem mostrada para este teste é “Out ofRange”. Igualmente se a tensão de teste constante é selecionada e a correntecalculada excede a máxima corrente especificada para o relé, a mensagem mostradapara este teste é “Out of Range”.Se o checkbox é selecionado, a corrente de teste (ou tensão) é automaticamenteadaptada de forma a fazer o teste para qualquer Zteste possível. A corrente de teste (outensão) usada é mostrada no relatório.Quando o teste para grandes alcances for executado, a corrente de teste injetadadeverá sempre ser maior que a mínima corrente de pick-up para o relé. Se o relé utilizaa tensão dependente da corrente de partida, assegure que a tensão de teste sejasempre menor que a tensão ajustada de pick-up.

Análise na lista de pontos de teste.Em adição aos parâmetros de teste (R, X, Z, phi, I, V ...) os tempos atuais e nominais detrip são mostrados. De maneira a obter uma vista específica do usuário diferente da vistastandart, clique o botão direito do mouse na lista de pontos de teste para abrir um menucontextual podendo as colunas serem mostradas ou escondidas. A largura das colunaspodem também ser ajustadas.

Na primeira coluna o resultado é mostrado imediatamente após a teste usandodiferentes símbolos. Esses símbolos são mostrados abaixo :


3.4.4 – Selecionar a opção Check

Análise Gráfica

No plano de impedancias, os pontos de teste são mostrados usando os mesmossímbolos como nas colunas da lista dos pontos de teste. O progresso do teste pode serfacilmente monitorado. Clicando o botão direito do mouse no plano de impedâncias omenu contextual é aberto para o gráfico que da acesso aos ajustes do gráfico do planode impedancias.

Análise no relatório do teste

O relatório do teste é mostrado clicando no botão ou selecionando a opção View /Report.

O exemplo acima mostra como o relatório de teste mostra os dados de cada ponto deteste, os valores nominais e atuais dos tempos de trip e a avaliação automática. O testefoi feito para falhas do tipo L1-E (fase L1 à terra) e L2-E (fase L2 à terra). Devido aousuário poder modificar o conteúdo do relatório para que contenha seu requisitosespeciais, informações adicionais podem também ser mostradas após o teste sercompletado.


3.5.5 – Selecionar a opção Check

O plano de impedancias é usado com vista para o teste. As tensões e correntes sãocalculadas automaticamente.O objetivo do teste é checar os alcances e tempos de trip das zonas individuais acima eabaixo do alcance. Isto é feito usando dois “shots” para cada zona. Esta é a principalmodificação no procedimento do teste de “shot” onde os pontos de teste sãoautomaticamente ajustados na linha de check.O resultado mostra o tempo nominal e atual de trip bem como a sua avaliação. O testesomente é possível se a característica nominal é especificada.O procedimento completo é baseado nos seguintes itens :

3.5.5.1 – Definição das linhas de check

Primeiramente selecione o tipo de falta para o qual oteste será executado.

Entradas numéricas :

A linha de check é definida pela origem ( que pode serdefinida em coordenadas polares ou retangulares) eangulo.

O comprimento da linha de check pode ser definido até a impedancia relativa ouabsoluta (relacionada para uma das zonas).

Se o teste será executado ao longo de várias linhasde check, múltiplas linhas de check podem seradicionadas à lista de linhas de check pela seleção

da opção Add (para o tipo de falha selecionada). Sea linha de check for usada para vários tipos defalhas, selecione Add to... Para remover linhas de

check da lista, clique em Remove (para o tipo de falha selecionada) ou Remove All (para vários tipos de falhas).A opção Sequence permite a entrada de várias linhas de check com steps de ângulosuniformes usando o mesmo ponto de origem.

Selecionando no plano de impedancias :


Botão esquerdo + arrastar ( enquanto o botão estiver pressionado) para definir a linha decheck. (use Add para adicionar o item à lista)

Ctrl + botão esquerdo + arrastar para adicionar a linha de check diretamente à lista delinhas de check.

Clicando o botão direito do mouse no plano de impedâncias o menu contextual é abertopara o gráfico que da acesso aos ajustes do gráfico do plano de impedancias.

3.5.5.2 – Inicio do teste de check

A premissa básica para o sucesso do teste é a correta configuração do hardware dodispositivo a ser testado e a definição das corretas condições de Trigger (item 3.5.2).

Teste ao longo da linha de corrente

O teste é executado para o tipo de falha selecionada e somente ao longo da linha decheck selecionada. Para iniciar este teste clique em ou seleciona Test / SingleTeste no menu.É também possível para iniciar o teste diretamente do plano de impedâncias peloposicionamento do mouse no plano de impedancia e pressionando-se Shift + botãoesquerdo do mouse.

Teste ao longo de várias linhas

Para todas as linhas especificadas, os tempos de trip para cada ponto de teste sãomedidos um após o outro e comparados com os valores nominais e atuais.

Para partir este teste clique em ou selecione Test / Start/Continue e menu.

O andamento do teste pode ser paralisado pressionando-se o botão ou

selecionando Test / Pause no menu. Clicando em ou selecionando Test / Stops o

teste é encerrado. Para limpar o resultado do teste e executar um novo teste clique emou selecione Test / Clear no menu.

Lembre-se : Antes de iniciar um novo teste os resultados do teste anterior deverãoser limpos.3.5.5.3 – Avaliação do teste de “check”

Após a execução do teste as seguintes análises possíveis são disponíveis :

Análise da lista de linhas de check


Devido á cada linha incluir vários testes de shots em diferentes zonas, não é possívelmostrar resultados detalhados aqui. Em vez disso, a origem e o angulo de busca sãousados para identificar o teste.A largura das colunas podem ser ajustadas. Colunas podem também ser escondidaspela seleção da mesma e pelo botão direito do mouse. Um menu contextual é abertoque mostra as várias opções.As colunas de estado mostram os resultados da avaliação de um específico teste decheck com diferentes símbolos, mostrados abaixo :

Análise gráfica

No plano de impedancias os pontos de teste são mostrados usando os mesmossímbolos como no teste de shot. O progresso do teste pode ser monitorado pelavisualização do teste corrente em destaque.Para a analise detalhada diferentes opções são disponíveis. Clicando no botão direito domouse no plano de impedancias um menu contextual é aberto para o gráfico, permitindopor exemplo a mudança da vista.

Análise no relatório do teste

O relatório do teste é mostrado clicando no botão ou selecionando a opção View /Report.


Na opção report, a tabela mostra os resultados detalhados do teste. Como o usuáriopode especificar a informação que o relatório irá conter, é também possível mostrarinformações adicionais após o teste ser completado.

3.6 – Metodologia de teste

3.6.1 – Modelo de simulação utilizado

O circuito equivalente RL, abaixo, é usado para cada fase


A impedância da fonte Zs precisa ser calculada para se obter a relação entre a tensãonominal VN e a tensão do relé VR.

Dois modelos de teste estão disponíveis para a execução do teste :

Corrente de teste constante

O software guarda a corrente de teste especificada Itest constante e calcula a tensão dorelé usando a impedancia de falta definida Ztest.Os testes somente são possíveis se a tensão de teste é menor que a tensão nominal dorelé. O máximo alcance para cada tipo de falta, onde a tensão de teste é igual a tensãonominal, é mostrada na tela. Para o teste acima destes limites, a corrente de teste temque ser reduzida manualmente ou pela aplicação da adaptação automática dasquantidades de teste.

As equações mostradas abaixo somente se aplicam para relés que usem o fator de terraKL. Também para relés que considerem a resistência de arco separadamente estasformulas não são válidas. Nestes caos a menor impedancia de falta possível dependetambém da linha e angulo de falta. O diagrama acima ilustra essa dependência.


Tensão de teste constanteO software guarda a tensão de teste especificada Vtest constante e calcula a correntede falta usando a impedancia de falta definida Ztest.Os testes somente são possíveis se a máxima corrente especificada no “GeneralParameters” não for excedida. O mínimo alcance para cada tipo de falta, onde acorrente de teste calculada é igual a máxima corrente especificada é mostrada na tela.Para testes abaixo destes limites, a tensão de teste tem de ser reduzida manualmenteou pela aplicação da adaptação automática das quantidades de teste.

As equações mostradas abaixo somente se aplicam para relés que usem o fator de terraKL. Também para relés que considerem a resistência de arco separadamente estas


formulas não são válidas. Nestes caos a menor impedancia de falta possível dependetambém da linha e angulo de falta. O diagrama acima ilustra essa dependência.

3.6.2 – Temporizações

Cada shot consiste principalmente de 3 estágios : Pré-falta, Maxima-falta e Pós-falta.O máximo tempo de falta somente é efetivo se as condições de trigger não sãoencontradas durante este tempo. Se o tempo de trip CB é especificado.

A presença de tensão no estado de Pós-falta depende da localização do transformadorde potencial.


3.6.3 – Tipos de Faltas

Para a simulaçãoadmitimos que

nas fase sem faltaV = Vn e I = 0 A.O angulo ϕϕϕϕf é o angulo da impedancia de falha, por exemplo o angulo entre a correntede falha atrasada da tensão de curto circuito (se a impedancia de falha é indutiva)

3.7 – Configuração do Hardware

Escolha o ícone (Hardware Configuration) no menu.

3.7.1 – General


Clicando no botão “Details” é aberta uma caixa de dialogo onde a configuração desejadapara o teste pode ser ajustada.

Abaixo, mostramos todas as opções possíveis para a configuração do equipamento deteste.

SAÍDA DE TENSÃO4X300V;85VA@85V;1Arms

SAÍDA DE CORRENTE6X12,5A;70VA@7,5A;10Vrms


SAÍDA DE TENSÃO3X300V;50VA@75V;660mArms SAÍDA DE CORRENTE

3X25A;140VA@15A;10Vrms


SAÍDA DE CORRENTE1X75A;420VA@45A;10Vrms




Este checkbox permite o chaveamento para “on” ou “off” da mensagem de advertênciada fiação. Se estiver ativa lembrará você de checar fisicamente a fiação de seuhardware toda vez que você mudar os ajustes da fiação no software.

