4. funkcje pomiarowe przyrzĄdudydaktyka.polsl.pl/roz5/mdabrowski/dokumenty/podstawy...(według norm...

SVAN 945A - Instrukcja obsługi

4. FUNKCJE POMIAROWE PRZYRZĄDUSVAN 945A jest unikalnym przyrządem łączącym funkcje miernika poziomu dźwięku klasy 1

(według norm IEC 651, IEC 804 i IEC 61672-1) oraz analizatora oktawowego i tercjowego, w którymrównolegle działają pasmowe filtry cyfrowe oktawowe i tercjowe. Filtry te są klasy 1 (według normyIEC 1260), a wartości częstotliwości środkowych określone są według ciągu o podstawie 2.

Za pomocą tego przyrządu możliwe jest również wykonanie analizy tonalności, pomiar głośnościoraz wykrywanie tonów dyskretnych.

Dzięki zastosowaniu najnowszych rozwiązań w dziedzinie cyfrowego przetwarzania sygnałóww przyrządzie działają równolegle trzy mierniki dźwięku, nazwane tu profilami, pracujące z dowolnąkombinacją filtrów LIN, A, C lub G (według IEC 61672-1) i stałych czasu detektora SLOW, FASTlub IMPULSE.

Pomiary wartości: SPL, LEQ, SEL, Ltm3, Ltm5, PEAK, MAX, MIN, statystyki i historia czasowasą wykonywane jednocześnie we wszystkich profilach (definicje wymieniowych wielkości podano wdodatku D).

Wyniki pomiarów mogą być prezentowane na ekranie przyrządu w różny sposób, zależnyod wybranej funkcji i ustawionych opcji. Dostępne sposoby wyświetlania wyników miernika poziomudźwięku to:

Jeden profil, trzy profile (3 PROFILES), statystyki (STATISTICS) i historie czasowe (PLOT).

Dla analizy oktawowej, tercjowej, tonalności i wąskopasmowej analizy częstotliwościowejFFT dodatkowo dostępna jest możliwość prezentacji widma (SPECTRUM).

Sposób wyświetlania wyników zmieniany jest po naciśnięciu przycisków <> lub <>.

Przełączanie między profilami realizowane jest przez jednoczesne naciskanie przycisków<SHIFT> i <> lub <SHIFT> i <> (dla wyświetlania jedno profilowego, 3 PROFILES orazSTATISTICS).

Przełączanie między wynikami w wybranym profilu realizowane są przez naciskanieprzycisków <>, <>.

Zmiana numeru wybranego poziomu statystycznego, filtru oktawowego lub tercjowego(prążka), prążka widma FFT w wąskopasmowej analizie częstotliwościowej oraz w funkcjiTONALITY oraz wartości w buforze realizowane jest przez naciskanie przycisków <>, <>(sterowanie kursorem w STATISTICS, SPECTRUM i PLOT).

Naciskanie przycisków <SHIFT> i <> lub <SHIFT> i <> umożliwia zmianę skali osipionowej dla wykresów widm oraz zawartości bufora (historie czasowe).

Dla analizy oktawowej, tercjowej naciskanie przycisku <ENTER> w trybie wyświetlania widmaumożliwia przeglądanie wartości LN dla wybranego filtru oktawowego, tercjowego lub poziomuTOTAL. Powrót do wyświetlania widma następuje po naciśnięciu przycisku <ESC>.

Dla analizy oktawowej, tercjowej podczas wyświetlania wartości LN dla wybranego filtruoktawowego, tercjowego lub poziomu TOTAL naciskanie przycisków <SHIFT> i <> lub<SHIFT> i <> umożliwia zmianę wyświetlanej statystyki (zmianę wybranego filtru).

Akustyczny tor pomiarowy, w skład którego wchodzi przyrząd wraz z przedwzmacniaczemi mikrofonem, jest fabrycznie skalibrowany i gotowy do pracy w standardowych warunkach otoczenia.Kalibrację toru pomiarowego należy przeprowadzić wszędzie tam gdzie konieczna jest znajomośćbezwzględnej wartości ciśnienia dźwięku. Wynika to z faktu, że czułość mikrofonu zależy od czynnikówzewnętrznych takich jak temperatura, ciśnienie i wilgotność. Sposób przeprowadzania kalibracji opisanyzostał w podrozdziale 4.1.

Podstawowym zadaniem przyrządu jest pomiar poziomu dźwięku. Analiza oktawowa i tercjowa,wąskopasmowa analiza częstotliwości FFT oraz analiza tonalności są funkcjami włączanymi nazamówienie. Użytkownik może je zamówić wraz z przyrządem albo dokupić po pewnym czasie. Funkcjeopcjonalne zamawiane razem z przyrządem uaktywniane są przez dystrybutora, natomiast dokupywanedodatkowo wymagają wprowadzenia jednorazowo kodu dostępu. Sposób wprowadzania tego koduzostał opisany w podrozdziale 4.3.

4 -1

SVAN 945A - Instrukcja obsługi .

Szczegółowy opis:

kalibracji przedstawiono w podrozdziale 4.1, pomiarów dźwięku przedstawiono w podrozdziale 4.2, analizy oktawowej przedstawiono w podrozdziale 4.4, analizy tercjowej przedstawiono w podrozdziale 4.5. wąskopasmowej analizy częstotliwościowej FFT przedstawiono w podrozdziale 4.6. analizy częstotliwościowej w celu określenia tonalności przedstawiono w podrozdziale 4.7.

W rozdziale 5 omówiono funkcje dodatkowe związane z informacjami dostępnymi na ekranieprzyrządu, listą nastaw, zapamiętywaniem wyników pomiarów i drukowaniem raportów.

4 -2


4.1. KALIBRACJA

Przyrząd wraz z dołączonym mikrofonem jest fabrycznie skalibrowany i gotowy do pracyw standardowych warunkach otoczenia. W związku z tym, że czułość mikrofonu zależy od temperatury,ciśnienia i wilgotności to wszędzie tam gdzie konieczna jest znajomość bezwzględnej wartości ciśnieniadźwięku należy przeprowadzić kalibrację toru pomiarowego. Funkcja kalibracji umieszczona jest na liścieFUNKCJE (FUCTION). W celu otwarcia tej listy należy nacisnąć przycisk <MENU>, wybrać z listygłównej za pomocą przycisków <>, <> (lub <>, <>) napis FUNCTION (podświetlić goinwersyjnie), nacisnąć przycisk <ENTER>. Wejście do trybu kalibracji następuje po wybraniu za pomocąprzycisków <> lub <> (lub <>, <>) napisu CALIBRATION i naciśnięciu przycisku <ENTER>.

Ekrany przyrządu z otwartą listą główną, listą FUNCTION i po wejściu do trybu kalibracji

Kalibrację toru akustycznego należy przeprowadzać w opisany poniżej sposób.

Procedura kalibracji przyrządu

1. Założyć kalibrator SV 30 (lub równoważny 94 dB / 1000 Hz) na mikrofon przyrządu.

Uwaga: Można zastosować również pistonfon, który generuje sygnał o poziomie około124 dB lub inny kalibrator akustyczny przeznaczony dla mikrofonów ½”. W każdym wypadku należy,przed rozpoczęciem pomiaru kalibracyjnego, ustawić (za pomocą przycisków <>, <>)poziom odniesienia kalibracji (CAL. LEVEL) zapisany w świadectwie uwierzytelnienia kalibratoralub pistonfonu (ustawiany fabrycznie na wartość 94,0 dB).

2. Włączyć kalibrator i odczekać około 30 sekund przed rozpoczęciem pomiarukalibracyjnego.

3. Rozpocząć pomiar kalibracyjny naciskając przycisk <START / STOP>. Czas pomiaruzostał ustalony na 5 s z opóźnieniem 5 s. Pomiaru kalibracyjnego nie należy przerywaćprzed upływem zaprogramowanego czasu 5 sekund!

4 -3


Ekrany przyrządu w trakcie wykonywania pomiaru kalibracyjnego

W czasie oczekiwania na rozpoczęcie pomiaru na ekranie zmienia się licznik sekund (DELAY) orazwielkość liter w napisie CALIBRATION. W trakcie pomiarów zmienia się wielkość liter w napisiecal. measure. Po zakończeniu pomiaru jego wynik zostanie wyświetlony w dolnej linii ekranu.

Uwaga: Zaleca się powtórzenie punktu 3. Wynik ponownego pomiaru nie powinien różnićsię od poprzedniego o więcej niż o 0,1 dB. Niestabilne wyniki pomiarów wskazują na niewłaściwezałożenie kalibratora, występowanie zakłóceń zewnętrznych lub niesprawność toru pomiarowego. Przywykonywaniu pomiaru kalibracyjnego należy zapewnić, aby układ miernik – kalibrator nie był narażonyna wstrząsy i / lub hałas o poziomie powyżej 100 dB.

4. Nacisnąć przycisk <ENTER> w celu zaakceptowania wyniku pomiaru kalibracyjnego.

Po naciśnięciu przycisku <ENTER> wyliczana jest poprawka kalibracyjna, zapamiętywanai wyświetlana (patrz ekran powyżej).

Uwaga: Aby odrzucić wynik kalibracji (nie zapamiętywać zmierzonej poprawki) należyzamiast przycisku <ENTER> nacisnąć przycisk <ESC>.

a)

b)

Ekrany przyrządu po zakończeniu pomiaru (a) oraz po zatwierdzeniu poprawki kalibracyjnej (b)

Uwaga: Poprawka kalibracyjna jest zawsze dodawana do wyniku miernika poziomudźwięku (SLM), w analizie oktawowej, tercjowej oraz częstotliwościowej FFT.

4 -4


4.2. MIERNIK POZIOMU DŹWIĘKU

Miernik poziomu dźwięku (SLM – Sound Level Meter) umożliwia korzystanie ze standardowych iniestandardowych funkcji określonych przez krajowe (PN-79/T-06460) i międzynarodowe normy (jak np.IEC 625, IEC 804, IEC 61672-1) dla przyrządów typu SLM, spełniając wymagania dokładności dla klasy 1.SVAN 945A, dzięki możliwości zapamiętywania bardzo dużej liczby wyników pomiarów, może być równieżwykorzystywany do długotrwałego monitorowania akustycznego.

W celu ustawienia funkcji miernika należy otworzyć listę główną naciskając przycisk <MENU>,wybrać z listy głównej za pomocą przycisków <>, <> (lub <>, <>) napis FUNCTION (podświetlićgo inwersyjnie), nacisnąć przycisk <ENTER>. Otwarcie podlisty MEASUREMENT FUNCTION następujepo wybraniu za pomocą przycisków <> lub <> (lub <>, <>) napisu MEASUR. FUNCTION inaciśnięciu przycisku <ENTER>.

Ekran przyrządu z otwartą listą główną i listą FUNCTION

Po tej operacji na ekranie przyrządu pojawia się wykaz funkcji. Funkcja aktywna zaznaczona jestgwiazdką.

Ekran przyrządu po otwarciu podlisty MEASUREMENT FUNCTION i po wybraniu funkcji miernika

Funkcja miernika wybierana jest przez umieszczenie gwiazdki przy napisie LEVEL METER.Położenie gwiazdki na ekranie zmieniane jest za pomocą przycisków <>, <>. Po umieszczeniugwiazdki przy napisie LEVEL METER należy nacisnąć przycisk <ENTER>. Po naciśnięciu tego przyciskuprzyrząd zamyka podlistę MEASUREMENT FUNCTION.

Uwaga: Nie jest możliwa zmiana trybu pracy przyrządu w trakcie wykonywaniapomiarów. Wejście do miernika możliwe jest po uprzednim zakończeniu pomiaru wykonywanego waktywnej funkcji.

Główną cechą wyróżniającą miernik jest praca tylko w jednym zakresie pomiarowymwynoszącym od 24 dB ARMS do 137 dB ARMS (140 dBPEAK) (przy zastosowaniu dostarczonego wraz zprzyrządem ½” mikrofonu pojemnościowego o czułości 50 mV/Pa).

Drugą cechą wyróżniającą przyrząd jest to, że w trybie miernika dźwięk jest zawsze mierzony wtrzech równoległych profilach stanowiących niejako trzy niezależne przyrządy.

Uwaga: Funkcja miernika poziomu dźwięku (SLM) jest trybem domyślnym przyrządu.W trybie tym nie ma dostępu do wyników analizy oktawowej, tercjowej lub FFT.

