on-chip transmission line interconnectmasu-...on-chip transmission line interconnect 伊藤...

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On-Chip Transmission Line Interconnect ( 1. Background 2. Differential Transmission Line Structures 100 10 1 0.1 Relative Delay 250 180 130 90 65 45 32 Process Technology Node [nm] Gate Delay (Fan out 1) Metal 1 (Scaled) Global with Repeaters Global w/o Repeaters http://www.kakaku.com/images/productimage/fullscale/05100010043.jpg Si ULSI : 3.60 GHz : 115.0 W ITRS2003 : LSI Proposal Differential Transmission Line Driver Receiver RC Line Repeater Conventional Proposed 1. 2. 3. = = RC = : 20Gbps 1 1 1/4 = LSI: 20GHz 54GHz Global Interconnect RC ( ) : = + - W D Si W Al / SiO2 0.35 mm CMOS M1 = 0.7 mm, M2 = 0.6 mm M3 = 0.9 mm, ILD = 1.0 mm SiO2 r tand Si = 2 W cm W = 2.0 6.0 mm Zdiff = 80 120 W ( D ) Ansoft 2D Extractor RLGC Lm Gm R Cm L G C ε d Z W G W R diff diff diff , , 1 Z G Z R l L + = diff diff diff diff diff 2 1 α Si (W) (D) WD 22 18 14 10 6 2 0 40 100 20 1 10 50 Frequency [GHz] 60 80 Attenuation [dB/cm] WD [μm ] 2 Attenuation, Layout Area, Characteristic Impedance 80 90 100 110 120 Zdiff Important Considerations Layout Area Attenuation Crosstalk Power Consumption Crosstalk, Layout Area Crosstalk Margin : | Crosstalk Coefficient | 0.05 Forward Crosstalk Coefficient @ Line Length l: 1cm Rise Time tr: 10psec · Backward Crosstalk Coefficient : Individual Inductance, Capacitance : Mutual Inductance, Capacitance Bus Line Pitch [μm] Crosstalk Coefficient -0.4 -0.2 0 0.2 0.4 4 6 8 10 12 14 16 Bus Line Pitch [μm] Crosstalk Coefficient 0 0.1 0.2 0.3 0.4 12 14 16 18 20 22 24 Bus Line Pitch [μm] Crosstalk Coefficient -0.4 -0.2 0 0.2 0.4 4 6 8 10 12 14 16 Bus Line Pitch [μm] Crosstalk Coefficient -0.4 -0.2 0 0.2 0.4 4 6 8 10 12 14 16 Kf12 Kb12 Kf13 Kb13 Co-planar Line Diagonal-pair Line Diagonal-pair Line with Thick ILD Diagonal-pair Line with Cu/Low-k 8.1mm Line Pitch 8.6mm 12.6 mm Line Pitch 5.0mm Line Pitch 5.2mm 11.2 mm Line Pitch 15.7 mm Line Pitch 18.2 mm Line Pitch Co-planar Diagonal-pair (Thick ILD) (Cu/Low-k) 18.2 μm 8.1 μm 5.0 μm pair 1 pair 2 15.7 μm -14% -56% -73% -62% vs. Co-planar Line of Cu/Low-k ( ε r =2) Zdiff = 100 Diagonal-Pair Line EMI Noise Reduction : EMI 0 10 20 0.00 0.15 -0.15 Time [nsec] Voltage [V] 0 10 20 0.00 0.15 -0.15 Time [nsec] Voltage [V] A B C Pair = 2 Pair = 3 Pair = 1 10 mm A B C A B A 1 μm width EMI : ( ) (DRAM ) Diagonal-pair Line Twisted Diagonal-pair Line 10 Gb RC 47dB Time-Domain Measurement M3 ILD M1 Si Al/SiO2 2 cm AMS 0.35 μm CMOS Process + - : 4 μm : 3 mm : 100 : M1&M3 GSGSG Pad GSGSG Pad Diagonal-pair Line Thru : 0 mm 1 2 3 4 Agilent Agilent Agilent infiniium DCA-J 86100C Wide-Bandwidth Oscilloscope 86112A 86107A 20 GHz Electrical Precision TimebaseModule 2.5/10 GHz PULSE PATTERN GENERATOR MP1761B 0.05-12.5GHz DUT Pulse Pattern Generator Anristu 1761B ( 12.5 Gbps) Digital Oscilloscope Agilent 86100B ( 20 GHz) Trigger DATA DATA PRBS: 300 mVp-p Thru DTL 2 Gbps M1 M3 M1 M3 12 Gbps H: 168 mV W: 488 ps H: 175 mV W: 486 ps H: 253 mV W: 488 ps H: 261 mV W: 490 ps H: 87 mV W: 71 ps H: 54 mV W: 64 ps H: 160 mV W: 72 ps H: 155 mV W: 67 ps H: eye-height W: eye-width M1 M3 = Si 10 Gbps 3 mm