Search.Clicando neste botão busque por dispositivos conectados. Normalmente isto não énecessário para executar a busca manual, porque o software automaticamente procuradispositivos de teste conectados. (Automaticamente procura por dispositivos conectadosacontecendo quando da partida do Control Center, quando inserir nova configuração dehardware no Control Center, e quando solicitar nos módulos de teste).Se diferentes dispositivos são encontrados dentro da busca, informações incompatíveisde configuração serão perdidas.



Calibration

Clicando neste botão é aberta uma caixa de diálogo onde a ultima calibração em fábricado dispositivo de teste OMICRON é mostrada.Os valores de garantia no manual do hardware são validos por 1 ano da data da ultimacalibração em fábrica.

Import/ExportUsando a função import/export é permitido ler / escrever arquivos OHC. Arquivos OHCcontem todas as informações que podem ser ajustadas na configuração de hardware.Desta forma a configuração de hardware pode ser facilmente transferida entre diferentesdocumento Control Center.

3.7.2 – Binary / Analog Inputs

As entradas binary/Analog, são fixas para o numero de entradas 1 a 10, como no painelfrontal do dispositivo de teste.Essas entradas podem ser configuradas de acordo com a aplicação :


Contatos secos

Na linha Function selecione Binary para as entradas que você quer configurar.Na linha Potential Free habilite os checkboxes usados para as entradas que você querconfigurar.Para as unidades CMC 256, podemos ajustar cada uma das entradas para dry oupotential-sensing, para as unidades CMC 156 ou CMC 56 somente grupos podem serajustados (1-4 e 5-10).

Potential sensing

Na linha Function selecione Binary para as entradas que você quer configurar.Na linha Potential-free, desabilite os checkboxes usados para as entradas que você querconfigurar.Na linha Nominal Range, ajuste a tensão nominal do seu sinal. Se você deseja ajustara mesma tensão nominal para todas as entradas use o menu contextual (botão direito domouse)

Se o valor nominal é modificado, o limiar de operação é ajustado em 0.7 vezes o novovalor nominal por default.Na linha Threshold ajuste o valor do limiar de operação para ir de 0 até 1. Se vocêdeseja ajustar o mesmo valor de limiar para todas entradas do grupo, use o menucontextual (botão direito do mouse)

Dry Pulse Contacts

Na linha Function selecione Counter para as entradas que você quer configurar.A contagem de freqüência é limitada a 3 kHz. Para freqüências acima de 100 kHz use aentrada do contador de freqüência no painel frontal do equipamento de teste.Na linha Potential Free, habilite os checkboxes usados para as entradas que você querconfigurar.

Potential-Sensing Pulse Contacts

Na linha Function selecione Counter para as entradas que você quer configurar.Na linha Potential Free, desabilite os checkboxes usados para as entradas que vocêquer configurar.Na linha Nominal Range, ajuste a tensão nominal do seu sinal.Na linha Threshold ajuste o valor do limiar de operação para ir de 0 até 1.

Monitoring/recording voltage signals

Na linha Function selecione Voltage para as entradas que você quer configurar.


Na linha Nominal Range, ajuste faixa de entrada adequada ao seu sinal

Monitoring/recording current signals

Na linha Function selecione Current para as entradas que você quer configurar.Na linha Clamp ratio entre com a “clamp ratio” (livremente entre 1µV/A a 1V/A) ouselecione um valor típico através do menu contextual. (botão direito do mouse)select atypical value from the context-menu (right-click to open it).Na linha Nominal Range, ajuste faixa de entrada adequada ao seu sinal .

3.7.3 –Analog outputs


3.8 – Relatórios do teste

Selecionando a opção Report no menu principal, a caixa de diálogos “Report Settings” éaberta. Ela permite escolher as seguintes opções para o relatório de teste :

1. Short Form (OCC Short)2. Long Form (OCC Long)

Essa duas opções são “templates” já definidos para o relatório. Clicando na opçãoDefine, é possível adicionar ou deletar informações a serem inseridas no relatório,podendo ser criados e salvos novos templates de acordo com as necessidades dousuário.


Local e Global Templates

Mudanças feitas no relatório através do botão “Define”, são gravadas em um templatelocal, que é salvo como parte do teste onde os ajustes foram feitos.Existe também o Global Template onde cada novo teste copia as definições de ajuste dorelatório para usar em seu próprio Template local. A localização do Global Template émostrada na caixa de dialogo “Define Report Settings”. Você pode resetear os ajustesdas definições do relatório de qualquer teste, para utilizar estas do Global Templates,clicando no botão “Read” na caixa do Global Template.

Clique no botão Read para aceitar todos ajustes do arquivo. Mudanças feitasmanualmente através do botão Define na caixa de dialogo são perdidas quando asdefinições são lidas do arquivo de template.

Quando o modulo de teste for fechado, será perguntado se quer salvar as mudanças notemplate no Global Template. Selecione Sim para atualizar o Global Template usandoos mesmos ajustes do corrente Local Template, ou Não para deixar os ajustes do GlobalTemplate inalterados.

Ajuste Short Form e Long Form

Selecionando o ajuste Set Short Form o relatório resumido será definido como ajustecorrente. Similarmente, selecionando Long Forma o ajuste de relatório longo serádefinido como ajuste corrente.O nome do Form ajustado para Short Form é seguido pelo comentário “OCC Short” ,enquanto o nome do Form ajustado para Long Form é seguido pelo comentário “OCCLong” . O ajuste do relatório não pode ser o mesmo (longo e curto) ao mesmo tempo.Quando estiver usando o Modulo de teste dentro do Control Center, é possível dar umsimples comando para dizer para todos módulos de teste usar o Long Form ou o ShortForm, especificando o ajuste para cada modulo de teste individualmente. Neste caso, asdefinições de “OCC Long” ou “OCC Short” Form são definidas aqui para serem usadas.

Export Report

Esta caixa de diálogo é aberta clicando em File | Export Report....para permitir que orelatório seja exportado em uma variedade de formatos.

Arquivos exportados no formato TXT são simplesmente textos. Formatações e gráficosserão perdidos. Os módulos de testes são mostrados somente como textos.


Arquivos exportados no formato RTF contem gráficos e formatação.

Exemplo report teste relé SD-2H - WECO

Name: OMICRON Advanced Dis Version: 1.31Test start: 16-nov-2000 13:47:29 Test end: 16-nov-2000 13:52:56

Test Object - Device Settings

Substation/Bay:Substation: STCH.O Substation address:Bay: Bay address:

Device:Name/description: 21-2P LTCHPC Manufacturer: CURSODevice type: SD-2H Device address:Serial/model number:

Nominal Values:f nom: 60,000 Hz 3 phasesV nom (secondary): 115,00 V V primary:138000,00 VI nom (secondary): 5,000 A I primary: 1000,00

A

Limits:V max: 200,00 V I max: 12,50 A

Debounce/Deglitch Filters:


Debounce time: 0,000 s Deglitch time: 0,000 s

Test Object - Distance Settings

System Parameters:Line angle: 85,00 °PT connection: at line CT starpoint: dir. lineImpedance correction 1A/I nom: noImpedances in primary values: no

Tolerances:Tol. T rel.: 5,000 %Tol. T abs. +: 0,000 s Tol T abs. -: 0,000 sTol. Z rel.: 5,000 % Tol Z abs.: 50,00 mΩ

Grounding Factor:kL magnitude: 0,000000 kL angle: 0,000000°Separate arc resistance: no

Zone Settings:Label Type Fault loop Trip time Tol.T rel Tol.T abs+ Tol.Tabs- Tol.Z rel Tol.Z abs__________________________________________________________________________________Z2 L1-L2 Tripping L1-L2 500,0 ms5,000 % 0,000 s 0,000 s 5,000 %

50,00 mΩZ2 L2-L3 Tripping L2-L3 500,0 ms5,000 % 0,000 s 0,000 s 5,000 %

50,00 mΩZ2 L3-L1 Tripping L3-L1 500,0 ms5,000 % 0,000 s 0,000 s 5,000 %

50,00 mΩ

R/Ω-8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8

X/Ω

-1

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

14


Test Settings

Test Model:Test model: constant test voltage VTest: 70,00 VAllow reduction of ITest/VTest: no

Fault Inception:Mode: random n/aDC-offset: no

Times:Pre-fault: 500,0 ms Max-fault: 3,000 sPost-fault: 500,0 ms Time reference: fault inception

Other:CB simulation: off Extended zones:not active

Search Settings:Search res. rel.: 1,000 % Search res. abs.: 50,00 mΩIgnore nominal characteristics: noSearch interval: 200,0 mΩ

Test Results

Search Test: Fault Type L1-L2

|Z|: 0,000 Ω Phi: 0,00 ° Angle: 20,00 ° Result: passedLength: 5,301 Ω %Zone: 130,00 % Zone: Z2 L1-L2


from Zone to Zone Z nom Z act Z min Z max Dev. Result__________________________________________________________________________________Z2 L1-L2 8,255 Ω 7,985 Ω 7,021 Ω 9,285 Ω -269,9 mΩpassed











from Zone to Zone Z nom Z act Z min Z max Dev. Result__________________________________________________________________________________Z2 L1-L2 6,261 Ω 6,599 Ω 4,197 Ω 7,532 Ω 337,4 mΩ passed



R/Ω-8 -6 -4 -2 0 2 4 6 8

X/Ω

-1

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

14

15

16










R/Ω-8 -6 -4 -2 0 2 4 6 8

X/Ω

-1

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

14

15

16



__________________________________________________________________________________Comment:

teste do rele SD-2H para treinamentoAjustes: S=2 T=8 M=+0,18 Tempo de coincidência=4,51mseg AMT=85 graus