4 -5


Dla każdego profilu mogą zostać ustalone niezależnie: typ detektora wartości skutecznej RMS ifiltry korekcyjne (patrz lista INPUT).

Wyniki główne każdego profilu są udostępniane na ekranie w przedstawionej poniżej formie.Najpierw pojawia się nazwa wyniku, następnie jego wartość, jednostka wraz z identyfikatoremzastosowanego filtru oraz użyta w pomiarach stała czasu detektora RMS.

Wyświetlane jednostki (dB) powiązano z typem wybranego w danym profilu filtru korekcyjnego.I tak:

użycie filtru korekcyjnego typu LIN oznaczono jednostką dB, użycie filtru korekcyjnego typu A oznaczono napisem dB A, użycie filtru korekcyjnego typu C oznaczono napisem dB C, użycie filtru korekcyjnego typu G oznaczono napisem dB G.

Stałe czasu detektora RMS, wybrane w danym profilu, oznaczane są w następujący sposób:

stałej czasu SLOW odpowiada napis SLOW w trybie jednoprofilowym i litera S w trybie 3 PROFILES, stałej czasu FAST odpowiada napis FAST w trybie jednoprofilowym i litera F w trybie 3 PROFILES, stałej czasu IMPULSE odpowiada napis IMP. w trybie jednoprofilowym i litera I w trybie 3 PROFILES.

Ekrany przyrządu w trybie trzech równoległych profilów

Uwaga: Wynik pomiaru PEAK nigdy nie zależy od stałej czasu detektora. Natomiast wynikipomiaru LEQ i SEL nie zależą od stałej czasu detektora, jeśli wybrano opcję LINEAR w oknieLEQ INTEGRATION listy SETUP, a zależą, jeśli wybrano w tym oknie opcję EXPONENTIAL - patrzopis okna LEQ INTEGRATION w rozdziale 5 i definicje wyników w dodatku D.

W każdym profilu określane są równolegle następujące wyniki (w dodatku D podane zostały ichdefinicje):

- PEAK,- MAX,- MIN,- SPL (wyświetlany wynik SPL jest maksymalną wartością zarejestrowaną dla wybranego

detektora RMS w trakcie ostatniej sekundy),- LEQ,- SEL,- Ltm3,- Ltm5,- LN – wybrany poziom statystyczny (gdzie N przyjmuje wartości od 01 do 99),- Bieżący czas pomiaru (bieżący czas pomiaru, w oknie wyników, jest dostępny tylko przy

wyświetlaniu wyników w trybie 3 PROFILES).

Ekran przyrządu z wynikami miernika w trybie 3 PROFILES z bieżącym czasem pomiaru

4 -6


Uwaga: Przełączanie między profilami realizowane jest przez naciskanie przycisków<SHIFT> i <> lub <SHIFT> i <>. Przełączanie między wynikami wybranego profilu realizowanejest przez naciskanie przycisków <>, <>. Zmiana numeru wybranego poziomu statystycznegowymaga jednoczesnego naciskania przycisków <SHIFT> i <>, <>.

Naciskając przyciski <>, <> można zmieniać sposoby wyświetlania wyników (zawartość)ekranu. Można wybrać jeden z poniższych sposobów pracy:

- Jeden Profil,- Trzy Profile (3 PROFILES),- Statystyka (STATISTICS),- Historie czasowe (PLOT1, PLOT2 i PLOT3).

Uwaga: Użytkownik może wybrać liczbę aktywnych sposobów pracy ekranuwłączając lub wyłączając dany sposób (tryb) wyświetlania wyników. Wyżej wymienione sposobywyświetlania wyników (oprócz jednoprofilowego) muszą być uprzednio uaktywnione na podliścieDISPLAY MODES listy DISPLAY. Aktywność ta oznaczana jest symbolem graficznym (jest„odfajkowywana”). Na rysunkach poniżej przedstawiono widok ekranu w przypadku, gdy wszystkie trybywyświetlania są dostępne oraz gdy część z nich jest nieaktywna (więcej szczegółów zawarto wpodrozdziale INFORMACJE PREZENTOWANE NA EKRANIE).

a)

b)

Ekrany z otwartą listą DISPLAY ze wszystkimi aktywnymi dla trybu miernika (a) lub częściowonieaktywnymi (b) sposobami wyświetlania

Wyświetlanie jednoprofilowe

Tryb jednoprofilowy jest podstawowym trybem wyświetlania wyników pomiarów i nigdy nie zostajewyłączony. W trybie tym wynik pomiaru wyświetlany jest za pomocą dużych, dobrze widocznych znakówna środku ekranu. Pod wynikiem wyświetlana jest linijka, na której prezentowany jest on w formiegraficznej. Jeżeli wynik pomiaru jest zbyt niski to w trakcie pomiarów, w miejscu linijki, wyświetlany jestnapis UNDERRANGE. Napis ten znika po zatrzymaniu pomiarów przyciskiem <START / STOP> lub<PAUSE>. Z prawej strony w kolejnych liniach podawane są: numer profilu, z którego pochodziwyświetlany wynik, rodzaj wyniku, jednostka wraz z użytym filtrem (dB oznacza pomiar z filtrem LIN, dB A– z filtrem A, dB C – z filtrem C, dB G – z filtrem G) oraz typ detektora RMS (IMP., FAST lub SLOW).Wynik PEAK nie zależy od typu detektora (patrz: definicje wyników w dodatku D) i dlatego w przypadkuwyświetlania jego wartości dolna linia ekranu jest pusta. Wyniki LEQ i SEL nie zależą od typu detektora wprzypadku wybrania opcji LINEAR w oknie LEQ INTEGRATION (patrz: dodatek D) Pod wartościąliczbową wyświetlana jest pozioma kreska, której długość odpowiada zmierzonemu sygnałowi. Parametrywyniku (numer profilu, rodzaj wyświetlanego wyniku, jednostka wraz z typem użytego filtru korekcyjnego istała czasu detektora) umieszczone są w kolejnych liniach z prawej strony ekranu.

Ekrany przyrządu w trybie Jeden Profil– przełączanie wyników

4 -7


Zmiana prezentowanego profilu odbywa się przez naciskanie przycisków <SHIFT> i <> lub<SHIFT> i <>. Przełączanie między wynikami wybranego profilu realizowane jest przez naciskaniejedynie przycisków <>, <>. Zmiana numeru wybranego poziomu statystycznego wymagajednoczesnego naciskania przycisków <SHIFT> i <>, <>.

Ekrany przyrządu w trybie Jeden Profil – przełączanie profilów

Wyświetlanie trzyprofilowe - 3 PROFILES

W trybie 3 PROFILES wybrane wyniki z każdego profilu wyświetlane są w trzech kolejnych liniachekranu. W każdej linii wyświetlany jest rodzaj wyniku, jego wartość, jednostka wraz z typem użytego filtrukorekcyjnego i stała czasu detektora.

Ekrany przyrządu w trybie 3 PROFILES – zmiana prezentowanego profilu

Zmiana prezentowanego profilu odbywa się przez naciskanie przycisków <SHIFT> i <> lub<SHIFT> i <>. Przełączanie między wynikami wybranego profilu realizowane jest przez naciskaniejedynie przycisków <>, <>.

Ekrany przyrządu w trybie 3 PROFILES – zmiana wyniku w wybranym profilu

Zmiana numeru wybranego poziomu statystycznego wymaga jednoczesnego naciskaniaprzycisków <SHIFT> i <>, <>.

Wyświetlanie poziomów statystycznych - STATISTICS

W trybie Statystyki można odczytać wszystkie wartości poziomów statystycznych LN (od N = 01 doN = 99), przesuwając po ekranie kursor za pomocą przycisków <>, <>. Naciśnięcie przycisku<SHIFT> i <> powoduje przejście do poziomu L01, a przycisku <SHIFT> i <> - do poziomu L99.W tym trybie numer wybranego profilu, poziom statystyczny i jego wartość wyświetlane są z prawej stronyekranu.

4 -8


Ekran przyrządu w trybie Statystyka; zmiana numeru statystyki za pomocą przycisków <>, <>

W trybie Statystyki można zmienić aktywny profil naciskając przyciski <SHIFT> i <>, <>.Naciśnięcie przycisku <>, <> powoduje zmianę sposobu wyświetlania.

Ekran przyrządu w trybie Statystyka; zmiana wyświetlanego profilu po naciśnięciu <SHIFT> i <> lub<SHIFT> i <>

Wyświetlanie historii czasowych - PLOT

Tryb PLOT dostępny jest wtedy i tylko wtedy, gdy dane z przynajmniej jednego profilu są ładowanedo pliku bufora. Jeżeli zostanie wybrane wyświetlanie w postaci wykresu, a nie zostanie ustawionezapamiętywanie w buforze profilu jednej z dostępnych wartości (PEAK, MIN, MAX, RMS) to po wejściu dowyświetlania w formie wykresu dla profilu, w którym wybrano None ekran przyrządu będzie wyglądał jakna rysunku poniżej.

Ekran w trybie PLOT w sytuacji, gdy nie ma wyników w pliku bufora

W trybie PLOT wyniki zapamiętane w buforze przyrządu są prezentowane na ekranie w formiehistorii czasowej pomiaru. Jedna linia wykresu odpowiada jednemu wynikowi pomiaru (patrz opis pozycjiBUF. STEP podlisty MEASURE SETUP). Jednorazowo na ekranie wyświetlane są 62 wartości zdynamiką nie większą niż 80 dB.

Odczyt interesującej wartości może być wykonany za pomocą przycisków <>, <>. Nazwawielkości rejestrowanej w buforze, numer wybranego profilu, czas pomiaru, jednostki miary izarejestrowana wartość wyświetlane są z prawej strony ekranu. Każdy nowy wynik zapamiętywany wbuforze w trakcie trybu PLOT powoduje przesunięcie kursora o jedną pozycję w prawo. Po osiągnięciupojemności ekranu kolejne wyniki umieszczane w buforze pojawiają się w skrajnej prawej pozycjipowodując jednocześnie usuwanie wyników sprzed 63 * BUF. STEP. Wygląda to tak jakby wykresprzesuwał się w lewo.

4 -9


Ekrany przyrządu w trybie PLOT; rejestracja kolejnych wyników - przesuwanie wykresu o jedną pozycję wlewo

Po zakończeniu rejestracji wyników w buforze możliwe jest przeglądanie wszystkich zapamiętanychwartości. Należy w tym celu przesunąć kursor w lewe skrajne położenie. Każdorazowe naciśnięcieprzycisku <> powoduje wówczas pojawianie się na ekranie wartości z poprzedniej chwili czasu - wykresprzesuwany jest o jedną pozycję w prawo.

Ekrany przyrządu w trybie PLOT; przeglądanie zarejestrowanych w buforze wartości - przesuwaniewykresu o jedną pozycję w prawo

Jeżeli w każdym z profile zapamiętane są jakieś wartości to zmianę profile uzyskuje się ponaciśnięciu przycisków <>, <>.

Ekrany przyrządu w trybie PLOT; zmiana profilu po naciśnięciu przycisków <>, <>

W trybie PLOT, korzystając z przycisków <>, <> można zmieniać położenie osi pionowej wstosunku do poziomej prezentowanego na ekranie wykresu. Dzięki temu zabiegowi daje się oglądać naekranie sygnały o dynamice większej niż 80 dB. Jednorazowe naciśnięcie przycisku <> powodujeobniżenie prezentowanego na ekranie przebiegu o 10 dB, a naciśnięcie <> – podwyższenie o 10 dB.

Ekrany przyrządu w trybie PLOT po zmianie wzajemnego położenia osi

Uwaga: W buforze wyników może być zgromadzonych wiele „historii czasowych”zarejestrowanych w trakcie uprzednich pomiarów. Prezentacja zawartości tych wyników możliwa jest powejściu do okna BUFFER VIEW listy DISPLAY (patrz rozdział 5).

4 -10


4.2.1. Programowanie parametrów pomiaru

Wyboru ważnych parametrów sterujących wykonywaniem pomiarów dokonuje się za pomocąlist nazwanych WEJŚCIE (INPUT) i NASTAWY (SETUP).