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On-Chip Transmission Line Interconnect伊藤 浩之、五味 振一郎、杉田 英之、岡田 健一、益 一哉

東京工業大学 精密工学研究所 益研究室 電子機能システム専攻(協力講座)

1. Background

2. Differential Transmission Line Structures

100

10

1

0.1

Rel

ativ

e D

elay

250 180 130 90 65 45 32Process Technology Node [nm]

Gate Delay(Fan out 1)

Metal 1(Scaled)

Global withRepeaters

Global w/o Repeaters

http://www.kakaku.com/images/productimage/fullscale/05100010043.jpg

Si ULSI

動作周波数: 3.60 GHz最大消費電力: 115.0 W

ITRS2003

微細化 → 高速化

遅延時間: 長距離配線 ≫ デバイス

LSIの性能は長距離配線によって律速されている。

Proposal長距離配線に差動伝送線路を適応させる。

Differential Transmission LineDriver Receiver

RC LineRepeaterConventional

Proposed

差動伝送線路1. 伝送線路の接地が不要2. 高いコモンモード・ノイズ耐性3. 小振幅の信号伝送が可能  = 回路の高速化が可能

・伝送線路内では電磁波の速度で信号が伝わる。 = RC線路よりも高速な信号伝送が可能・リピーターが不要 = 消費電力が信号周波数と配線長にほとんど依存しない。

差動伝送線路を用いることで、高速かつ低消費電力な長距離配線が実現できる。長距離配線: 20Gbpsの1対1伝送を1/4の消費電力で= LSI: 20GHz動作 → 54GHz動作に

Global Interconnect・RC線路として設計されている。

・リピーターによる分割 → 高速化

(配線が長くなるほど多くのリピーターが必要)

トレードオフ: 高速化 ⇔ 消費電力

高速化 = より多くの電流を 回路に流す必要がある。

+ -

信号伝搬方向

W D

Si基板

WAl / SiO2

・0.35 µm CMOSプロセスを参考

M1厚 = 0.7 µm, M2厚 = 0.6 µmM3厚 = 0.9 µm, ILD厚 = 1.0 µm

・SiO2の r、tanδの周波数依存性は無視

・Si基板の抵抗率 = 2 Ω・cm・W = 2.0 ~ 6.0 µm・Zdiff = 80 ~ 120 Ω ( Dで調整)Ansoft 2D Extractor→ 配線のRLGCパラメータを抽出

→ ディファレンシャルモードの減衰定数を計算

→ 単位長さあたりの信号減衰量

Lm

GmR

Cm

L

GC

ε

dZWGW

R ∝∝∝ diffdiffdiff ,,1

ZGZR

+= diffdiff

diff

diffdiff 2

信号減衰量と配線パラメータの関係

Si基板上の差動伝送線路の

信号減衰量は、ほぼ

配線幅(W)と配線間隔(D)の積に依存する。

・・・WD積

22181410 6 20

40100

20

110

50

Frequency [GHz]60 80

Atte

nuat

ion

[dB

/cm

]

WD [µm ]2

Attenuation, Layout Area, Characteristic Impedance

80 Ω90 Ω100 Ω110 Ω120 Ω

Zdiff

Important Considerations

Layout AreaAttenuation Crosstalk

Power Consumption相関

トレードオフ トレードオフ

Crosstalk, Layout Area

Crosstalk Margin :| Crosstalk Coefficient | ≦ 0.05

Forward Crosstalk Coefficient@ Line Length l: 1cm   Rise Time tr: 10psec

×

Backward Crosstalk Coefficient

: Individual Inductance, Capacitance: Mutual Inductance, Capacitance

Bus Line Pitch [µm]