__________________________________________________________________________________Summary:

Test passed

©Eng. Geraldo M. Aoun________________7SJ600___________________10/04/01__________________Página 1


RELÉ 7SJ600 – SIEMENS

1. Ajustes e Cálculos

7100 INTEGRATED OPERATION7101 Language English7200 PC AND SYSTEM INTERFACES7208 Function type in accordance with VDEW/ZVEI 1607211 Data format for PC-interface DIGSI V37214 Transmission gaps for PC-interface 1.0 s7215 Transmission baud rate for PC-interface 9600 Baud7216 Parity and stop-bits for PC-interface DIGSI V3

7400 FAULT RECORDINGS7402 Initiation of data storage Storage by trip7410Maximum time period of a fault recording 1.00 s7411 Pre-trigger time for fault recording 0.10 s7412 Post-fault time for fault recording 0.10 s

7800 SCOPE OF FUNCTIONS7801 Characteristic of O/C protection Definite time7802 Temporary pick-up value change over (O/C-st.) Non-existent7803 Unbalanced load protection Non-existent7804 Thermal overload protection With memory7805 Supervision of starting time Non-existent7839 Trip circuit supervision No resist., 2 BI

9500 OPERATING SYSTEM SETTINGS9520 Activating internal test none9521 Number of tested module 0

Marshalling6101 MARSHALLING OF BINARY INPUT 16102 BINARY INPUT 1 1st FUNCTION 001 6852 >Trip circuit supervision: Trip relay active with voltage6103 BINARY INPUT 1 2nd FUNCTION6104 BINARY INPUT 1 3rd FUNCTION6105 BINARY INPUT 1 4th FUNCTION6106 BINARY INPUT 1 5th FUNCTION6107 BINARY INPUT 1 6th FUNCTION6108 BINARY INPUT 1 7th FUNCTION6109 BINARY INPUT 1 8th FUNCTION


6110 BINARY INPUT 1 9th FUNCTION6111 BINARY INPUT 1 10th FUNCTION

6122 MARSHALLING OF BINARY INPUT 26123 BINARY INPUT 2 1st FUNCTION 001 6853 >Trip circuit supervision: CB aux. active with voltage6124 BINARY INPUT 2 2nd FUNCTION6125 BINARY INPUT 2 3rd FUNCTION6126 BINARY INPUT 2 4th FUNCTION6127 BINARY INPUT 2 5th FUNCTION6128 BINARY INPUT 2 6th FUNCTION6129 BINARY INPUT 2 7th FUNCTION6130 BINARY INPUT 2 8th FUNCTION6131 BINARY INPUT 2 9th FUNCTION6132 BINARY INPUT 2 10th FUNCTION

6133 MARSHALLING OF BINARY INPUT 36134 BINARY INPUT 3 1st FUNCTION6135 BINARY INPUT 3 2nd FUNCTION6136 BINARY INPUT 3 3rd FUNCTION6137 BINARY INPUT 3 4th FUNCTION6138 BINARY INPUT 3 5th FUNCTION6139 BINARY INPUT 3 6th FUNCTION6140 BINARY INPUT 3 7th FUNCTION6141 BINARY INPUT 3 8th FUNCTION6142 BINARY INPUT 3 9th FUNCTION6143 BINARY INPUT 3 10th FUNCTION

6201 MARSHALLING OF SIGNAL RELAY 16202 Signal RELAY 1 1st CONDITION 001 0052 Any protection operative6203 Signal RELAY 1 2nd CONDITION6204 Signal RELAY 1 3rd CONDITION6205 Signal RELAY 1 4th CONDITION6206 Signal RELAY 1 5th CONDITION6207 Signal RELAY 1 6th CONDITION6208 Signal RELAY 1 7th CONDITION6209 Signal RELAY 1 8th CONDITION6210 Signal RELAY 1 9th CONDITION6211 Signal RELAY 1 10th CONDITION6212 Signal RELAY 1 11th CONDITION6213 Signal RELAY 1 12th CONDITION6214 Signal RELAY 1 13th CONDITION6215 Signal RELAY 1 14th CONDITION6216 Signal RELAY 1 15th CONDITION6217 Signal RELAY 1 16th CONDITION6218 Signal RELAY 1 17th CONDITION6219 Signal RELAY 1 18th CONDITION6220 Signal RELAY 1 19th CONDITION6221 Signal RELAY 1 20th CONDITION


6222 MARSHALLING OF SIGNAL RELAY 26223 Signal RELAY 2 1st CONDITION 001 0501 General fault detection of device6224 Signal RELAY 2 2nd CONDITION6225 Signal RELAY 2 3rd CONDITION6226 Signal RELAY 2 4th CONDITION6227 Signal RELAY 2 5th CONDITION6228 Signal RELAY 2 6th CONDITION6229 Signal RELAY 2 7th CONDITION6230 Signal RELAY 2 8th CONDITION6231 Signal RELAY 2 9th CONDITION6232 Signal RELAY 2 10th CONDITION6233 Signal RELAY 2 11th CONDITION6234 Signal RELAY 2 12th CONDITION6235 Signal RELAY 2 13th CONDITION6236 Signal RELAY 2 14th CONDITION6237 Signal RELAY 2 15th CONDITION6238 Signal RELAY 2 16th CONDITION6239 Signal RELAY 2 17th CONDITION6240 Signal RELAY 2 18th CONDITION6241 Signal RELAY 2 19th CONDITION6242 Signal RELAY 2 20th CONDITION

6301 MARSHALLING OF LED INDICATOR 16302 LED 1 1st CONDITION 001 1815 O/C protection I> phase trip memorized6303 LED 1 2nd CONDITION 001 1805 O/C protection I>> phase trip memorized6304 LED 1 3rd CONDITION 001 6757 O/C protection I>>> phase trip memorized6305 LED 1 4th CONDITION6306 LED 1 5th CONDITION6307 LED 1 6th CONDITION6308 LED 1 7th CONDITION6309 LED 1 8th CONDITION6310 LED 1 9th CONDITION6311 LED 1 10th CONDITION6312 LED 1 11th CONDITION6313 LED 1 12th CONDITION6314 LED 1 13th CONDITION6315 LED 1 14th CONDITION6316 LED 1 15th CONDITION6317 LED 1 16th CONDITION6318 LED 1 17th CONDITION6319 LED 1 18th CONDITION6320 LED 1 19th CONDITION6321 LED 1 20th CONDITION

6322 MARSHALLING OF LED INDICATOR 2


6323 LED 2 1st CONDITION 001 1521 Thermal overload protection trip memorized6324 LED 2 2nd CONDITION6325 LED 2 3rd CONDITION6326 LED 2 4th CONDITION6327 LED 2 5th CONDITION6328 LED 2 6th CONDITION6329 LED 2 7th CONDITION6330 LED 2 8th CONDITION6331 LED 2 9th CONDITION6332 LED 2 10th CONDITION6333 LED 2 11th CONDITION6334 LED 2 12th CONDITION6335 LED 2 13th CONDITION6336 LED 2 14th CONDITION6337 LED 2 15th CONDITION6338 LED 2 16th CONDITION6339 LED 2 17th CONDITION6340 LED 2 18th CONDITION6341 LED 2 19th CONDITION6342 LED 2 20th CONDITION

6343 MARSHALLING OF LED INDICATOR 36344 LED 3 1st CONDITION 001 1833 O/C protection IE>> earth trip memorized6345 LED 3 2nd CONDITION 001 1836 O/C protection IE> earth trip not memorized6346 LED 3 3rd CONDITION6347 LED 3 4th CONDITION6348 LED 3 5th CONDITION6349 LED 3 6th CONDITION6350 LED 3 7th CONDITION6351 LED 3 8th CONDITION6352 LED 3 9th CONDITION6353 LED 3 10th CONDITION6354 LED 3 11th CONDITION6355 LED 3 12th CONDITION6356 LED 3 13th CONDITION6357 LED 3 14th CONDITION6358 LED 3 15th CONDITION6359 LED 3 16th CONDITION6360 LED 3 17th CONDITION6361 LED 3 18th CONDITION6362 LED 3 19th CONDITION6363 LED 3 20th CONDITION

6364 MARSHALLING OF LED INDICATOR 46365 LED 4 1st CONDITION 001 6865 Trip circuit interrupted memorized6366 LED 4 2nd CONDITION


6367 LED 4 3rd CONDITION6368 LED 4 4th CONDITION6369 LED 4 5th CONDITION6370 LED 4 6th CONDITION6371 LED 4 7th CONDITION6372 LED 4 8th CONDITION6373 LED 4 9th CONDITION6374 LED 4 10th CONDITION6375 LED 4 11th CONDITION6376 LED 4 12th CONDITION6377 LED 4 13th CONDITION6378 LED 4 14th CONDITION6379 LED 4 15th CONDITION6380 LED 4 16th CONDITION6381 LED 4 17th CONDITION6382 LED 4 18th CONDITION6383 LED 4 19th CONDITION6384 LED 4 20th CONDITION

6401 MARSHALLING OF COMMAND RELAY 16402 COMMAND RELAY 1 1st CONDITION 001 0511 General trip of device6403 COMMAND RELAY 1 2nd CONDITION6404 COMMAND RELAY 1 3rd CONDITION6405 COMMAND RELAY 1 4th CONDITION6406 COMMAND RELAY 1 5th CONDITION6407 COMMAND RELAY 1 6th CONDITION6408 COMMAND RELAY 1 7th CONDITION6409 COMMAND RELAY 1 8th CONDITION6410 COMMAND RELAY 1 9th CONDITION6411 COMMAND RELAY 1 10th CONDITION6412 COMMAND RELAY 1 11th CONDITION6413 COMMAND RELAY 1 12th CONDITION6414 COMMAND RELAY 1 13th CONDITION6415 COMMAND RELAY 1 14th CONDITION6416 COMMAND RELAY 1 15th CONDITION6417 COMMAND RELAY 1 16th CONDITION6418 COMMAND RELAY 1 17th CONDITION6419 COMMAND RELAY 1 18th CONDITION6420 COMMAND RELAY 1 19th CONDITION6421 COMMAND RELAY 1 20th CONDITION6422 MARSHALLING OF COMMAND RELAY 26423 COMMAND RELAY 2 1st CONDITION 001 6865 Trip circuit interrupted6424 COMMAND RELAY 2 2nd CONDITION6425 COMMAND RELAY 2 3rd CONDITION6426 COMMAND RELAY 2 4th CONDITION6427 COMMAND RELAY 2 5th CONDITION6428 COMMAND RELAY 2 6th CONDITION6429 COMMAND RELAY 2 7th CONDITION