Ustawianie parametrów pomiaru - podlista INPUTUstawienie parametrów pomiaru dokonuje się za pomocą listy INPUT, która pojawia się na ekranie

po naciśnięciu przycisku <MENU>, podświetleniu inwersyjnie napisu INPUT (za pomocą przycisków <>,<>) i naciśnięciu przycisku <ENTER>. Lista ta umożliwia ustawienie istotnych parametrów pomiarów(podlista MESURE SETUP), parametrów profilów (podlista PROFILES SETUP) oraz ustawienie zakresuwejściowego (wspólnego dla wszystkich profilów) ustawienie (pozycja RANGE) i wybranie sposobuwyzwalania pomiarów (podlista TRIGGER SETUP).

Ekran przyrządu z otwartą listą INPUT

Uwaga: Zmiany w liście INPUT możliwe są jedynie wtedy, gdy nie jest wykonywanypomiar. Możliwość zmiany danego parametru jest sygnalizowana „inwersyjnym” wyświetlaniemjego pola. I odwrotnie, normalne wyświetlanie pola parametru oznacza brak możliwości jegozmiany.

a)

b)Ekrany przyrządu z aktywną (a) i nieaktywną (b) podlistą PROFILE

Wybór parametrów pomiaru - podlista MEASURE SETUP

Lista ta zawiera elementy, które mogą być ustawione, włączone lub wyłączone. Są to:Opóźnienie początku pomiaru (pozycja START DELAY), Czas całkowania (pozycja INT. TIME), Liczbapowtórzeń cykli pomiarowych (pozycja REP. CYCLE), Odstęp czasu między kolejnymi zapisami danychdo bufora (pozycja BUF. STEP). Zmianę podświetlanego parametru uzyskuje się w tym oknie pokażdorazowym naciśnięciu przycisków <>, <>. Naciśnięcie przycisku <ENTER> powodujezatwierdzenie wybranych wartości parametrów, zamknięcie podlisty i powrót do listy INPUT. Naciśnięciew dowolnym momencie przycisku <ESC> powoduje zamknięcie podlisty MEASURE SETUP bezzatwierdzenia zmiany ustawienia podświetlanego pola.

Ekrany przyrządu z otwartą podlistą MEASURE SETUP

4 -11


Ustawianie opóźnienia pomiaru - pozycja START DELAY

START DELAY – określa czas, jaki upływa od naciśnięcia przycisku <START / STOP> dorozpoczęcia pomiaru (filtry cyfrowe przyrządu analizują sygnał w sposób ciągły bez względu na to czywykonywane są pomiary czy też zostały one zatrzymane). Opóźnienie to może przyjmować wartości od1 s do 60 s (zmieniane z krokiem jednosekundowym za pomocą przycisków <>, <> lub z krokiemdziesięciosekundowym za pomocą przycisków <SHIFT> wraz z <>, <>. Zatwierdzenie wybranejwartości następuje po naciśnięciu w dowolnym momencie przycisku <ENTER>. Zatwierdzenie topowoduje jednocześnie zamknięcie podlisty MEASURE SETUP.

Ekrany przyrządu w trakcie ustawiania wartości pozycji START DELAY

Uwaga: Minimalne opóźnienie równe jest jednej sekundzie. W procedurze kalibracjiwartość opóźnienia jest ustawiona na pięć sekund (patrz podrozdział 4.1).

Ustawianie czasu całkowania - pozycja INT. TIME

INT. TIME – czas całkowania określa okres, w którym dokonywany jest pomiar poziomu dźwięku(następuje uśrednianie wyników). Ustawienie żądanej wartości realizuje się poprzez naciskanieprzycisków <>, <>. Zatwierdzenie wybranej wartości następuje po naciśnięciu w dowolnym momencieprzycisku <ENTER>. Zatwierdzenie to powoduje jednocześnie zamknięcie podlisty MEASURE SETUP.

Czas całkowania (INT. TIME) może przyjmować wartości (naciskanie przycisku <> lub <SHIFT>i <>):

- od 1 s do 59 s (z krokiem 1 s lub z krokiem 10 s),

Ekrany przyrządu w trakcie ustawiania pozycji INT. TIME; czas wyrażony w sekundach

- od 1 m do 59 m (z krokiem 1 minuta lub z krokiem 10 minut),

Ekrany przyrządu w trakcie ustawiania pozycji INT. TIME; czas wyrażony w minutach

- od 1 h do 24 h (z krokiem 1 h lub z krokiem 10 h).

4 -12


Ekrany przyrządu w trakcie ustawiania pozycji INT. TIME; czas wyrażony w godzinach

Dodatkowo zrealizowano szybki dostęp do czasów przewidzianych przez normy pomiarowe: 1 m,5 m, 15 m, 1 h, 8 h i 24 h (naciskanie przycisku <> lub <SHIFT> i <>; czasy te umieszczone są wpodanej kolejności na lewo od wartości 1 s).

Uwaga: Pomiar może być również wstrzymany przez naciśnięcie przycisku <PAUSE>.Pomiary mogą być kontynuowane po naciśnięciu przycisku <PROCEED> (czyli przycisków <SHIFT> i<PAUSE>). Kolejne naciskanie przycisku <PAUSE> powoduje usunięcie ostatniego pomiarujednosekundowego. Tę procedurę można powtarzać 15 razy (można usunąć do piętnastu ostatnichsekund z pomiarów).

Uwaga: W przypadku włączenia funkcji AUTO SAVE minimalny czas całkowaniawynosi 5 sekund (patrz rozdział 5).

Ustawianie liczby powtarzanych cykli pomiarowych - pozycja REP. CYCLE

REP. CYCLE – określa liczbę cykli pomiarowych (z czasem repetycji określonym przez parametrINT. TIME), które zostaną automatycznie wykonane przez przyrząd. Ustawienie żądanej wartości realizujesię poprzez naciskanie przycisków <>, <> (z krokiem równym jeden) lub przycisku <SHIFT> razem z<>, <> (z krokiem równym dwadzieścia). Zatwierdzenie wybranej wartości następuje po naciśnięciu wdowolnym momencie przycisku <ENTER>. Zatwierdzenie to powoduje jednocześnie zamknięcie podlistyMEASURE SETUP. Pozycja Inf oznacza „pracę ciągłą” (cykliczne powtarzanie pomiaru), aż donaciśnięcia przycisku <START / STOP>. Liczbowe wartości REP. CYCLE należą do przedziału [1, 1000].

Ekrany przyrządu w trakcie ustawiania pozycji REP. CYCLE; dostępna liczba cykli: 1..1000, Inf

Odstęp czasu między kolejnymi zapisami danych w pliku bufora - pozycja BUF. STEP

BUF. STEP – określa odstęp czasu między kolejnymi zapisami danych do pliku w buforze. Możnaustawić wartości od 2 ms do 1 s w sekwencji 1, 2, 5 oraz wartości od 1 s do 59 s, od 1 m do 59 m i 1 h.Ustawienie żądanej wartości realizuje się poprzez naciskanie przycisków <>, <>. Zatwierdzeniewybranej wartości następuje po naciśnięciu w dowolnym momencie przycisku <ENTER>. Zatwierdzenie topowoduje jednocześnie zamknięcie podlisty MEASURE SETUP.

4 -13


Ekrany przyrządu w trakcie ustawiania pozycji BUF. STEP; dostępne czasy w sekwencji 1, 2, 5

Wybór nastaw profilów - podlista PROFILES SETUP

Po naciśnięciu przycisku <ENTER> na podświetlonym napisie PROFILES SETUP otwierana jestpodlista, która składa się z trzech podlist PROFILE x (po jednej dla każdego profilu). Naciśnięcieprzycisku <ENTER> powoduje otwarcie tej z podlist, której nazwa jest podświetlona inwersyjnie.

a)

b)

Ekrany przyrządu z podlistą PROFILE SETUP (a) i po otwarciu podlisty dla profilu 1 (b)

Wybór parametrów pomiaru w profilu - podlista PROFILE x

Korzystając z podlisty PROFILE x można zaprogramować niezależnie dla każdego profilu filtrkorekcyjny, typ detektora oraz wynik pomiaru, który ma być zapamiętywany w pliku bufora. Przejścieprzez wszystkie elementy listy staje się możliwe przez kolejne naciskanie przycisków <>, <>.

Wybór filtru korekcyjnego w mierniku - pozycja FILTER

W mierniku dostępne są następujące filtry korekcyjne: LIN zgodny z wymaganiami dla filtru Z klasy 1 według normy IEC 61672-1, A klasa 1 według normy IEC 651 oraz IEC 61672-1, C klasa 1 według normy IEC 651 oraz IEC 61672-1, G klasa 1 według normy ISO 7196.

Ekrany przyrządu z podlistą PROFILE(1); wybór filtru korekcyjnego

4 -14


Charakterystyki filtrów zostały zamieszczone w dodatku D. Wyboru rodzaju filtru dokonuje się zapomocą przycisków <>, <>. Przejście do kolejnej pozycji podlisty PROFILE x następuje ponaciśnięciu przycisków <>, <>. Naciśnięcie przycisku <ENTER> powoduje akceptację wyboruwszystkich parametrów i zamknięcie podlisty PROFILE x.

Wybór detektora wartości skutecznej - pozycja DETECTOR

W mierniku dostępne są trzy typy detektora wartości skutecznej RMS: detektor typu IMPULSE(IMP.), detektor typu FAST lub detektor typu SLOW. Wyboru typu detektora dokonuje się za pomocąprzycisków <>, <>. Zmiana aktywnej pozycji podlisty PROFILE x następuje po naciśnięciu przycisków<>, <>. Naciśnięcie przycisku <ENTER> powoduje akceptację wyboru wszystkich parametrów izamknięcie podlisty.

Ekrany przyrządu z podlistą PROFILE(3); wybór detektora wartości skutecznej

Wybór wyniku pomiaru do zapamiętania w pliku bufora - pozycja BUFFER

Spośród wyników pomiarów każdego profilu można wybrać jeden, który będzie zapamiętywany wpliku bufora przyrządu. Wynikami, które można zapamiętywać są: PEAK, MAX, MIN lub RMS. Wyboruwyniku do zapamiętania dokonuje się za pomocą przycisków <>, <>. Wybranie napisu Noneoznacza, że z danego profilu do pliku bufora nie będzie zapisywany żaden wynik. Naciśnięcie przycisku<ENTER> powoduje zatwierdzenie wyboru i zamknięcie podlisty PROFILE x.

Uwaga: Zmiana konfiguracji profilów nie jest możliwa w trakcie wykonywaniapomiaru.

Ekrany przyrządu z podlistą PROFILE(3); wybór wyniku pomiaru do zapamiętania w buforze

Uwaga: Ustawienie BUFFER: None spowoduje, że wyniki z danego profilu nie będązapamiętywane w pliku bufora. Dzięki temu zwiększy się pojemność pamięci dla pozostałych profilów(patrz podrozdział: ZAPAMIĘTYWANIE WYNIKÓW POMIARÓW).

4 -15


Uwaga: Plik bufora jest zapełniany w odstępach czasowych BUF. STEP. Sposóbzapamiętywania wyników pomiarów jest opisany w podrozdziale: ZAPAMIĘTYWANIE WYNIKÓWPOMIARÓW.

Wybór zakresu pomiarowego w mierniku - pozycja RANGE

Po otwarciu okna związanego z pozycją RANGE (wybranie na podliście INPUT za pomocąprzycisków <>, <> napisu RANGE oraz naciśnięcie przycisku <ENTER>) możliwy jest wybór zakresuwejściowego. W trybie miernika poziomu dźwięku dostępny jest tylko jeden szeroki zakres pomiarowy130 dB i jakakolwiek zmiana nie jest możliwa. Zmiana zakresu jest możliwa w trybach analizyoktawowej, tercjowej (patrz podrozdział 4.4, 4.5) i wąskopasmowej analizy częstotliwościowej (patrzpodrozdział 4.6, 4.7). Zamknięcie okna związanego z tą pozycją następuje po naciśnięciu przycisku<ENTER> lub <ESC>.

Ekran przyrządu z otwartą pozycją RANGE

Wybór trybu i parametrów wyzwalania - podlista TRIGGER SETUP

Otwarcie podlisty następuje po wybraniu na liście INPUT za pomocą przycisków <>, <> napisuTRIGGER SETUP oraz naciśnięciu przycisku <ENTER>. Lista ta zawiera elementy, które mogą byćustawione, włączone lub wyłączone. Są to: Tryb wyzwalania pomiarów (TRIGGER), Źródło sygnału wyzwolenia (SOURCE) oraz Poziom wyzwalania (T. LEVEL).