Cro

ssta

lk C

oeffi

cien

t

-0.4

-0.2

0

0.2

0.4

4 6 8 10 12 14 16Bus Line Pitch [µm]

Cro

ssta

lk C

oeffi

cien

t

0

0.1

0.2

0.3

0.4

12 14 16 18 20 22 24

Bus Line Pitch [µm]

Cro

ssta

lk C

oeffi

cien

t

-0.4

-0.2

0

0.2

0.4

4 6 8 10 12 14 16Bus Line Pitch [µm]

Cro

ssta

lk C

oeffi

cien

t

-0.4

-0.2

0

0.2

0.4

4 6 8 10 12 14 16

Kf12Kb12Kf13Kb13

Co-planar Line Diagonal-pair Line

Diagonal-pair Linewith Thick ILD

Diagonal-pair Linewith Cu/Low-k

8.1µm ≦ Line Pitch≦ 8.6µm12.6 µm ≦ Line Pitch

5.0µm ≦ Line Pitch≦ 5.2µm11.2 µm ≦ Line Pitch

15.7 µm ≦ Line Pitch

18.2 µm ≦ Line Pitch

Co-planar

Diagonal-pair

(Thick ILD)

(Cu/Low-k)

18.2 µm

8.1 µm

5.0 µm

pair 1 pair 2

15.7 µm-14%

-56%

-73%

-62% vs. Co-planar Line of Cu/Low-k

(εr=2)

Zdiff = 100 Ω

Diagonal-Pair Lineの提案…クロストークと配線密度のトレードオフを解決

EMI Noise Reduction縒り線構造: 長距離配線の高速化・高密度化・高クロストーク耐性化・低EMIノイズ化

0 10 20

0.00

0.15

-0.15

Time [nsec]

Volta

ge [V

]

0 10 20

0.00

0.15

-0.15

Time [nsec]

Volta

ge [V

]

AABC

Pair = 2 Pair = 3

Pair = 1

10 µmA

B CA BA

1 µm width

全体図 ・EMIの原因となるコモンモード成分:配線を縒り合わせることで低減する。(差動対を構成する配線の損失を均一にする。)

・互い違いに縒り合わせることで、高クロストーク耐性化が可能となる。(DRAMのビット線の手法を導入)

Diagonal-pair Line Twisted Diagonal-pair Line10 Gbps

RC線路と比較してコモンモード電力を47dB削減

Time-Domain Measurement

M3 ILDM1

Si

Al/SiO2

2 Ωcm

AMS 0.35 µm CMOS Process

+-

配線幅: 4 µm配線長: 3 mm差動インピーダンス: 100 Ω信号配線層: M1&M3

GSGSG Pad GSGSG Pad

Diagonal-pair LineThru

配線長: 0 mm特性比較用

1 2 3 4

Agilent

Agilent Agilent

infiniium DCA-J86100CWide-BandwidthOscilloscope

86112A 86107A20 GHz Electrical Precision TimebaseModule 2.5/10 GHz

PULSE PATTERN GENERATOR MP1761B 0.05-12.5GHz

DUT

Pulse Pattern GeneratorAnristu 1761B (~12.5 Gbps)

Digital OscilloscopeAgilent 86100B (~20 GHz)

Trigger

DATA

DATA

PRBS: 300 mVp-p

Thru DTL2 Gbps

M1 M3 M1 M3

12 Gbps

H: 168 mVW: 488 ps

H: 175 mVW: 486 ps

H: 253 mVW: 488 ps

H: 261 mVW: 490 ps

H: 87 mVW: 71 ps

H: 54 mVW: 64 ps

H: 160 mVW: 72 ps

H: 155 mVW: 67 ps

H: eye-heightW: eye-width

・伝送線路でのジッタは非常に小さい。・M1の配線の方がM3の配線よりもアイ高さが小さい = Si基板の影響・差動伝送線路を用いることで10 Gbps以上の高速信号伝送が オンチップで可能となる。

3 mm