6430 COMMAND RELAY 2 8th CONDITION6431 COMMAND RELAY 2 9th CONDITION6432 COMMAND RELAY 2 10th CONDITION6433 COMMAND RELAY 2 11th CONDITION6434 COMMAND RELAY 2 12th CONDITION6435 COMMAND RELAY 2 13th CONDITION6436 COMMAND RELAY 2 14th CONDITION6437 COMMAND RELAY 2 15th CONDITION6438 COMMAND RELAY 2 16th CONDITION6439 COMMAND RELAY 2 17th CONDITION6440 COMMAND RELAY 2 18th CONDITION6441 COMMAND RELAY 2 19th CONDITION6442 COMMAND RELAY 2 20th CONDITION

Settings Parameter set A1100 POWER SYSTEM DATA1101 Rated system frequency fN 60 Hz1102 Connection of CT2 IL21105 Primary rated current 200 A1106 Secondary rated current 5A1134 Minimum trip command duration 0.50 s1135 Maximum close command duration 1.00 s

1300 O/C PROTECTION PHASE FAULTS1301 O/C protection for phase faults on1303 Pick-up value of the high-set inst. Stage I>>> 12.5 I/In1305 Pick-up value of the high-set stage I>> 5.5 I/In1307 Trip time delay of the high-set stage I>> 0.30 s1308 Pick-up value of the overcurrent stage I> 1.8 I/In1310 Trip time delay of the overcurrent stage I> 1.20 s1311 Measurement repetition no1319 Manual close I>> undelayed

1400 O/C PROTECTION EARTH FAULTS1401 O/C protection for earth faults on1402 Pick-up value of the high-set stage IE>> 0.2 I/In1404 Trip time delay of the high-set stage IE>> 0.05 s1405 Pick-up value of the overcurrent stage IE> 0.2 I/In1407 Trip time delay of the overcurrent stage IE> 0.10 s1408 Measurement repetition no1416 Manual close I E>> undelayed

2700 THERMAL OVERLOAD PROTECTION2701 State of thermal overload protection on2702 K-factor for thermal overload protection 0.702703 Time constant for thermal overload protection 20.0 min2704 Multiplier of time constant at standstill 1.002705 Thermal warning stage 75 %3900 TRIP CIRCUIT SUPERVISION

on


2. Construção das curvas características utilizando o software CMC

©Eng. Geraldo M. Aoun______________7SJ600_______________10/04/01______________Página 1

1. Teste

1.1 – Device Settings

DeviceEntrada de dados do elemento protegido

SubstationNome e endereço da subestação onde o elemento esta localizado.

BayEntre com o endereço e o nome do bay onde o elemento esta localizado

Nominal ValuesEntre com os valores nominais (tensão, corrente, freqüência, corrente primáriae tensão primária e numero de fases)Para o teste de relés convencionais, a corrente nominal ( 1 ou 5 A ) tem de serajustada aqui.

Residual Voltage / Current factors


Esses parâmetros somente são relevantes se o relé tem transformadores depotencial / corrente separados para a tensão / corrente residual ( para oaumento da sensibilidade).A relação desses transformadores separados em relação à relação dostransformadores das fases é expressa com um fator que será ajustado aqui.

Os ajuste padrão são :

VLN / VN = 1.732 / 1 , como a tensão de fase forma a tensão residual naconexão delta aberto, e

IN / Inom = 1

Esses fatores são suportados pelos módulos de Distancia e DistanciaAvançado.

LimitsEntre com os máximos valores de tensão e corrente, que o dispositivo de testeé capaz de fornecer (máximos valores possíveis são determinados pelo testede hardware)

Debounce / deglitch filters

Entre com os tempos de Debounce e Deglitch para o Teste Object nestescampos. Esses valores são usados onde os sinais do algoritmo de suavizaçãosão implementados.

1.. Sinal antes do filtro2.. Sinal após o filtro


1.2 – Protection Device

1.2.1 - Currente Tolerance

A tolerância da corrente é definida como tolerancia absoluta e relativa. Atelerancia de corrente relativa é definida em % da corrente de pickup nominal, ea tolerancia de corrente absoluta é definida em I/In. Para cada ponto de teste, omodulo de teste selecionará o maior de dois intervalos para ser a toleranciavalida. A tolerancia de corrente tem influencia na avaliação do teste no caso depontos de testes que estão dentro das bordas da região de trip (+/- Itol).

Avaliação do teste de sobrecorrente

Para avaliação do teste, o software compara cada ponto do tempo de operaçãoatual com o tempo de operação nominal.Se o tempo de operação atual esta dentro do tempo especificado de tolerancia,o ponto é avaliado como Aprovado , caso contrário como Reprovado . Parapontos que estão dentro das regiões das bordas de trip (dentro de +/- Itol), afaixa de tempo de operação permitida é menor ou maior que o tempo permitidopara ambos intervalos, como mostrado abaixo.


A mesma influência da tolerancia de corrente no intervalo de tempo resultante,aplicado ao ponto onde a caracteristica tende ao infinito.

Pontos fora da faixa “out of range”, oupontos que estão fora da faixa de tempo,são considerados Aprovados, parapermitir a avaliação automática do teste.Se alguns pontos não podem sertestados por alguma razão, o softwareadiciona a mensagem correspondente norelatório.

O software considera o conjunto de testescomo aprovado se todos pontos foramavaliados com aprovados.


1.2.2 – Time Tolerance

As tolerancias de tempo são definidas como tolerancias absolutas e relativas. Atolerancia de tempo relativa é definida em % do tempo de trip nominal. Ointervalo de tempo resultante é o tempo de trip nominal menos umapercentagem do tempo de trip nominal mais a percentagem definida. Atolerancia de tempo absoluta é definida em segundos.Para a avaliação do teste, o software selecionará o maior de dois intervalos detempo. Na borda da região de trip, o intervalo de tempo combinado é valido.

Quando os pontos de teste são ajustados, As faixas de tempo permitidas sãodesenhadas como linhas verticais no diagrama I / t para cada ponto.

1.2.3 - Fault Group Selection

Dependendo qual grupo de falta é selecionado, os parametros correspondentesdo grupo de falta são mostrados e podem ser editados na caixa “Fault GroupParameters”.Existem quatro grupos de faltas disponíveis no software :


Line – NeutralDefine os parametros para falhas monofásicas (A-N, B-N, C-N)

Line – LineDefine os parametros para falhas bifásicas (A-B, B-C, C-A) e falhas trifásicas.

Negative SequenceDefine os parametros para faltas de sequencia negativa (I2)

Zero SequenceDefine os parametros para faltas de sequencia zero (I0)

Para cada grupo de faltas, os parametros dos grupos precisam ser preenchidosseparadamente.

1.2.3.1 – Modelos de falta

MonofásicaPara faltas monofásicas (no exemplo falta A-N),a corrente de teste Itest é apagada da fasefaltosa (no exemplo IA). As outras duascorrentes são ajustadas para a corrente decarga com 120 graus de defasagem.A tensão para a fase faltosa é igual à tensão defalta selecionada. As outras duas fases sãoajustadas para valores nominais, com 120 grausde defasagem.

Os valores mostrados serão considerados pelodispositivo de teste.

VA = Tensão de falta Ð 0°VB = Tensão Nominal Ð -120°VC = Tensão Nominal Ð 120°IA = Iteste Ð jIB = Corrente de carga Ð -120° + jIC = Corrente de carga Ð 120° + j


Bifásica

Para falhas bifásicas ( no exemplo falta B-C), acorrente de teste Itest é apagada das duascorrentes das fases afetadas ( no exemplo IB e IC )com 180 graus de defasagem.As tensões formam um sistema balanceado e sãoajustadas para valores nominais. O arranjo dosvetores são mostrados no exemplo.

Os valores mostrados serão considerados pelodispositivo de teste :

VA = Tensão nominal Ð 0°VB = Tensão nominal Ð -120°VC = Tensão nominal Ð 120°

IA = 0IB = Itest Ð -90° + jIC = Itest Ð 90° + j

Trifásica

Para faltas trifásicas, a corrente de teste Itest éapagada para todas fases, com 120 graus dedefasagem entre elas.As tensões são iguais a tensão de falta selecionada.

Os valores mostrados serão considerados pelosdispositivo de teste.

VA = Tensão de Falta Ð 0°VB = Tensão de Falta Ð -120°VB = Tensão de Falta Ð 120°IA = Itest Ð jIB = Itest Ð -120° + jIC = Itest Ð 120° + j


Sequencia negativa

Para falta de sequencia negativa, a corrente de teste Itest éapagada das outras fases com 120 graus de defasagementre elas. IB e IC são trocadas, de forma que apareça acorrente de sequencia negativa.Todas Tensões são iguais a tensão de falta com 120 grausde defasagem entre elas. VB e VC são trocadas, de formaque apareca a sequencia negativa.

Os valores mostrados serão considerados pelo dispositivode teste.