Zmianę podświetlanego parametru uzyskuje się w tym oknie po każdorazowym naciśnięciuprzycisków <>, <>. Zamknięcie podlisty TRIGGER SETUP bez zatwierdzenia ustawionych wartościmożna uzyskać naciskając w dowolnym momencie przycisk <ESC>. Naciśnięcie przycisku <ENTER>zatwierdza ustawione wartości i zamyka podlistę.

Uaktywnianie wyzwalania pomiarów - pozycja TRIGGERWyzwalanie pomiarów (TRIGGER) może być wyłączane (OFF) lub włączane za pomocą

przycisków <>, <>.

Ekrany przyrządu z otwartą podlistą TRIGGER SETUP

Wyzwalanie jest włączone, jeśli wybrany zostanie jeden z pięciu trybów wyzwalania: SLOPE +,SLOPE -, LEVEL + lub LEVEL -. Zmianę trybu dokonuje się za pomocą przycisków <>, <>.

4 -16


Ekrany przyrządu z otwartą podlistą TRIGGER SETUP w trybie SLOPE + i SLOPE -

Wybranie trybu SLOPE + oznacza, że pomiary będą wykonywane od momentu, gdy „sygnałwyzwalający” narastając osiągnie i przekroczy zadany poziom T. LEVEL. Moment zakończenia pomiarówzależny jest od ustawień w oknie MEASURE SETUP lub od naciśnięcia przycisku <START / STOP>.

Uwaga: W trybie miernika poziomu dźwięku jedynym dostępnym źródłem „sygnałuwyzwalającego” jest sygnał wyjściowy detektora RMS pierwszego profilu.

Wybranie trybu SLOPE - oznacza, że pomiary będą wykonywane od momentu, gdy „sygnałwyzwalający” malejąc osiągnął i przekroczył zadany poziom T. LEVEL.

Ekrany przyrządu z otwartą podlistą TRIGGER SETUP w trybie LEVEL + i LEVEL -

Wybranie trybu LEVEL + oznacza, że w każdej sekundzie pomiaru będzie sprawdzane czy jegowynik jest większy od zadanego poziomu T. LEVEL „sygnału wyzwalającego”. Jeżeli tak to wynik tenbędzie rejestrowany, w przeciwnym zaś razie - pomijany.

Wybranie trybu LEVEL - oznacza, że w każdej sekundzie pomiaru będzie sprawdzane czy jegowynik jest mniejszy od zadanego poziomu T. LEVEL „sygnału wyzwalającego”. Jeżeli tak to wynik tenbędzie rejestrowany, w przeciwnym zaś razie - pomijany.

Wybór źródła sygnału wyzwalającego - pozycja SOURCEPrzyjęto, że w trybie miernika dźwięku jedynym dostępnym źródłem sygnału wyzwalającego jest

sygnał wyjściowy detektora RMS pierwszego profilu oznaczony tu jako SPL(1). Pozycja ta ma jedyniecharakter informacyjny, nigdy nie staje się aktywna (podświetlana inwersyjnie), jej wartość nie ulegazmianie.

Ustawianie poziomu wyzwalania - pozycja T. LEVELPoziom wyzwalania (T. LEVEL) może być zmieniany z krokiem równym 1 dB (lub z krokiem 10 dB)

w zakresie od 24 dB do 136 dB za pomocą przycisków <>, <> (lub za pomocą przycisków <SHIFT> i<>, <>).

Ekrany przyrządu z otwartą podlistą TRIGGER SETUP; ustawianie poziomu wyzwalania

4 -17


Ustawienie innych ważnych parametrów może zostać przeprowadzone za pomocą listy SETUPotwieranej po naciśnięciu przycisku <MENU>, podświetlenia inwersyjnie napisu SETUP i naciśnięciuprzycisku <ENTER>.

Ekrany przyrządu z otwartą listą SETUP

Lista SETUP składa się z następujących elementów:- Zegar programowany (TIMER),- Zegar czasu rzeczywistego (RTC),- Interfejs szeregowy (RS232),- Parametry mikrofonu pomiarowego (MICROPHONE),- Włączanie filtru korekcyjnego pola swobodnego / dyfuzyjnego (FIELD CORRECTION),- Filtr użytkownika (USER FILTERS),- Tryb pracy przycisków <SHIFT> i <START / STOP> (SHIFT MODE),- Powrót do nastaw fabrycznych (CLEAR SETUP),- Wybór sposobu wyznaczania wartości LEQ (LEQ INTEGRATION),- Ostrzeżenia (WARNINGS).

Szczegółowy opis poszczególnych elementów listy SETUP przedstawiony jest w rozdziale 5.Z punktu widzenia określenia parametrów pomiaru istotne jest ustawienie LEQ INTEGRATION,MICROPHONE oraz FIELD CORRECTION.

Pozycja LEQ INTEGRATION umożliwia wybór sposobu całkowania w trakcie liczenia wartościfunkcji LEQ i SEL. Wybranie dostępnych wartości (LINEAR lub EXPONENTIAL) następuje za pomocąprzycisków <>, <>. W celu zatwierdzenia wyboru należy nacisnąć przycisk <ENTER>, po czymnastępuje powrót do listy SETUP.

Ekrany przyrządu z otwartą listą SETUP (a) oraz z możliwymi opcjami LEQ INTEGRATION (b), (c)

Dla opcji LINEAR wyniki LEQ i SEL nie zależą od wyboru stałej czasu detektora. Wyjaśnienieróżnicy w sposobie liczenia wartości tych funkcji znajduje się w dodatku D. Naciśnięcie przycisku <ESC>powoduje powrót do listy SETUP bez zmiany wartości parametru.

a) b)Ekrany przyrządu z wynikami LEQ (a) i SEL (b) obliczonymi przy wybraniu opcji LINEAR

Podlista MICROPHONE umożliwia ustawienie wartości napięcia polaryzacji dołączanegodo przyrządu mikrofonu pomiarowego (POL. VOLTAGE) oraz włączenie dodatkowego filtrukompensacyjnego (COMP.FILTER). Wyboru spośród dostępnych wartości danej pozycji dokonuje się zapomocą przycisków <>, <>, a przejście między pozycjami następuje po naciśnięciu przycisków <>,<>.

4 -18


W pozycji POL. VOLTAGE dostępne są wartości 200 V (dla mikrofonów pojemnościowych bezpolaryzacji, np. G.R.A.S. 40AN i SV 02) i 0 V (dla mikrofonów pojemnościowych z polaryzacją, np. SV 22).

Ekrany przyrządu z otwartą podlistą MICROPHONE; wybór napięcia polaryzacji mikrofonu

Ekrany przyrządu z otwartą podlistą MICROPHONE; wybór filtru kompensacyjnego

W podliście FIELD CORRECTION dostępne są opcje FREE (dla pracy przyrządu w warunkachpola swobodnego) i DIFFUSE (dla pracy przyrządu w warunkach pola dyfuzyjnego). Dostarczane wraz zprzyrządem mikrofony G.R.A.S. 40AN i SV 02 są mikrofonami pola swobodnego. Wykonywanie tymimikrofonami pomiarów w warunkach pola dyfuzyjnego wymaga włączenia w tor pomiarowy dodatkowegofiltru korekcyjnego, co następuje po wybraniu opcji DIFFUSE. Charakterystykę tego filtru zamieszczono wdodatku D. Wykonywanie pomiarów w warunkach pola swobodnego wymaga wybrania opcji FREE, cooznacza, że filtr korekcyjny dla pola dyfuzyjnego zostanie wyłączony.

Ekrany przyrządu z otwartą podlistą FIELD CORRECTION; wybór rodzaju pola

Wykonywanie pomiarów przyrządem SVAN 945A z mikrofonem pola dyfuzyjnego powinno byćprzeprowadzane z ustawioną opcją FREE. Dla takich mikrofonów nigdy nie należy ustawiać opcjiDIFFUSE.

Powrót do listy SETUP z zatwierdzeniem dokonanej na podliście MICROPHONE zmiany następujepo naciśnięciu przycisku <ENTER>, a powrót bez zmiany – po naciśnięciu przycisku <ESC>.

4 -19


4.3. UDOSTĘPNIANIE FUNKCJI DODATKOWYCH

Funkcjami dodatkowymi rozszerzającymi możliwości pomiarowe miernika poziomu dźwięku są:analiza oktawowa, analiza tercjowa, określenie tonalności (TONALITY), wąskopasmowa analizaczęstotliwości (FFT). Nazwy tych funkcji umieszczone są na podliście MEASUREMENT FUNCTION listyFUNCTION.

a) b) c)Ekrany przyrządu z listą FUNCTION (a) i pozycjami podlisty MEASUREMENT FUNCTION (b), (c)

Wybranie funkcji następuje przez umieszczenie gwiazdki przy odpowiednim napisie. Gwiazdka taprzemieszczana jest w ramach listy w standardowy sposób za pomocą przycisków <>, <>, a jejpołożenie zatwierdzane jest przez naciśnięcie przycisku <ENTER>. Jeżeli funkcja nie była zakupiona wrazze sprzętem, to w trakcie pierwszej próby jej uruchomienia (po naciśnięciu przycisku <ENTER>)na ekranie przyrządu pojawi się okno przeznaczone do wprowadzenia kodu dostępu.

Ekran przyrządu w trakcie wprowadzania kodu dostępu

Edycję kodu dostępu przeprowadza się w taki sam sposób jak edycję innych zmiennychtekstowych, posługując się przyciskami <>, <> (wybór pozycji znaku), <SHIFT> i <> (funkcjaInsert), <SHIFT> i <> (funkcja Delete) <FILE> oraz <>, <> (kody znaków tekstu). Weryfikacjapoprawności kodu dostępu następuje po naciśnięciu przycisku <ENTER>. Jeżeli wprowadzony kod nie byłpoprawny to na ekranie pojawia się odpowiedni komunikat i przyrząd oczekuje na reakcję użytkownika. Ponaciśnięciu przycisku <ENTER> lub <ESC> na ekranie wyświetlony zostanie kolejny komunikat oniedostępności funkcji i przyrząd będzie oczekiwał na reakcję użytkownika.

a)

b)

Ekrany przyrządu bezpośrednio po negatywnej weryfikacji kodu dostępu (a) oraz z informacją oniedostępności funkcji dodatkowej (b)

Po naciśnięciu przycisku <ENTER> lub <ESC> przyrząd ponownie wyświetla listę funkcji (patrzpierwszy ekran tego podrozdziału). Jeżeli weryfikacja kodu dostępu przebiegła pomyślnie to w trakciedalszej eksploatacji przyrządu opisane wyżej okna nie będą się już pojawiały. Uaktywniana funkcja staniesię trwale dostępna.

Uwaga: Liczba prób wprowadzania kodu jest ograniczona. Po trzech nieudanych próbachmożliwość dalszych prób zostaje trwale zablokowana.

4 -20


4.4. ANALIZA OKTAWOWA

W celu ustawienia funkcji analizy oktawowej należy otworzyć listę główną naciskając przycisk<MENU>, wybrać z listy głównej za pomocą przycisków <>, <> napis FUNCTION (podświetlić goinwersyjnie), nacisnąć przycisk <ENTER>. Otwarcie podlisty MEASUREMENT FUNCTION następuje powybraniu za pomocą przycisków <> lub <> napisu MEASUR. FUNCTION i naciśnięciu przycisku<ENTER>.

a) b) c)Ekrany przyrządu z otwartą listą główną (a), lista FUNCTION (b) i jej zawartość (c)

Analiza oktawowa wybierana jest przez umieszczenie gwiazdki przy napisie 1/1 OCTAVE.Położenie gwiazdki na ekranie zmieniane jest za pomocą przycisków <>, <>. Po umieszczeniugwiazdki przy napisie 1/1 OCTAVE należy nacisnąć przycisk <ENTER>. Po naciśnięciu tego przyciskuprzyrząd zamyka podlistę MEASUREMENT FUNCTION.

Uwaga: Nie jest możliwa zmiana trybu pracy przyrządu w trakcie wykonywaniapomiarów. Wejście do analizy oktawowej możliwe jest po uprzednim zakończeniu pomiaru.

