CONFIRMED SPEAKERS• W. B. Doriese, NIST Boulder, USA• P. Glatzel, ESRF Grenoble, France• S. Huotari, University of Helsinki, Finland• Y. Kayser, PTB Berlin, Germany• F. Luccarelli, INFN Florence, Italy• M. Manso, University of Lisbon, Portugal• F. Salvat, University of Barcelona, Spain• G. Seidler, University of Washington, USA• J. Szlachetko, Jan Kochanowski University of Kielce,

Poland• P. Van Espen, University of Antwerp, Belgium• G. Vanko, Wigner Research Centre for Physics, 

Budapest, Hungary• K. Vogel­Mikuš, University of Ljubljana, Slovenia• H. Yoneda, Institute for Laser Science & RIKEN 

Spring­8, Japan

PUBLIC LECTURE SPEAKER:• Prof. Dr. Alexander Föhlisch, Helmholtz­Zentrum 

Berlin

TOPICS

• Interactions of X­rays with matter and fundamental parameters

• XRS Instrumentation (X­ray sources, optics and detectors)

• Quantification methodology and metrology• TXRF, GIXRF and related techniques• Microbeam techniques, confocal XRF and X­Ray 

imaging• Mobile and portable XRF• Synchrotron XRS, XAFS, high resolution XES, 

and RIXS• PIXE instrumentation and applications• Electron induced XRS• WDXRS• X­ray diffraction (XRD)• XRS in Art and Cultural Heritage• XRS in Advanced Materials and Nanoscience• XRS in Earth and Environment sciences• XRS in Industrial Quality and Process Control• XRS in Life Sciences and Forensics• Recent Scientific Developments by XRS 

Instrumentation Manufacturers

                         CONTACT:exrs2018@ijs.sihttps://exrs2018.ijs.si

DEADLINES:• Abstract submission:• Early registration:• Manuscript submission:  

March 31 2018April 30 2018September 1 2018

   

ORGANIZED BY:       IN COLLABORATION WITH:   SUPPORTED BY:

European Conference on X­Ray Spectrometry    Ljubljana, Slovenia, 24 ­ 29 June 2018

           EXRS 2018, Ljubljana, Slovenia Jožef Stefan Institute  24 – 29 June 2018 exrs2018@ijs.si