VA = Tensão de Falta Ð 0°VB = Tensão de Falta Ð 120°VC = Tensão de Falta Ð -120°IA = Itest Ð jIB = Itest Ð 120° + jIC = Itest Ð -120° + j

Sequencia Zero

Para a falta de sequencia zero, a corrente de testeItest é apagada para todas fases, com 0 graus dedefasagem, As correntes estão em fase com asoutras. Desta forma, a corrente de sequencia zeroaparece igual ao Itest selecionado.As tensões são iguais as tensões de falta , com 0

graus de defasagem, as tensões estão em fase com as outras. Desta forma, atensão de sequencia zero aparece, igual a tensão da falta selecionada.

Os valores mostrados serão considerados pelo dispositivo de teste :

VA = Tensão de Falta Ð 0°VB = Tensão de Falta Ð 0°VC = Tensão de Falta Ð 0°IA = Itest/3 Ð jIB = Itest/3 Ð jIC = Itest/3 Ð j


1.2.4 – Directional Behavior (Comportamento direcional)

Este ajuste influencia quer apareça ou não tensão de saída. Se este parametroé ajustado para :

Direcional, Tensões serão consideradas segundo o tipo de falta selecionada eo estado da corrente na sequencia de shot.

Não-Direcional, Nenhuma tensão de saida aparecerá

A sequencia de shot consiste em pré-falta, falta e pós-falta. O detalhamento decada estado de teste, ou a transição de um estado par o próximo é mostradoabaixo.

Durante o estado de pré-falta, todas tensões são ajustadas para o sistemabalanceado, com magnitude igual á tensão nominal, e Ajuste de VA igual a 0graus. A duração do estado de pré-falta pode ser ajustado no “Pre-faultTime”; se for ajustado para zero, nenhum estado de pré-falta é considerado.

Durante o estado de falta, as correntes e tensões são consideradas de acordocom o ajuste do tipo de falta ou a aplicação do modelo de falta (ítem 1.2.3.1)(L-N, L-L,L-L-L, I2, I0). O último estado da falta até a condição de trigger serencontrada ou o máximo tempo de falta ter transcorrido.

O estado de pós-falta é projetado para permitir o reset do objeto testado.Durante o estado de pós-falta, existem duas possibilidades : cada uma dastensões nominais no sistema balanceado com corrente zero, ou ambas tensõese correntes serão ajustadas para 0. Isto pode ser ajustado com o parametro“PT connection” na tela de parametrização.A duração do estado de pós-faltapode ser ajustada atuando do “Delay Time”


1.2.5 – CT startpoint connection

A conexão dos TC’s somente é relevante para relés de sobrecorrentedirecionais. Isto influencia a defasagem entre as correntes e tensões.Se este parametro é ajustado para :

Towards LINE, A corrente tem uma defasagem da tensão ajustado peloparametro angulo (I) na caixa “direction” na pagina de parametrização daFalta.

Towards BUSBAR, A corrente tem uma defasagem da tensão de um angulo(I) + 180 graus.

Exemplo de Conexão : CT startpoint conection Towards BUSBAR

1.2.6 - I/t parameters of the selected Fault Group


Nesta caixa, os parametros do grupo de falta do grupo de falta selecionadopode ser ajustado. Para mostrar ou editar os paramentros de diferentes gruposde falta, o grupo de falta necessita ser selecionado na caixa de seleção dogrupo de falta.

Cada região de trip (I>, I>>, I>>>) pode ser ativada ou desativada pelamarcação ou não do “checkbox “ . Como padrão, as regiões I> e I>> sãoativadas e a região I>>> é desativada.

O tempo de trip para certas regiões de trip (I>, I>>, I>>>) podem ser ajustados.Para a região de trip I> o ajuste de tempo tambem é representado.

O tempo de trip em segundos para a caracterisitca de tempo definido ou,

O index da curva de tempo (dial de tempo) usados para o teste dacaracteristica de tempo inverso.

1.3 - Characteristic Definition


Os elementos desta caixa dependem do ajuste do grupo de falta e do tipo dacaracteristica.Como padrão é associada a caracteristica de tempo inversa.O nome do grupo de falta é mostrado na parte superior esquerda desta caixa.Se desejar mudar o grupo de falta, é necessário mudar para a pagina deparametros de sobrecorrente.

Estes sãos os fatores das equações para a definiçãode cada uma das caracteristicas inversas (fatores A,B, P, Q, K1 e K2) ou da caracteristica I²T (fatores A,Q, P). Estes fatores são necessários para ajustar acaracteristica de acordo com a especificação dofabricante.Para os fatores dos relés de uma planta, favorconsultar o manual do relé ou pergunte ao fabricante

do mesmo.

Time Index

O indice de tempo é mostrado. Para muda-lo, vá para a pagina de parametrosde sobrecorrente e mude o valor na coluna de tempo da região de trip i>.

Copy - Pressione este botão para abrir um dialogo, onde a caracteristica dediferentes grupos de falta podem ser copiados para o grupo de faltaselecionado.

News - Pressione este botão para abrir uma nova caixa de dialogo, onde anova caracteristica pode ser criada para o grupo de falta corrente selecionado.

Predefined - Pressione este botão para abrir uma caixa de dialogo, onde umacaracteristica predefinida pode ser escolhida para o grupo de falta correnteselecionado.

O módulo de teste de sobrecorrente tem quatro caracteristicas pré-definidas :

Definite TimeIEC Normal InverseIEC Very InverseIEC Extremely Inverse

Essas caracteristica não podem ser modificadas. Tambem, a caracteristicadefinida pelo usuário, não tem a mesmo de uma destas caracteristicas.As caracteristicas predefinidas IEC seguem as equação IEEE standart.


As tabelas a seguir mostram os parametros usados.

Caracteristica A B P Q K1 K2

IEC Normal Inverse 0.14 0.0 0.02 1 0 0IEC Very Inverse 13.5 0.0 1.0 1 0 0IEC Extremely Inverse 80.0 0.0 2.0 1 0 0

Import - Pressione este botão para abrir uma caixa de dialogo, onde acaracteristica pode ser importa de um arquivo DCC.

2. Parametrizaçào do teste

2.1 – Teste

2.1.1 - Fault Type

Clicando em uma destas opções selecione o tipo de falta. O ajusta para o tipode falta é um ajuste de teste geral e portanto valido para todos os pontosdefinidos na tabela abaixo. De acordo com o ajuste do tipo de falta, o modelode falta apropriado é usado para o calculo dos valores de teste. Modelos defalta para falhas monofásicas, bifásicas, trifásicas, falhas com sequencianegativa e sequencia zero estão disponiveis.

2.1.2 - Itest

The test current Itest of a single test point can be specified here by inputting thedesired value. The cursor position of the mouse in the overcurrent characteristicdiagram is also transferred to this field. The test point can then be added bypressing the Add button. The value can be specified in MTS or in absolutecurrents (see View|Absolute currents).Tip: a quick way to add a test point is to left-click into the overcurrent diagramwhile pressing the Ctrl key.

A corrente de teste Itest para um ponto de teste simples pode ser especificadaaqui pela entrada do valor desejado. Clicando o botão esquerdo do mouse nodiagrama da caracteristica de sobrecorrente o valor correspondente étransferido para este campo. O ponto de teste pode ser adicionadopressionando o botão Add. O valor pode ser especificado em MTS ou emCorrente absoluta (Veja View/Absolute currents).

Para adicionar um ponto de teste clique o botão esquerdo do mouse nodiagrama de sobrecorrente pressionando a tecla Ctrl.


2.2 - Fault

2.2.1 - Fault settings

Absolute max time e Relative max time

A máxima duração da falta pode serajustado com sendo um valor absolutoem “Absolute max time”, ou como umvalor relativo em percentual do máximotempo de trip em “Relative max. Time“.O maximo tempo de trip é ajustado nacaixa “Time Tolerance” na tela de

parametrização de sobrecorrente, protection device.O ajuste percentual deverá ser adicionado ao máximo tempo de trip (P.ex. Ovalor de 10% resultará em um máximo tempo de falta de 110% tmax).

O sistema sempre utiliza a menor dos dois valores de tempo. O sistemapermite o teste através de uma larga faixa de corrente e tempo de operaçãosem danificar o relé.

Load current

Esta corrente será considerada para todas fases durante o estado de pré-faltana sequencia de shot. Durante o estado de falta esta corrente somente seráconsiderada para as fases sem falta para faltas monofásicas.

2.2.2 – Additional Settings

Pre-fault Time

Durante o estado de pre-falta, todastensões são ajustadas para o sistemabalanceado, com magnitude igual a

tensão nominal, e ajuste de VA em 0 graus. A duração do estado de pre-faltapode ser ajustada em “Pre-Fault Time”; se este ajuste for 0, o estado de pré-falta não é considerado.

Delay Time

O estado de pós-falta é projetado para permitir o reset do objeto testado.Durante o estado de pós-falta, existem duas possibilidades : cada uma dastensões nominais no sistema balanceado com corrente zero, ou ambas tensõese correntes serão ajustadas para 0. Isto pode ser ajustado com o parametro“PT connection” na tela de parametrização.A duração do estado de pós-faltapode ser ajustada atuando do “Delay Time”


2.2.3 – Direction

Fault Voltage , Angle (I) e Nominal Voltage

Como a tensão de falta será usada paraformar a tensão de fase de falta, dependedo modelo de falta correspondente. Oangulo (I) é o angulo entre as tensões e

correntes no estado de falta. Com a tensão nominal é tambem usada para ocalculo da falta, ela é mostrada aqui (test object parameter)

2.3 - General

2.3.1 - Pick up Test

Na tela de parametros gerais, o testede pickup pode ser ativado. Se o testede pickup é habilitado, ele seráexecutado antes do primeiro ponto databela de teste. O teste de pickup éprojetado para determinar os limites deoperação do objeto sob teste. Emsteps, a corrente éaumentada/diminuida. Em cada step, o

valor considerado corresponde ao tipo de falta selecionado.A tensão, se habilitada, será tambem considerada de acordo com o ajuste datensão de falta. Se a pre-falta é selecionada, o programa irá aplicar os valoresde pré-falta durante o tempo de pre-falta, para que o relé seja preparado para oteste.