Tryb analizy oktawowej podobny jest do trybu miernika z dwoma wyjątkami:1. W tym trybie widmo oktawowe jest dostępne równolegle z wynikami miernika. Wszystkie

pasmowe filtry cyfrowe (15 filtrów o częstotliwościach środkowych od 16 kHz do 1 Hz) działają wczasie rzeczywistym z filtrami korekcyjnymi HP, LIN, A lub C wybranymi w pozycji SPECTRUMpodlisty PROFILES SETUP i liniowym detektorem wartości skutecznej (RMS). Dodatkowowyświetlane są wartości skuteczne dla całego pasma pomiarowego (TOTAL A, C oraz LIN). Wtrakcie wyświetlania wyników pomiarów w trybie jednoprofilowym i w trybie 3 PROFILES, dlaodróżnienia od miernika poziomu dźwięku, wyświetlane są kropkowane linie: pionowa w trybiejednoprofilowym i dwie poziome w trybie 3 PROFILES (w trybie miernika wyświetlane są w tychmiejscach linie ciągłe).

Ekrany przyrządu w analizie oktawowej z wynikami pomiaru wyświetlanymi w jednym i w trzech profilach

Uwaga: Wartości TOTAL mierzone są z filtrami korekcyjnymi A, C i LIN bez względu naustawienia profilów dla miernika. Są one również zawsze całkowane w sposób liniowy. W związku ztym mogą się one różnić od wartości LEQ uzyskiwanych dla profilów (jeśli wybrane zostanieLEQ INTEGRATION: EXPONENTIAL).

2. W tym trybie przyrząd pracuje w dwóch zakresach wejściowych: 105 dB i 130 dB, które mogą byćwybrane z podlisty zakresu (RANGE) – patrz opis niżej.

Sposób wyświetlania wyników może zostać przełączony przez naciśnięcie przycisków <> lub<>. Dostępne są następujące sposoby (tryby) wyświetlania:

- Jeden Profil,

4 -21


- Trzy Profile (3 PROFILES),- Widmo (SPECTRUM),- Statystyka (STATISTICS),- Wykres (PLOT).

Uwaga: Użytkownik może wybrać liczbę aktualnie aktywnych sposobów wyświetlaniawyników włączając lub wyłączając dany sposób (tryb). Jedynie tryb domyślny (Jeden Profil) niemoże zostać wyłączony (więcej szczegółów na temat sterowania sposobami wyświetlania wynikówzawarto w rozdziale 5).

Sposoby wyświetlania Jeden Profil, 3 PROFILES, STATISTICS i PLOT są identyczne jak dlamiernika. W trybie SPECTRUM wyświetlane są wartości prążków widma oktawowego wraz z wartościamiskutecznymi dla całego pasma pomiarowego (TOTAL RMS) zmierzone z filtrami korekcyjnymi A, C i LIN.Odczyt interesującej wartości prążka może być wykonany przez ustawienie na nim kursora za pomocąprzycisków <>, <>. Z prawej strony ekranu podawane są informacje o aktualnym położeniu kursora(częstotliwość środkowa filtru oktawowego lub wybrany prążek TOTAL), czas pomiaru, wynik liczbowyoraz jednostki wraz ze wskaźnikiem używanego filtru (dB A, dB C lub dB dla filtru LIN).

Ekrany przyrządu w trakcie analizy oktawowej - wyświetlanie widma

W trybie jednoprofilowym i w trybie 3 PROFILES wyniki pomiarów prezentowane są w taki samsposób jak w mierniku (SLM) z jedna tylko różnicą, że zamiast ciągłych linii na ekranie pojawiają się liniekropkowane. Aktywny profil przełączany jest za pomocą przycisków <SHIFT> i <> lub <SHIFT> i <>.Zmiana wyniku w aktywnym profilu następuje po naciśnięciu przycisków <>, <>. Wartości LNzmieniane są po naciśnięciu przycisków <SHIFT> i <> lub <SHIFT> i <>.

Ekrany przyrządu w trakcie analizy oktawowej; jednoprofilowy i trzyprofilowy tryb wyświetlania

W trybie STATISTICS wyświetlane są wyniki pomiarów LN w profilach. Przełączanie międzyprofilami następuje po naciśnięciu przycisków <SHIFT> i <> lub <SHIFT> i <>. Zmiana trybuwyświetlania następuje po naciśnięciu przycisków <> lub <>.

Ekrany przyrządu w trakcie analizy oktawowej; wyniki analizy statystycznej z trzech profili

W trybie PLOT wyświetlane są wyniki pomiarów w profilach, zapamiętywane w buforze (z krokiemustawionym w BUF. STEP). Przełączanie między profilami następuje po naciśnięciu przycisków <>,<>, (tak samo jak zmiana trybu wyświetlania wyników). W trybie PLOT, korzystając z przycisków

4 -22


<SHIFT> i <> lub <SHIFT> i <> można zmienić wzajemne położenie osi prezentowanego naekranie wykresu (podobnie jak w trybie SPECTRUM).

Ekrany przyrządu w trakcie analizy oktawowej; prezentacja historii czasowych z trzech profili

W trakcie wyświetlania widm (tryb SPECTRUM), korzystając z przycisków <SHIFT> i <> lub<SHIFT> i <>, możliwe jest przesuwanie położenia poziomej osi względem pionowej prezentowanegona ekranie wykresu.

Ekrany przyrządu w trakcie analizy oktawowej – zmiana wzajemnego położenia osi

W trybie SPECTRUM, po naciśnięciu przycisku <ENTER> na ekranie wyświetlane są wynikistatystyki LN dla filtru oktawowego wybranego za pomocą kursora (częstotliwość środkowa filtruwyświetlana jest z prawej strony ekranu w pierwszej linii). W kolejnych liniach wyświetlane jest numerstatystyki LN, wartość wyniku i jednostki wraz z identyfikatorem użytego filtru korekcyjnego. Wartość LNmoże zostać zmieniona przez naciskanie przycisków <>, <>.

Ekrany przyrządu w trakcie analizy oktawowej; obserwacja wyników analizy statystycznej dla wybranychfiltrów oktawowych

Przełączanie między statystykami dla poszczególnych filtrów oktawowych następuje po naciśnięciuprzycisków <SHIFT> i <> lub <SHIFT> i <>. Analiza statystyczna prowadzona jest również dlawartości TOTAL. Powrót do wyświetlania w trybie SPECTRUM następuje po naciśnięciu przycisku<ESC>. Zmiana trybu wyświetlania następuje po naciśnięciu przycisków <> lub <>.

Ekrany przyrządu w trakcie analizy oktawowej; obserwacja wyników analizy statystycznej dla wartościTOTAL

Widma zapamiętane w pliku bufora można oglądać tylko w trybie BUFFER VIEW (patrz opis listyDISPLAY). Są one prezentowane na ekranie w formie „ciągu widm pojedynczych”. Widma w pliku buforarejestrowane są w takich samych odstępach czasowych jak wyniki w profilach (patrz opis pozycjiBUF. STEP podlisty MEASURE SETUP). Przechodzenie pomiędzy kolejnymi widmami zapisanymi wpliku bufora jest możliwe po:

- naciśnięciu przycisku <SHIFT> i <> dla widm późniejszych;

4 -23


- naciśnięciu przycisku <SHIFT> i <> dla widm wcześniejszych.

W trybie BUFFER VIEW można również obejrzeć przebieg czasowy dla wybranego kursorem filtruoktawowego (patrz opis pozycji BUFFER VIEW w rozdziale 5.1).

Uwaga: W buforze wyników może być zgromadzonych wiele historii czasowychzarejestrowanych w trakcie uprzednich pomiarów. Prezentacja zawartości tych wyników możliwa jest powejściu do okna podlisty BUFFER VIEW listy DISPLAY (patrz rozdział 5).

Analiza oktawowa może być również wykonywana przy uwzględnieniu wartości filtrów korekcyjnychwprowadzonych przez użytkownika. Filtry te dostępne są w oknie USER FILTERS listy SETUP (bardziejszczegółowy opis filtrów użytkownika znajduje się w rozdziale 5).

Ekrany przyrządu w trakcie wprowadzania wartości filtrów korekcyjnych

Jeżeli filtry te zostaną włączone to analiza oktawowa dla filtrów pasmowych przeprowadzana jest wnormalny sposób, ale wartości TOTAL wyliczane są z uwzględnieniem ww. filtrów. Na ekranie przyrząduprezentowane są wartości TOTAL 1 i TOTAL 2 zamiast wartości TOTAL dla filtrów korekcyjnych A, C iLIN.

Ekrany przyrządu w trakcie analizy oktawowej; wartości TOTAL wyliczane z uwzględnieniem filtrówużytkownika

Wybór zakresu pomiarowego w analizie oktawowej - pozycja RANGE

Wybór zakresów możliwy jest po otwarciu okna związanego z pozycją RANGE (z listy INPUT powybraniu za pomocą przycisków <>, <> napisu RANGE i naciśnięciu przycisku <ENTER>). W trybieanalizy oktawowej, posługując się przyciskami <>, <> i <ENTER>), użytkownik może wybrać jeden zdwóch zakresów pracy określonych dokładnie w dodatku C.

Ekrany przyrządu z otwartym oknem pozycji RANGE

Uwaga: Nie jest możliwa zmiana zakresu w trakcie wykonywania pomiarów.

4 -24


Uwaga: Jeżeli wystąpi przesterowanie (OVERLOAD) to stan ten sygnalizowany jestwłączeniem ikony ”dzwonek” (patrz opis ikon w rozdziale 3).

Wybór parametrów analizy oktawowej - podlista SPECTRUM

Korzystając z podlisty SPECTRUM podlisty PROFILES SETUP można zaprogramować dla widmaoktawowego rodzaj filtru korekcyjnego ustawić zapis widma do pliku bufora.

Ekrany przyrządu z otwartym oknem PROFILES SETUP dla analizy oktawowej

Wybór filtru korekcyjnego w analizie oktawowej - pozycja FILTER

W analizatorze oktawowym dostępne są następujące filtry korekcyjne: A klasa 1 według normy IEC 651 oraz IEC 61672-1, C klasa 1 według normy IEC 651 oraz IEC 61672-1, LIN zgodny z wymaganiami dla filtru Z klasy 1 według normy IEC 61672-1, HP filtr górnoprzepustowy dla analizy oktawowej.

Charakterystyki filtrów zostały zamieszczone w dodatku D. Wyboru rodzaju filtru dokonuje się zapomocą przycisków <>, <>. Naciśnięcie przycisku <ENTER> powoduje akceptację wyboru izamknięcie podlisty SPECTRUM. Naciśnięcie przycisku <ESC> powoduje zamknięcie podlisty bezzatwierdzenia dokonanych zmian w ustawieniach.

Ekrany przyrządu z otwartym oknem SPECTRUM dla analizy oktawowej; wybór filtru korekcyjnego


Wyniki RMS analizy oktawowej można zapamiętywać w plikach bufora przyrządu. Wyboru międzyNone (wynik analizy oktawowej nie będzie zapisywany do plików bufora) i RMS dokonuje się za pomocąprzycisków <>, <>. Naciśnięcie przycisku <ENTER> powoduje zamknięcie podlisty SPECTRUM.Naciśnięcie przycisku <ESC> powoduje zamknięcie podlisty bez zatwierdzenia dokonanych zmian wustawieniach.

4 -25


Ekrany przyrządu z otwartym oknem SPECTRUM; wybór wartości do zapamiętania w buforze

Uwaga: Nie jest możliwa zmiana parametrów w trakcie wykonywania pomiarów.Można otwierać różne listy i okna, ale pozycje w nich nie są wyświetlane inwersyjnie, a przez toniedostępne. Przyrząd sygnalizuje fakt trwania pomiaru wyświetlając ikonę „głośnik”.

Ekrany przyrządu w trakcie trwania pomiaru z niedostępnymi parametrami podlisty PROFILES SETUP

Uwaga: Pozostałe nastawy przyrządu są wspólne dla analizy oktawowej i miernikapoziomu dźwięku.

4 -26


4.5. ANALIZA TERCJOWA

W celu ustawienia funkcji analizy tercjowej należy otworzyć listę główną naciskając przycisk<MENU>, wybrać z listy głównej za pomocą przycisków <>, <> napis FUNCTION (podświetlić goinwersyjnie), nacisnąć przycisk <ENTER>. Otwarcie podlisty MEASUREMENT FUNCTION następuje powybraniu za pomocą przycisków <> lub <> napisu MEASUR. FUNCTION i naciśnięciu przycisku<ENTER>.


