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Sensores MicroeletrônicosIE012
Interligação e Encapsulamento(I&E)
Professor Fabiano Fruett
UNICAMP – FEEC - DSIFSala 207
www.dsif.fee.unicamp.br/~fabiano
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O encapsulamento deve propiciar:
• Canal de contato ou exposição ao meio (transmissão dos sinais)
• Suporte mecânico• Interface elétrica• Proteção do die contra agressões ambientais
– Umidade– Vibração– Luz
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Características desejáveis
• Baixo custo• Tamanho reduzido• Compatibilidade eletromecânica• Boa condutividade térmica• Minimização do stress mecânico• Minimização do Crosstalk
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Packaging engineering• O encapsulamento representa um grande desafio
no desenvolvimento de sensores microeletrônicos.• Técnicas de encapsulamento de sensores
microeletrônicos são desenvolvidas a partir de técnicas padrões para semicondutores.
• O desenvolvimento do encapsulamento deve ser feito em conjunto com o sensor.
• O desafio é desenvolver um encapsulamento que satisfaça as necessidades do sistema sensor e ao mesmo tempo minimize custos.
• Elemento chave na confiabilidade do sistema
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O encapsulamento microeletrônico padrão é constituído de:
• Base (cerâmica ou metálica)• Adesivo (Attach)• Chip de silício• Interconexões (Bond-wires)• Cobertura (epoxy moldado, tampa metálica)
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Tipos de encapsulamento microeletrônico
• Cerâmico– Prototipagem e desenvolvimento– Pontos de teste disponíveis– Técnica de montagem híbrida– Permite trimagem pós-packaging
• Metálico– Confiabilidade e robustez– Possibilita selagem hermética– Alto custo
• Plástico moldado– SIP, DIP SMD ...– Baixo custo– Problemas com umidade e stress mecânico– Não possibilita selagem hermética
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Selagem hermética para encapsulamento cerâmico
Fonte: 2000 Packaging databook, Intel
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Principais etapas do processo de encapsulamento
• Die Attaching• Wire Bonding• Molde plástico• Teste
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Die-attach
Propriedades desejáveis:+ Estabilidade mecânica+ Baixo stress residual+ Boa condutividade elétrica+ Boa condutividade térmica
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Stress mecânico induzido pelo die attach
Silicon dieAttachmentSubstrate
+ εmax
- εmax
Normal strain distribution
Electronic devices
(b)
(c) (d)
(a)
σxxσyy
σzz
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Adesivos mais utilizados
• Ligas metálicas– Eutética– Soldas macias
• Adesivos orgânicos– Polímeros
• Epoxy• Poliamida
– Silicones• Elastómeros• RTV
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Adesivo eutético
Silício ligando com ouro à 425°C• Excelente condutor térmico e elétrico• Material com baixa compliance• Stress mecânico considerável
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Adesivo a base de solda 95Pb-5Sn
• Temperatura de fusão 300°C• Característica térmica-elétrica próxima ao
eutético• Baixo stress de rendimento => reduz a
quantidade de stress no die.• Susceptível a fatiga e quebra
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Adesivos orgânicosSFG e SFE
• Baixo custo• São misturados a pó de prata para melhorar
a condutividade elétrica e térmica• Temperatura de cura próxima de 150°C• Baixo stress mecânico induzido• Atrativo para sensores químicos e
biológicos, que podem ter partes sensíveis ao calor
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Adesivos a base de silicones e elastómeros
RTV- Room Temperature Vulcanization• Excelente estabilidade tempo/temperatura• Baixa condutividade térmica/elétrica• Baixa resistência à substâncias corrosivas• Baixa resistência quando exposto
prolongadamente a altas temperaturas
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Wire bonding
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Wire bonding
Proporciona a conexão elétrica entre os pads do sensor e os terminais externos do encapsulamento.
São os maiores responsáveis por falhas em sistemas microeletrônicos
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Partes do Wire-Bonder
CAPILLARY
Au or Al WIRE
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Tipos de wire bonder
• Termocompressão (calor)
• Ultrasônico ou termosônico
A diferença entre os dois está no tipo de energia utilizada
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Etapas do processo de wire bonding
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Molde Plástico
• Polímero a base deepoxy
• Materiais a base deelastómero são introduzidos
• O molde plástico deve evitar a absorção de umidade ao longo do tempo
Fonte: 2000 Packaging databook, Intel
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MicrosistemasTendência forte de concentração de sistemas em um só Chip (SoC), cada vez mais compacto.
Uma tecnologia intermediária ao SoC é a tecnologia SiP (System in a Package).