Para a avaliação automática, o teste será sempre considerado como aprovado.Entretanto, se o teste de Pickup/Dropout é o unico teste selecionado nomodulo, então o teste somente será aprovado se os valores de pickup edropout forem encontrados com exito.

Existem dois tipos de teste :

Determinação do pickup/dropout em relés com contato de partida

Informações gerais sobre o teste de pickup

Para este teste, é necessário que o contato geral de partida seja designado.Caso contrário, o modulo de teste ira reportar hardware insuficiente e o testenão será executado.


O estado de pre-falta não é relevante para este teste e portanto não seráconsiderado.

Determinação do valor de Drop-out

Para determinar o valor de drop-out, o modulo partirá a corrente de falta para1.15 Ipickups. Isto causará a operação do contato de partida. Se o contato departida não estiver operado após o tempo assinalado em “Resolution”, o testeserá cancelado. A corrente de teste será reduzida em degraus com tamanho de0.01Ipickup, até o contato de partida abrir ou até o valor de 0.8 Ipickup seralcançado. Se o contato não é aberto, os valores de pickup/dropout não podemser determinados e o teste é cancelado. Se o contato abre, o valor da correnteé gravado como o valor de dropout do relé.

Determinação do valor de Pickup

Usando o mesmo tamanho de step e tempo, até que o contato de partida opereou o valor de 1.15 Ipickup seja alcançado. Se o contato de partida não estaativo, o teste será cancelado, e somente o valor de dropout será gravado.Entretanto, o valor para que o contato de partida opere é gravado como o valorde pickup do relé.

Valor de Drop-Out Valor de Pick-Up


Na figura abaixo se aplicarmos 1.15 x Ipickup e o relé não operar , o tempoajustado em “resolution” é aguardado, sendo após este tempo cancelado oteste.Caso o relé opere, o valor é gradualmente reduzido até 0.8 x Ipickup, caso nãohaja a desoperação do contato o teste é cancelado.

Valor de Drop-out não encontrado

Valor de Pick-up não encontrado


Uso do contato de partida

O modulo de teste segue os seguintes critérios : Se o contato de partida éparte da condição de trigger, o modulo de teste irá considerar o contato ativo efechado ou ativo aberto de acordo como foi definido na condição de trigger (1ou 0 respectivamente). Se o contato é definido como “Don’t care” (X), o moduloirá considerar como contato fechado.

Determinação dos valores de Pickup/Dropout para relés sem contato de partida

Informações gerais sobre o teste de Pickup

O algoritimo utilizado leva vantagem para a inércia de dispositivoseletromecanicos determinar os valores de pickup e dropout.Para detectar o trip, o modulo de teste usa a condição de trigger “full”. Elaconsidera o trip no relé quando a entrada binaria realizar a condição de trigger,ou não trip quando não fizer isto.O procedimento é como mostrado :

Determinação do valor de pickupO modulo de teste ocasiona o trip no relé pelo método da falta à valores deIpickup (valores de trip). Esta falta será processada com sendo um ponto deteste normal.Entretanto, ela terá um tempo de trip nominal, e o maximo tempo de faltaderivado . Os valores de falta (após a pre-falta, se escolhida), são aplicadas aorelé até sair trip ou até o maximo tempo de falta esgotar. Para este casoparticular, nenhum teste para o tempo fora da faixa é feito. Se o relé não dá tripdentro do maximo tempo de falta, o teste de pickup é cancelado.

Depois que o trip é detectado, os geradores serão desligados para a“Resolution” ou até a condição de trip não estar mais presente. Então, isto seráreaplicado com valores de 1.15 Ipickup até que o relé tripeie novamente ou a 3segundos o temporizador expira.Então a sequencia é repetida para valores de 1.14, 1.13, etc. até que para umdeles o relé não tripeie. O ultimo valor para que o relé tripeia é gravado como ovalor de pickup. Se a sequencia alcança 0.8 Ipickup detectando trip para todospontos, o valor de pickup não pode ser determinado e o teste é cancelado.

Determinação do valor de Drop-out

Após a determinação do valor de pickup, 1.15 Ipickup é aplicado até o relétripear ou a 10 segundos o temporizador expira. Se o temporizador expira, ovalor de dropout não pode ser determinado e o teste é cancelado.Se o relé tripeia, o modulo de teste reduz o valor da falta em steps de 0.01Ipickup, com o step de tempo igual à “Resolution”, até que a condição de tripdesapareça ou o alcance sweep 0.8 Ipickup. No último caso, o valor de


dropout não pode ser determinado, e o teste é cancelado. Entretanto, o stepem que a condição de trip desapareceu será gravado como valor de dropout.

Vaor de Pick-Up

Valor de Drop-Out


Tempo máximo de falta

Tempo de Resolução


2.3.2 – Trigger conditions

Este valor é valido para todos os testes, e inteiramente manual, não tendoseleção automática. Os contatos de trip e start são predefinidos, como estescontatos são necessários para a realização do teste.Para mudar a designação dos contatos binarios de entrada, va para aconfiguração do hardware (pressione Ctrl + H).

©Eng. Geraldo M. Aoun_____________________7UT512____________________10/04/01___________________Página 1


RELÉ 7UT512 – SIEMENS

1. Ajustes e Cálculos

Configuration7100 INTEGRATED OPERATION7101 Language English7102 Date format dd.mm.yyyy7105 Operational message for 1st display line 0741 Operat. meas. current L1 side 1 [A] is7106 Operational message for 2nd display line 0744 Operat. meas. current L1 side 2 [A] is7107 Fault message for 1st display line 0543 Prot.funct.which has picked up7108 Fault message for 2nd display line 0544 Prot. funct. which has tripped7110 Fault indication: LED and LCD With trip command

7200 PC AND SYSTEM INTERFACES7209 Device type 357211 Data format for PC-interface DIGSI V37215 Transmission baud rate for PC-interface 9600 Baud7216 Parity and stop-bits for PC-interface DIGSI V37221 Data format for system-interface VDEW extended7222 Measurement format for system-interface VDEW extended7225 Transmission baud rate for system-interface 9600 Baud7226 Parity and stop-bits for system-interface VDEW/DIGSI V3/LSA7235 Parameterizing via system-interface no

7400 FAULT RECORDINGS7402 Initiation of data storage Storage by fault det7410 Maximum time period of a fault recording 3.00 s7411 Pre-trigger time for fault recording 0.50 s7412 Post-fault time for fault recording 0.10 s7431 Storage time by initiation via binary input 1.00 s7432 Storage time by initiation via keyboard 1.00 s7490 Length of fault record (former LSA) <=3000 val. var

7800 SCOPE OF FUNCTIONS7801 Selection of the protected object 2winding-transformer7816 Differential protection Existent7821 Back-up overcurrent protection Reference side 17824 Thermal overload protection 1 Reference side 17825 Thermal overload protection 2 Reference side 27830 External trip function 1 Non-existent7831 External trip function 2 Non-existent7885 Parameter change-over Non-existent


7899 Rated system frequency fN 60 Hz

Device control8300 VDEW-MODE OF THE ANNUNCIATIONS AND MEAS. VAL.8301 Testing via system-interface off

Marshalling6100 MARSHALLING BINARY INPUTS6101 Binary input 1 001 0011 >User defined annunciation 1 active with voltage6102 Binary input 2 001 0391 >Warning stage from Buchholz protection active with voltage

6200 MARSHALLING SIGNAL RELAYS6201 Signal relay 1 001 0051 Device operative / healthy6202 Signal relay 2 001 2412 Back-up overcurrent: Fault detection L1 002 2413 Back-up overcurrent: Fault detection L2 003 2414 Back-up overcurrent: Fault detection L3 004 5621 Diff. prot.: IDIFF> time delay started 005 5622 Diff. prot.: IDIFF>> time delay started 006 5681 Diff. prot.: IDIFF> L1 (without Tdelay) 007 5682 Diff. prot.: IDIFF> L2 (without Tdelay) 008 5683 Diff. prot.: IDIFF> L3 (without Tdelay) 009 5684 Diff. prot: IDIFF>> L1 (without Tdelay) 010 5685 Diff. prot: IDIFF>> L2 (without Tdelay) 011 5686 Diff. prot: IDIFF>> L3 (without Tdelay)6203 Signal relay 3 001 0511 General trip of device6204 Signal relay 4 001 0511 General trip of device 002 1616 Thermal overload prot.2: Warning stage 003 1566 Thermal overload prot.1: Warning stage

6300 MARSHALLING LED INDICATORS6301 LED 1 001 5691 Differential prot.: Trip by IDIFF> memorized6302 LED 2 001 5692 Differential prot.: Trip by IDIFF>> memorized6303 LED 3 001 1571 Trip by thermal overload protection 1 memorized 002 1565 Thermal overload prot.1: Current warn. not memorized 003 1566 Thermal overload prot.1: Warning stage memorized6304 LED 4 001 1621 Trip by thermal overload protection 2 memorized 002 1615 Thermal overload prot.2: Current warn. not memorized 003 1616 Thermal overload prot.2: Warning stage memorized6305 LED 5 001 2451 Back-up overcurrent: General trip memorized


6306 LED 6 001 0141 Failure of internal 24 VDC power supply not memorized 002 0143 Failure of internal 15 VDC power supply not memorized 003 0144 Failure of internal 5 VDC power supply not memorized 004 0145 Failure of internal 0 VDC power supply not memorized

6400 MARSHALLING TRIP RELAYS6401 Trip relay 1 001 0511 General trip of device6402 Trip relay 2 001 0511 General trip of device