Analiza tercjowa wybierana jest przez umieszczenie gwiazdki przy napisie 1/3 OCTAVE. Położeniegwiazdki na ekranie zmieniane jest za pomocą przycisków <>, <>. Po umieszczeniu gwiazdki przynapisie 1/3 OCTAVE należy nacisnąć przycisk <ENTER>. Po naciśnięciu tego przycisku przyrząd zamykapodlistę MEASUREMENT FUNCTION.

Uwaga: Nie jest możliwa zmiana trybu pracy przyrządu w trakcie wykonywaniapomiarów. Wejście do analizy tercjowej możliwe jest po uprzednim zakończeniu pomiarów.

Tryb analizy tercjowej podobny jest do trybu miernika z dwoma wyjątkami:1. W tym trybie widmo tercjowe jest dostępne równolegle z wynikami miernika. Wszystkie pasmowe

filtry cyfrowe (45 filtrów o częstotliwościach środkowych od 20 kHz do 0,8 Hz) działają w czasierzeczywistym z filtrami korekcyjnymi HP, LIN, A lub C wybranymi w pozycji SPECTRUM listyPROFILES SETUP i liniowym detektorem wartości skutecznej (RMS). Dodatkowo wyświetlane sąwartości skuteczne dla całego pasma pomiarowego (TOTAL A, C i LIN). W trakcie wyświetlaniawyników pomiarów w trybie jednoprofilowym i w trybie 3 PROFILES, dla odróżnienia od miernikapoziomu dźwięku, wyświetlane są kropkowane linie: pionowa w trybie jednoprofilowym i dwie poziomew trybie 3 PROFILES (w trybie miernika wyświetlane są w tych miejscach linie ciągłe).

Ekrany przyrządu w analizie tercjowej z wynikami pomiaru wyświetlanymi w jednym i w trzech profilach

Uwaga: Wartości TOTAL mierzone są z filtrami korekcyjnymi A, C i LIN bez względu naustawienia profilów dla miernika. Są one również zawsze całkowane w sposób liniowy. W związku ztym mogą się one różnić od wartości LEQ uzyskiwanych dla profilów (jeśli wybrane zostanieLEQ INTEGRATION: EXPONENTIAL).

2. W tym trybie przyrząd pracuje w dwóch zakresach wejściowych: 105 dB i 130 dB, które mogą byćwybrane z listy zakresu (RANGE) – patrz opis niżej.

Sposób wyświetlania wyników może zostać przełączony przez naciśnięcie przycisków <>, <>.Dostępne są następujące sposoby wyświetlania (tryby pracy):

- Jeden Profil,

4 -27


- Trzy Profile (3 PROFILES),- Widmo (SPECTRUM),- Statystyka (STATISTICS),- Wykres (PLOT).


Sposoby wyświetlania Jeden Profil, 3 PROFILES, STATISTICS i PLOT są identyczne jak dlamiernika poziomu dźwięku. W trybie SPECTRUM wyświetlane są wartości prążków widma tercjowegowraz z wartościami skutecznymi dla całego pasma pomiarowego (TOTAL RMS) zmierzone z filtramikorekcyjnymi A, C i LIN. Odczyt interesującej wartości prążka może być wykonany przez ustawienie nanim kursora za pomocą przycisków <>, <>. Z prawej strony ekranu podawane są informacje oaktualnym położeniu kursora (częstotliwość środkowa filtru oktawowego lub wybrany prążek TOTAL),czas pomiaru, wynik liczbowy oraz jednostki wraz ze wskaźnikiem używanego filtru (dB A, dB C lub dBdla filtru LIN).

Ekrany przyrządu w trakcie analizy tercjowej – wyświetlanie widma

W trybie jednoprofilowym i w trybie 3 PROFILES wyniki pomiarów prezentowane są w taki samsposób jak w mierniku (SLM) z jedna tylko różnicą, że zamiast ciągłych linii na ekranie pojawiają się liniekropkowane. Aktywny profil przełączany jest za pomocą przycisków <SHIFT> i <> lub <SHIFT> i <>.Zmiana wyniku w aktywnym profilu następuje po naciśnięciu przycisków <>, <>. Wartości LNzmieniane są po naciśnięciu przycisków <SHIFT> i <> lub <SHIFT> i <>.

Ekrany przyrządu w trakcie analizy tercjowej; jednoprofilowy i trzyprofilowy tryb wyświetlania


Ekrany przyrządu w trakcie analizy tercjowej; wyniki analizy statystycznej z trzech profili

W trybie PLOT wyświetlane są wyniki pomiarów w profilach, zapamiętywane w buforze (z krokiemustawionym w BUF. STEP). Przełączanie między profilami następuje po naciśnięciu przycisków <>,<>, (tak samo jak zmiana trybu wyświetlania wyników). W trybie PLOT, korzystając z przycisków

4 -28


<SHIFT> i <> lub <SHIFT> i <> można zmienić wzajemne położenie osi prezentowanego naekranie wykresu (podobnie jak w trybie SPECTRUM).

Ekrany przyrządu w trakcie analizy tercjowej; prezentacja historii czasowych z trzech profili

W trakcie wyświetlania widm (tryb SPECTRUM), korzystając z przycisków <SHIFT> i <> lub<SHIFT> i <>, możliwe jest przesuwanie położenia poziomej osi względem pionowej prezentowanegona ekranie wykresu.

Ekrany przyrządu w trakcie analizy tercjowej – zmiana wzajemnego położenia osi

W trybie SPECTRUM, po naciśnięciu przycisku <ENTER> na ekranie wyświetlane są wynikistatystyki LN dla filtru oktawowego wybranego za pomocą kursora (częstotliwość środkowa filtruwyświetlana jest z prawej strony ekranu w pierwszej linii). W kolejnych liniach wyświetlane jest numerstatystyki LN, wartość wyniku i jednostki wraz z identyfikatorem użytego filtru korekcyjnego. Wartość LNmoże zostać zmieniona przez naciskanie przycisków <>, <>.

Ekrany przyrządu w trakcie analizy tercjowej; obserwacja wyników analizy statystycznej dla wybranychfiltrów oktawowych

Przełączanie między statystykami dla poszczególnych filtrów oktawowych następuje po naciśnięciuprzycisków <SHIFT> i <> lub <SHIFT> i <>. Analiza statystyczna prowadzona jest również dlawartości TOTAL. Powrót do wyświetlania w trybie SPECTRUM następuje po naciśnięciu przycisku<ESC>. Zmiana trybu wyświetlania następuje po naciśnięciu przycisków <> lub <>.

Ekrany przyrządu w trakcie analizy tercjowej; obserwacja wyników analizy statystycznej dla wartościTOTAL

Widma zapamiętane w pliku bufora można oglądać tylko w trybie BUFFER VIEW (patrz opis listyDISPLAY). Są one prezentowane na ekranie w formie „ciągu widm pojedynczych”. Widma w pliku buforarejestrowane są w takich samych odstępach czasowych jak wyniki w profilach (patrz opis pozycjiBUF. STEP podlisty MEASURE SETUP). Przechodzenie pomiędzy kolejnymi widmami zapisanymi wpliku bufora jest możliwe po:

- naciśnięciu przycisku <SHIFT> i <> dla widm późniejszych;

4 -29


- naciśnięciu przycisku <SHIFT> i <> dla widm wcześniejszych.

W trybie BUFFER VIEW można również obejrzeć przebieg czasowy dla wybranego kursorem filtruoktawowego (patrz opis pozycji BUFFER VIEW w rozdziale 5.1).

Uwaga: W buforze wyników może być zgromadzonych wiele historii czasowychzarejestrowanych w trakcie uprzednich pomiarów. Prezentacja zawartości tych wyników możliwa jest powejściu do okna podlisty BUFFER VIEW listy DISPLAY (patrz rozdział 5).

Analiza tercjowa może być również wykonywana przy uwzględnieniu wartości filtrów korekcyjnychwprowadzonych przez użytkownika. Filtry te dostępne są w oknie USER FILTERS listy SETUP (bardziejszczegółowy opis filtrów użytkownika znajduje się w rozdziale 5).

Ekrany przyrządu w trakcie wprowadzania wartości filtrów korekcyjnych

Jeżeli filtry te zostaną włączone to analiza oktawowa dla filtrów pasmowych przeprowadzana jest wnormalny sposób, ale wartości TOTAL wyliczane są z uwzględnieniem ww. filtrów. Na ekranie przyrząduprezentowane są wartości TOTAL 1 i TOTAL 2 zamiast wartości TOTAL dla filtrów korekcyjnych A, C iLIN.

Ekrany przyrządu w trakcie analizy tercjowej; wartości TOTAL wyliczane z uwzględnieniem filtrówużytkownika

Wybór zakresu pomiarowego w analizie tercjowej - pozycja RANGE

Wybór zakresów możliwy jest po otwarciu okna związanego z pozycją RANGE (z listy INPUT powybraniu za pomocą przycisków <>, <> napisu RANGE i naciśnięciu przycisku <ENTER>). W trybieanalizy tercjowej, posługując się przyciskami <>, <> i <ENTER>), użytkownik może wybrać jeden zdwóch zakresów pracy określonych dokładnie w dodatku C.



4 -30


Uwaga: Jeżeli wystąpi przesterowanie (OVERLOAD) to stan ten sygnalizowany jestwłączeniem ikony ”dzwonek” (patrz opis ikon w rozdziale 3”).

Wybór parametrów analizy tercjowej - podlista SPECTRUM

Korzystając z podlisty SPECTRUM podlisty PROFILES SETUP można zaprogramować dla widmaoktawowego rodzaj filtru korekcyjnego ustawić zapis widma do pliku bufora.

Ekrany przyrządu z otwartym oknem PROFILES SETUP dla analizy tercjowej

Wybór filtru korekcyjnego w analizie tercjowej - pozycja FILTER

W analizatorze tercjowym dostępne są następujące filtry korekcyjne: A klasa 1 według normy IEC 651 oraz IEC 61672-1, C klasa 1 według normy IEC 651 oraz IEC 61672-1, LIN zgodny z wymaganiami dla filtru Z klasy 1 według normy IEC 61672-1, HP filtr górnoprzepustowy dla analizy tercjowej.


Ekrany przyrządu z otwartym oknem SPECTRUM dla analizy tercjowej; wybór filtru korekcyjnego


Wyniki RMS analizy tercjowej można zapamiętywać w plikach bufora przyrządu. Wyboru międzyNone (wynik analizy tercjowej nie będzie zapisywany do plików bufora) i RMS dokonuje się za pomocąprzycisków <>, <>. Naciśnięcie przycisku <ENTER> powoduje zamknięcie podlisty SPECTRUM.Naciśnięcie przycisku <ESC> powoduje zamknięcie podlisty bez zatwierdzenia dokonanych zmian wustawieniach.

4 -31


Ekrany przyrządu z otwartym oknem SPECTRUM; wybór wartości do zapamiętania w buforze



Uwaga: Pozostałe nastawy przyrządu są wspólne dla analizy tercjowej i miernikapoziomu dźwięku.

4 -32


4.6. WĄSKOPASMOWA ANALIZA CZĘSTOTLIWOŚCI

W celu ustawienia funkcji wąskopasmowej analizy częstotliwości należy otworzyć listę głównąnaciskając przycisk <MENU>, wybrać z listy głównej za pomocą przycisków <>, <> napis FUNCTION(podświetlić go inwersyjnie), nacisnąć przycisk <ENTER>. Otwarcie podlistyMEASUREMENT FUNCTION następuje po wybraniu za pomocą przycisków <> lub <> napisuMEASUR. FUNCTION i naciśnięciu przycisku <ENTER>.


Funkcja wąskopasmowej analizy częstotliwości wybierana jest przez umieszczenie gwiazdki przynapisie FFT. Położenie gwiazdki na ekranie zmieniane jest za pomocą przycisków <>, <>. Poumieszczeniu gwiazdki przy napisie FFT należy nacisnąć przycisk <ENTER>. Po naciśnięciu tegoprzycisku przyrząd zamyka podlistę MEASUREMENT FUNCTION.

Uwaga: Nie jest możliwa zmiana trybu pracy przyrządu w trakcie wykonywaniapomiarów. Wejście do funkcji wąskopasmowej analizy częstotliwości możliwe jest po uprzednimzakończeniu pomiarów.