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Exemplo SiP
Acelerômetro Motorola antes do molde plástico
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Fluxograma de um processo de encapsulamento microeletrônico
Fonte: SSCS IEEE
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Microsistemas requerem encapsulamento especial
• Canal de comunicação com o ambiente• Isolação térmica e/ou mecânica• Controle contra contaminantes • Redução do Crosstalk, histerese e deriva• Fatiga mecânica (MEMS)
Entender os fundamentos e característica dos processos e materiais pode reduzir falhas
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Considerações elétricas
• Redução de interferências, crosstalk e sinais parasitas
• Acoplamentos resistivos, capacitivos e indutivos
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Considerações térmicas
• Manter a temperatura do sistema dentro dos parâmetros evitando falhas e degradação.
• Necessidade de boa condução térmica, principalmente para sensores térmicos
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Considerações mecânicas
• Minimização do stress induzido pelo descasamento das propriedades dos materiais
• Minimização do stress induzido por carga externa
• Prevenção de falhas mecânicas durante serviço
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Stress termo-mecânico
• Sempre preocupante, tornando-se dominante na análise de falhas e desvios
Proporcional a:
• Complexidade dos sistemas• Tamanho das pastilhas• Variação de temperatura (fabricação e utilização)
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TCEs de alguns materiais
Fonte: Ristic L., Sensor tech. and devices
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Outras propriedades importantes
S i l í c io m o n o c r i s t a l in o K n o o p
H a r d n e s s [ 1 0 9 K g /m 2 ]
Y o u n g ’ s m o d u lu s [ 1 0 1 1 P a ]
Y ie ld S t r e n g th [ 1 0 9 P a ]
T h e r m a l E x p a n s . [ 1 0 - 6 / o C ]
0 .8 5 -1 .1 0 1 .2 -1 .9 2 .8 -7 .0 2 .6
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Stress Termo-induzido
Silicon dieAttachmentSubstrate
+ εmax
- εmax
Normal strain distribution
Electronic devices
(b)
(c) (d)
(a)
σxxσyy
σzz
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Predizer o tipo e magnitude do stress que será gerado no encapsulamento fabricado a partir de vários componentes é um problema complexo que requer um esforço de análise.
Métodos de análise:• Analítico• Numérico• Empírico
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Simulação do stress com FEM
[MPa]
Substrato metálico
Silicio
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Considerações particulares em sensores:
• Magnéticos• Térmicos• Radiantes• Mecânicos• Químicos
Devem ser utilizados materiais não magnéticos para não distorcer o campo magnético que está sendo medido. Geralmente são utilizados encapsulamentos plásticos com condutores não magnéticos.
Livro Popovic p. 203 – texto interessante sobre packaging
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Encapsulamento moldado em plástico
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Considerações particulares em sensores:
• Magnéticos• Térmicos• Radiantes• Mecânicos• Químicos
Devem ser utilizados materiais com boa condutividade térmica. Encapsulamentos plásticos são utilizados para reduzir custo e nem sempre oferecem o melhor desempenho.
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Sensor de temperatura
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Considerações particulares em sensores:
• Magnéticos• Térmicos• Radiantes• Mecânicos• Químicos
Janelas transparentes aos comprimentos de onda detectados são necessárias. Em certas aplicações uma lente é necessária. As propriedades óticas dos materiais devem ser mantidas durante toda a vida útil do sensor.
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CCDs
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Considerações particulares em sensores:
• Magnéticos• Térmicos• Radiantes• Mecânicos• Químicos
Devem transferir o sinal mecânico ao elemento sensor sem perturbações.
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Considerações particulares em sensores:
• Magnéticos• Térmicos• Radiantes• Mecânicos• Químicos
Sensores químicos necessitam de uma seleção criteriosa de materiais. O elemento químico a ser medido deve estar em contato direto com a superfície ativa do sensor.
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Sensores de pressão relativa
Fonte: High Density Packaging Group - ETH
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Sensores de umidade
Smartec
Capacitivo Resistivo
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Chip coatings• Utilizados para isolar o die ou sua superfície
de stress gerado pelo invólucro.
• Poliamida ou elastómeros a base de silicone são os mais utilizados
Fonte: Ristic L., Sensor tech. and devices
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Wafer-Level packaging
Fonte: Ristic L., Sensor tech. and devices
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Flip-Chip
• Elimina wire-bonding (reduz efeitos parasitas)
• Tamanho reduzido• Adequado para montagens híbridas (SiP)
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Sensor de fluxo
Fonte: K.A.A. Makinwa and J.H. HuisingT.U. Delft
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O encapsulamento deve-se moldar a aplicação
Fonte: MIT Medialab and Media Lab Europe
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Encapsulamento de sensores
Fonte: High Density Packaging Group - ETH
Oportunidades:
• Encapsulamento específico• Alto valor agregado• Maquinário de baixo custo
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http://www.imaps.org/
• P.V.Dressendorfer, Packaging trends: Using Integrated Circuits in Critical Applications Workshop, Sandia National Labs
• Microelectronics Packaging Handbook, Editor R.R. Tummala
Referências
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Referências
• P.V.Dressendorfer, Packaging trends: Using Integrated Circuits in Critical Applications Workshop, Sandia National Labs
• Microelectronics Packaging Handbook, Editor R.R. Tummala