Settings Parameter set A1100 TRANSFORMER DATA1102 Rated voltage of winding 1 of transformer 88.0 kV1103 Rated apparent power of winding 1 20.0 MVA1104 Primary rated current of CT winding 1 120 A1105 Starpoint formation of CT winding 1 Towards transformer1106 Processing of zero sequence current of wind. 1 Io-elimination1121 Vector group numeral of winding 2 11122 Rated voltage of winding 2 of transformer 14.0 kV1123 Rated apparent power of winding 2 20.0 MVA1124 Primary rated current of CT winding 2 800 A1125 Starpoint formation of CT winding 2 Towards line/busbar1126 Processing of zero sequence current of wind. 2 Io-elimination

1600 TRANSFORMER DIFFERENTIAL PROTECTION DATA1601 State of differential protection on1603 Pick-up value of differential current 0.20 I/InTr1604 Pick-up value of high set trip 8.0 I/InTr1606 Slope 1 of tripping characteristic 0.251607 Base point 2 for slope 2 of tripping charact. 2.5 I/InTr1608 Slope 2 of tripping characteristic 0.501610 State of 2nd harmonic restraint on1611 2nd harmonic contend in the different. current 25 %1612 Time for cross-blocking with 2nd harmonic 10 *1P1613 Choice a further (n-th) harmonic restraint 5th harmonic1614 n-th harmonic contend in the differen. current 40 %1615 Active time for cross-blocking with n-th harm. 0 *1P1616 Limit IDIFFmax of n-th harmonic restraint 1.5 I/InTr1617 Max. blocking time at CT saturation +* *1P1618 Min. restr. current for blocking at CT satur. 5.00 I/InTr1625 Trip time delay of diff. current stage IDIFF> 0.00 s1626 Trip time delay of diff. current stage IDIFF>> 0.00 s1627 Reset delay after trip has been initiated 0.10 s

2100 BACK-UP OVERCURRENT PROTECTION2101 State of back-up overcurrent protection off2103 Pick-up value for high current stage I>> 6.03 I/In2104 Delay time for I>> TI>> 0.05 s


2111 Overcurrent time stage characteristic Definite time2112 Pick-up value of overcurrent time stage I> 4.00 I/In2113 Delay time for I> TI> 1.05 s2114 Pick-up value of overcurrent time stage Ip 6.03 I/In2115 Time multiplier for Ip (inverse time IDMT) Tp +* s2116 Method of RMS calculation for IDMT With harmonics2118 Reset delay after trip has been initiated 0.10 s2121 Effective stage after manual closing of CB Ineffective

2400 THERMAL OVERLOAD PROTECTION 12401 State of thermal overload protection 1 on2402 K-factor for thermal overload protection 1 1.102403 Time constant for thermal overload protection1 17.0 min2404 Thermal warning stage 90 %2405 Current warning stage 1.05 I/In2406 Calculation method for thermal stages Theta max

2500 THERMAL OVERLOAD PROTECTION 22501 State of thermal overload protection 2 on2502 K-factor for thermal overload protection 2 1.102503 Time constant for thermal overload protection 2 17.0 min2504 Thermal warning stage 90 %2505 Current warning stage 1.05 I/In2506 Calculation method for thermal stages Theta max

2900 MEASURED VALUE SUPERVISION2903 Symmetry threshold for current monitoring .50 I/In2904 Symmetry factor for current monitoring 0.50


2. Montagem da caracteristica diferencial


2.1 – Primeiro ramo

0,25 = AB / OB

Ibias1 = 0,2 / 0,25 = 0,8

Start Point1

Ibias = 0Idiff = 0,2 (1603)

End Point1

Ibias = 0,8Idiff = 0,2

Idiff1

Ibias1


2.2 – Segundo Ramo

0,5 = 8 / (Ibias3 – 2,5)

Ibias3 = 18,5

0,25 = Idiff2 / Ibias2 (1)0,5 = (8 – Idiff2) / (18,5 – Ibias2) (2)


8 – Idiff2 = 9,25 – 0,5 Ibias2

de (1), Temos :

Idiff2 = 0,25 Ibias2

Substituindo, Temos :

8 – 0,25 Ibias2 = 9,25 – 0,5 Ibias2

Ibias2 = 5

Idiff2 = 1,25

Logo :

Start Point2

Ibias = 0,8Idiff = 0,2 (1603)

End Point2

Ibias = 5Idiff = 1,25


2.3 – Terceiro Ramo

Start Point3

Ibias = 5Idiff = 1,25

End Point3

Ibias = 18,5Idiff = 8 (1604)


3 – Curva de Restrição Harmonica

1610 State of 2nd harmonic restraint on1611 2nd harmonic contend in the different. current 25 %1612 Time for cross-blocking with 2nd harmonic 10 *1P1613 Choice a further (n-th) harmonic restraint 5th harmonic1614 n-th harmonic contend in the differen. current 40 %

©Eng. Geraldo M. Aoun________________7UT512_______________10/04/01_____________Página 1

3. TESTES

3.1 – Diff Configuration

3.1.1 – Protected Object

O objeto a ser protegido pelo dispositivo de proteção é selecionado. O objetoprotegido pode ser um Transformados, Gerador, Motor ou Barra.

O grupo da a informação sobre a conexão do objeto protegido, as possiveisconexões são :


Y (Estrela) ouD (Delta)

Ò numero de enrolamentos do transformador (somente selecionavel se otransformador é ajustado como elemento protegido).

1- O nome do enrolamento correspondente pode ser mudado pelo usuário,para permitir uma unica destinação para o elemento protegido. Este nome étambem automaticamente destinado para os transformadores de corrente e ostransformadores de corrente de terra na pagina CT.

2- Tensão nominal do enrolamento correspondente do elemento protegido.

3 - Potencia nominal do enrolamento correspondente do elemento protegido

4 - Grupo vetorial do enrolamento correspondente do elemento protegido.

Tipo de Objeto Ajuste Referencia fasorialHV LV HV LV HV LVD 0 Y 0 D Y 0 0 0D 0 Y 30 D Y 1 0 30 lagD 0 Y 330 D Y 11 0 30 lead

1

2

3

4

5


A seleção de faltas tipo monofásicas no modulo de teste não significa que acorrente de terra (corrente de sequencia zero) seja simulada corretamente. Naverdade, o parametro “Startpoint grounding” é critico aqui. Isto significa que acorrente de sequencia zero pode somente fluir no enrolamento se o startpoint éefetivamente aterrado para :

- O lado da falta selecionada para o modulo “Diff Configuration”- O lado de referencia da caracteristica “Diff Operating” ou o modulo de

tempo “Diff Trip”

5 - “Startpoint grounding” do enrolamento correspondente do elementoprotegido. Este ajuste influencia o fluxo de corrente para falhas monofásicas àterra.

3.1.2 - CT

Se a caixa de verificação “Use Ground Current Measurement Inputs (CT) estáselecionada, a corrente de sequencia zero do enrolamento correspondente ésimulado no gerador de saida.


3.1.3 – Protection Device

A quantidade Ibias algumas vezes se refere como a quantidade deestabilização ou restrição – e usada para comparar com a quantidade Idiff paraa decisão de trip. O metodo de calculo para a quantidade Ibias é determinadode acordo com o fabricante do relé e não pode ser ajustado arbitrariamente.

(|Ip| +|Is|) / k1 Siemens digital relayseries 7UT51...,

K1 = 1

GEC digital relay seriesKBCH

K1 = 2

SEL Schweitzer digitalrelay series SEL5

K1 = 2

(Ip + Is)/ k1 AEG digital relay seriesPQ7

K1 = 2

Vários relésconvencionais

K1 = 1

(|Ip| +|Is| ±k2) / k1 GE Multilin digital Relaysérie SR745

K2 = 1K1 = 2K1 = 3 (Trafo 3 enrol.)

Max (|Ip| , |Is|) ELIN digitan relay serieDRS

K1 = 1

É o enrolamento usado para o calculo da corrente de teste de referencia de Idiffe Ibias. Isto é para o teste da caracteristica de operação e da caracteristica detempo de trip. A falta sera sempre localizada neste lado.As correntes medidas pelos relés diferenciais são diferentes em valoresabsolutos e fase sob operação normal e não podem ser usados diretamentepara o calculo de Idiff e Ibias. Entretanto, o relé de proteção tem de definir oenrolamento de referência para normalizar as correntes para o mesmodefasamento e eliminação da corrente de sequencia zero.Para que seja capaz de testar a caracteristica de operação esta referencia temque ser definida para o modulo de teste. Em principio, não existem diferença nolado do transformador que é definido como referencia, mas a distribuição de


corrente nas fases e seus valores absolutos e defasamentos são diferentespara cada enrolamento de referencia, dependendo o grupo vetorial para falhasmonofásicas ou bifasicas.

Os valôres absolutos das correntes medidas no transformador para oenrolamento de referencia pelo ajuste do grupo vetorial e eliminação desequencia zero são diferentes devido a diferentes relações de enrolamentos dotransformador. Entretanto, os valores absolutos padronizados das correntesnas extremidades para serem comparadas são diferentes para cada fabricantede relé, A corrente nominal do objeto protegido ou do TC do enrolamento coma maior potencia. Esses parametros são essenciais e tem de ser solicitadosaos fabricantes de relés se houver alguma duvida com relação a isso. Ajusteserrados levam a testes indefinidos.

Test Max. Restringe o maximo tempo de teste para proteger o relé.

Delay Time é o tempo entre sucessivos teste para dar o tempo de reset do relé.

Estes são ajustes padrão para os parametros de teste atuais que podem serajustados na pagina “General test parameters”.

Os parametros para o teste de relés diferenciais convencionais. Neste caso, acorrente nominal do relé ( 1 ou 5 A), tem de ser ajustada com o parametro Inom na “General Page”.O ajuste dos dados para o transformador e TC não tem influência no teste, maseles são representados no relatório.

Deve ser marcada para testesem relés diferenciaisconvencionais semcompensação de defasamento.