Tryb funkcji wąskopasmowej analizy częstotliwości podobny jest do trybu miernika z dwomawyjątkami:1. W tym trybie uśredniony wynik wąskopasmowej analizy częstotliwościowej (widmo Fouriera) jest

dostępny równolegle z wynikami miernika. Analiza przeprowadzana jest w czasie rzeczywistym zfiltrami korekcyjnymi HP, LIN, A lub C wybranymi w pozycji SPECTRUM podlistyPROFILES SETUP. Widmo jest uśredniane według algorytmu uśredniania liniowego. Dodatkowowyświetlana jest wartość skuteczna dla całego pasma pomiarowego (TOTAL).

Uwaga: Wartość TOTAL mierzona jest z filtrem korekcyjnym ustawionym w oknie FFT,który może być inny niż filtry wybrane w profilach dla miernika. Jest ona również zawsze całkowana wsposób liniowy. W związku z tym może się różnić od wartości LEQ uzyskiwanych dla profilów (jeśliwybrane zostanie LEQ INTEGRATION: EXPONENTIAL).


Sposób wyświetlania wyników może zostać przełączony przez naciśnięcie przycisku <> lub <>.Dostępne są następujące sposoby wyświetlania (tryby pracy):

- Jeden Profil,- Trzy Profile (3 PROFILES),- Widmo (SPECTRUM),- Statystyka (STATISTICS),- Wykres czasowy (PLOT).

Sposoby wyświetlania Jeden Profil, 3 PROFILES, STATISTICS i PLOT są identyczne jak dlamiernika poziomu dźwięku. W trybie SPECTRUM wyświetlane są uśrednione wartości prążków widmaczęstotliwościowego wraz z wartością skuteczną dla całego pasma pomiarowego (TOTAL RMS)zmierzoną z wybranym filtrem korekcyjnym. Odczyt interesującej wartości prążka może być wykonanyprzez ustawienie na nim kursora za pomocą przycisków <>, <>. Z prawej strony ekranu podawane sąinformacje o aktualnym położeniu kursora (częstotliwość prążka lub wybrany prążek TOTAL), wynikliczbowy oraz jednostki wraz ze wskaźnikiem używanego filtru (dB A, dB C lub dB dla filtrów HP i LIN).

4 -33



Ekrany przyrządu w trakcie wąskopasmowej analizy częstotliwościowej

W trakcie wyświetlania widm (tryb SPECTRUM), korzystając z przycisków <SHIFT> i <> lub<SHIFT> i <> możliwe jest przesuwanie położenia poziomej osi względem pionowej prezentowanego naekranie wykresu. Zmiana trybu wyświetlania następuje po naciśnięciu przycisków <>, <>.

Ekrany przyrządu w trakcie analizy FFT; zmiana wzajemnego położenia osi

W trybie PLOT wyświetlane są wyniki pomiarów w profilach, zapamiętywane w buforze (z krokiemustawionym w BUF. STEP). Przełączanie między profilami następuje po naciśnięciu przycisków <>,<> (tak samo jak zmiana trybu wyświetlania wyników). W trybie PLOT, korzystając z przycisków<SHIFT> i <> lub <SHIFT> i <>, można zmienić wzajemne położenie osi prezentowanego naekranie wykresu (podobnie jak w trybie SPECTRUM).

W trybie STATISTICS wyświetlane są wyniki pomiarów LN w profilach. Przełączanie międzyprofilami następuje po naciśnięciu przycisków <SHIFT> i <> lub <SHIFT> i <>. Zmiana trybuwyświetlania następuje po naciśnięciu przycisków <> lub <>. Kolejne naciskanie tych przyciskówpowoduje wyświetlanie wyników pomiarów w aktualnie dostępnych (wybranych przez użytkownika) trybachprezentacji. Poniżej przedstawiono przykładowy wygląd ekranów w opisanej wyżej sytuacji. Nie ma historiiczasowych, gdyż albo tryb ten został ustawiony jako nieaktywny, albo tryb był ustawiony jako aktywny, alew każdym z trzech profili wybrano opcje BUFFER: None.

Ekrany przyrządu w trakcie analizy FFT; zmiana trybu wyświetlania wyników

4 -34


Uwaga: Analiza FFT wykonywana jest w czasie rzeczywistym, z częstotliwościąpróbkowania równą 48 kHz, przy wykorzystaniu techniki tzw. “overlappingu” o głębokości zależnej odwybranego pasma analizy. Jednorazowo na ekranie prezentowanych jest zawsze 60 prążków. Możnazmieniać rozdzielczość prezentowanego widma: jednorazowe naciśnięcie przycisku <ENTER>powoduje dwukrotne zwiększenie rozdzielczości, a naciśnięcie przycisku <ESC> - dwukrotnezmniejszenie. Maksymalnie można zwiększyć rozdzielczość 32 razy (pięciokrotne naciśnięcie przycisku<ENTER>).

Wybór zakresu pomiarowego w wąskopasmowej analizie częstotliwości - pozycja RANGE

Wybór zakresów możliwy jest po otwarciu okna związanego z pozycją RANGE (z listy INPUT powybraniu za pomocą przycisków <>, <> napisu RANGE i naciśnięciu przycisku <ENTER>). W trybiewąskopasmowej analizy częstotliwości, posługując się przyciskami <>, <> i <ENTER>), użytkownikmoże wybrać jeden z dwóch zakresów pracy określonych dokładnie w dodatku C.




Wybór parametrów w wąskopasmowej analizie częstotliwości - podlista FFT

Podlista FFT zawiera cztery pozycje: FILTER (umożliwia wybranie filtru korekcyjnego), BAND(umożliwia wybranie pasma analizy), WINDOW (informuje użytkownika o rodzaju okna, któregowspółczynniki wykorzystywane są w analizie) i AVERAG. (informuje użytkownika o sposobie uśrednianiawidm). W celu otwarcie tej podlisty należy naciskając przyciski <>, <> podświetlić inwersyjnie napisFFT na podliście PROFILES SETUP i wcisnąć przycisk <ENTER>. Zamknięcie podlisty z zatwierdzeniemdokonanych zmian następuje po naciśnięciu przycisku <ENTER>, a zamknięcie bez zatwierdzenia zmian– po naciśnięciu przycisku <ESC>.

Ekrany przyrządu z otwartym oknem PROFILES SETUP; wybór podlisty FFT

Wybór filtru korekcyjnego w wąskopasmowej analizie częstotliwości - pozycja FILTER

4 -35


W wąskopasmowej analizie częstotliwości dostępne są następujące filtry korekcyjne: A klasa 1 według normy IEC 651 oraz IEC 61672-1, C klasa 1 według normy IEC 651 oraz IEC 61672-1, LIN zgodny z wymaganiami dla filtru Z klasy 1 według normy IEC 61672-1, HP filtr górnoprzepustowy dla wąskopasmowej analizy częstotliwości.


Ekrany przyrządu z otwartą podlistą FFT; wybór filtru korekcyjnego

Wybór pasma wąskopasmowej analizy częstotliwości - pozycja BAND

Pozycja BAND umożliwia użytkownikowi wybranie pasma, w którym ma być wykonywana analiza.Można wybrać spośród następujących wartości: 22.4 kHz, 11.2 kHz, 5.6 kHz, 2.8 kHz, 1.4 kHz, 700 Hz,350 Hz, 175 Hz i 87.5 Hz naciskając przyciski <>, <> i <ENTER> w celu zatwierdzenia wyboru.

Ekrany przyrządu z otwartą podlistą FFT; wybór pasma analizy

Wybór współczynników okna wykorzystywanych w trakcie analizy FFT - pozycja WINDOW

Pozycja WINDOW umożliwia użytkownikowi wybranie rodzaju okna używanego w trakciewąskopasmowej analizy częstotliwości. Do wersji oprogramowania 3.xx włącznie dostępne są jedyniewspółczynniki okna Hanninga i w tych wersjach pozycja ta ma jedynie charakter informacyjny (nigdy niestaje się aktywna i nie można zmienić jej zawartości). W przyszłości planuje się rozszerzenie listy okien.

Wybór sposobu uśredniania widma w analizie częstotliwościowej - pozycja AVERAG.

4 -36


Pozycja AVERAG. umożliwia użytkownikowi wybranie liniowego (LINEAR) lub wykładniczego(EXPON.) sposobu uśredniania widm. Wyboru dokonuje się naciskając przyciski <>, <>. Do wersjioprogramowania 3.xx włącznie dostępne jest jedynie uśrednianie liniowe i w tych wersjach pozycja ta majedynie charakter informacyjny (nigdy nie staje się aktywna i nie można zmienić jej zawartości).

Po naciśnięciu przycisku <ENTER> następuje zatwierdzenie wyboru i zamknięcie podlisty FFT. Ponaciśnięciu przycisku <ESC> następuje zamknięcie podlisty FFT bez zatwierdzania dokonanych zmianustawień.

Wąskopasmowa analiza częstotliwości wykonywana jest w każdym z pasm z rozdzielczością 2048prążków. Dzięki zastosowaniu techniki zwanej “overlapping” analiza ta wykonywana jest w czasierzeczywistym dla każdego z dostępnych pasm. Widmo częstotliwościowe obliczane jest zawsze z 4096próbek zmierzonego sygnału. Częstotliwość próbkowania dla przypadku wąskopasmowej analizyczęstotliwości (FFT) wynosi 48 kHz, a więc dostępna maksymalna rozdzielczość dla najwyższego pasma(22,4 kHz) równa jest 48000 / 4096 = 11,71875 Hz. W pamięci przyrządu w każdym widmie pamiętanychjest 1920 prążków. Jednorazowo na ekranie można wyświetlić jedynie nie więcej niż sześćdziesiąt z nich,czyli trzydzieści dwa razy mniej (1920 / 60 = 32). Stąd też wynika, że jeżeli użytkownik chce obejrzeć naekranie widmo w całym paśmie analizy, to wówczas rozdzielczość (różnica częstotliwości międzysąsiednimi prążkami) wynosi 32 * 11,71875 = 375 Hz (dla pasma 22,4 kHz). Na ekranie w tym trybieprezentacji wyświetlany jest prążek o maksymalnej wartości spośród 32 pamiętanych w przyrządzie.

Naciskając przycisk <ENTER> można zwiększyć dwukrotnie rozdzielczość prezentowanego naekranie widma. Po jednokrotnym naciśnięciu tego przycisku na ekranie będzie nadal ta sama liczbaprążków, ale nie będzie już widoczne całe pasmo, a jedynie jego połowa. Na prezentowanych poniżejrysunkach przedstawiono ten efekt. Kursor umieszczony został w skrajnym lewym położeniu i wartośćczęstotliwości jaka temu odpowiada jest jednocześnie rozdzielczością prezentowanego widma.

Ekrany przyrządu w trakcie analizy FFT; zwiększanie rozdzielczości prezentowanego widma

Rozdzielczość prezentowanego widma, dla pasma 22,4 kHz i po jednokrotnym naciśnięciuprzycisku <ENTER>, będzie wynosiła 375 / 2 = 187,5 Hz. Na ekranie będzie wyświetlany maksymalnyprążek spośród kolejnych 16-tu. Można kilkakrotnie naciskać przycisk <ENTER>, aż do osiągnięciarozdzielczości wyświetlania równej rozdzielczości prowadzonych obliczeń (dla pasma 22,4 kHz jest to11,71875 Hz - patrz na ostatni z prezentowanych powyżej widoków). Na ekranie będzie wówczaswyświetlany fragment widma o szerokości równej 60 * 11,71875 = 703,125 Hz.

Ekrany przyrządu w trakcie analizy FFT; widmo o największej rozdzielczości dla pasma 22,4 kHz

Naciskając przycisk <>, gdy kursor jest w skrajnym lewym położeniu ekranu i przycisk <>, gdykursor jest w skrajnym prawym położeniu, można przesuwać wyświetlane widmo.

4 -37


Ekrany przyrządu w trakcie analizy FFT; przesuwanie widma w lewo

Naciskając raz przycisk <ESC> można zmniejszyć dwukrotnie rozdzielczość prezentowanego naekranie widma i jednocześnie poszerzyć dwukrotnie obserwowany fragment. Czynność tę możnapowtarzać aż do osiągnięcia wyświetlania fragmentu widma o szerokości równej pasmu analizy.

