全反射 x 射线荧光分析
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Total—Reflection X—Ray Fluorescence Analysis. 全反射 X 射线荧光分析. X 射线 荧光基础. 光谱机理. 在光电吸收过程中，原子内某些电子吸收了特定能量后被逐出，在轨道中形成空穴。 此时，其外层轨道电子会发生跃迁来填补这些空穴。 跃迁电子产生的空穴再由外一层电子通过跃迁填补。。。 如此继续，直至自由电子进入轨道为止. 每一次的跃迁都伴随有能量的释放，从而形成受激原子的二次 X 射线。 该 X 射线可被探测，并以谱的形式记录下来。其中的峰，即谱线原子的特征，表明样品中含有相应的元素 。. - PowerPoint PPT PresentationTRANSCRIPT
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X
TotalReflection XRay Fluorescence Analysis
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X
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XX
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,X
NbTa,ZrHfREE
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(ICP-AEC)(ICP-MS)(INAA)XRF
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XRF40X
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TXRFTXRF0`1XTXRF
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X X150003000300TXRFEXTRARich.Seifert&Co.1980
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TXRF
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(IUPAC)TXRFMicroanalysis
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:X: X:()