Para transformadores com enrolamento delta-estrela aterrado, a corrente desequencia zero irá fluir na direção do enrolamento de terra para falha fase-terra. Porque a corrente de sequencia zero não flui no enrolamento delta, acorrente no relé tem de ser compensada ou corrigida pelo desbalanço causadopelo deslocamento angular sobre o transformador. A correção do angulo defase pode ser completada pelos TC’s de interposição (metodo tradicional) oucom jumpers nos relés (eletromecanicos ou estáticos) ou computacionalmentepara relés digitais. O metodo usado para eliminação de sequencia zero é criticopara o teste. Entretanto, isto é necessário para selecionar o tipo de eliminaçãode sequencia zero utilizada.

A eliminação de corrente de sequencia zero (somente relevante para falhasmonofásicas), pode se ajustada.

(IL –I0) – Corrente de linha de sequencia zeroYD – Transformador de interposiçãoYDY – Transformador de interposição

Ajustes e tolerâncias do relé de acordo com a planilha de dados do fabricante.

3.1.4 – Characteristc Definition

Dado trazido da pagina “Protection Device”

Campo para a entrada do ponto de partida e fim dalinha (Um elemento da caracteristica a ser definida)


Slope que resulta dos pontos inicial e final.

Inicialização automatica do novo ponto de partidaapós a adição de uma nova linha.

Mostra os valores dos pontos definidos dacaracteristica no gráfico.

Mostra as linhas de grid

Serve para definir as curvas harmonicas, afaixa de tolerancia e o atrazo darestrição harmonica.Para quase todos reles diferenciais digitais o valor lxf = constante é aplicado. Obloqueio de restrição harmonica é independente do valor da correntediferencial. Para relés diferenciais convencionais, entretanto, o valor lxf =f(Idiff) é aplicado. O bloqueio de restrição harmonica é dependente do valorda corrente diferencial.

Para lxf = constante – Linha reta

Para lxf = não constante – Curva devido a concatenação de segmentos. Todosestes segmentos são definidos individualmente pelas suas coordenadas StartIdiff/In e Start Ixf/Idiff tambem por End Idiff/In e End Ixf/Idiff.

Nota : No caso do relé permitir o ajuste de atrazo, note que este “timedelay”(ajustado no box “time delay”) deverá ser ajustado por mais tempo que otempo de teste maximo (como mostrado na tabela “protection device”).


4. Parametrização dos testes

4.1 – Test Data

Itest – Corrente de testeAdd - Adiciona os valores de Itest à tabela de teste.Add Sweep - Adiciona a sequencia de valores de Itest, começando com “StartValue”, o valor de Itest é incrementado pelo “Step Size” até o valor de “EndValue” .Remove - Deleta os pontos de teste selecionados na tabela.Table - On the far left of the table the current state is displayed with an icon:Nesta tabela, entram os valores de Itest. Os valores nominais docorrespondente ao valor de Idiff é mostrado para comparação.Pontos de teste podem ser adicionados entrando no campo Itest e clicando obotão “Add”.O numero de pontos de teste podem ser adicionados pressionando o botão“Add Sweep” e especificando a sequencia de pontos de teste.

4.2 - Test


Data Input - É possivel especificar quais valores serão lidos/medidos. Épossivel escolher entre os valores Primary ou Secondary ou Tertiary emmagnitude e angulo, ou valores de Idiff e Ibias. Os campos de entrada mudampor conseguinte. Os dados preenchidos aqui, serão incluidos do relatório doteste.

Test Status - O Status do teste é mostrado em forma de Itest e Status.

Test Assessment - O teste pode ser manualmente classificado como “Passed”ou “Failed”4.3 – General

Ajusta que enrolamentos serão testados e que enrolamentos estão no lado dafalta e no lado da fonte.Todas testes são possiveis, onde o enrolamento primário é envolvido. Por issoduas possibilidades de teste resultam para transformadores de doisenrolamentos e quatro para transformadores de tres enrolamentos.

Ajuste de “Load Side” e Iload – I load é usado somente se o checkbox Iload émarcado. Somente possivel para o teste de objetos com 3 enrolamentos.

©Eng. Geraldo M. Aoun_____________________REG216____________________29/09/96___________________Página 1


RELÉ REG216 – ABB

1 - FUNÇÃO DIFERENCIAL GERADOR 87G

1.1 - Ajustes e Cálculos

Diff-Transf | pnr 1 | 87G 1 RunOnCPU 0 CopyOfFunc 2 ParSet4..1 1 Trip 01-08 17 Trip 09-16 0 Trip 17-24 0 Trip 25-32

0.10 g 0.25 v 1.25 b 1.00 g-High 5 I-Inst 1.33 a1 0 s1 4 4 CurrentInp1 1.33 a2 0 s2 4 1 CurrentInp2 1.00 a3 0 s3 0 0 CurrentInp3 0 1 InrushInp 0 1 HighSetInp 0 1 BlockInp 0 2 Trip 0 2 Trip-R 0 2 Trip-S 0 2 Trip-T 10 InrushRatio 2 InrushTime 0 0 Inrush 0 0 Stabilizing


1.2 - Montagem da caracteristica diferencial

g 0,10v 0,25b 1,25g-High 1,00I-Inst 5,00

1.2.1 - Primeiro Ramo

0,25 = AB

0,25 = 0,1

Ibias1 = 0

O

A

B

C

D

/OB

/ OB => OB = 0,4

,4


Start Point1

Ibias1 = 0Idiff1 = 0,1

End Point1

Ibias1 = 0,4Idiff1 = 0,1


1.2.2 – Segundo Ramo

0,25 = CD / OC0,25 = CD / 1,25 => CD = 0,3125

Idiff2 = 0,3125

Start Point2


End Point2Ibias2 = 1,25Idiff2 = 0,3125


1.2.3 – Terceiro Ramo

Start Point3

Ibias3 = 1,25Idiff3 = 0,3125

End Point3

Ibias3 = 1,25Idiff3 = 5


1.3 – Curva de Restrição Harmonica

InrushRatio 10 InrushTime 2


2 - FUNÇÃO DIFERENCIAL GERADOR 87G

2.1 - AJUSTES E CÁLCULOS

4 Diff-Transf | pnr 1 | 87TG 1 RunOnCPU 0 CopyOfFunc 2 ParSet4..1 1 Trip 01-08 3 Trip 09-16 0 Trip 17-24 0 Trip 25-32 0.30 g 0.25 v 1.50 b 1.50 g-High 10 I-Inst 1.39 a1 0 s1 4 16 CurrentInp1 1.33 a2 11 s2 4 13 CurrentInp2 1.33 a3 11 s3 4 19 CurrentInp3 0 1 InrushInp 29 15 HighSetInp 0 1 BlockInp 0 0 Trip 0 2 Trip-R 0 2 Trip-S 0 2 Trip-T 10 InrushRatio 2 InrushTime 0 0 Inrush 0 0 Stabilizing


2.2 – Montagem da característica diferencial

g 0,30v 0,25b 1,50g-High 1,50I-Inst 10,00

2.2.1 – Primeiro Ramo

0,25 = AB / OB = 0,30/ Ibias1

Ibias1 = 0,30/0,25

Ibias1 = 1,2


Start Point1

Ibias1 = 0Idiff1 = 0,3

End Point1



2.2.2 – Segundo Ramo

0,25 = CD / OC

0,25 = CD / 1,50 => CD = 0,375

Idiff2 = 0,375

Start Point2


End Point2

Ibias2 = 1,50Idiff2 = 0,375


2.2.3 – Terceiro Ramo

Start Point3

Ibias3 = 1,50Idiff3 = 0,375

End Point3

Ibias3 = 1,5Idiff3 = 10


2.3 – Curva de Restrição Harmonica

InrushRatio 10 InrushTime 2


3 - FUNÇÃO UNDERIMPEDÂNCIA


FType. Underimped | pnr 1 | 21-1 1 RunOnCPU 0 CopyOfFunc 2 ParSet4..1 33 Trip 01-08 1 Trip 09-16 0 Trip 17-24 0 Trip 25-32 0.20 Delay 0.094 Z-Setting 3 NrOfPhases 4 13 CurrentInp 4 22 VoltageInp 23 17 BlockInp 0 2 Trip 0 2 Start


4 - FUNÇÃO MÍNIMA REATANCIA (40)


6 18 MinReactance 1 | 40-2 1 RunOnCPU 0 CopyOfFunc 2 ParSet4..1 0 Trip 01-08 0 Trip 09-16 0 Trip 17-24 0 Trip 25-32 2.00 Delay -1.00 XA-Setting -0.29 XB-Setting 3 NrOfPhases 4 13 CurrentInp 4 22 VoltageInp 30 Angle 23 17 BlockInp 0 2 Trip 0 2 Start -1 MaxMin


5 - FUNÇÃO SOBRECORRENTE TEMPO INVERSO (51N)


13 Current-Inv | pnr 1 | 51N 1 RunOnCPU 0 CopyOfFunc 2 ParSet4..1 5 Trip 01-08 1 Trip 09-16 0 Trip 17-24 0 Trip 25-32 1 c-Setting 10.00 k1-Setting 1.00 I-Start 1 NrOfPhases 4 7 CurrentInp 0.80 IB-Setting 0 1 BlockInp 0 2 Trip 0 2 Start 0.00 t-min


Onde :

R(IT) – Tempo teórico de Trip em Segundos

A, B, P, Q, K1 e K2 - Parâmetros a serem ajustados pelo usuário para o ajuste fino da característica.

Parâmetros controláveis pelo software :

D Dial de Tempo ou índice da curva de tempo (Ajuste de tempo para a regiãoDe trip I>)

Is Índice da curva de corrente (Ajuste de Ipickup para a região de trip I>)In Corrente Nominal (Normalmente 1A ou 5 A)IT Corrente de teste

curso omicron eletronorte

Documents

input voltage

v4phase ac

vpower3phase ac

300v1phase ac

sthreshold voltage

hardwareall voltage

voltage outputs

vdc threshold