Rozdzielczość analizy zależy od wybranego pasma i wynosi: 11,71875 Hz dla pasma oznaczonego jako 22.4 kHz; 5,859375 Hz dla pasma oznaczonego jako 11.2 kHz; 2,9296875 Hz dla pasma oznaczonego jako 5.6 kHz; 1,4648438 Hz dla pasma oznaczonego jako 2.8 kHz; 0,7324219 Hz dla pasma oznaczonego jako 1.4 kHz; 0,36621095 Hz dla pasma oznaczonego jako 700 Hz; 0,183105475 Hz dla pasma oznaczonego jako 350 Hz; 0,0915527275 Hz dla pasma oznaczonego jako 175 Hz; 0,04577136375 Hz dla pasma oznaczonego jako 87.5 Hz.

Należy zauważyć, że w przyrządzie nie zaimplementowano funkcji zoom, która zapewniałabymożliwość osiągnięcia maksymalnej rozdzielczości w dowolnym paśmie analizy. Wraz z dwukrotnymzmniejszaniem się pasma rośnie dwukrotnie rozdzielczość analizy. Na rysunkach poniżej zaprezentowanowidoki ekranów we wszystkich dostępnych pasmach pomiarowych: od 22,4 kHz aż do 87,5 Hz. Wybranepasmo zaprezentowano na skrajnym lewym widoku. Na następnych widokach pokazano dostępne pasmoanalizy. Na rysunkach rozdzielczość prezentacji jest najmniejsza z dostępnych dla danego pasma.

Ekrany przyrządu w trakcie analizy FFT; pasmo analizy 22,4 kHz; widok dla rozdzielczości 375 Hz

Ekrany przyrządu w trakcie analizy FFT; pasmo analizy 11,2 kHz; widok dla rozdzielczości 187,5 Hz


4 -38




Ekrany przyrządu w trakcie analizy FFT; pasmo analizy 700 Hz; widok dla rozdzielczości 11,71875 Hz



Ekrany przyrządu w trakcie analizy FFT; pasmo analizy 87,5 Hz; widok dla rozdzielczości 1,4648438 Hz

Na rysunku poniżej pokazano największą rozdzielczość prezentacji jaka jest dostępna wprzyrządzie. Dla pasma analizy 87,5 Hz, po pięciokrotnym naciśnięciu przycisku <ENTER> różnica międzydwoma kolejnymi prążkami prezentowanego na ekranie widma wynosi zaledwie 0,04577136375 Hz!

Ekrany przyrządu w trakcie analizy FFT; pasmo analizy 87,5 Hz; widok całego dostępnego pasma dlarozdzielczości 1,4648438 Hz oraz widok fragmentu pasma dla rozdzielczości 0,04577136375 Hz

4 -39




4 -40


4.7. POMIAR TONALNOŚCI

W celu ustawienia funkcji tonalności należy otworzyć listę główną naciskając przycisk <MENU>,wybrać z listy głównej za pomocą przycisków <>, <> napis FUNCTION (podświetlić go inwersyjnie),nacisnąć przycisk <ENTER>. Otwarcie podlisty MEASUREMENT FUNCTION następuje po wybraniu zapomocą przycisków <> lub <> napisu MEASUR. FUNCTION i naciśnięciu przycisku <ENTER>.


Funkcja tonalności wybierana jest przez umieszczenie gwiazdki przy napisie TONALITY. Położeniegwiazdki na ekranie zmieniane jest za pomocą przycisków <>, <>. Po umieszczeniu gwiazdki przynapisie TONALITY należy nacisnąć przycisk <ENTER>. Po naciśnięciu tego przycisku przyrząd zamykapodlistę MEASUREMENT FUNCTION.

Działanie przyrządu w funkcji TONALITY polega na jednoczesnym obliczaniu dwóch szybkichprzekształceń Fouriera: jednego w paśmie 18,750 kHz i drugiego w paśmie sześciokrotnie zmniejszonym(3,125 kHz). Oba widma liczą po 800 prążków. Na ekranie przyrządu jednorazowo wyświetlanych jesttylko 50 prążków widma z różną rozdzielczością. Wyniki analizy mogą być zapamiętane w plikach.Budowę plików funkcji TONALITY omówiono w dodatku B instrukcji. Przyrząd dostarcza jedynie danychpomiarowych, które wykorzystywane są następnie w programie SVAN_PC do przeprowadzenia pełnejanalizy tonalności mierzonego sygnału.

Uwaga: Nie jest możliwa zmiana trybu pracy przyrządu w trakcie wykonywaniapomiarów. Wejście do funkcji tonalności możliwe jest po uprzednim zakończeniu pomiarów.

Tryb funkcji tonalności podobny jest do trybu miernika z dwoma wyjątkami:1. W tym trybie uśrednione wyniki analizy częstotliwościowej (dwa widma Fouriera) są dostępne

równolegle z wynikami miernika. Analiza przeprowadzana jest w czasie rzeczywistym z filtremkorekcyjnym A i oknem Hanninga z częstotliwością próbkowania 48 kHz i 8 kHz. Widma sąuśredniane według algorytmu uśredniania liniowego.


Sposób wyświetlania wyników może zostać przełączony przez naciśnięcie przycisku <> lub <>.Dostępne są następujące sposoby wyświetlania (tryby pracy):

- Jeden Profil,- Trzy Profile (3 PROFILES),- Widmo (SPECTRUM),- Statystyka (STATISTICS),- Wykres czasowy (PLOT).

Sposoby wyświetlania Jeden Profil, 3 PROFILES, STATISTICS i PLOT są identyczne jak dlamiernika poziomu dźwięku. W trybie SPECTRUM wyświetlane są uśrednione wartości prążków widmaczęstotliwościowego zmierzone z filtrem korekcyjnym A i oknem Hanninga. Odczyt interesującej wartościprążka może być wykonany przez ustawienie na nim kursora za pomocą przycisków <>, <>. Z prawejstrony ekranu podawane są informacje o aktualnym położeniu kursora (częstotliwość prążka), wynikliczbowy oraz jednostki wraz ze wskaźnikiem używanego filtru (dB A).

4 -41



Ekrany przyrządu w trakcie wyświetlania widma obliczanego w funkcji TONALITY

W trakcie wyświetlania widm (tryb SPECTRUM), korzystając z przycisków <SHIFT> i <> lub<SHIFT> i <> możliwe jest przesuwanie położenia poziomej osi względem pionowej prezentowanego naekranie wykresu. Zmiana trybu wyświetlania następuje po naciśnięciu przycisków <>, <>.

Ekrany przyrządu w trakcie wyświetlania widma obliczanego w funkcji TONALITY; zmiana położenia osi

W trybie PLOT wyświetlane są wyniki pomiarów w profilach, zapamiętywane w buforze (z krokiemustawionym w BUF. STEP). Przełączanie między profilami następuje po naciśnięciu przycisków <>,<> (tak samo jak zmiana trybu wyświetlania wyników). W trybie PLOT, korzystając z przycisków<SHIFT> i <> lub <SHIFT> i <>, można zmienić wzajemne położenie osi prezentowanego naekranie wykresu (podobnie jak w trybie SPECTRUM).


Uwaga: Analiza częstotliwościowa w funkcji TONALITY wykonywana jest w czasierzeczywistym, z dwoma częstotliwościami próbkowania: 48 kHz i 8 kHz, przy wykorzystaniu technikitzw. “overlappingu”. Jednorazowo na ekranie prezentowanych jest zawsze 50 prążków. Można zmieniaćrozdzielczość prezentowanego widma: jednorazowe naciśnięcie przycisku <ENTER> powodujedwukrotne zwiększenie rozdzielczości, a naciśnięcie przycisku <ESC> - dwukrotne zmniejszenie.Maksymalnie można zwiększyć rozdzielczość 16 razy (czterokrotne naciśnięcie przycisku <ENTER>).

Wybór zakresu pomiarowego w funkcji tonalności - pozycja RANGE

Wybór zakresów możliwy jest po otwarciu okna związanego z pozycją RANGE (z listy INPUT powybraniu za pomocą przycisków <>, <> napisu RANGE i naciśnięciu przycisku <ENTER>). W funkcjiTONALITY, posługując się przyciskami <>, <> i <ENTER>), użytkownik może wybrać jeden z dwóchzakresów pracy określonych dokładnie w dodatku C.

4 -42





W funkcji TONALITY można ustawić parametry każdego z trzech profili, podobnie jak dla trybumiernika (patrz rozdział 4.2). Z funkcją tą nie są związane żadne dodatkowe parametry. Zamknięciepodlisty PROFILES SETUP z zatwierdzeniem dokonanych zmian następuje po naciśnięciu przycisku<ENTER>, a zamknięcie bez zatwierdzenia zmian – po naciśnięciu przycisku <ESC>.

Ekrany przyrządu z otwartym oknem PROFILES SETUP w funkcji TONALITY

Analiza częstotliwości w funkcji TONALITY wykonywana jest z rozdzielczością 2048 prążków wczasie rzeczywistym. Widmo częstotliwościowe obliczane jest zawsze z 2048 próbek zmierzonegosygnału. Częstotliwość próbkowania wynosi 48 kHz dla pasma 18,75 kHz i 8kHz dla pasma 3,125 kHz.Maksymalna rozdzielczość dla pasma 18,75 kHz równa jest 48000 / 2048 = 23,4375 Hz, a dla pasma3,125 kHz – 3,907916(6) Hz. W pamięci przyrządu w każdym z dwóch widm pamiętanych jest 800prążków. Jednorazowo na ekranie można wyświetlić jedynie pięćdziesiąt z nich, czyli szesnaście razymniej (800 / 50 = 16). Stąd też wynika, że jeżeli użytkownik chce obejrzeć na ekranie widmo w całympaśmie analizy, to wówczas rozdzielczość (różnica częstotliwości między sąsiednimi prążkami) wynosi16 * 23,4375 = 375 Hz (dla pasma 18,75 kHz) i 62,526(6) Hz (dla pasma 3,125 kHz). Na ekranie w tymtrybie prezentacji wyświetlany jest prążek o maksymalnej wartości spośród 16 pamiętanych w przyrządzie.

Naciskając przycisk <ENTER> można zwiększyć dwukrotnie rozdzielczość prezentowanego naekranie widma. Po jednokrotnym naciśnięciu tego przycisku na ekranie będzie nadal 50 prążków, ale niebędzie już widoczne całe pasmo, a jedynie jego połowa. Rozdzielczość prezentowanego widma będziewięc dla omawianego przypadku wynosiła 375 / 2 = 187,5 Hz. Na ekranie będzie wyświetlany maksymalnyprążek spośród kolejnych ośmiu. Można kilkakrotnie naciskać przycisk <ENTER> aż do osiągnięciarozdzielczości wyświetlania równej rozdzielczości prowadzonych obliczeń (dla pasma 18,175 kHz jest to23,4375 Hz). Na ekranie będzie wówczas wyświetlany fragment widma w wybranym paśmie o szerokościrównej 50 * 23,4375 = 1171,875 Hz.

Ekrany przyrządu z widmem funkcji TONALITY; zwiększanie rozdzielczości prezentowanego widma

4 -43


Naciskając przycisk <>, gdy kursor jest w skrajnym lewym położeniu ekranu, można uzyskać naekranie efekt przesuwania widma w prawo.

Ekrany przyrządu z widmem funkcji TONALITY; przesuwanie widma w prawo

Naciskając przycisk <>, gdy kursor jest w skrajnym prawym położeniu ekranu, można uzyskać naekranie efekt przesuwania widma w lewo.

Ekrany przyrządu z widmem funkcji TONALITY; przesuwanie widma w lewo

Naciskając jeden raz przycisk <ESC> można zmniejszyć dwukrotnie rozdzielczość prezentowanegona ekranie widma i jednocześnie poszerzyć dwukrotnie obserwowany fragment. Czynność tę możnapowtarzać aż do osiągnięcia wyświetlania fragmentu widma o szerokości równej pasmu analizy.

Ekrany przyrządu z widmem funkcji TONALITY; zmniejszanie rozdzielczości

W trakcie wyświetlania widma o dowolnej rozdzielczości, korzystając z przycisków <SHIFT> i <>lub <SHIFT> i <> możliwe jest przesuwanie położenia poziomej osi względem pionowejprezentowanego na ekranie wykresu. Zmiana trybu wyświetlania następuje po naciśnięciu przycisków<>, <>.



4 -44

4. funkcje pomiarowe przyrzĄdudydaktyka.polsl.pl/roz5/mdabrowski/dokumenty/podstawy...(według norm...

Documents